JP2018072813A - 有機発光表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】各薄膜トランジスタアレイのチャネルを形成する半導体パターンを用いて画素内部の配線を形成することにより、画素駆動回路の面積を減らし、画素開口率を高める有機発光表示装置を提供すること。
【解決手段】本発明による有機発光表示装置は、複数の画素と前記画素を駆動するための複数の配線とを含み、各画素は導体化した第1領域及び第2領域を有するアクティブ層とゲート電極とを含む薄膜トランジスタを含む。この際、薄膜トランジスタの第1領域又は第2領域の少なくとも一つは前記配線と直接接続される。
【選択図】 図1

Description

本発明は有機発光表示装置に関し、より詳しくは薄膜トランジスタアレイの半導体パターンを配線として用いることによって各画素開口率を高める有機発光表示装置に関する。
多様な情報を画面として具現する映像表示装置は情報通信時代の核心技術で、より薄く、且つより軽く、携帯が可能でありながらも高い性能を提供できるように発展している。そこで、陰極線管(CRT)の欠点である重さ及び体積を減らすことができる平板表示装置で有機発光層の発光量を制御して映像を表示する有機発光表示装置などが脚光を浴びている。
有機発光表示装置は多数の画素がマトリックス状に配列されて画像を表示することになる。ここで、各画素は、発光素子と、その発光素子を独立的に駆動する多数のトランジスタ及びストレージキャパシタなどを含む画素駆動回路を備える。
近年、有機発光表示装置の解像度が向上していくに従って各画素の面積が減少しており、画素面積の減少による画素開口率の減少を最小化するためには各画素駆動回路の面積も最小化しなければならない。しかし、画素駆動回路の面積が減少する場合、それぞれの配線、トランジスタ及びストレージキャパシタの間の間隔が稠密になるにつれて、各画素駆動回路の要素間に寄生キャパシタンスが発生して多くの信号がカップリングされるか、配線が互いに連結されるショート現象が発生し得るため、画素駆動回路の面積減少幅は制限されてしまう。
特に、従来の有機発光表示装置では、各画素駆動回路のストレージキャパシタ及び薄膜トランジスタの各電極は、基板の下層に位置する遮光層及び相対的に基板の上層に位置する薄膜トランジスタのソース/ドレイン電極と同一の層に形成された金属配線とコンタクトホールを介して連結されていた。よって、従来の有機発光表示装置は、画素駆動回路の構造によって一定数以上のコンタクトホールを必要とし、前述した寄生キャパシタ及びショート現象の防止のために各コンタクトホールの面積を減少させるのにも限界が存在したため、結局コンタクトホールによって画素駆動回路の面積減少幅が制限される問題も発生していた。
前記問題のため、高解像度有機発光表示装置において、画素面積が減少する分だけ画素駆動回路の面積が十分に減少しなければ、結局各画素の開口率が減少して有機発光表示装置の輝度及び効率が減少する結果となってしまう。
本発明は前記問題点を解決するために案出されたもので、各薄膜トランジスタアレイのチャネルを形成する半導体パターンを用いて画素内部の配線を形成することにより、画素駆動回路の面積を減らし、画素開口率を高める有機発光表示装置を提供することを課題とする。
前記課題を解決するため、本発明の実施例による有機発光表示装置は、複数の画素と前記画素を駆動するための複数の配線とを含み、各画素は導体化した第1領域及び第2領域を有するアクティブ層とゲート電極とを含む薄膜トランジスタを含む。このとき、薄膜トランジスタの第1領域又は第2領域の少なくとも一つは前記配線と直接接続される。
前記配線と直接接続される領域は、薄膜トランジスタのチャネル領域と一体に構成された電極部と、電極部から前記配線の上部まで伸びて、前記配線に直接接続される延長部とを含む。
本発明の実施例による有機発光表示装置は、従来においてはシールド層又はソース/ドレイン金属を用いて形成していた配線の一部を、アクティブ層を用いて形成するので、画素構造が単純化し、相異なる層に位置する多くの金属の間で発生し得る寄生キャパシタンスが減少する。
また、前記のように、画素内の配線をアクティブ層を用いて形成する場合、相異なる層に位置する多くの配線と前記アクティブ層を連結するためのコンタクトホールの数が大きく減少する。したがって、従来では画素の面積が減少しても面積減少を制限するコンタクトホールの数が多いため、画素駆動回路面積の減少に制約があったが、本発明によると、コンタクトホールの数が大きく減少するので、画素駆動回路をより稠密に形成することができる。したがって、本発明の実施例によると、画素面積対比画素駆動回路面積を減少させることによって高い画素開口率を確保することができる。
本発明の実施例による有機発光表示装置の画素構造を説明するための平面図である。 図1のI−I’部分の断面を説明するための断面図である。 図1のII−II’部分の断面を説明するための断面図である。 図1の点線四角形で表示された部分の構造変化を関連の技術と比較して示す図である。
以下、添付図面に基づき、本発明の好適な実施例を説明する。明細書全般にわたって同じ参照番号は実質的に同じ構成要素を意味する。以下の説明で、本発明に係わる技術又は構成についての具体的な説明が本発明の要旨を不必要にあいまいにすることができると判断される場合、その詳細な説明を省略する。また、以下の説明で使われる構成要素の名称は明細書作成の容易性を考慮して選択されたもので、実際製品の部品名称と異なることもある。
位置関係についての説明の場合、例えば‘〜上に’、‘〜上部に’、‘〜下部に’、‘〜側に’などのように二つの部分の位置関係を説明する場合、‘すぐ’又は‘直接’を使わない限り、二つの部分の間に一つ以上の他の部分が位置してもよい。
「第1」、「第2」などを多様な構成要素を説明するために使うが、これら構成要素はこれらの用語によって制限されない。これらの用語はただ一つの構成要素を他の構成要素と区別するために使用するものである。よって、以下で言及する第1構成要素は本発明の技術的思想内で第2構成要素であってもよい。
図面に示した各構成の大きさ及び厚さは説明の便宜のためのもので、本発明が図示の構成の大きさ及び厚さに必ずしも限定されるものではない。
以下、添付図面に基づいて本発明の多様な実施例を詳細に説明する。
図1は本発明の実施例による有機発光表示装置の画素構造を説明するための平面図であり、図2は図1のI−I’部分の断面を説明するための断面図であり、図3は図1のII−III’部分の断面を説明するための断面図である。
有機発光表示装置は、マトリックス状に配列された複数の画素SP1〜SP4を含む。各画素SP1〜SP4は発光層を備えた発光領域A/Aを含む。また、各画素SP1〜SP4は画素駆動回路を含み、前記画素駆動回路に信号を伝達する複数の配線を含む。例えば、本発明の実施例による有機発光表示装置は、各画素SP1〜SP4にゲート信号を供給するためのゲート配線GLと、データ信号を供給するためのデータ配線DLと、前記画素駆動回路に電源電圧VDDを供給するための電源配線VDDと、各画素SP1〜SP4に基準電圧を供給し、各画素に充電された電圧をセンシングするためのレファレンス配線RLとを含むことができるが、必ずしもこれに限定されるものではない。
画素駆動回路は、複数の薄膜トランジスタを含む。この際、前記薄膜トランジスタはチャネル領域、導体化した第1及び第2領域を有するアクティブ層200、及びゲート電極を含む。本実施例では便宜上ソース領域を第1領域と説明し、ドレイン領域を第2領域と説明する。しかし、前記第1領域及び第2領域は必ずしもこれに限定されるものではなく、薄膜トランジスタの構造によって第1領域がドレイン領域、第2領域がソース領域であってもよい。
前記複数の薄膜トランジスタの少なくとも一つは、前記複数の配線のいずれか一つと第1領域及び2領域の少なくとも一領域が直接接続されることができる。言い換えれば、薄膜トランジスタは、第1領域及び第2領域上にソース又はドレイン電極が形成される代わりに、アクティブ層200を導体化した後、これを電極及び配線として活用して他の配線とアクティブ層200が直接接続されるようにする。
前記特徴を図1〜図3の実施例に基づいて詳細に説明する。図1〜図3の実施例による有機発光表示装置の画素駆動回路は、基板100上に位置するスイッチングトランジスタ220と、駆動トランジスタ210と、センシングトランジスタ230と、ストレージキャパシタCstとを含む3T1C構造である。しかし、本発明による画素駆動回路は必ずしも前記構造に限定されず、その設計によって多様な構造が適用可能である。
スイッチングトランジスタ220のゲート電極はゲート配線GLの一部であり、ゲート配線GLと一緒に配置されることができる。スイッチングトランジスタ220の入力電極222はデータ配線DLに接続され、出力電極223はストレージキャパシタCstの中間電極252と接続されることができる。この際、入力電極はデータ配線DLから延設され、出力電極はストレージキャパシタCstの中間電極から延設されることができる。ただ、本発明のスイッチングトランジスタ220は前記構造に必ずしも限定されるものではない。
スイッチングトランジスタ220はゲート電極と重畳するようにアクティブ層221を含む。アクティブ層は、ゲート電極と重畳する領域にはチャネル領域が形成され、その両側に第1及び第2領域が形成され、前記第1及び第2領域は入力電極222及び出力電極223とコンタクトする構造を有する。
N型トランジスタにおいて、第1領域222はソース領域、第2領域223はドレイン領域であってもよい。P型トランジスタにおいて、第1領域222はドレイン領域、第2領域223はソース領域であってもよい。
図2及び図3を参照すると、駆動トランジスタ210は、ゲート電極211とアクティブ層200を含む。アクティブ層200をより詳細に説明すると、ゲート電極211の下部にはチャネル領域216が形成され、ゲート電極211とチャネル領域216の間にはゲート絶縁膜110が位置する。また、チャネル領域216の両側には導体化した第1領域213及び第2領域218が位置する。この際、第2領域218は電源配線VDDから駆動電源が入力される入力領域、第1領域213は駆動電源を出力する出力領域であってもよい。
図2を参照すると、第2領域218は電源配線VDDの上部まで伸びている。この際、第2領域218は、チャネル領域216から一体に形成されて導体化した第1電極部212と、第1電極部212から伸びて電源配線VDDに接する第1延長部214とを含む。この際、第1延長部214は隣接した二つの画素SPの第1電極部212に同時に接することができる。これにより、第1延長部214は電源配線VDDから入力される駆動電源を隣接した二つの画素SPの第1電極部212に同時に供給する。
電源配線VDDと前記第1延長部214の間にはバッファー層261が位置する。バッファー層261は基板100を通じて水分又は不純物が浸透することを防止する特徴を有する。
電源配線VDDは第4コンタクトホール704によって一部が露出される。第1延長部214は第4コンタクトホール704を介して電源配線VDDと直接接続される。
第1領域213はチャネル領域216から伸びて一体に形成され、第1領域213のアクティブ層はストレージキャパシタCstの下部電極の役目をすることができる。
前記ストレージキャパシタCstの構成を説明する。下部電極237を成すアクティブ層200上には前述したゲート絶縁膜110が位置し、ゲート電極211を覆うように層間絶縁膜120が位置する。層間絶縁膜120上の下部電極237と重畳する領域には中間電極252が形成され、中間電極252を覆うように平坦化膜130が位置する。平坦化膜130上には上部電極253が位置する。したがって、下部電極237と中間電極252の間、かつ中間電極252と上部電極253の間に二重のキャパシタを有するストレージキャパシタCstが備えられる。この際、下部電極237の下側の基板100上には、前記電源配線VDDと同一の層に、電源配線VDDと同一の物質、例えば金属物質で形成されるシールド層251が位置する。前述したように、電源配線VDD及びシールド層251上にはバッファー層261が位置する。バッファー層237はシールド層251の一部を露出する第1コンタクトホール701をさらに含み、下部電極237は前記第1コンタクトホール710を介してシールド層251と接続されることにより、下部電極237とシールド層251は等電位を形成する。
シールド層251は半導体層200に入射する光を遮断し、ストレージキャパシタCstの下部電極237とデータ配線DLとの間に発生する寄生キャパシタンスを減少させることにより、駆動トランジスタ210のゲート電極211とデータ配線DLの間のカップリング現象を減少させることができる。関連の技術のシールド層251は中間電極252とコンタクトホールを介して接続されたが、本発明のシールド層251はアクティブ層200と接続される。これにより、第1コンタクトホール701の面積を減少させることができるので、画素開口率をさらに向上させることができる。
下部電極237、つまりアクティブ層200の第1領域213の縁部に対応する領域には、層間絶縁膜120及びゲート絶縁膜110の一部が除去されて前記第1領域213の一部を露出する第2コンタクトホール702が形成される。第2コンタクトホール702を通じて前記第1領域213と接するように連結電極217が形成される。この際、連結電極217は駆動トランジスタ210の出力電極であって、ソース電極であってもよいが、必ずしもこれに限定されない。連結電極217は前記ストレージキャパシタCstの中間電極252と同一の物質で同じ層に形成される。連結電極217及び中間電極252上には平坦化膜130が形成される。平坦化膜130の一部は除去されて連結電極217を露出する第3コンタクトホール703を含む。第3コンタクトホール703を通じて上部電極253は連結電極217と接続される。これにより、上部電極253と連結電極217を介して接続された下部電極237は等電位を形成する。
一方、図3を参照すると、中間電極252は第6コンタクトホール706を介して駆動トランジスタ210のゲート電極211と接続される。これにより、中間電極252は駆動トランジスタ210のゲート電極211及びスイッチングトランジスタ220の出力電極に共に接続されるので、駆動トランジスタ210のゲート電極211とスイッチングトランジスタ220の出力電極及びストレージキャパシタCstの中間電極を連結するノード(node)としての機能も果たすことができる。
ここで、アクティブ層200、221はシリコン(Silicon)、非晶質シリコン(amorphous silicon)、ポリシリコン(poly−silycon)及び低温ポリシリコン(Low Temperature polysilicon:LTPS)であってもよい。そして、アクティブ層200のゲート電極211又はゲートラインGLが形成されていない領域はN型ドーパント又はP型ドーパントなどの物質をドープして導体化することができる。
また、アクティブ層200、221は酸化物半導体で構成することができる。酸化物半導体としては、インジウムガリウム亜鉛酸化物(InGaZnO)、インジウムスズ亜鉛酸化物(InSnZnO)、インジウム亜鉛酸化物(InZnO)、スズ亜鉛酸化物(SnZnO)などが使用可能である。そして、ゲート電極211及びゲートラインGLをマスクとし、プラズマ処理などでアクティブ層200、221を導体化することができる。
図1及び図3を参照すると、上部電極253は表示領域A/Aまで伸びて画素電極301を形成する。この際、駆動ラインPLから入力される駆動電源は駆動トランジスタ210の連結電極217及び上部電極253を介して画素電極301に供給される。言い換えれば、上部電極253はストレージキャパシタCstと画素電極301及び駆動トランジスタ210の第1領域213を連結するノードとしての機能も行う。
この際、表示領域A/Aを除いた残りの領域にはバンク層140が備えられ、バンク層140によって表示領域A/Aが規定される。
バンク層140はポリアクリル(Polyacryl)又はポリイミド(Polyimide)などの有機絶縁性物質で形成できるが、必ずしもこれに限定されるものではない。
バンク層140及び画素電極301上には有機層302が形成される。有機層302は表示領域A/Aに対応する領域に発光層を含み、バンク層140及び表示領域A/Aの全面に位置することができる。
この際、有機層302は、電子注入層(Electron Injection Layer:EIL)、電子輸送層(Electron Transport Layer:ETL)、発光層、正孔輸送層(Hole Transport Layer:HTL)、及び正孔注入層(Hole Injection Layer:HIL)に区分される。発光層は、陰極からの電子と陽極からの正孔が再結合して生成された励起子が基底状態に戻りながら特定波長の光を発光するようになる。
有機層302上には第2電極303が形成される。第2電極303は基板100の全面に形成されることができる。
ここで、第1電極301が陽極の場合、第2電極303は陰極であってもよく、第2電極303が陽極の場合、第1電極301は陰極であってもよい。
シールド層251及び中間電極252は、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、金(Au)、白金(Pt)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、ネオジム(Nd)などの金属の中で単一物質又はこれらの合金で形成できるが、必ずしもこれに限定されるものではない。
また、第1電極301及び第2電極303はインジウムスズ酸化物(Indium Tin Oxide:ITO)、インジウム亜鉛酸化物(Indium Zinc Oxide:IZO)、インジウムガリウム亜鉛酸化物(Indium Galium Zinc Oxide:IGZO)などの透明導電性物質、又は前記シールド層251及び中間電極252を形成する金属の中で単一物質又はこれらの合金で形成できるが、必ずしもこれに限定されるものではない。
センシングトランジスタ230も、チャネル領域235、導体化した第1領域238、及び第2領域232を含む。センシングトランジスタ230のゲート電極はゲートラインGLの一部として形成でき、第1領域はソース領域、第2領域はドレイン領域であってもよいが、必ずしもこれに限定されるものではない。
第1領域238は、センシングトランジスタ203のチャネル領域235に接して一体に備えられた第2電極部233と、前記第2電極部233から伸びてレファレンス配線RLと接する第2延長部234とを含む。レファレンス配線RLはシールド層251及び電源配線VDDと同一の層に同じ物質で形成できるが、必ずしもこれに限定されるものではない。第2延長部234はバッファー層261上に形成された第5コンタクトホール705を介してレファレンス配線RLと直接接続される。
第2領域232は駆動トランジスタの第1領域213、つまりストレージキャパシタCstの下部電極237から伸びて一体に構成される。このとき、センシングトランジスタ230の第1領域232は入力電極としての役目をし、センシングトランジスタ230は別個の入力電極を備えない。
シールド層251、電源配線VDD及びレファレンス配線RLは同じ金属物質で形成される。この際、それぞれのエッジ部分が垂直に形成される場合、その上部に位置するアクティブ層200の連結が断線される可能性がある。したがって、前記アクティブ層200の断線を防止するためには、前記シールド層251、電源配線VDD、及びレファレンス配線RLのそれぞれのエッジ部分はテーパー(Taper)状、つまり傾斜面を有するように形成されることが好ましい。
以上説明したように、本発明の駆動トランジスタ220及びセンシングトランジスタ230は入力/出力電極、つまりソース/ドレイン電極の少なくとも一つを削除し、導体化したアクティブ層200を各配線と直接接触させる特徴を有する。このために、導体化したアクティブ層200は各配線と接触するために配線状に伸び、コンタクトホールを介して各配線と接続される。
これにより、本発明による有機発光表示装置は、従来ではシールド層又はソース/ドレイン金属を用いて形成していた配線をアクティブ層を用いて形成するので、画素構造が単純化し、互いに異なる層に位置する多くの金属間で発生し得る寄生キャパシタンスが減少する。また、前記のように画素内の配線をアクティブ層で形成する場合、相異なる層に位置する多くの配線と前記アクティブ層を連結するためのコンタクトホールの数が大きく減少する。したがって、従来においては画素の面積が減少しても前記コンタクトホールの数が多いため、画素駆動回路面積の減少には制約があったが、本発明によると、コンタクトホールの数が大きく減少するので、画素駆動回路を一層稠密に形成することができる。したがって、本発明によると、画素の面積が減少する分だけ画素駆動回路の面積を減少させることによって、高い画素開口率を確保することができる。
図4は図1の点線四角形で表示された部分の構造変化を関連技術と比較して示す図である。
関連技術においては、駆動トランジスタ210のドレイン領域上には、上部電極253と同一の層に、同じ金属で形成されたドレイン電極219が形成され、前記ドレイン電極219から伸びた配線2191が電源配線VDDの上部でコンタクトホールを介して電源配線VDDと接続されている。
また、連結電極217が形成される領域には中間電極252が伸び、中間電極252がコンタクトホール2192を介して下部のシールド層251と接続され、前記上部電極253が伸びてセンシングトランジスタ230のドレイン電極2321を形成している。一方、センシングトランジスタ231の第1領域、つまりソース領域にはソース電極2311が位置している。
一方、本発明の実施例によると、上部電極253が伸びる配線が形成されず、アクティブ層200で直接配線を形成することにより、駆動トランジスタ210のドレイン電極219が削除され、センシングトランジスタ230のソース及びドレイン電極2311、2321も削除される。よって、前記ソース/ドレイン電極を形成するためのコンタクトホールも形成されず、コンタクトホールが形成される部分もアクティブ層200とシールド層251を連結するためにバッファー層261にだけコンタクトホール701が形成される。この場合、ソース/ドレイン電極を形成する金属とシールド層251を接続させるための従来のコンタクトホールに比べ、コンタクトホール自体の面積が相対的に大きく減少する。
以上説明したように、本発明の実施例による有機発光表示装置は、コンタクトホールの数が減少し、コンタクトホールの面積を大きく減少させることによって画素駆動回路の面積をより減少させることができる追加的な余裕空間を確保することができる。すなわち、画素駆動回路の面積が減少することによって、画素の表示領域の面積が相対的に増加し、全体的な画素開口率が向上する。
以上の説明は本発明を例示的に説明したものに過ぎなく、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者によって本発明の技術的思想から逸脱しない範疇内多様な変形が可能であろう。したがって、本発明の明細書に開示した実施例は本発明を限定するものではない。本発明の範囲は以降の特許請求範囲によって解釈されなければならなく、それと均等な範囲内にある全ての技術も本発明の範囲に含まれるものとして解釈されなければならない。
100 基板
110 ゲート絶縁膜
120 層間絶縁膜
130 平坦化膜
140 バンク層
200 半導体層
210 駆動トランジスタ
211、235 ゲート電極
212 第1電極部
213、238 第1領域
214 第1延長部
217 連結電極
218、232 第2領域
220 スイッチングトランジスタ
230 センシングトランジスタ
237 下部電極
251 シールド層
252 中間電極
253 上部電極
261 バッファー層
301 第1電極
302 有機層
303 第2電極
701〜706 コンタクトホール

Claims (12)

  1. マトリックス状に配置される複数の画素と、前記複数の画素の各々を駆動するための信号を供給する複数の配線とを含み、
    前記複数の画素の各々は、導体化した第1領域及び第2領域を有するアクティブ層とゲート電極とを含む薄膜トランジスタを含み、
    前記第1領域及び前記第2領域の少なくとも一つは前記複数の配線のいずれか一つと直接接続される、有機発光表示装置。
  2. 前記第1領域及び前記第2領域のうち前記配線と直接連結された領域は、前記薄膜トランジスタのチャネル領域と一体に構成された電極部と、前記電極部から伸びて前記配線と直接接続された延長部とを含む、請求項1に記載の有機発光表示装置。
  3. 前記各画素はキャパシタをさらに含み、
    前記キャパシタは、
    基板上に位置するシールド層と、
    前記シールド層とバッファー層を挟んで重畳し、第1コンタクトホールを介して前記シールド層と接続され、導体化したアクティブ層からなる下部電極と、
    前記アクティブ層とゲート絶縁膜及び層間絶縁膜を挟んで重畳する中間電極と、
    前記中間電極とパッシベーション膜を挟んで重畳する上部電極と、
    を含む、請求項1に記載の有機発光表示装置。
  4. 前記薄膜トランジスタのいずれか一つは、前記第1領域に第2コンタクトホールを介して接する連結電極をさらに含み、前記連結電極は前記画素電極と第3コンタクトホールを介して接続され、前記第2領域は前記配線のうち前記画素に駆動電源を供給するとともに垂直方向に配列された電源配線と第4コンタクトホールを介して直接接続された駆動トランジスタである、請求項1に記載の有機発光表示装置。
  5. 前記駆動トランジスタの前記第2領域は、前記駆動トランジスタのチャネル領域と一体に構成された第1電極部と、前記第1電極部から伸びて前記電源配線に接続される第1延長部とを含む、請求項4に記載の有機発光表示装置。
  6. 前記第1電極部は前記チャネル領域から伸びて、隣接した他の画素の前記駆動トランジスタの第1電極部と接続され、前記第1延長部は前記隣接した二つの画素の第1電極部が接続された地点から伸びて前記電源配線に直接接続される、請求項5に記載の有機発光表示装置。
  7. 前記薄膜トランジスタのいずれか一つはセンシングトランジスタであり、
    前記センシングトランジスタの第1領域は、前記画素に基準電圧を供給し、前記配線のうち前記画素に充電された電圧をセンシングするレファレンスラインと第5コンタクトホールを介して直接接続され、
    前記センシングトランジスタの第2領域は前記駆動トランジスタの第1領域から伸びて一体に構成される、請求項1に記載の有機発光表示装置。
  8. 前記センシングトランジスタの第1領域は、前記センシングトランジスタのチャネル領域に接して一体に構成された第2電極部と、前記第2電極部から伸びて、垂直方向に配列された前記レファレンスラインと前記第5コンタクトホールを介して接続される第2延長部とを含む、請求項7に記載の有機発光表示装置。
  9. 前記第2電極部は、隣接した画素に備えられたセンシングトランジスタの第2電極部と接し、
    前記第2延長部は前記隣接した二つのセンシングトランジスタの第2電極部が接する地点から伸びて、前記レファレンスラインと前記第5コンタクトホールを介して直接接続される、請求項8に記載の有機発光表示装置。
  10. 前記シールド層は、前記配線のうち各画素に駆動電源を供給するための電源配線及び前記複数の画素の各々に基準電圧を供給し各画素に充電された電圧をセンシングするレファレンス配線と同一の層に、同じ物質で形成される、請求項3に記載の有機発光表示装置。
  11. 前記センシングトランジスタのゲート電極は、前記配線のうち各画素にゲート信号を供給するゲートラインに接続されている、請求項7に記載の有機発光表示装置。
  12. 前記シールド層、前記レファレンスライン、及び前記電源配線のエッジ部分はテーパー形状を有する、請求項10に記載の有機発光表示装置。
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