JP2018129030A5 - - Google Patents

Claims (14)

1. 複数の製造工程を経て製品を製造する製造方法であって、
   前記製品が製造される製造設備の設備データを取得する工程と、
   前記製品から製品データを取得する工程と、
   前記設備データと前記製品データをデータ収集部に格納する工程と、
   前記製造工程間の距離に基づき、前記設備データと前記製品データとを関連付ける工程と、
   前記製品データの異常を判断する工程と、
   前記製品に異常が発生した場合に、異常とされた製品と関連付けられた、設備異常データおよび製品異常データの両方またはいずれか一方を特定する工程と、
   該特定する工程によって、前記製品異常の原因となった前記製造工程をさらに特定する工程とを含む製品の製造方法。
2. 前記製品の製造後に、前記製品の製品異常を判断する工程と、
   前記製品に異常があった場合に、製品異常とされた製品と関連付けられた、前記設備異常データおよび前記製品異常データの両方またはいずれか一方を特定する工程と、
   該特定する工程によって、前記製品異常の原因となった前記製造工程をさらに特定する工程とを含む請求項１記載の製品の製造方法。
3. 前記製品異常の原因となった製造工程の製造設備に関する前記設備異常データを得る工程と、
   前記異常とされた製品の前記製品異常データおよび前記設備異常データを表示装置の画面上に見える化する工程と含む、請求項１又は２に記載の製品の製造方法。
4. 前記製造工程をさらに特定する工程によって特定された製造工程の製造設備を修復する工程を含む請求項１〜３のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
5. 前記製造設備を修復する工程は、フィードバック制御により前記製造設備の異常部位を自動で修復する請求項４に記載の製品の製造方法。
6. 前記製造設備を修復する工程は、前記製造設備を停止して、前記製造設備の異常部位に関する機械パラメータを調整して前記異常部位を修復する請求項４又は５に記載の製品の製造方法。
7. 前記製品異常は、正常品の製品データと前記製造工程にて作製された製品の製品データとを比較して正常品の製品データと異なるものを異常品として検出し、
   前記異常品の製品データから異常の原因となる原因データを抽出し、
   前記原因データに基づいて、前記製品データと関連付けされる前記設備データの製造パターンデータに対してトレースを行う請求項１〜６のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
8. 前記製品が吸収性物品であって、前記データ収集部に格納される前記製品データには、前記吸収性物品に関連付けて前記吸収性物品の製造データが記録される請求項１〜７のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
9. 正常品のデータ収集工程および異常品のデータ収集工程のそれぞれの工程にて、統計値を計算する請求項１〜８のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
10. 前記製品データのうちの画像処理検査器に関する画像処理データと、前記設備データとの相関関係を確認する工程を含む請求項１〜８のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
11. 前記データ収集部は、主中央処理装置と補助中央処理装置を有する請求項１〜１０のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
12. 前記製品データに加えて予め前記製造設備に設定された設定値が登録される請求項１〜１１のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
13. 前記設備データは、製品１枚毎の周期にて収集される枚葉収集データと、枚葉収集データよりも長い周期にて収集される長周期収集データと、枚葉収集データよりも短い周期にて収集される短周期収集データとからなる請求項１〜１２のいずれか１項に記載の製品の製造方法。
14. 複数製造工程に対応して製品が製造される製造装置であって、
    前記製品が製造される複数の製造設備と前記製品が検査される複数の検査装置を有し、
    前記製造設備が有する製造パターンが検出されるセンサと、
    関連付けされた、前記検査装置にて得られた製品データと、前記センサにて検出された製造パターンデータと、が格納されるデータ収集部とを有し、
    前記データ収集部は、前記製品データが処理される補助中央処理装置と、
    関連付けされた、前記製造設備の設備状態が示された設備データと、前記補助中央処理装置にて処理された補助装置収集データと、前記製造パターンデータと、が処理される主中央処理装置と、
    前記主中央処理装置にて処理された主装置収集データが格納されるデータベースサーバと、を有する製品の製造装置。