JP2018146602A - 観察装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源2からの照明光を透明な標本Xに照射する照明光学系3と、標本Xからの観察光を集光する対物レンズ4と、対物レンズ4により集光された観察光を検出する検出光学系5と、標本Xを挟んで対物レンズ4と反対側に配置され、複数の微小な反射要素を配列してなる再帰性反射部材6とを備え、重力方向において、標本Xよりも下側に対物レンズ4および照明光学系3が配置されている観察装置1を提供する。
【選択図】図1
Description
本発明の一態様は、光源からの照明光を透明な標本に照射する照明光学系と、前記標本からの観察光を集光する対物レンズと、該対物レンズにより集光された前記観察光を検出する検出光学系と、前記標本を挟んで前記対物レンズと反対側に配置され、複数の微小な反射要素を配列してなる再帰性反射部材とを備え、重力方向において、前記標本よりも下側に前記対物レンズおよび前記照明光学系が配置されている観察装置を提供する。
このようにすることで、暗視野照明光学系からなる照明光学系により、対物レンズを経由せずに標本に照明光が照射され、標本における散乱光が対物レンズにおいて集光されて検出光学系により検出される。
このようにすることで、励起照明光学系からなる照明光学系により、対物レンズを経由せずに標本に照明光が照射され、標本において発生した蛍光が対物レンズにおいて集光されて検出光学系により検出される。
このようにすることで、同軸落射観察を行うことができる。例えば、標本からの反射光または透過光を観察する明視野観察を行う場合には、光源から対物レンズを経由して標本に照射された照明光の標本における反射光および標本を透過して再帰性反射部材において反射した照明光が標本を透過した透過光を対物レンズによって集光して検出光学系により検出することができる。標本の落射明視野像と透過明視野像の両方を観察することができるとともに、標本の透過率に応じて見え方の異なる明視野像を観察することができる。
このようにすることで、標本に偏斜照明を行って、標本を立体感のある像により観察することができる。
このようにすることで、減光部材によって開口を通過した直接光の光量が抑えられるので、暗視野観察を行うことができる。
このようにすることで、照明光学系により、対物レンズを経由して標本に照明光が照射され、標本において発生した蛍光が対物レンズにおいて集光されて検出光学系により検出される。
このようにすることで、光源からの照明光が共焦点ディスクのピンホールを通過して、対物レンズによって標本上に複数のスポットを形成し、各スポット位置において蛍光物質を励起して蛍光を発生させる。発生した蛍光の内、対物レンズにより集光され共焦点ディスクのピンホールを通過した蛍光が撮影される。この場合に、共焦点ディスクを回転等させることにより、標本上においてスポットを走査させて2次元的な蛍光像を撮影することができる。
このようにすることで、光源からの照明光が対物レンズによって標本上にスポットを形成し、各スポット位置において蛍光物質を励起して蛍光を発生させる。スキャナによってスポットを標本上で移動させることにより標本の2次元的な蛍光像を取得することができる。
このようにすることで、照明光が照射されることにより標本において発生した蛍光の内、再帰性反射部材側に射出された蛍光は光学フィルタによって遮断されるので、再帰性反射部材によって折り返されて標本に再度入射することが防止される。これにより、標本で散乱された蛍光を検出することによるコントラストの低下を防止することができる。
このようにすることで、光源からの極短パルスレーザ光が対物レンズによって標本に集光されることにより、集光位置における光子密度が高められて多光子励起効果により蛍光が発生する。スキャナの作動により極短パルスレーザ光の集光位置を変化させることにより、2次元的な蛍光像を取得することができる。
本実施形態に係る観察装置1は、図1に示されるように、レーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡であって、光源2からのレーザ光(照明光)を標本Xに照射する照明光学系3と、標本Xにおいて発生した蛍光(観察光)を集光する対物レンズ4と、集光された蛍光を検出する検出光学系5と、標本Xを挟んで対物レンズ4とは反対側に配置された再帰性反射部材6とを備えている。
照明光学系3は、重力方向において、培養容器8の下側に配置され、光源2からのレーザ光をリレーする2組のリレー光学系9,10と、該リレー光学系9,10の間に配置され、レーザ光を2次元的に走査するガルバノミラーからなるスキャナ11とを備えている。光源2からのレーザ光はリレー光学系9,10によってリレーされ、スキャナ11によって2次元的に走査された後、対物レンズ4により集光されて、培養容器8内に収容されている標本Xに下方から照射されて、標本X内に光スポットを形成するようになっている。
検出光学系5は、対物レンズ4により集光され、リレー光学系10およびスキャナ11を介して戻る標本Xからの蛍光をレーザ光の光路から分岐するダイクロイックミラー12と、分岐された蛍光を集光する結像レンズ13と、結像された蛍光を透過させる共焦点ピンホール(ピンホール)14と、蛍光に含まれるレーザ光を遮断する励起光カットフィルタ15と、光電子増倍管等の光検出器16とを備えている。図中、符号17は、レーザ光および蛍光を反射するミラーである。
本実施形態に係る観察装置1を用いて、培養容器8内の細胞等の透明な標本Xを観察するには、図3に示されるように、光源2からのレーザ光を、照明光学系3および対物レンズ4によって、培養容器8の下方から標本Xに入射させ、標本X内に光スポットを集光させるとともに、照明光学系3のスキャナ11によって光スポットを2次元的に走査させる。
この場合においても、再帰性反射部材6によって、各光スポットの位置に励起光を2回照射することができるとともに、各光スポットの位置において発生した蛍光も再帰性反射部材6により反射されることによって、当該光スポットから発生した蛍光の一部として検出するので、明るい蛍光画像を取得することができるという利点がある。
図5の観察装置28は、図1の観察装置1と比較して、検出光学系5のダイクロイックミラー12を対物レンズ4の直近に配置し、共焦点ピンホール14をなくしている点で相違している。
この場合、光源2としては、例えば、波長1200nmの極短パルスレーザ光を射出する光源を採用し、励起光カットフィルタ15としては、波長1200nmの極短パルスレーザ光を遮断し、波長600nmおよび波長400nmの極短パルスレーザ光を透過するものを採用すればよい。
光学フィルタ7は、レーザ光の照射により標本Xにおいて発生した蛍光のうち、再帰性反射部材6側に射出された蛍光を遮断するようになっている。
この場合において、光源2が点光源ではない場合(例えば、水銀光源)には、軸上の励起光のみならず、軸外の励起光も標本Xに照射される。本実施形態に係る観察装置1によれば、軸上の励起光のみならず軸外の励起光についても、再帰性反射部材6によって同一経路を戻るように反射されるので、上記効果を得ることができる(図6の点線の光線を参照。)。
この場合には、図7に示されるように、照明光学系3が、光源2からの照明光を通過させるポラライザ29を備え、観察装置1が、対物レンズ4の瞳位置近傍に、ポラライザ29を透過した照明光を透過させかつ対物レンズ4により集光された標本Xからの観察光を透過させる複屈折素子30を備え、検出光学系5が、複屈折素子30を透過した標本Xからの観察光を透過させるアナライザ31を備えることとすればよい。
この場合においても、標本Xの各位置を透過した照明光を再帰性反射部材6によって再度同一位置に通過させることにより、複屈折により発生する位相差を2倍にすることができる。
この場合には、図8に示されるように、照明光学系3が、対物レンズ4の瞳位置に光学的に共役な位置に配置されたリングスリット(開口)32を備え、検出光学系5が、対物レンズ4の瞳位置または該瞳位置に光学的に共役な位置に配置されリングスリット32の形状に対応するOリング板状の位相膜33を備えていればよい。図中、符号34は、リレー光学系である。
この場合には、図9に示されるように、照明光学系3が、対物レンズ4の瞳位置に光学的に共役な位置に、光軸中心から径方向に離れた位置に配置されたリングスリット(開口)32を備えて、標本Xに対して特定の角度で照明光を入射させることとしてもよい。
このようにすることで、標本Xに斜め下方から透過させた照明光を再帰性反射部材6によって反射することにより、標本Xに斜め上方から入射する偏斜照明を生成し、透過した観察光をハーフミラー35によって分岐してCCD等の撮像素子25により撮影することにより、標本Xを立体感のある像により観察することができる。
標本Xの透過率が低い場合には、照明光の一部が標本Xにおいて反射し、他の部分が標本Xを透過する。対物レンズ4により、下方から標本Xに照射された照明光の一部は標本Xにおいて反射して対物レンズ4により集光されるとともに、標本Xを透過した照明光は再帰性反射部材6によって反射されて再度標本Xに照射され、透過光として対物レンズ4により集光される。これにより、落射型の構成により、落射明視野観察と透過明視野観察とを同時に行うことができる。標本Xの透過率によって変化する明視野像により観察を行うことができるという利点がある。
このようにすることで、照明光学系(暗視野照明光学系)3により、対物レンズ4を経由せずに標本Xに照明光が照射され、標本Xにおける散乱光が対物レンズ4において集光されて検出光学系5により検出される。
このようにすることで、照明光学系3により、対物レンズ4を経由せずに標本Xに照明光が照射され、標本Xにおいて発生した蛍光が対物レンズ4において集光されて検出光学系5により検出される。
2λ<d<D/10
これにより照明光を反射する際における回折を防止できるとともに、さほど大きなシフトを発生することなく照明光を同一方向に反射することができる。
2 光源
3 照明光学系(暗視野照明光学系、励起照明光学系)
4 対物レンズ
5 検出光学系
6 再帰性反射部材
7 光学フィルタ
11 スキャナ
14 共焦点ピンホール(ピンホール)
20 反射要素
23 ピンホール
24 共焦点ディスク
29 ポラライザ
30 複屈折素子
31 アナライザ
32 リングスリット(開口)
33 位相膜
36 減光部材
X 標本
Claims (14)
- 光源からの照明光を透明な標本に照射する照明光学系と、
前記標本からの観察光を集光する対物レンズと、
該対物レンズにより集光された前記観察光を検出する検出光学系と、
前記標本を挟んで前記対物レンズと反対側に配置され、複数の微小な反射要素を配列してなる再帰性反射部材とを備え、
重力方向において、前記標本よりも下側に前記対物レンズおよび前記照明光学系が配置されている観察装置。 - 前記照明光学系が、前記対物レンズを経由せずに前記標本に前記照明光を照射する暗視野照明光学系である請求項1に記載の観察装置。
- 前記照明光学系が、前記対物レンズを経由せずに前記標本に前記照明光を照射して蛍光を発生させる励起照明光学系である請求項1に記載の観察装置。
- 前記照明光学系が、前記対物レンズを経由して前記標本に前記照明光を照射する請求項1に記載の観察装置。
- 前記照明光学系が、前記対物レンズの瞳位置に光学的に共役な位置に配置された開口を備え、
前記検出光学系が、前記対物レンズの瞳位置または該瞳位置に光学的に共役な位置に配置され前記開口の形状に対応する形状を有する位相膜を備える請求項4に記載の観察装置。 - 前記照明光学系が、ポラライザを備え、
前記対物レンズの瞳位置近傍に、前記ポラライザを透過した前記照明光を透過させかつ前記対物レンズにより集光された前記標本からの前記観察光を透過させる複屈折素子を備え、
前記検出光学系が、前記複屈折素子を透過した前記標本からの前記観察光を透過させるアナライザを備える請求項4に記載の観察装置。 - 前記照明光学系が、前記対物レンズの瞳位置に光学的に共役な位置に配置された開口を備え、前記標本に対して特定の角度で前記照明光を照射する請求項4に記載の観察装置。
- 前記検出光学系が、前記対物レンズの前記瞳位置に光学的に共役な位置近傍に減光部材を備える請求項7に記載の観察装置。
- 前記照明光学系が、前記標本に前記照明光を照射して蛍光を発生させる請求項4に記載の観察装置。
- 前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配置され、前記照明光および前記観察光を透過させる複数のピンホールを備えた共焦点ディスクを備える請求項9に記載の観察装置。
- 前記照明光がレーザ光であり、
前記照明光学系が、前記対物レンズを経由して前記標本上で前記レーザ光を走査させるスキャナを備え、
前記検出光学系が、前記対物レンズの焦点位置と光学的に共役な位置に配置され、前記標本における前記レーザ光の走査位置において発生し前記対物レンズおよび前記スキャナを介して戻る前記蛍光を通過させるピンホールを備える請求項9に記載の観察装置。 - 前記標本と前記再帰性反射部材との間に配置され、前記標本において発生した前記蛍光を遮断する光学フィルタを備える請求項9から請求項11のいずれかに記載の観察装置。
- 前記照明光が、極短パルスレーザ光であり、
前記照明光学系が、前記対物レンズを経由して前記標本上で前記極短パルスレーザ光を走査させるスキャナを備える請求項9に記載の観察装置。 - 前記照明光が、極短パルスレーザ光であり、
前記照明光学系が、前記対物レンズを経由して前記標本上で前記極短パルスレーザ光を走査させるスキャナを備え、前記標本における前記極短パルスレーザ光の走査位置において高次高調波を発生させる請求項4に記載の観察装置。
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