JP2018189392A - 電子部品試験装置用のキャリア - Google Patents
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Abstract
Description
5 テストヘッド
6 テスタ
7 ケーブル
8 カメラ
50 ICソケット
51 端子
55 位置決めピン
100 テスト部
101 装置基台
102 トレイ搬送装置
110 ソークチャンバ
120 テストチャンバ
121 プッシャ
130 アンソークチャンバ
200 格納部
201 試験前ストッカ
202 試験済ストッカ
203 トレイ支持枠
204 エレベータ
205 トレイ移送アーム
300 ローダ部
310 デバイス搬送装置
311 レール
312 可動アーム
320 可動ヘッド
360 プリサイサ
370 窓部
400 アンローダ部
410 デバイス搬送装置
470 窓部
TST テストトレイ
700 フレーム
701 外枠
702 内枠
703 開口
710 デバイスキャリア
720 ボディ
721 開口
7211 内壁面
722 係合部
730 コア
740 コア本体
741 開口
742 爪部
7421 軸部
7422 係止爪
743、744 レバー収容部
7431、7441 外壁面
7432、7442 内壁面
7432A、7442A 開口
7433、7443 凸部
745、746 位置決め部
7451、7461 位置決め孔
7452、7462 内壁面
749 カシメ
749B ボス
750 ICソケット
751 フランジ
751A 開口
752 開口
753 端子
760、761 押付機構
7601、7611 レバー
7601A、7611A 押付部
7601B、7611B バネ受け部
7601C、7611C 凸部
7601D、7611D 平面
7602、7612 バネ
770 フック
Claims (6)
- テスタと前記テスタに接続されたソケットボードとを備える電子部品試験装置内で搬送されるトレイに設けられ、複数の外部接触端子が底面から突出する被試験電子部品を、前記ソケットボードの上で保持する電子部品試験装置用のキャリアであって、
前記複数の外部接触端子に対応して設けられ前記ソケットボードを介して前記テスタに接続される複数の端子を備え、前記被試験電子部品が載置されるICソケットと、
前記被試験電子部品を囲繞するように環状に形成され、前記ICソケットが底部に取り付けられた第1の本体部と、
前記トレイのフレームに取り付けられ、前記第1の本体部が着脱可能に取り付けられた第2の本体部と
を備え、
前記第1の本体部には、前記ソケットボードまたは前記ソケットボードの周囲から突出する位置決めピンと嵌合する位置決め孔が形成され、
前記第1の本体部は、前記第2の本体部に対して相対的に平面内で移動可能に取り付けられている電子部品試験装置用のキャリア。 - 請求項1に記載の電子部品試験装置用のキャリアであって、
前記第1の本体部は、
前記被試験電子部品を前記第1の本体部の複数の内壁面のうちの一の内壁面に押し付ける押付機構を備える電子部品試験装置用のキャリア。 - 請求項1又は2に記載の電子部品試験装置用のキャリアであって、
前記第1の本体部は、
前記底部に設けられ、前記ICソケットの外周部を着脱可能に保持する複数の爪部を備える電子部品試験装置用のキャリア。 - 請求項1に記載の電子部品試験装置用のキャリアであって、
前記第1の本体部は、
前記被試験電子部品を前記第1の本体部の複数の内壁面のうちの一の内壁面に押し付ける押付機構と、
前記底部に設けられ、前記ICソケットの外周部を着脱可能に保持する複数の爪部と
を備え、
前記押付機構は、前記ICソケットを前記複数の爪部の何れか一つに押し付ける電子部品試験装置用のキャリア。 - 請求項1〜4の何れか1項に記載の電子部品試験装置用のキャリアであって、
前記第1の本体部は、前記底部に設けられ、前記ICソケットを前記底部に固定するカシメを備え、
前記位置決め孔は、前記カシメに設けられている電子部品試験装置用のキャリア。 - 請求項1〜5の何れか1項に記載の電子部品試験装置用のキャリアの製造方法であって、
前記ICソケットの外周部に複数の開口を形成し、
前記第1の本体部の底面に前記開口の直径よりも小径の複数のボスを形成し、
前記ボスを前記開口に挿入して、前記位置決め孔と前記端子とを相対的に位置合わせし、
前記ボスを変形させることにより前記ICソケットの前記外周部を前記第1の本体部の前記底面にかしめる電子部品試験装置用のキャリアの製造方法。
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