JP2019084589A - 研磨パッド及び研磨パッドの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1(b)に示すように、研磨層101は、ポリウレタン樹脂110と、中空微粒子111を含有する。
施例等に限定されない。
無発泡の樹脂シートを試験片とし、室温23±2℃の環境下において該試験片(ポリウレタンの無発泡体)を100%の伸ばしたとき、すなわち元の長さの2倍に伸ばしたときの引張応力を試験片の初期断面積で除した値を100%モジュラス値とした。
研磨層の断面をCCDで撮像して得られた画像により研磨層の厚みを測定した。なお、同様にして、基材の厚みを測定した。
研磨層から、試料片(10cm×10cm)を切り出し、電子天秤(型式メトラ−AJ−180)でその質量W0(g)を測定し、研磨層の断面をCCDで撮像して得られた画像により測定した厚みt(cm)及び質量W0(g)から、密度(ρ)=W0/t/100(g/cm3)により算出した。
圧縮率及び圧縮弾性率は、日本工業規格JIS L 1021に準拠して求めた。具体的には、室温において無荷重状態から初荷重を30秒間かけた後の厚さt0を測定し、次に、厚さt0の状態から最終荷重を5分間かけた後の厚さt1を測定した。次いで厚さt1の状態から全ての荷重を取り除き、5分放置(無荷重状態とした)後、再び初荷重を30秒間加えた後の厚さt0'を測定した。
研磨パッドのA硬度は、日本工業規格JIS K 7311に準拠して求めた。研磨パッドから試料片(10cm×10cm)を切り出し、複数枚の試料片を合計の厚さが4.5mm以上になるように重ね、A型硬度計を用いて測定した。
研磨パッドについて、以下の研磨条件で研磨加工を行い、研磨レートを測定した。測定では、研磨パッドを研磨機の所定位置に装着し、ワーク(被研磨物)としてTEOS膜付きシリコンウエハを用いた。研磨レートは、25枚の研磨加工前後のTEOS膜の厚さの差である研磨量を、研磨時間で除して表したものであり、研磨加工前後のウエハについて、厚み測定結果の平均値から求めた。厚み測定は、光学式膜厚膜質測定器(KLAテンコール社製、商品名「ASET−F5x」、測定:DBSモード)を用い、研磨レート(研磨前)を測定した。なお、研磨パッドは、その表面を、予め、ドレッサを用いて、圧力30N、研磨ヘッドおよび研磨定盤の回転数54rpm、超純水供給量200mL/min、ドレッシング時間30秒のドレッシング条件でドレッシングしてから測定に用いた。この研磨パッドを用いて、上記同様に研磨レート(研磨後)を測定した。測定結果を図3に示す。
使用研磨機:(株)荏原製作所製、商品名「F−REX300」
研磨速度(定盤回転数):70rpm
研磨ヘッド回転数:71rpm
加工圧力:2.5psi
研磨剤:コロイダルシリカスラリ(原液:純水=重量比1:1の混合液を使用)
研磨剤流量:200mL/min
研磨時間:60秒
被研磨物:TEOS(Tetra Ethyl Ortho Silicate)付きシリコンウエハ(12インチ)
日本工業規格(JIS K 6902)のテーバー摩耗試験に準じた方法に従い測定した。摩耗試験機は回転駆動可能に軸支された回転盤を有している。回転盤の上方には、一対の円柱状の摩耗輪が端面を対向させて配置されている。摩耗輪の外周面が回転盤に貼付される試料と接触可能に配置されている。摩耗輪は、回転盤の回転軸に対して等距離となるように、回転盤の半径方向両側に配置されている。摩耗輪の外周には、研磨紙が隙間を形成されず、互いに重なり合わないように貼り付けられている。摩耗量の測定時には、回転盤と同形状に裁断された試料(研磨層)を回転盤に貼付する。研磨紙を貼り付けた摩耗輪を試料の上面に接触させ、接触面に及ぼす荷重が5.20±0.2Nとなるように押圧する。回転盤を回転させることで、外周面を試料に接触させた一対の摩耗輪が互いに反対方向に回転する。摩耗量の測定では、320番手のサンドペーパーを外周に貼り付けた摩耗輪に研磨層の表面(研磨面)を接触させて回転させたときに研磨層の表面(研磨面)での回転数1000回あたりの摩耗量(mg)を測定した。
エア発生(中空微粒子以外の空隙発生)の有無は、研磨面に光を当てて、研磨面における膨らみの有無を目視により確認した。また、研磨面に膨らみが確認された箇所については、研磨層の断面を電子顕微鏡(CCD又はSEM)により倍率50倍で観察し確認した。
101…研磨層
101a…研磨面
102…基材
110…ポリウレタン樹脂(混合ポリウレタン樹脂)
110a…第1ポリウレタン樹脂
110b…第2ポリウレタン樹脂
111…中空微粒子
111a…外殻
111b…内部空間
200…製造装置
201…コータ
202…乾燥機
Claims (10)
- 基材と、
前記基材にコーティングされ、
第1の100%モジュラス値を有する第1ポリウレタン樹脂及び第2の100%モジュラス値を有する第2ポリウレタン樹脂を含み、前記第1の100%モジュラス値及び前記第2の100%モジュラス値が15.0MPa以下であり、前記第2の100%モジュラス値が前記第1の100%モジュラス値よりも低く、前記第1の100%モジュラス値と前記第2の100%モジュラス値との差が2.0MPa以上である混合ポリウレタン樹脂と、
熱可塑性樹脂からなる外殻を有し前記混合ポリウレタン樹脂中に分散された中空微粒子と
を含む研磨層と
を具備する研磨パッド。 - 請求項1に記載の研磨パッドであって、
前記研磨層の圧縮弾性率は、60.0%以上85.0%以下である
研磨パッド。 - 請求項1または2に記載の研磨パッドであって、
前記研磨層の圧縮率は、5.0%以下である
研磨パッド。 - 請求項1〜3のいずれか1つに記載の研磨パッドであって、
前記研磨パッドのA硬度は、50.0°以上90.0°以下である
研磨パッド。 - 請求項1〜4のいずれか1つに記載の研磨パッドであって、
前記第1ポリウレタン樹脂と前記第2ポリウレタン樹脂との重量比は、9:1から5:5の範囲にある
研磨パッド。 - 請求項1〜5のいずれか1つに記載の研磨パッドであって、
前記第2の100%モジュラス値は、2.0MPa以上である
研磨パッド。 - 第1の100%モジュラス値を有する第1ポリウレタン樹脂及び第2の100%モジュラス値を有する第2ポリウレタン樹脂を含み、前記第1の100%モジュラス値及び前記第2の100%モジュラス値が15.0MPa以下であり、前記第2の100%モジュラス値が前記第1の100%モジュラス値よりも低く、前記第1の100%モジュラス値と前記第2の100%モジュラス値との差が2.0MPa以上である混合ポリウレタン樹脂と、熱可塑性樹脂からなる外殻を有する中空微粒子と、溶媒とを含む混合溶液を準備し、
前記混合溶液を基材にコーティングし、
前記混合溶液中の前記溶媒を除去する
研磨パッドの製造方法。 - 請求項7に記載の研磨パッドの製造方法であって、
前記第2の100%モジュラス値は、2.0MPa以上である
研磨パッドの製造方法。 - 請求項7または8に記載の研磨パッドの製造方法であって、
前記第1ポリウレタン樹脂と前記第2ポリウレタン樹脂との重量比は、9:1から5:5の範囲にある
研磨パッドの製造方法。 - 請求項7〜9のいずれか1つに記載の研磨パッドの製造方法であって、
前記混合溶液を35℃以上50℃以下の温度で乾燥させる
研磨パッドの製造方法。
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