JP2019120500A - スケールおよびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】高い回折効率が得られるとともに、基板との高い密着性が得られるスケールおよびその製造方法を提供する。【解決手段】スケールは、基板10と、前記基板上に形成された第1金属層と、前記第1金属層上に形成された第2金属層と、前記第2金属層上に形成され、所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子40と、を備え、前記第1金属層は、前記第2金属層よりも基板10に対して密着性の高い金属によって構成され、前記第2金属層は、前記第1金属層よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されていることを特徴とする。【選択図】図1

Description

本件は、スケールおよびその製造方法に関する。
反射型の光電式リニヤスケールとして、照射された光を反射する目盛格子を有するスケールが開示されている(例えば、特許文献1参照)。このスケールは、格子の上面と下面との段差を利用した位相格子構造を有している。このような目盛格子は、基材に対して所定の段差を持つ凹凸形状を有している。したがって、スケールに付着した汚染物質を拭き取りなどで除去する際に、目盛格子を傷つけることがある。また、拭き取りの際に目盛格子間の凹部に汚染物質が残留するおそれがある。その結果、測定精度が低下するおそれがある。特に微細な目盛格子の場合は、測定精度の低下が顕著となる。そこで、格子の凹凸上に保護膜を形成する手法が開示されている(例えば、特許文献2参照)。
特開2005−308718号公報 特開2006−178312号公報
しかしながら、保護膜を設けると、保護膜表面と下地の金属との界面における反射・吸収により、回折光が保護膜無しの状態と比較して低下することが計算上明らかとなっている。そこで、反射型の位相格子を構成する材料として、高反射率金属を選択することが考えられる。しかしながら、基板との密着性を考慮すると、高反射率金属の種類が限定されてしまう。
1つの側面では、本発明は、高い回折効率が得られるとともに、基板との高い密着性が得られるスケールおよびその製造方法を提供することを目的とする。
1つの態様では、本発明に係るスケールは、基板と、前記基板上に形成された第1金属層と、前記第1金属層上に形成された第2金属層と、前記第2金属層上に形成され、所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子と、を備え、前記第1金属層は、前記第2金属層よりも前記基板に対して密着性の高い金属によって構成され、前記第2金属層は、前記第1金属層よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されていることを特徴とする。
上記スケールにおいて、前記第2金属層は、可視光から赤外光の波長に対して80%以上の反射率を有していてもよい。
上記スケールにおいて、前記第1金属層は、Cr、Ni、Ti、Ta、TiSiのいずれかとしてもよい。
上記スケールにおいて、前記第2金属層は、Cu、Au、Al、Agのいずれかとしてもよい。
上記スケールにおいて、前記目盛格子は、前記第2金属層とは異なる金属によって構成されており、前記目盛格子は、可視光から赤外光の波長に対して45%以上の反射率を有していてもよい。
上記スケールにおいて、前記目盛格子は、前記第1金属層と同じ金属によって構成されていてもよい。
上記スケールにおいて、前記目盛格子を覆い、1.3〜1.6の屈折率を有する保護膜を有していてもよい。
本発明に係るスケールの製造方法は、基板上に、第1金属層と、第2金属層と、金属の目盛格子層とをこの順に成膜する工程と、前記目盛格子層に対してエッチングを行うことで、所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子を形成する工程と、を含み、前記第1金属層は、前記第2金属層よりも前記基板に対して密着性の高い金属によって構成され、前記第2金属層は、前記第1金属層よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されていることを特徴とする。
上記スケールの製造方法において、前記第2金属層は、前記目盛格子層とは異なる金属によって構成されており、前記エッチングの際に、前記第2金属層をエッチングストップ層として用いてもよい。
高い回折効率が得られるとともに、基板との高い密着性が得られるスケールおよびその製造方法を提供することができる。
(a)は第1実施形態に係るスケールの平面図であり、(b)は(a)のA−A線断面図である。 (a)〜(e)はスケールの製造方法を例示する図である。
以下、図面を参照しつつ、実施形態について説明する。
(第1実施形態)
図1(a)は、第1実施形態に係るスケール100の平面図である。図1(b)は、図1(a)のA−A線断面図である。図1(a)および図1(b)で例示するように、スケール100は、基板10上に第1金属層として密着層20が形成され、密着層20上に第2金属層として高反射層30が形成され、高反射層30上に所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子40が形成され、目盛格子40および高反射層30の露出部を覆うように形成された保護層50が形成された構造を有している。
基板10は、特に限定されるものではない。基板10は、例えば、金属以外の材料で構成されている。例えば、金属酸化物、有機物、ガラスなどである。ガラスとして、石英ガラス(合成溶融石英)のような低膨張係数材料が用いられることもある。
密着層20は、高反射層30よりも基板10に対して密着性が高い金属によって構成されている。ここで、複数の金属の中で「密着性が高い金属」とは、同一の成膜法によって基板10上に成膜したと仮定した場合に、基板10との密着性が相対的に高い金属のことである。ただし、特定の金属について異なる複数の成膜法で成膜しても、得られる密着性の幅は小さい。したがって、複数の金属についてそれぞれ異なる成膜法で成膜しても、得られる密着性の順位に変動は生じない。高反射層30は、密着層20よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されている。密着層20は、例えば、可視光から赤外光の波長に対して45%以上の反射率を有している。高反射層30は、例えば、可視光から赤外光の波長に対して80%以上の反射率を有している。密着層20は、例えば、Cr、Ni、Ti、Ta、TiSiのいずれかである。高反射層30は、例えば、Cu、Au、Al、Agのいずれかである。
目盛格子40は、金属材料であれば特に限定されるものではない。例えば、目盛格子40は、高反射層30とは異なる金属で構成されていることが好ましく、密着層20と同じ金属で構成されていることがより好ましい。保護層50は、透明材料であれば特に限定されるものではない。保護層50は、例えば、透明樹脂材料、無機透明材料などである。保護層50は、例えば、1.3〜1.6の屈折率を有している。
本実施形態によれば、高反射層30と目盛格子40とによって、位相格子が構成される。それにより、スケール100を反射型スケールとして用いることができる。
次に、高反射層30が高い反射率を有していることから、高い回折効率を実現することができる。例えば、高反射層30が光に対して80%以上の反射率を有していることで、特に高い回折効率を実現することができる。この場合、保護層50を設けることで反射・吸収が生じても、十分な回折効率を実現することができる。
次に、高反射層30と密着層20とは、両者とも金属によって構成されているため、高い密着性を有している。目盛格子40と高反射層30とは、両者とも金属によって構成されているため、高い密着性を有している。さらに、密着層20は、基板10と高い密着性を有している。以上のことから、基板10との高い密着性が得られる。
次に、目盛格子40が高反射層30と異なる金属によって構成されていれば、目盛格子40をエッチングによって形成する際に、高反射層30をエッチングストップとして用いることができる。特に、目盛格子40が密着層20と同じ金属によって構成されていれば、材料の種類を低減することができる。それにより、成膜装置を用いた成膜コストを抑制することができる。例えば、目盛格子40が密着層20と同じ金属によって構成されていても、光に対して45%以上の反射率を有する金属を用いることによって、十分な回折効率を実現することができる。
次に、保護層50で高反射層30および目盛格子40を覆うことで、高反射層30および目盛格子40の傷、汚染物質の付着等を抑制することができる。例えば、保護層50が1.3〜1.6の屈折率を有することで、十分な回折効率を実現することができる。
図2(a)〜図2(e)は、スケール100の製造方法を例示する図である。まず、図2(a)で例示するように、基板10の一面上に、密着層20、高反射層30および被エッチング層60をこの順に形成する。密着層20、高反射層30および被エッチング層60は、例えば、化学蒸着、物理蒸着などによって形成することができる。被エッチング層60は、目盛格子40を形成するための層であるため、目盛格子40と同じ材料からなる。
次に、図2(b)で例示するように、目盛格子40のパターンを有しているレジストパターン70を形成する。次に、図2(c)で例示するように、レジストパターン70をマスクとして用いて、被エッチング層60に対してエッチングを行う。それにより、目盛格子40を形成することができる。
次に、図2(d)で例示するように、レジストパターン70を除去する。次に、図2(e)で例示するように、高反射層30および目盛格子40の露出部分を覆うように、保護層50を形成する。保護層50は、例えば、コーティングによって形成することができる。
本実施形態に係る製造方法によれば、高反射層30と目盛格子40とによって、位相格子が構成される。それにより、スケール100を反射型スケールとして用いることができる。次に、高反射層30が高い反射率を有していることから、高い回折効率を実現することができる。次に、高反射層30と密着層20とは、両者とも金属によって構成されているため、高い密着性を有している。目盛格子40と高反射層30とは、両者とも金属によって構成されているため、高い密着性を有している。さらに、密着層20は、基板10と高い密着性を有している。以上のことから、基板10との高い密着性が得られる。
次に、被エッチング層60と高反射層30と異なる金属によって構成されていれば、エッチングレートが異なることになる。したがって、高反射層30をエッチングストップとして用いることができる。この場合、格子高さを精密に制御することができる。
次に、目盛格子40が密着層20と同じ金属によって構成されていれば、材料の種類を低減することができる。この場合、成膜装置におけるターゲット数が低減される。それにより、成膜装置を用いた成膜コストを抑制することができる。また、同一の成膜装置を用いれば、真空を破らずに密着層20、高反射層30および被エッチング層60を形成することができる。
次に、保護層50で高反射層30および目盛格子40を覆うことで、高反射層30および目盛格子40の傷、汚染物質の付着等を抑制することができる。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10 基板
20 密着層
30 高反射層
40 目盛格子
50 保護層
60 被エッチング層
70 レジストパターン
100 スケール

Claims (9)

  1. 基板と、
    前記基板上に形成された第1金属層と、
    前記第1金属層上に形成された第2金属層と、
    前記第2金属層上に形成され、所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子と、を備え、
    前記第1金属層は、前記第2金属層よりも前記基板に対して密着性の高い金属によって構成され、
    前記第2金属層は、前記第1金属層よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されていることを特徴とするスケール。
  2. 前記第2金属層は、可視光から赤外光の波長に対して80%以上の反射率を有することを特徴とする請求項1記載のスケール。
  3. 前記第1金属層は、Cr、Ni、Ti、Ta、TiSiのいずれかであることを特徴とする請求項1または2に記載のスケール。
  4. 前記第2金属層は、Cu、Au、Al、Agのいずれかであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のスケール。
  5. 前記目盛格子は、前記第2金属層とは異なる金属によって構成されており、
    前記目盛格子は、可視光から赤外光の波長に対して45%以上の反射率を有していることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のスケール。
  6. 前記目盛格子は、前記第1金属層と同じ金属によって構成されていることを特徴とする請求項5記載のスケール。
  7. 前記目盛格子を覆い、1.3〜1.6の屈折率を有する保護膜を有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載のスケール。
  8. 基板上に、第1金属層と、第2金属層と、金属の目盛格子層とをこの順に成膜する工程と、
    前記目盛格子層に対してエッチングを行うことで、所定の間隔で複数の金属格子が配置された目盛格子を形成する工程と、を含み、
    前記第1金属層は、前記第2金属層よりも前記基板に対して密着性の高い金属によって構成され、
    前記第2金属層は、前記第1金属層よりも光に対して高い反射率を有する金属によって構成されていることを特徴とするスケールの製造方法。
  9. 前記第2金属層は、前記目盛格子層とは異なる金属によって構成されており、
    前記エッチングの際に、前記第2金属層をエッチングストップ層として用いることを特徴とする請求項8記載のスケールの製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7224747B1 (ja) 2022-08-31 2023-02-20 Dmg森精機株式会社 変位検出部材および変位検出装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7140495B2 (ja) * 2017-12-28 2022-09-21 株式会社ミツトヨ スケールおよびその製造方法
JP2021131312A (ja) * 2020-02-20 2021-09-09 株式会社ミツトヨ スケール

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05126604A (ja) * 1991-11-08 1993-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的位置検出器およびスケール製造方法
JP2005091001A (ja) * 2003-09-12 2005-04-07 Mitsutoyo Corp スケールの製造方法及び光電式エンコーダ
JP2009008457A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Nikon Corp 反射型エンコーダ及びモータ
JP2009264923A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダ用スケール
JP2009281990A (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 Nikon Corp 光学式エンコーダのスケール及びその製造方法
JP2010281839A (ja) * 2004-01-26 2010-12-16 Mitsutoyo Corp 反射型光電式エンコーダ用スケール及び光電式エンコーダ
JP2011247600A (ja) * 2010-05-21 2011-12-08 Mitsutoyo Corp エンコーダスケール及びその製造方法
JP2012021802A (ja) * 2010-07-12 2012-02-02 Mori Seiki Co Ltd 回折格子
JP2012027007A (ja) * 2010-06-22 2012-02-09 Mori Seiki Co Ltd 光学スケール
JP2012058121A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Mori Seiki Co Ltd 光学スケールの製造方法
JP2012225681A (ja) * 2011-04-15 2012-11-15 Mori Seiki Co Ltd 光学式変位測定装置
JP2013224910A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Hitachi Maxell Ltd 樹脂製エンコーダスケール、樹脂製エンコーダスケール用金型、樹脂製エンコーダスケールの製造方法およびエンコーダ
JP2015001412A (ja) * 2013-06-14 2015-01-05 株式会社ミツトヨ 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法
JP2015004597A (ja) * 2013-06-21 2015-01-08 株式会社ミツトヨ 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1190294B (it) * 1986-02-13 1988-02-16 Selenia Ind Elettroniche Una struttura di fotopolimero a multistrati (mlr) per la fabbricazione di dispositivi mesfet con gate submicrometrico e con canale incassato (recesse) di lunghezza variabile
JPH04211202A (ja) * 1990-03-19 1992-08-03 Canon Inc 反射型回折格子および該回折格子を用いた装置
JP3325840B2 (ja) * 1998-10-19 2002-09-17 株式会社ミツトヨ 反射型ホログラムスケール及びこれを用いた光学式変位測定装置
JP4913345B2 (ja) 2004-01-26 2012-04-11 株式会社ミツトヨ 反射型光電式エンコーダ用スケール、スケールの製造方法及び光電式エンコーダ
JP2006178312A (ja) 2004-12-24 2006-07-06 Canon Inc 表面反射型位相格子
FR2954524B1 (fr) * 2009-12-17 2012-09-28 Ecole Polytech Reseau de diffraction reflechissant dielectrique optimise
CN107102395B (zh) * 2017-07-11 2020-02-21 河北工程大学 一种亚波长光栅偏振器及制备方法

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05126604A (ja) * 1991-11-08 1993-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的位置検出器およびスケール製造方法
JP2005091001A (ja) * 2003-09-12 2005-04-07 Mitsutoyo Corp スケールの製造方法及び光電式エンコーダ
JP2010281839A (ja) * 2004-01-26 2010-12-16 Mitsutoyo Corp 反射型光電式エンコーダ用スケール及び光電式エンコーダ
JP2009008457A (ja) * 2007-06-26 2009-01-15 Nikon Corp 反射型エンコーダ及びモータ
JP2009264923A (ja) * 2008-04-25 2009-11-12 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダ用スケール
JP2009281990A (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 Nikon Corp 光学式エンコーダのスケール及びその製造方法
JP2011247600A (ja) * 2010-05-21 2011-12-08 Mitsutoyo Corp エンコーダスケール及びその製造方法
JP2012027007A (ja) * 2010-06-22 2012-02-09 Mori Seiki Co Ltd 光学スケール
JP2012021802A (ja) * 2010-07-12 2012-02-02 Mori Seiki Co Ltd 回折格子
JP2012058121A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Mori Seiki Co Ltd 光学スケールの製造方法
JP2012225681A (ja) * 2011-04-15 2012-11-15 Mori Seiki Co Ltd 光学式変位測定装置
JP2013224910A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Hitachi Maxell Ltd 樹脂製エンコーダスケール、樹脂製エンコーダスケール用金型、樹脂製エンコーダスケールの製造方法およびエンコーダ
JP2015001412A (ja) * 2013-06-14 2015-01-05 株式会社ミツトヨ 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法
JP2015004597A (ja) * 2013-06-21 2015-01-08 株式会社ミツトヨ 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7224747B1 (ja) 2022-08-31 2023-02-20 Dmg森精機株式会社 変位検出部材および変位検出装置
JP2024034222A (ja) * 2022-08-31 2024-03-13 Dmg森精機株式会社 変位検出部材および変位検出装置

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