JP2018066740A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3502637A1 (en) * 2017-12-23 2019-06-26 ABB Schweiz AG Method and system for real-time web manufacturing supervision
JP6927124B2 (ja) 2018-03-30 2021-08-25 東洋紡株式会社 熱収縮性ポリエステル系フィルム
JP2020000577A (ja) * 2018-06-29 2020-01-09 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020000581A (ja) * 2018-06-29 2020-01-09 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020000578A (ja) * 2018-06-29 2020-01-09 株式会社三洋物産 遊技機
JP2020000580A (ja) * 2018-06-29 2020-01-09 株式会社三洋物産 遊技機
EP3661191A1 (de) * 2018-11-27 2020-06-03 B&R Industrial Automation GmbH Verfahren zum auslesen eines flächensensors
KR102629343B1 (ko) 2018-12-21 2024-01-26 삼성전자주식회사 다중 셀 구조의 카메라 모듈 및 그 카메라 모듈을 포함하는 휴대용 통신 장치
US20200371040A1 (en) * 2019-05-21 2020-11-26 Industrial Maintenance Engineering, Inc. d/b/a AIS Gauging Static full width measurement system
US11218641B2 (en) * 2019-09-09 2022-01-04 Qualcomm Incorporated Image capture mode adaptation
CN111586289A (zh) * 2020-03-31 2020-08-25 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种高速飞拍控制方法及系统
JP2022049436A (ja) * 2020-09-16 2022-03-29 東洋製罐グループホールディングス株式会社 表面検査システム
KR20240040057A (ko) * 2022-08-05 2024-03-27 코어포토닉스 리미티드 자동 조정 가능한 줌 시야를 갖는 줌 디지털 카메라용 시스템 및 방법

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0686183A (ja) * 1992-08-31 1994-03-25 Canon Inc 固体撮像素子
JPH11248641A (ja) * 1998-03-03 1999-09-17 Sumitomo Metal Ind Ltd 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法
AT406528B (de) * 1998-05-05 2000-06-26 Oesterr Forsch Seibersdorf Verfahren und einrichtung zur feststellung, insbesondere zur visualisierung, von fehlern auf der oberfläche von gegenständen
SE523681C2 (sv) 2002-04-05 2004-05-11 Integrated Vision Prod System och sensor för avbildning av egenskaper hos ett objekt
JP4151948B2 (ja) 2002-11-07 2008-09-17 住友化学株式会社 帯状被検体の検査システム及び検査プログラム
US7257278B2 (en) * 2003-02-26 2007-08-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Image sensor for capturing and filtering image data
US20050226466A1 (en) * 2004-04-06 2005-10-13 Quad/Tech, Inc. Image acquisition assembly
US7688364B2 (en) * 2004-12-10 2010-03-30 Ambarella, Inc. Decimating and cropping based zoom factor for a digital camera
FI119708B (fi) * 2006-02-01 2009-02-13 Viconsys Oy Laite rainan tarkkailemiseksi
JP4655991B2 (ja) * 2006-04-21 2011-03-23 カシオ計算機株式会社 撮像装置及び電子ズーム方法と、プログラム
JP2008172506A (ja) 2007-01-11 2008-07-24 Nec Corp イメージセンサ
DE102007055820A1 (de) * 2007-12-14 2009-06-18 Voith Patent Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung zumindest einer die Eigenschaften einer Oberfläche in einer Materialbahnbehandlungseinrichtung wenigstens mittelbar charaktersierenden Größe und Verfahren zur Optimierung der Betriebsweise einer Materialbahnbehandlungseinrichtung
ES2367402T3 (es) * 2008-02-11 2011-11-03 Texmag Gmbh Vertriebsgesellschaft Dispositivo para captar una imagen.
FR2936605B1 (fr) * 2008-10-01 2014-10-31 Saint Gobain Dispositif d'analyse de la surface d'un substrat
DE102009029081A1 (de) * 2009-09-02 2011-03-03 Voith Patent Gmbh Lasermarkierung
US20110141269A1 (en) 2009-12-16 2011-06-16 Stephen Michael Varga Systems And Methods For Monitoring On-Line Webs Using Line Scan Cameras
WO2011118065A1 (ja) 2010-03-23 2011-09-29 富士フイルム株式会社 撮影装置及びその制御方法、並びに三次元情報測定装置
DE202010008084U1 (de) 2010-07-15 2011-10-21 Eltromat Gmbh Vorrichtung zur Überwachung des Druckergebnisses bei Rotationsdruckmaschinen
FI20106053A0 (fi) * 2010-10-13 2010-10-13 Metso Automation Oy Järjestelmä rainan tarkkailemiseksi ja vastaava menetelmä rainan tarkkailemiseksi
BR112013008307A2 (pt) * 2010-10-19 2019-09-24 3M Innovative Properties Co plotagem contínua de severidade de não-uniformidade para detecção de variabilidade em materiais à base de manta
ES2793373T3 (es) * 2010-12-30 2020-11-13 Alltec Angewandte Laserlicht Tech Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung Aparato sensor
EP2757769B1 (en) * 2011-09-13 2017-08-16 NEC Corporation Imaging device, imaging method and recording medium
DE102012101310C5 (de) 2012-02-17 2014-09-04 Stephan Krebs Vorrichtung und Verfahren zur Druckbildkontrolle
KR101205128B1 (ko) 2012-05-11 2012-11-26 주식회사 앤비젼 이미지 센서 비닝 기법을 이용하여 이미지 센서의 픽셀당 해상도를 조정하는 광학 검사 장치
CN102721702A (zh) * 2012-06-27 2012-10-10 山东轻工业学院 基于嵌入式处理器的分布式纸病检测系统及方法
ES2890649T3 (es) 2013-05-23 2022-01-21 Rina Consulting Centro Sviluppo Mat S P A Método para la inspección de superficie de productos largos y aparato adecuado para llevar a cabo dicho método
CN104422698B (zh) * 2013-09-04 2017-03-29 昆山钞票纸业有限公司 随动式防伪纸定位施放荧光纤维在线检测装置
JP2015105930A (ja) 2013-12-02 2015-06-08 旭硝子株式会社 透光性基板の微小欠陥検査方法および透光性基板の微小欠陥検査装置
CN104713483B (zh) * 2015-03-30 2017-09-12 昆山钞票纸业有限公司 防伪纸内嵌光敏纤维的检测方法和装置
CN105203557B (zh) * 2015-10-28 2018-06-08 江西洁美电子信息材料有限公司 一种电子纸带造纸质量在线检测系统

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