JP2018197753A5 - - Google Patents
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- 所定の屈折率を有し、透光性を有する基板上に所定の膜厚で配置された試料に向けて照射光を照射する照射光学系と、前記照射光の照射に伴って前記試料から発せられる検出光を導光する検出光学系と、前記検出光を検出する光検出器とを用いて、前記試料の配向パラメータを算出する方法であって、
前記試料の前記検出光の出射側の面の垂線と前記検出光学系の光軸とのなす角を変更しながら、前記光検出器を用いて前記検出光を検出させて検出信号を出力する検出ステップと、
前記検出信号から得られた光強度の角度依存性分布を基に、前記なす角がゼロ度における前記光強度で、前記なす角が所定範囲の前記光強度を規格化して、規格化された光強度の角度依存性分布を取得する取得ステップと、
前記規格化された光強度の角度依存性分布の極大領域の光強度を特定する特定ステップと、
前記極大領域の光強度に基づいて、前記配向パラメータを算出する算出ステップと、
を備える、配向特性測定方法。 - 所定の屈折率を有し、透光性を有する基板上に所定の膜厚で配置された試料に向けて照射光を照射する照射光学系と、前記照射光の照射に伴って前記試料から発せられる検出光を導光する検出光学系と、前記試料の前記検出光の出射側の面の垂線と前記検出光学系の光軸とのなす角を変更しながら、前記検出光を検出する光検出器とを含む検出装置を用いて前記検出光を検出して得られた検出信号に基づいて、前記試料の配向パラメータを算出するためのプログラムであって、
前記検出信号から得られた光強度の角度依存性分布を基に、前記なす角がゼロ度における前記光強度で、前記なす角が所定範囲の前記光強度を規格化して、規格化された光強度の角度依存性分布を取得する取得処理と、
前記規格化された光強度の角度依存性分布の極大領域の光強度を特定する特定処理と、
前記極大領域の光強度に基づいて、前記配向パラメータを算出する算出処理と、
をコンピュータに実行させる、配向特性測定プログラム。 - 所定の屈折率を有し、透光性を有する基板上に所定の膜厚で配置された試料に向けて照射光を照射する照射光学系と、
前記照射光の照射に伴って前記試料から発せられる検出光を導光する検出光学系と、
前記検出光を検出して検出信号を出力する光検出器と、
前記試料の前記検出光の出射側の面の垂線と前記検出光学系の光軸とのなす角を変更する駆動機構と、
前記なす角を変更するように前記駆動機構を制御する制御部と、
前記なす角を変更しながら得られた前記検出信号を基に前記試料の配向パラメータを算出する処理装置とを備え、
前記処理装置は、
前記検出信号から得られた光強度の角度依存性分布を基に、前記なす角がゼロ度における前記光強度で、前記なす角が所定範囲の前記光強度を規格化して、規格化された光強度の角度依存性分布を取得する取得部と、
前記規格化された光強度の角度依存性分布の極大領域の光強度を特定する特定部と、
前記極大領域の光強度に基づいて、前記配向パラメータを算出する算出部と、
を有する、配向特性測定装置。 - 前記算出ステップでは、前記試料の前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率によって決まる光強度と前記配向パラメータに関連する値との間の線形関係と、前記極大領域の光強度とに基づいて、前記配向パラメータを算出する、請求項1に記載の配向特性測定方法。
- 複数の膜厚と複数の屈折率との組み合わせ毎に予め記憶された複数の前記線形関係の中から、前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率に対応する線形関係を選択する選択ステップをさらに備える、請求項4に記載の配向特性測定方法。
- ユーザによって入力された屈折率及び膜厚に関するパラメータを基に、前記線形関係を決定する決定ステップをさらに備える、請求項4又は5に記載の配向特性測定方法。
- 前記算出処理では、前記試料の前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率によって決まる光強度と前記配向パラメータに関連する値との間の線形関係と、前記極大領域の光強度とに基づいて、前記配向パラメータを算出する、請求項2に記載の配向特性測定プログラム。
- 複数の膜厚と複数の屈折率との組み合わせ毎に予め記憶された複数の前記線形関係の中から、前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率に対応する線形関係を選択する選択処理をさらにコンピュータに実行させる、請求項7に記載の配向特性測定プログラム。
- ユーザによって入力された屈折率及び膜厚に関するパラメータを基に、前記線形関係を決定する決定処理をさらにコンピュータに実行させる、請求項7又は8に記載の配向特性測定プログラム。
- 前記処理装置の前記算出部は、前記試料の前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率によって決まる光強度と前記配向パラメータに関連する値との間の線形関係と、前記極大領域の光強度とに基づいて、前記配向パラメータを算出する、請求項3に記載の配向特性測定装置。
- 前記処理装置は、複数の膜厚と複数の屈折率との組み合わせ毎に予め記憶された複数の前記線形関係の中から、前記所定の膜厚及び前記所定の屈折率に対応する線形関係を選択する選択部をさらに有する、請求項10に記載の配向特性測定装置。
- 前記処理装置は、ユーザによって入力された屈折率及び膜厚に関するパラメータを基に、前記線形関係を決定する決定部をさらに有する、請求項10又は11に記載の配向特性測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017101926 | 2017-05-23 | ||
JP2017101926 | 2017-05-23 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018517235A Division JP6356372B1 (ja) | 2017-05-23 | 2017-11-22 | 配向特性測定方法、配向特性測定プログラム、及び配向特性測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018197753A JP2018197753A (ja) | 2018-12-13 |
JP2018197753A5 true JP2018197753A5 (ja) | 2021-01-07 |
JP6846385B2 JP6846385B2 (ja) | 2021-03-24 |
Family
ID=64395479
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018112951A Active JP6846385B2 (ja) | 2017-05-23 | 2018-06-13 | 配向特性測定方法、配向特性測定プログラム、及び配向特性測定装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3633351B1 (ja) |
JP (1) | JP6846385B2 (ja) |
CN (1) | CN110651177B (ja) |
TW (2) | TWI769203B (ja) |
WO (1) | WO2018216246A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109490271A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-03-19 | 华讯方舟科技有限公司 | 一种荧光光谱的测试装置及测试方法 |
CN109632745A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-04-16 | 深圳市太赫兹科技创新研究院 | 角度荧光测量装置和方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62157549A (ja) * | 1985-12-30 | 1987-07-13 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | シート状透光性試料の異方性測定方法 |
JPS6435418A (en) * | 1987-07-30 | 1989-02-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for evaluating liquid crystal orientational capacity of oriented film |
JP2677199B2 (ja) * | 1994-07-28 | 1997-11-17 | 日本電気株式会社 | 配向膜検査装置および検査方法 |
US5808738A (en) * | 1995-06-13 | 1998-09-15 | University Of South Florida | Multiangle, multiwavelength particle characterization system and method |
JP2000081371A (ja) * | 1998-09-07 | 2000-03-21 | Nec Corp | 薄膜分子配向評価方法、評価装置及び記録媒体 |
US6697157B2 (en) * | 1999-05-24 | 2004-02-24 | Hinds Instruments | Birefringence measurement |
JP3854056B2 (ja) * | 1999-12-13 | 2006-12-06 | 株式会社荏原製作所 | 基板膜厚測定方法、基板膜厚測定装置、基板処理方法及び基板処理装置 |
JP4895428B2 (ja) * | 2001-03-12 | 2012-03-14 | シンテック株式会社 | 液晶セルの配向パラメータ測定方法および測定装置 |
JP4135603B2 (ja) * | 2003-09-12 | 2008-08-20 | オムロン株式会社 | 2次元分光装置及び膜厚測定装置 |
KR101280335B1 (ko) * | 2005-01-24 | 2013-07-01 | 가부시키가이샤 모리텍스 | 광학적 이방성 파라미터 측정 방법 및 측정 장치 |
JP4158801B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2008-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶パネルの製造方法及び液晶パネル用基板の製造方法 |
JP5224835B2 (ja) * | 2007-02-09 | 2013-07-03 | 国立大学法人東京工業大学 | 有機el素子およびその製造方法、ならびに有機el素子の評価方法 |
JP5806837B2 (ja) * | 2011-04-11 | 2015-11-10 | 株式会社モリテックス | 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム |
JP5319856B1 (ja) * | 2012-06-13 | 2013-10-16 | 株式会社シンクロン | 膜厚測定装置及び成膜装置 |
JP6290637B2 (ja) * | 2014-01-30 | 2018-03-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 膜厚計測方法及び膜厚計測装置 |
JP6279399B2 (ja) * | 2014-05-23 | 2018-02-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光計測装置及び光計測方法 |
-
2017
- 2017-11-22 EP EP17910576.2A patent/EP3633351B1/en active Active
- 2017-11-22 WO PCT/JP2017/042073 patent/WO2018216246A1/ja active Application Filing
- 2017-11-22 CN CN201780091062.XA patent/CN110651177B/zh active Active
- 2017-12-15 TW TW106144122A patent/TWI769203B/zh active
- 2017-12-15 TW TW111125031A patent/TWI813366B/zh active
-
2018
- 2018-06-13 JP JP2018112951A patent/JP6846385B2/ja active Active
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