JP2019127597A - めっき構造体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
第2の目的は、3価クロムめっき液を用いて、クロムめっき層と、その上の膜厚20nm以上の耐食性の高い酸化クロム層とを容易に形成できるようにすることにある。
第3の目的は、酸化クロム層によりめっき構造体の外観の色調を変化させられるようにすることにある。
これまで、3価クロム電解処理で酸化クロム層を形成することは知られていないが、それが本発明により可能となった。3価クロムめっき液にて電流密度0.05〜2.5A/dm2で電解処理することにより、クロムめっき層の表面に酸化クロム層が形成されるメカニズムは、酸化還元電位に関係していると思われるが、詳細は不明である。
なお、後述するサンプル1のとおり、ニッケルめっき層の表面に、同じく3価クロムめっき液にて電解処理をしても、電流密度にかかわらず酸化クロム層は形成されなかったため、クロムめっき層の存在は酸化クロム層の形成に必須と考えられる。
・前記化成処理よりも、酸化クロム層の成膜速度が速く、膜厚20nm以上にすることが容易である。
・第3の目的のため、酸化クロム層の膜厚を30nm以上にして干渉色を呈するようにし、めっき構造体の外観の色調を変化させることができる。酸化クロム層の膜厚を30nm以上において変えることにより、干渉色を変えることができる。酸化クロム層を、膜厚45〜90nmで青色の干渉色を呈するものとすることにより、いわゆるブルーめっきのめっき構造体とすることができる。
・クロムめっき層と、酸化クロム層とを、1つのめっき浴(3価クロムめっき液)で続けて電解処理して形成できるようになる。
・Cr6+を使用しないため、黄味が発生しない。
請求項2に係る発明によれば、3価クロムめっき液を用いて、クロムめっき層と、その上の膜厚20nm以上の耐食性の高い酸化クロム層とを続けて容易に形成することができる。
請求項3に係る発明によれば、酸化クロム層によりめっき構造体の外観の色調を変化させることができる。
請求項4に係る発明によれば、いわゆるブルーめっきのめっき構造体とすることができる。
基材の材料は、特に限定されず、金属、樹脂(表面導電化)等を例示できる。樹脂基材の場合、樹脂は熱可塑性でも熱硬化性でもよく、特に限定されないが、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合体(ABS)樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、PC/ABS樹脂、アクリル樹脂、スチレン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリプロピレン樹脂、塩化ビニル樹脂、ポリウレタン樹脂等を例示できる。
クロムめっき層の下の下地めっき層は、必須ではなく、特に限定されないが、ニッケルめっき層が好ましい。ニッケルめっき層は、クロムめっき層を美感保持するとともに、電気化学的に防食するからである。ニッケルめっき層の具体的構成は、特に限定されず、1層でも複数層でもよい。
基材が樹脂基材である場合、下地めっき層はニッケルめっき層の下に銅めっき層を含むものが好ましい。銅めっき層は、延性に富むため樹脂基材によく追従するからである。
3価クロムめっき液に使用する3価クロム化合物としては、特に限定されないが、硫酸クロム(Cr2(SO4)3)、クロムミョウバン(CrK(SO4)2)、硝酸クロム(Cr(NO3)3)、塩化クロム(CrCl3)、酢酸クロム(Cr(CH3COO)3)等を例示できる。
3価クロムめっき液は、クロムめっき層の形成時と酸化クロム層の形成時とで、同じものを続けて用いること、あるいは酸化クロム層の形成時にはクロムめっき層の形成時の組成に材料を加える程度の差異があるものを用いることが効率上好ましいが、別々に調製した3価クロムめっき液を用いてもよい。
クロムめっき層の種類は、特に限定されないが、酸化クロム層による干渉色を期待する場合には、その下の色が濃いほど干渉色が鮮明に見て取れる点で、黒色クロムめっき層であることが好ましい。
クロムめっき層の膜厚は、特に限定されないが、耐久性の点で0.1μm以上が好ましく、膜内部応力の増大を防ぐ点で2μm以下が好ましく、1.5μm以下がより好ましい。
酸化クロム層の膜厚の上限は、特にないが、敢えていえば、処理時間を過長にしない点で200nm以下が好ましく、150nm以下がより好ましい。
めっき構造体の用途は、特に限定されないが、車両用加飾部品(ラジエータグリル、フェンダ、ガーニッシュ、ホイールキャップ、バックパネル、エアスポイラー、エンブレム等)、電気製品(携帯電話、スマートホン、携帯情報端末、ゲーム機等)用筐体部品等を例示できる。
(1)ハルセル板の前処理と光沢ニッケルめっき層の形成
真鍮製のハルセル板(寸法100mm×75mm×0.3mm)を前処理(脱脂、酸洗、水洗等)した。
ハルセル板の表面に、下地めっき層として光沢ニッケルめっき層を形成した。下地めっきは、ニッケルめっき槽にニッケルめっき液を入れ、ハルセル板と陽極板を平行にして浸し、電解めっきすることにより行った。
前記光沢ニッケルめっき層の表面に、3価クロムめっき液による電解処理を低い電流密度で行うという新手法により、酸化クロム層の形成を試みた。具体的にはハルセル試験を利用することとし、図2(a)に示すように、前記ニッケルめっき槽から取り出したハルセル板1をハルセル槽4(267ml)の斜壁に陰極としてセットし、その対峙壁に陽極板2をセットし、槽内に以下の成分を配合した水溶液からなる3価クロムめっき液3(3価クロム化合物はトライクロムアジチブ中に含まれる塩基性硫酸クロムである。)を入れ、浴温35℃、電流2A、処理時間300秒の処理条件で、電解めっきすることにより行った。
ホウ酸 10g/L
アトテック社製トライクロムアジチブ 400g/L
アトテック社製トライクロムスタビライザー 90ml/L
アトテック社製トライクロムコレクター 3ml/L
アトテック社製トライクロムレギュレーター 3.5ml/L
アトテック社製トライクロムグラファイトメイキャップ 90ml/L
塩酸を用いてpH値を3.2に調整した
(1)ハルセル板の前処理と光沢ニッケルめっき層の形成
サンプル1の(1)と同様である。
光沢ニッケルめっき層の表面に、3価クロムめっきにより膜厚0.3μmの黒色クロムめっき層を形成した。3価クロムめっきは、クロムめっき槽に3価クロムめっき液(サンプル1の(2)で用いた液組成と同じ。)を入れ、ハルセル板と陽極板とを平行にして浸し、浴温35℃、電流2A、めっき時間150秒の処理条件で、電解めっきすることにより行った。
前記黒色クロムめっき層の表面に、3価クロムめっき液による電解処理を低い電流密度で行うという新手法により、酸化クロム層を形成した。具体的にはハルセル試験を利用することとし、図2(a)に示すように、前記クロムめっき槽から取り出したハルセル板1を、ハルセル槽4(267ml)の斜壁に陰極としてセットし、その対峙壁に陽極板2をセットし、槽内に3価クロムめっき液3(サンプル1の(2)で用いた液組成と同じ。)を入れ、浴温35℃、電流2A、処理時間300秒の処理条件で、電解めっきすることにより行った。
次に、図1(c)及び図2(d)に示すハルセル板を用いためっき構造体[実施例1]と、図1(c)及び図2(e)に示すハルセル板を用いためっき構造体[実施例2]を、次の方法で作製した。
サンプル1の(1)と同様である。
サンプル2の(2)と同様である。
実施例1は、電流0.5A、処理時間120秒と処理条件を変えた点においてサンプル2と相違し、その他はサンプル2と同様に行った。図2(d)は実施例1を示し、ハルセル板の高電部1aの縁から複数の分析箇所までの各距離(mm)を記入している。
実施例2は、電流0.5A、処理時間30秒と処理条件を変えた点においてサンプル2と相違し、その他はサンプル2と同様に行った。図2(e)は実施例2を示し、ハルセル板の高電部1aの縁から複数の分析箇所までの各距離(mm)を記入している。
次の表3に、実施例1,2の各分析箇所における電流密度を示す。
λpeak=2d(neff 2-sin2θ)0.5
(θ:入射角、λpeak:反射波長、d:面間隔、neff:屈折率)
と、垂直入射(θ=0°)の測定結果より、
λpeak(nm)=5.9149×膜厚(nm)
酸化クロム層の屈折率neff=2.96
と算出される。
図1(d)に示す樹脂基材を用いためっき構造体[実施例3]を、次の方法で作製した。
ABS樹脂製の板状の樹脂基材を前処理(脱脂、酸処理、水洗等)した。
樹脂基材の表面に、無電解ニッケルめっき層を形成した。
無電解ニッケルめっき層の上に、下地めっき層として、銅めっき層、半光沢ニッケルめっき層、光沢ニッケルめっき層、及びマイクロポーラス構造をもつ腐食分散ニッケルめっき層をこの順で形成した。下地めっきは、各めっき槽に各金属めっき液を入れ、樹脂基材と陽極板を平行にして浸し、電解めっきすることにより行った。
腐食分散ニッケルめっき層の表面に、3価クロムめっきにより膜厚0.3μmの黒色クロムめっき層を形成した。3価クロムめっきは、クロムめっき槽に3価クロムめっき液(サンプル1の(2)で用いた液組成と同じ。)を入れ、樹脂基材と陽極板とを平行にして浸し、浴温35℃、電流2A、めっき時間150秒の処理条件で、電解めっきすることにより行った。
続いて、黒色クロムめっき層の表面に、電解処理により膜厚70nmの酸化クロム槽を形成した。電解処理は、上記(2)のクロムめっき槽の3価クロムめっき液に樹脂基材と陽極板とを平行にして浸したまま、浴温35℃、電流0.5Aに下げ、めっき時間120秒の処理条件で、前記電解めっきと同様の電解処理を続行することにより行った。
試験液:塩化ナトリウム40g/L、塩化第二銅0.205g/L、pH値3.0
飽和器温度 63℃
試験槽温度 50℃
噴霧量 1.5ml/80cm2/h
圧縮空気圧力 0.98MPa
試料設置角度 30°
試験時間 80時間
CASS試験終了後、レイティングナンバーは8以上であり、目視による腐食はみられなかった。
2 陽極板
3 3価クロムめっき液
4 ハルセル槽
Claims (6)
- 3価クロムめっき液を用いて電流密度0.05〜2.5A/dm2で電解処理することにより、既設のクロムめっき層の表面に膜厚20nm以上の酸化クロム層を形成するめっき構造体の製造方法。
- 3価クロムめっき液を用いて電流密度3A/dm2以上で電解処理することにより、クロムめっき層を形成した後、3価クロムめっき液を用いて電流密度0.05〜2.5A/dm2に下げて電解処理することにより、クロムめっき層の表面に膜厚20nm以上の酸化クロム層を形成するめっき構造体の製造方法。
- 酸化クロム層は、膜厚30nm以上である請求項1又は2記載のめっき構造体の製造方法。
- 酸化クロム層は、膜厚45〜90nmで青色の干渉色を呈するものである請求項1又は2記載のめっき構造体の製造方法。
- クロムめっき層は黒色クロムめっき層である請求項1〜4のいずれか一項に記載のめっき構造体の製造方法。
- クロムめっき層の膜厚は0.1〜2μmである請求項1〜5のいずれか一項に記載のめっき構造体の製造方法。
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