JP2019139826A - ビット線電源供給装置 - Google Patents
ビット線電源供給装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019139826A JP2019139826A JP2018022365A JP2018022365A JP2019139826A JP 2019139826 A JP2019139826 A JP 2019139826A JP 2018022365 A JP2018022365 A JP 2018022365A JP 2018022365 A JP2018022365 A JP 2018022365A JP 2019139826 A JP2019139826 A JP 2019139826A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- bit line
- power supply
- line high
- control signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 39
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 36
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 description 15
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 description 15
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4094—Bit-line management or control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/148—Details of power up or power down circuits, standby circuits or recovery circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40618—Refresh operations over multiple banks or interleaving
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4074—Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/147—Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
- H03K3/356113—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Dram (AREA)
- Power Sources (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Abstract
Description
110 ビット線高電圧発生器
120 電流源電圧発生器
130 オーバードライブ電圧発生器
140 第1の電圧発生回路
141 第1のセンサ
142 第1のリニア電圧レギュレータ
150 第2の電圧発生回路
151 第2のセンサ
152 スイッチング電圧レギュレータ
160 第1のスタンバイ電圧回路
161 第3のセンサ
162 第2のリニア電圧レギュレータ
170 第3の電圧発生回路
171 第4のセンサ
172 チャージポンプ回路
180 第2のスタンバイ電圧回路
181 第5のセンサ
182 第3のリニア電圧レギュレータ
210 第1のオペアンプ
220 スイッチ
230 抵抗コンデンサストリング
240 出力段
310 第1のオペアンプ
320 スイッチ
330 プルアップスイッチ
340 基準電流発生器
350 スイッチ
360 バッファ
370 電圧オフセット回路
380 出力段
400 電圧オフセット回路
410 バッファ
420 電圧オフセット
430 バッファ
500 ビット線電源供給装置
MP1〜MP9 P型トランジスタ
MN1〜MN11 N型トランジスタ
T1〜T5 時間区間
V1<7:0> 第1の制御信号
V2<7:0> 第2の制御信号
V3 第1のスタンバイ電圧回路制御信号
V4<7:0> 第3の制御信号
V5 第2のスタンバイ電圧回路制御信号
V6〜V8 制御信号
VBLH ビット線高電圧
VBLEQ ビット線イコライズ電圧
VPCS 電流源電圧
VCMNI バイアス電圧
VINV スイッチ電圧
VDOUTB バッファ電圧
VDDG ゲート制御電圧
VREF1 第1の基準電圧
VREF2 第2の基準電圧
VPP 第1の電圧
VDD2 第2の電圧
VDD1 第3の電圧
VSS 基準接地端子
n01〜n07 接触電圧
VS1 第1の検知電圧
VS2 第2の検知電圧
VS3 第3の検知電圧
VS4 第4の検知電圧
VS5 第5の検知電圧
VPCS 電流源電圧
EN1、EN2、EN2B 有効信号
B0WR 書き込み期間
Claims (16)
- メモリに適用されるビット線電源供給装置であって、
ビット線高電圧を発生するためのビット線高電圧発生器を含み、
前記ビット線高電圧発生器は、
第1の制御信号を受信し、前記第1の制御信号に基づいて有効にされ、第1の基準電圧と前記ビット線高電圧との比較に基づいて第1の検知電圧を発生し、電源電圧が第1の電圧である、第1のセンサと、
前記第1のセンサに結合され、前記第1の検知電圧に対してリニア調整を行って第1の出力電圧を発生し、電源電圧が第2の電圧である、第1のリニア電圧レギュレータと、
を含む第1の電圧発生回路と、
第2の制御信号を受信し、前記第2の制御信号に基づいて有効にされ、前記第1の基準電圧と前記ビット線高電圧の比較に基づいて第2の検知電圧を発生し、電源電圧が第3の電圧である、第2のセンサと、
前記第2のセンサに結合され、前記第2の検知電圧に基づいてスイッチング調整を行って第2の出力電圧を発生し、電源電圧が前記第2の電圧である、スイッチング電圧レギュレータと、
を含み、前記第1の電圧発生回路に並列に結合される、第2の電圧発生回路と、
を含み、
前 記ビット線電源供給装置は、前記第1の出力電圧と前記第2の出力電圧とを結合させて前記ビット線高電圧を発生し、前記第1の電圧が前記第3の電圧よりも大きく、前記第3の電圧が前記第2の電圧よりも大きい、ビット線電源供給装置。 - リフレッシュ動作の際、前記ビット線高電圧発生器は複数のメモリバンクに順にリフレッシュ動作を行わせる、請求項1に記載のビット線電源供給装置。
- 前記第1のセンサは、第1のオペアンプを含み、前記第1のオペアンプの第1の入力端子が前記第1の基準電圧を受信し、前記第1のオペアンプの第2の入力端子が前記ビット線高電圧を受信し、前記第1のオペアンプは、前記第1の制御信号に基づいて有効にされ、前記第1の基準信号と前記ビット線高電圧との比較に基づいて前記第1の検知電圧を発生する、請求項1に記載のビット線電源供給装置。
- 前記第1のリニア電圧レギュレータは、
前記第1のオペアンプの出力端子と前記第1のリニア電圧レギュレータの出力端子との間に結合され、有効信号に基づいてオンまたはオフにされ、前記有効信号は前記第1の制御信号に基づいて発生される、スイッチと、
前記第1のオペアンプの出力端子と前記第1のリニア電圧レギュレータの出力端子との間に結合される、抵抗コンデンサストリングと、
前記第1のオペアンプの出力端子に結合され、前記第1の検知電圧を受信し、前記第1の検知電圧に基づいて前記ビット線高電圧を発生する、出力段と、
を含み、
前記出力段の電源電圧が前記第2の電圧である、請求項3に記載のビット線電源供給装置。 - 前記第2のセンサは、前記第1の基準電圧と前記ビット線高電圧とをそれぞれ受信する第1の入力端子と第2の入力端子とを有し、前記第2の制御信号に基づいて有効にされ、前記第1の基準電圧と前記ビット線高電圧との比較に基づいて前記第2の検知電圧を発生する、第2のオペアンプを含む、請求項3に記載のビット線電源供給装置。
- 前記スイッチング電圧レギュレータは、
前記第2のオペアンプの出力端子と前記第3の電圧との間に結合され、有効信号に制御されてオンまたはオフにされる、スイッチと、
第1の端子が前記第3の電圧に結合され、ゲート端子が前記第2のオペアンプの出力端子に結合される、プルアップスイッチと、
前記プルアップスイッチの第2の端子に結合され、前記プルアップスイッチの第2の端子により基準電流を引き出す、基準電流発生器と、
前記プルアップスイッチの第2の端子に結合され、バッファ電圧を出力する、バッファと、
前記バッファに結合されて前記バッファ電圧を受信し、前記バッファ電圧の電圧をレベルシフトしてゲート制御電圧を発生する、電圧オフセット回路と、
前記ゲート制御電圧を受信し、前記ゲート制御電圧に基づいて前記第2の出力電圧を発生する、出力段と、
を含み、
前記出力段の電源電圧が前記第2の電圧であり、前記有効信号は前記第2の制御信号に基づいて発生される、請求項5に記載のビット線電源供給装置。 - 前記ビット線高電圧発生器は、
前記第1の電圧発生回路及び前記第2の電圧発生回路に並列に結合され、前記第1の基準電圧及び第1のスタンバイ電圧回路制御信号に基づいてスタンバイ出力電圧を発生し、前記スタンバイ出力電圧は前記ビット線高電圧とする、第1のスタンバイ電圧回路をさらに含む、請求項1に記載のビット線電源供給装置。 - 前記ビット線高電圧発生器における前記第1のスタンバイ電圧回路は、
前記第1のスタンバイ電圧回路制御信号に基づいて有効にされ、前記第1の基準電圧と前記ビット線高電圧との比較に基づいて第3の検知電圧を発生し、電源電圧が前記第2の電圧である、第3のセンサと、
前記第3のセンサに結合され、前記第3の検知電圧に対してリニア調整動作を行って前記スタンバイ出力電圧を発生し、電源電圧が前記第2の電圧である、第2のリニア電圧レギュレータと、
を含む、請求項7に記載のビット線電源供給装置。 - 前記ビット線高電圧発生器に結合され、前記ビット線高電圧に基づいて電流源電圧を発生する、電流源電圧発生器をさらに含む、請求項8に記載のビット線電源供給装置。
- 第3の電圧発生回路を有し、第2の基準電圧及び第3の制御信号に基づいてオーバードライブ電圧を発生する、オーバードライブ電圧発生器をさらに含む、請求項9に記載のビット線電源供給装置。
- リフレッシュ動作の際、前記オーバードライブ電圧発生器の状態はオフである、請求項10に記載のビット線電源供給装置。
- アクティブ動作において、メモリバンクがアクティブにされるとき、前記オーバードライブ電圧発生器は1つの時間区間オンにされ、前記オーバードライブ電圧発生器が前記時間区間オンにされた後、前記複数のビット線高電圧発生器は同時にオンにされる、請求項10に記載のビット線電源供給装置。
- 前記ビット線高電圧発生器及び前記オーバードライブ電圧発生器に結合され、前記ビット線高電圧または前記オーバードライブ電圧に基づいて前記電流源電圧を発生する、電流源電圧発生器をさらに含む、請求項10に記載のビット線電源供給装置。
- 前記第3の電圧発生回路は、
前記第3の制御信号と前記第2の基準電圧及び前記オーバードライブ電圧との比較に基づいて第4の検知電圧を発生し、電源電圧が前記第3の電圧である、第4のセンサと、
前記第4のセンサに結合され、前記第4の検知電圧に基づいて前記オーバードライブ電圧を発生する、チャージポンプ回路と、
を含み、
前記第4のセンサの電源電圧が前記第3の電圧であり、前記チャージポンプ回路の電源電圧が前記第2の電圧である、請求項13に記載のビット線電源供給装置。 - 前記オーバードライブ電圧発生器は、
前記第3の電圧発生回路に並列に結合され、前記第2の基準電圧及び第2のスタンバイ電圧回路制御信号に基づいて前記オーバードライブ電圧を発生する、第2のスタンバイ電圧回路をさらに含む、請求項14に記載のビット線電源供給装置。 - 前記第2のスタンバイ電圧回路は、
前記第2のスタンバイ電圧回路制御信号に基づいて有効にされ、前記第2の基準電圧と前記オーバードライブ電圧との比較に基づき第5の検知電圧を発生し、電源電圧が前記第3の電圧である、第5のセンサと、
前記第5のセンサに結合され、前記第5の検知電圧に基づいて前記オーバードライブ電圧を発生し、電源電圧が前記第3の電圧である、第3のリニア電圧レギュレータと、
を含む、請求項15に記載のビット線電源供給装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018022365A JP6592126B2 (ja) | 2018-02-09 | 2018-02-09 | ビット線電源供給装置 |
TW108101296A TWI683319B (zh) | 2018-02-09 | 2019-01-14 | 位元線電源供應裝置 |
KR1020190005168A KR102194913B1 (ko) | 2018-02-09 | 2019-01-15 | 비트 라인 전원 공급 장치 |
US16/261,460 US10418075B2 (en) | 2018-02-09 | 2019-01-29 | Bit line power supply apparatus |
CN201910097861.9A CN110134169B (zh) | 2018-02-09 | 2019-01-31 | 位线电源供应装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018022365A JP6592126B2 (ja) | 2018-02-09 | 2018-02-09 | ビット線電源供給装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019139826A true JP2019139826A (ja) | 2019-08-22 |
JP6592126B2 JP6592126B2 (ja) | 2019-10-16 |
Family
ID=67541057
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018022365A Active JP6592126B2 (ja) | 2018-02-09 | 2018-02-09 | ビット線電源供給装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10418075B2 (ja) |
JP (1) | JP6592126B2 (ja) |
KR (1) | KR102194913B1 (ja) |
CN (1) | CN110134169B (ja) |
TW (1) | TWI683319B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11315627B1 (en) * | 2020-11-17 | 2022-04-26 | Micron Technology, Inc. | Voltage drop mitigation techniques for memory devices |
CN113994431A (zh) * | 2021-03-30 | 2022-01-28 | 长江存储科技有限责任公司 | 三维存储器器件中的异步多面独立方案动态模拟资源共享 |
TWI786702B (zh) * | 2021-06-28 | 2022-12-11 | 南亞科技股份有限公司 | 積體電路裝置之檢測系統、訊號源及電源供應裝置 |
CN114564063B (zh) * | 2022-03-14 | 2023-11-10 | 长鑫存储技术有限公司 | 稳压器及其控制方法 |
KR20230143807A (ko) * | 2022-04-06 | 2023-10-13 | 전남대학교산학협력단 | 비트라인 센스 앰프 |
US11777394B1 (en) * | 2022-04-20 | 2023-10-03 | Cisco Technology, Inc. | Modular power supply architecture optimized for flat efficiency across loadings |
TWI812578B (zh) * | 2023-03-17 | 2023-08-11 | 華邦電子股份有限公司 | 記憶體晶片 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03137709A (ja) * | 1989-10-24 | 1991-06-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電源装置 |
US6636023B1 (en) * | 1999-10-14 | 2003-10-21 | Juniper Networks, Inc. | Combined linear and switching voltage regulator |
US7639067B1 (en) * | 2006-12-11 | 2009-12-29 | Altera Corporation | Integrated circuit voltage regulator |
US20100191987A1 (en) * | 2009-01-29 | 2010-07-29 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device using plural external voltage and data processing system including the same |
US20110080797A1 (en) * | 2009-10-05 | 2011-04-07 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device having sense amplifiers |
JP2012190495A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-10-04 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体記憶装置 |
US20120275256A1 (en) * | 2011-04-26 | 2012-11-01 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device |
JP2015533443A (ja) * | 2012-11-06 | 2015-11-24 | クアルコム,インコーポレイテッド | 低減スイッチオンレート低ドロップアウトレギュレータ(lod)バイアスおよび補償の方法および装置 |
US9285814B1 (en) * | 2014-08-28 | 2016-03-15 | Cirrus Logic, Inc. | Feedback path for fast response to transients in voltage regulators |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000348488A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2004178725A (ja) * | 2002-11-28 | 2004-06-24 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
KR100624920B1 (ko) * | 2004-11-11 | 2006-09-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 오실레이터 |
US7417903B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-08-26 | Hynix Semiconductor Inc. | Core voltage generator and method for generating core voltage in semiconductor memory device |
US7738928B2 (en) | 2006-09-21 | 2010-06-15 | Research In Motion Limited | Integrated switch-mode power supply and linear regulator |
KR100943115B1 (ko) * | 2007-07-25 | 2010-02-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전압 변환 회로 및 이를 구비한 플래시 메모리 소자 |
JP2010258950A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Seiko Epson Corp | 比較回路、集積回路装置及び電子機器 |
US8749213B2 (en) | 2009-06-09 | 2014-06-10 | Silergy Technology | Mixed mode control for switching regulator with fast transient responses |
KR101675561B1 (ko) * | 2010-05-04 | 2016-11-15 | 삼성전자주식회사 | 전원 장치 |
US9240717B2 (en) * | 2011-04-25 | 2016-01-19 | Rohm Co., Ltd. | Switching power supply device and electronic appliance therewith |
JP6004836B2 (ja) | 2012-08-22 | 2016-10-12 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電源装置、半導体装置、及びワイヤレス通信装置 |
KR102066604B1 (ko) * | 2012-12-26 | 2020-02-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비교기 회로 및 신호 비교 방법 |
EP2997433B1 (en) * | 2013-05-17 | 2020-07-15 | Intel Corporation | On-chip supply generator using dynamic circuit reference |
JP6184891B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2017-08-23 | 東芝メモリ株式会社 | 情報処理装置、半導体チップ、情報処理方法およびプログラム |
CN105304117B (zh) * | 2014-06-03 | 2018-09-07 | 华邦电子股份有限公司 | 存储器自我刷新装置及方法 |
US9755628B2 (en) * | 2016-01-07 | 2017-09-05 | Delta Electronics, Inc. | Driving circuit, converter and driving method |
KR102032327B1 (ko) * | 2016-11-22 | 2019-10-15 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 디지털 ldo 레귤레이터 및 이를 사용하는 저항 변화 메모리 장치 |
-
2018
- 2018-02-09 JP JP2018022365A patent/JP6592126B2/ja active Active
-
2019
- 2019-01-14 TW TW108101296A patent/TWI683319B/zh active
- 2019-01-15 KR KR1020190005168A patent/KR102194913B1/ko active IP Right Grant
- 2019-01-29 US US16/261,460 patent/US10418075B2/en active Active
- 2019-01-31 CN CN201910097861.9A patent/CN110134169B/zh active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03137709A (ja) * | 1989-10-24 | 1991-06-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電源装置 |
US6636023B1 (en) * | 1999-10-14 | 2003-10-21 | Juniper Networks, Inc. | Combined linear and switching voltage regulator |
US7639067B1 (en) * | 2006-12-11 | 2009-12-29 | Altera Corporation | Integrated circuit voltage regulator |
US20100191987A1 (en) * | 2009-01-29 | 2010-07-29 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device using plural external voltage and data processing system including the same |
JP2010176742A (ja) * | 2009-01-29 | 2010-08-12 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びデータ処理システム |
US20110080797A1 (en) * | 2009-10-05 | 2011-04-07 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device having sense amplifiers |
JP2011081855A (ja) * | 2009-10-05 | 2011-04-21 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
JP2012190495A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-10-04 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体記憶装置 |
US20120275256A1 (en) * | 2011-04-26 | 2012-11-01 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device |
JP2012230737A (ja) * | 2011-04-26 | 2012-11-22 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
JP2015533443A (ja) * | 2012-11-06 | 2015-11-24 | クアルコム,インコーポレイテッド | 低減スイッチオンレート低ドロップアウトレギュレータ(lod)バイアスおよび補償の方法および装置 |
US9285814B1 (en) * | 2014-08-28 | 2016-03-15 | Cirrus Logic, Inc. | Feedback path for fast response to transients in voltage regulators |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10418075B2 (en) | 2019-09-17 |
TW201935471A (zh) | 2019-09-01 |
TWI683319B (zh) | 2020-01-21 |
KR20190096800A (ko) | 2019-08-20 |
JP6592126B2 (ja) | 2019-10-16 |
CN110134169A (zh) | 2019-08-16 |
CN110134169B (zh) | 2020-12-29 |
KR102194913B1 (ko) | 2020-12-28 |
US20190252006A1 (en) | 2019-08-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6592126B2 (ja) | ビット線電源供給装置 | |
JP4353621B2 (ja) | 半導体装置 | |
US7772914B2 (en) | Clock control circuit and voltage pumping device using the same | |
US20070236278A1 (en) | Internal voltage generator for semiconductor integrated circuit capable of compensating for change in voltage level | |
KR100961210B1 (ko) | 제어신호생성회로 및 이를 이용하는 센스앰프회로 | |
KR101003140B1 (ko) | 내부 전원 발생 장치와 그의 제어 방법 | |
US7768340B2 (en) | Voltage pumping device | |
US7307897B2 (en) | Plural bank semiconductor memory device with increased boosting voltage stability | |
US7623394B2 (en) | High voltage generating device of semiconductor device | |
US8203891B2 (en) | Voltage sensing circuit capable of controlling a pump voltage stably generated in a low voltage environment | |
US8749299B2 (en) | Semiconductor device generating varied internal voltages | |
US20080062800A1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100718037B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 기판 바이어스 전압 발생 회로 | |
US20070222499A1 (en) | Swing width control circuit and high voltage pumping circuit using the same | |
US11532350B2 (en) | Memory device including data input/output circuit | |
KR100922885B1 (ko) | 내부전압 발생회로 | |
KR100857435B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR20160138618A (ko) | 내부전압 발생 장치 | |
KR20130091033A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR20090003662A (ko) | 반도체 소자 | |
KR20070089418A (ko) | 반도체 메모리 장치의 벌크 전압 생성 회로 및 방법 | |
KR20020053478A (ko) | 부스팅 전압 발생회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190315 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190827 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190919 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6592126 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |