JP2018197753A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109490271A (zh) * 2018-12-26 2019-03-19 华讯方舟科技有限公司 一种荧光光谱的测试装置及测试方法
CN109632745A (zh) * 2018-12-28 2019-04-16 深圳市太赫兹科技创新研究院 角度荧光测量装置和方法
CN112014077B (zh) * 2020-09-24 2025-03-25 远方谱色科技有限公司 一种亮度分布测量装置及方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62157549A (ja) * 1985-12-30 1987-07-13 Kanzaki Paper Mfg Co Ltd シート状透光性試料の異方性測定方法
JPS6435418A (en) * 1987-07-30 1989-02-06 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Method for evaluating liquid crystal orientational capacity of oriented film
JP2677199B2 (ja) * 1994-07-28 1997-11-17 日本電気株式会社 配向膜検査装置および検査方法
US5808738A (en) * 1995-06-13 1998-09-15 University Of South Florida Multiangle, multiwavelength particle characterization system and method
JP2000081371A (ja) * 1998-09-07 2000-03-21 Nec Corp 薄膜分子配向評価方法、評価装置及び記録媒体
US6697157B2 (en) * 1999-05-24 2004-02-24 Hinds Instruments Birefringence measurement
JP3854056B2 (ja) * 1999-12-13 2006-12-06 株式会社荏原製作所 基板膜厚測定方法、基板膜厚測定装置、基板処理方法及び基板処理装置
JP4895428B2 (ja) * 2001-03-12 2012-03-14 シンテック株式会社 液晶セルの配向パラメータ測定方法および測定装置
JP4135603B2 (ja) * 2003-09-12 2008-08-20 オムロン株式会社 ２次元分光装置及び膜厚測定装置
KR101280335B1 (ko) * 2005-01-24 2013-07-01 가부시키가이샤 모리텍스 광학적 이방성 파라미터 측정 방법 및 측정 장치
JP4158801B2 (ja) * 2005-03-29 2008-10-01 セイコーエプソン株式会社 液晶パネルの製造方法及び液晶パネル用基板の製造方法
JP5224835B2 (ja) * 2007-02-09 2013-07-03 国立大学法人東京工業大学 有機ｅｌ素子およびその製造方法、ならびに有機ｅｌ素子の評価方法
JP5806837B2 (ja) * 2011-04-11 2015-11-10 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
JP5319856B1 (ja) * 2012-06-13 2013-10-16 株式会社シンクロン 膜厚測定装置及び成膜装置
JP6290637B2 (ja) * 2014-01-30 2018-03-07 浜松ホトニクス株式会社 膜厚計測方法及び膜厚計測装置
JP6279399B2 (ja) * 2014-05-23 2018-02-14 浜松ホトニクス株式会社 光計測装置及び光計測方法

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