JP2018078260A - 窒化アルミニウム単結晶基板及び、該単結晶基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 結晶成長法にて得られた窒化アルミニウム単結晶基板であって、該単結晶基板における結晶成長面及び該結晶成長面の裏面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下であり、且つ該結晶成長面、及び該単結晶基板における結晶格子面の曲率半径が15m以上である窒化アルミニウム単結晶基板を提供する。上記基板は、結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶基板を製造した後、該単結晶基板における結晶成長面及び該結晶成長面の裏面の両方を研削した後に、該両面の表面粗さRaが100nm以下となるまで研磨することで製造できる。
【選択図】 なし
Description
本発明のIII族窒化物単結晶基板は、結晶成長法にて得られた窒化アルミニウム単結晶基板であって、該単結晶基板における結晶成長面及び該結晶成長面の裏面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下であり、且つ該結晶成長面、及び該単結晶基板における結晶格子面(以下、単に「結晶格子面」とも言う)の曲率半径が15m以上であることが特徴である。本発明の窒化アルミニウム単結晶基板の結晶成長面とは、結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶が積層される面を示すものである。図1は、本発明の窒化アルミニウム単結晶基板を示す概略図であるが、図1において窒化アルミニウム単結晶基板1にける12が結晶成長面に、13が結晶成長面の裏面に該当する。また、本発明の窒化アルミニウム単結晶基板は、窒化アルミニウム単結晶である下地基板上に結晶成長法にてさらに窒化アルミニウム単結晶を成長させた場合も含まれる。この場合には、複数の窒化アルミニウム単結晶層を有する窒化アルミニウム単結晶基板となる。図2は窒化アルミニウム単結晶である下地基板14上に結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶11を成長させた窒化アルミニウム単結晶基板を示す概略図であるが、この場合における12が結晶成長面に、13が結晶成長面の裏面に該当する。窒化アルミニウム単結晶基板における上記結晶成長面上にIII族窒化物半導体薄膜を結晶成長させ、紫外デバイスが製造されるが、このような曲率半径を有する湾曲の小さい窒化アルミニウム単結晶基板を用いることで、該発光素子層を均一に積層させることが可能である。このため、上記発光素子層を積層させたウエハーにおける外部量子効率(EQE)の面内のばらつきを抑制させることができ、該ウエハーから切断された紫外発光素子の品質のばらつきが抑制され、歩留まり良く紫外発光素子を製造することが可能となる。
上記、本発明の窒化アルミニウム単結晶基板は、結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶基板を製造した後、該単結晶基板における結晶成長面及び結晶成長面の裏面の両方を研削した後に、該結晶成長面及び結晶成長面の裏面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下となるまで研磨することによって製造することができる。
本発明の製造方法で用いられる下地基板としては、窒化アルミニウム単結晶層が結晶成長できる下地基板であれば、特に制限されず、窒化アルミニウム単結晶を下地基板として用いても良いし、異種基板を下地基板として用いても良いが、均質で膜厚の大きい窒化アルミニウム単結晶層を成長させる観点から、下地基板として窒化アルミニウム単結晶基板を用いることが好ましい。下地基板としての窒化アルミニウム単結晶基板としては、昇華法やHVPE(Hydride Vapor PhaseEpitaxy)法など、公知の方法で製造された窒化アルミニウム単結晶基板を使用することができる。下地基板としては、欠陥が少なく(例えば転位密度が106cm−2以下)、厚みが100μm以上1000μm以下で、結晶成長面が2nm以下にまで平坦に研磨されていることが好ましい。下地基板自体の波長265nmの光の直線透過率については、積層された窒化アルミニウム単結晶基板の直線透過率への影響がなく、積層後に研削等で除去すれば良いので、低くてもよい。下地基板として用いた窒化アルミニウム単結晶の波長265nmの光の直線透過率が十分に高い場合には、該下地基板上に窒化アルミニウム単結晶層が積層された積層体自体を本発明の窒化アルミニウム単結晶基板として用いることができる。
本発明の製造方法では、上記下地基板上に結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶基板を積層させる。窒化アルミニウム単結晶基板を積層させる方法としては、公知の方法、例えば特許文献1に記載されているHVPE法や、昇華法等の結晶成長方法で製造されたものを使用することができる。これらの結晶成長法の中で、HVPE法は、昇華法と比べると成長速度が遅く、バルク単結晶を製造するには適していないが、深紫外光透過率に悪影響を及ぼす不純物濃度が低いため、紫外発光素子に用いる窒化アルミニウム単結晶基板の結晶成長法として好適である。
下地基板に波長265nmの光の直線透過率の低い基板を用いた場合、下地基板上に窒化アルミニウム単結晶基板を積層した後、後述する研削により除去し、波長265nmの光の直線透過率が50%以上の部分を残す。なお、本下地基板の除去工程は、後述の発光素子層および電極を形成した後でもよい。
上記結晶成長法にて製造した窒化アルミニウム単結晶基板は、結晶成長面及び結晶成長面の裏面の凹凸の低減、厚み調整のために両面の研削を行う。研削方法としては、基板を接着剤等でセラミック等のプレート上に固定し、砥粒が固定された砥石を回転させながら基板表面に当てて削る方法もしくは遊離砥粒を流し金属定盤を回転させながら基板表面を削る方法が挙げられる。研削等の加工で使用する砥粒の形態は、メタルやレジン等に固定化された砥粒および遊離砥粒を特に問わない。また、使用する砥粒は、ダイヤモンド、シリコンカーバイド、ボロンカーバイド等が一般的である。研削に使用する砥粒の粒子径は一般的に1μm以上100μm以下であり、1μm/分以上100μm/分以下の速度で削ればよい。どの程度まで研削するかの目安としては、後述する研磨における研磨条件を勘案して適宜決定すれば良い。例えば、基板の全面が均一に削られ、プレート上に固定した状態で基板の厚みのばらつき(例えば中心部1点と外周部4点の計5点の最大と最小の差)が5μm以下になる程度まで行えば十分である。片面の研削が終了した後、接着剤を除去し、基板を一旦剥して洗浄後、反対側の面を上にして再度貼り付けて研削加工を行う。研削する順番は特に制限されず結晶成長面および結晶成長面の裏面のどちらを先に行ってもよい。
本発明の製造方法では、上記研削を行った窒化アルミニウム単結晶基板に対し、該結晶成長面及び結晶成長面の裏面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下となるまで研磨を行うことが特徴である。一般に研磨とは、研削痕等の荒れによる濁りの見えない程度の鏡面となる加工のことをいう。窒化アルミニウム単結晶基板上に発光素子層を形成する際、通常は、該基板の結晶成長面が、結晶成長面となり、結晶成長面上に発光素子層を積層する。従って、これまでは、発光素子層を均一に積層させるためには、結晶成長面を超平坦に研磨を行えば十分であると考えられてきた。しかしながら、結晶成長面及び結晶成長面の裏面の表面は研削によって、加工ダメージが生じるが、このダメージが、結晶成長面及び結晶成長面の裏面で異なるため、両面の加工によるダメージの差によって、窒化アルミニウム単結晶基板の湾曲が発生する。前述のとおり、片面のみの研磨では、該単結晶基板の湾曲を解消させることができず、結晶軸の曲がりや結晶成長面最表面の湾曲による応力や欠陥の発生により、積層される発光素子層内にも応力や欠陥が生じることから、積層される発光素子層の面内のバラつきが大きくなってしまうものと推測される。従って、窒化アルミニウム単結晶基板の湾曲を解消するためには、該単結晶基板の結晶成長面の裏面の研磨も必要である。さらに基板の結晶成長面の裏面の研磨を行ったとしても、結晶成長面の裏面の表面粗さが十分小さくなるまで行わなければ、基板の湾曲は十分には解消されないことを本願発明者らが見出した。例えば、結晶成長面を化学機械研磨(CMP)法にて原子間力顕微鏡(AFM)により4μm2(2μm×2μm)視野範囲を観察した、表面粗さRaが0.1nm程度の超平坦な面となるまで研磨を行った窒化アルミニウム単結晶基板で、該結晶成長面の裏面(すなわち基板面)表面粗さRaが100nm以上の研削面である片面研磨基板の場合、結晶格子面および基板面の曲率半径が±10m以下程度である。
本発明の窒化アルミニウム単結晶基板上にIII族窒化物半導体薄膜で構成される発光素子層を積層させてウエハーを製造し、次いで該ウエハーより紫外発光素子を分離することで、外部量子効率(EQE)のばらつきが小さく、且つEQEの平均値が高い紫外発光素子を得ることができる。以下本発明における紫外発光素子の製造方法について、詳細に説明する。
発光素子層は、図4に示すように基板22上に形成され、n型層23、活性層24ならびにp型層25(p型クラッド層およびp型コンタクト層からなる層)がこの順で積層されてなる。
図3に示すように、n電極27はn型層22の露出面に、p電極28はメサ構造26のp型層25上に形成される。両電極のパターンニングは、リフトオフ法を用いて実施することができる。両電極金属を堆積する手法としては、例えば、真空蒸着、スパッタリング、化学気相成長法等が挙げられる。両電極に用いられる材料は、公知の材料から選択することができる。例えば、n電極ではTi、Al、Rh、Cr、In、Ni、PtおよびAuなどが、p電極ではNi、Cr、Au、Mg、Zn、PdおよびPtなどが挙げられる。n電極は、これらの金属の合金または酸化物を含む単層、または多層構造であってもよい。
以上のような紫外発光素子の構成を複数含むのがウエハーである。図3に紫外発光素子の構成を複数含むウエハーを上からみた際の図面を示す。前記加工方法で得られた基板上の一面にMOCVD法により発光素子層(n型層、活性層、及びp型層)を形成する。この発光素子層上に、同一の形状を有する複数のマスクパターンを等間隔に形成する。この単一のマスクパターンが、後の工程で単一の紫外発光素子の構成となる。その後エッチングにより、マスクが形成されていない領域のp型層および活性層がエッチングされる。これにより、同一の形状を有する複数の発光素子層(p型層および活性層から成る)がウエハー面に台地状に形成される。次に、エッチングマスクを取り除いた後、n型層上にn電極をp型層の上にp電極をそれぞれ形成する。以上の工程により、n電極からp電極までを1つの半導体発光素子とした、半導体発光素子の構成が基板上に複数形成される。ウエハー製造用に用いた基板の面積にもよるが、通常、直径が1インチの円形のウエハーであれば、1枚のウエハーに100〜1000個単位の紫外発光素子が形成される。
窒化アルミニウム単結晶基板の結晶格子面の曲率半径は、結晶成長面内の異なる2点において測定したAlN(002)面のX線ロッキングカーブのピーク位置から計算する。結晶成長面を測定面とし、薄膜X線回折装置(PANalytical社製X’Pert MRD)を用いて結晶成長面内の異なる2点の場所においてX線ロッキングカーブを測定した後、2点間の距離をΔx、2点間の回折ピーク位置の差をΔωとした場合、曲率半径RはΔx/Δωにより計算される。今回測定する2点は、φ1inchの基板中心から左に8mmと右に8mmのポイントとした。上に凸となる状態をプラスの曲率半径、下に凸となる状態をマイナスの曲率半径とした。
結晶成長面の曲率半径は、白色干渉顕微鏡(Zygo社製NewView7300)を用い、50倍の倍率で該基板の高さ情報を取得し、面内の高さ分布より、球形近似の仮定のもとで該基板の曲率半径を算出した。なお、結晶格子面の曲率半径と同様、上に凸となる状態をプラスの曲率半径、下に凸となる状態をマイナスの曲率半径とした。
研磨前の研削面の表面粗さRaは、触針式表面粗さ計(東京精密社製サーフコム)を用い、φ1inchの基板中心から左に7.5mmと右に7.5mmの2点間で求めた。
研磨面の表面粗さRaは、AFMにより4μm2(2μm×2μm)視野範囲を観察することで求めた。また、さらに広い範囲の表面粗さRaは、白白色干渉顕微鏡(Zygo社NewView7300)を用い、50倍の倍率で58800μm2(280μm×210μm)視野範囲を観察することで求めた。
(結晶成長法による窒化アルミニウム単結晶基板の作製)
昇華法により製造された、φ1inchの市販の窒化アルミニウム単結晶基板の上に、特許文献2に記載されたHVPE法で結晶成長を行ったc面窒化アルミニウム単結晶基板である。
昇華法により製造された、φ1inchの市販の窒化アルミニウム単結晶基板のAl極性側が成長面になるように、該窒化アルミニウム単結晶基板をHVPE装置内のBNコートグラファイト製サセプタ上に設置した。
予め直線透過率を測定するための基板としてHVPE法で結晶成長を行ったc面窒化アルミニウム単結晶基板(昇華法部分の厚み510μm、HVPE法部分の厚み280μm)を作製した。この基板の昇華法部分を研削で完全に除去し、HVPE法部分の結晶成長面及び結晶成長面の裏面の両面を機械研磨することで、厚み150μmの直線透過率を測定するための基板を作製し、直線光透過率をダブルビーム方式の紫外・可視分光光度計(日本分光製分光光度計V−7300)を用いて評価したところ、波長265nmにおいて62%であった。種基板に用いた昇華法基板を、同様に結晶成長面及び結晶成長面の裏面の両面を機械研磨して厚み150μmの直線透過率を測定すると、波長265nmにおいて35%であった。
MOCVD工程の直前に、ポリウレタンフォームと20倍希釈したサンウォッシュMD−3041(ライオン株式会社製)によるスクラブ洗浄による微小なパーティクルの除去、続いて90℃に加熱したリン酸および硫酸の混合液(リン酸:硫酸=1:3(体積比))に10分間浸漬することによる、表面の自然酸化膜の除去を行った。次に、MOCVD法を用いて、基板のAl極性面上に、n型層(Al0.7Ga0.3N)、活性層(井戸層:Al0.5Ga0.5N、障壁層:Al0.7Ga0.3N)、AlN層、pクラッド層(Al0.8Ga0.2N)およびp−GaN層を形成した。
(結晶成長法による窒化アルミニウム単結晶基板の作製)
実施例1と同様の方法にて昇華法により製造された、φ1inchの市販の窒化アルミニウム単結晶基板の上に、c面窒化アルミニウム単結晶層を成長させて窒化アルミニウム単結晶基板を作成した(昇華法部分の厚み510μm、HVPE法部分の厚み290μm)。
作製したc面窒化アルミニウム単結晶基板の結晶成長面及び結晶成長面の裏面の両面を、#1200のダイヤモンド粒子をメタルに固定化した砥石で研削した。結晶成長面の裏面(N極性面)の加工は研削で留めた。鏡面になっていないため、実施例1のようにAFMや白色干渉顕微鏡による表面粗さの測定は不可能であった。触針式表面粗さ計による測定で、表面粗さRaは149nmであった。
(結晶成長法による窒化アルミニウム単結晶基板の作製)
実施例1と同様の方法にて昇華法により製造された、φ1inchの市販の窒化アルミニウム単結晶基板の上に、c面窒化アルミニウム単結晶層を成長させて窒化アルミニウム単結晶基板を作製した(昇華法部分の厚み540μm、HVPE法部分の厚み310μm)。
作製したc面窒化アルミニウム単結晶基板の結晶成長面及び結晶成長面の裏面の両面を、#1200のダイヤモンド粒子をメタルに固定化した砥石で研削した。結晶成長面の裏面(N極性面)の加工は研削で留めた。鏡面になっていないため、実施例1のようにAFMや白色干渉顕微鏡による表面粗さの測定は不可能であった。触針式表面粗さ計による測定で、表面粗さRaは148nmであった。
11:窒化アルミニウム単結晶
12:結晶成長面
13:結晶成長面の裏面
14:下地基板
21:ウエハー
22:基板
23:n型層
24:活性層
25:p型層
26:メサ構造
27:n電極
28:p電極
29:紫外発光素子
Claims (6)
- 結晶成長法にて得られた窒化アルミニウム単結晶基板であって、該単結晶基板における結晶成長面及び該結晶成長面の裏面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下であり、且つ該結晶成長面、及び該単結晶基板における結晶格子面の曲率半径が15m以上である窒化アルミニウム単結晶基板。
- 波長265nmの光の直線透過率が50%以上である請求項1記載の窒化アルミニウム単結晶基板。
- 前記窒化アルミニウム単結晶基板における結晶成長面がAl極性面である請求項1又は2記載の窒化アルミニウム単結晶基板。
- 結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶基板を製造した後、該単結晶基板における結晶成長面及び該結晶成長面の裏面の両方を研削した後に、該両面の白色干渉顕微鏡により測定した表面粗さRaが100nm以下となるまで研磨することを特徴とする窒化アルミニウム単結晶基板の製造方法。
- 下地基板上に結晶成長法にて窒化アルミニウム単結晶基板を製造することを特徴とする
請求項4記載の窒化アルミニウム単結晶基板の製造方法。 - 請求項1〜3の何れか一項に記載の窒化アルミニウム単結晶基板上に発光素子層が積層された紫外発光素子。
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