JP2018040621A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】複数のメンテナンスの優先順位及び各メンテナンスに必要な時間を容易に把握でき、分析動作を考慮したメンテナンスの実施を行うことが可能な表示を行うことができる自動分析装置を実現する。【解決手段】メンテナンス画面１８０１では周期ごとに分類されたメンテナンス項目の情報が表示される。メンテナンス項目ごとに残有効期間（％）２０２をパーセント表示している。メンテナンス画面１８０１における残有効期間（％）は、数字とバーにより表示されている。メンテナンス項目ごとのメンテナンスの残り期限が表示されるのでメンテナンスの優先度（緊急性）を視覚的に理解することが可能となり、かつ、メンテナンス項目毎に所要時間も表示されているので、利用者はその情報に基づいて、自動分析装置の稼働スケジュールに合わせて、メンテナンスのスケジュール策定に役立てることができる。【選択図】図２

Description

本発明は、血液、尿などの生体サンプルの定性・定量分析を行う自動分析装置に関する。

測定対象成分を含むサンプルに測定対象成分毎に調整された試薬を混合して分析する自動分析装置は、サンプルと試薬を混合する反応容器、反応容器にサンプル、試薬をそれぞれ添加するサンプル分注プローブ、試薬分注プローブ、混合液を攪拌する攪拌機構などを備える。このような自動分析装置では、反応容器は洗浄後、別の分析に使用することが一般的であり、分注プローブも異なるサンプル、試薬を分注する前にノズルを洗浄する。

自動分析装置は、このような反応容器の洗浄、ノズル洗浄などを行い次の分析に備えるメンテナンス動作を行う機能を備える。このようなメンテナンス動作の実行中は分析動作ができないため、分析スケジュールを順守するためには計画的なメンテナンスの実施が必要となる。

特許文献１には、検体分析装置のメンテナンスの履歴を簡便にかつ一目で認識するための技術として、日常、週毎、月毎等の周期的に実施すべきメンテナンス項目および予定をカレンダ形式で表示し、各メンテナンスが実施済みか否かを表示することが記載されている。また、非周期的なメンテナンス項目に関しては実施履歴および予定を文字で表示することが記載されている。

特開２００８−５１５４３号公報

しかしながら、特許文献１に記載のメンテナンス画面ではメンテナンスを実施したことを入力すると、メンテナンス記録を更新するとともに、実施したことを示す表示となるように、画面の表示も更新することで、装置の操作とメンテナンスの実施とを関連付けて行うことができるように構成されているに過ぎなかった。

そのため、利用者は、カレンダ形式で表示されているため、メンテナンス期限日が差し迫ってきていることは把握できるものの、複数のメンテナンス項目の優先順位を画面にて容易に把握することが困難であるとともに、それぞれのメンテナンスを実施するために必要な時間が不明であり、自動分析装置の稼働時間との関係を把握して、自動分析装置の分析スケジュールを考慮して有効なメンテナンスの実施を行うことが困難であった。

本発明の目的は、複数のメンテナンスの優先順位及び各メンテナンスに必要な時間を容易に把握でき、分析動作を考慮したメンテナンスの実施を行うことが可能な表示を行うことができる自動分析装置を実現することである。

上記目的を達成するため、本発明は次のように構成される。

自動分析装置において、検体を分析する分析部と、少なくとも、上記分析部についての複数のメンテナンス項目と、これらメンテナンス項目ごとの最終実施日時と、上記メンテナンス項目ごとの推奨実施周期と、上記メンテナンス項目毎の実行に要する所要時間とを記憶するメモリと、上記メモリに記憶されたメンテナンス項目ごとの推奨実施周期と最終実施日時から、メンテナンス推奨実施時期までの残時間と、上記メンテナンスごとの推奨実施周期に対する上記残時間との割合とを算出する残時間算出部を有する演算制御部と、上記メンテナンス項目ごとに、上記残時間算出部により算出された残時間と、上記推奨実施周期に対する上記残時間の割合と、上記メンテナンス項目毎の実行に要する所要時間とを表示する表示部とを備える。

複数のメンテナンスの優先順位及び各メンテナンスに必要な時間を容易に把握でき、分析動作を考慮したメンテナンスの実施を行うことが可能な表示を行うことができる自動分析装置を実現することができる。

本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体概略構成図である。 表示されるメンテナンス画面の一例を示す図である。 図２のメンテナンス画面を拡張したメンテナンス画面を示す図である。 図３の表示の追加説明図である。 メンテナンス項目毎の情報を管理するためのデータベースを示す図である。 表示領域Ａに表示されるメンテナンス項目を選定するアルゴリズムである。 表示領域Ｂに表示されるメンテナンス項目を選定するアルゴリズムである。 メンテナンス詳細画面１８０３を示す図である。 メンテナンス詳細画面をサブ画面１８０４としてメンテナンス画面１８０２に表示した図である。 スケジュール設定ボタンを押下したときに、表示されるスケジュール設定画面１８０５を示す図である。 次回実施日時を指定しない場合のスケジュール設定画面１８０５を示す図である。 スケジュール設定のアルゴリズムを示す図である。 コンピュータ３内の機能ブロック図である。

本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。

図１は、本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体概略構成図である。

図１において、検体を収容した多数の検体容器１が検体搬送ディスク２に配列されている。検体分注機構５の吸排ノズルは検体用シリンジポンプ７に接続されている。ポンプ７および分注機構５の動作は、インターフェイス４を介して各機構部の動作制御および測定データの演算をするマイクロコンピュータ（演算制御部）３によって制御される。反応浴槽９に対して回転可能に設けられた反応テーブル１７上には多数の反応容器６が配列され、反応ラインを形成している。反応浴槽９へは恒温液供給部１０から摂氏３７度に維持された恒温液が供給される。

多波長光度計は光源１４と多波長分光器１５を備えており、光源１４からの光ビームを反応容器６の列が横切るように反応テーブル１７が回転移送される。使用済の反応容器６は洗浄機構１９によって洗浄され再使用に供される。撹拌機構１３は反応容器６に加えられた検体とその分析項目に対応する試薬液とを混合する。多波長分光器１５によって得られる反応液に基づく測定信号は、Ａ／Ｄコンバータ１６によってアナログ信号からディジタル信号に変換され、マイクロコンピュータ３に入力される。

第１試薬用の試薬ディスク２６Ａおよび第２試薬用の試薬ディスク２６Ｂには、各分析項目に対応した多種の試薬ボトル１２が円周に沿ってそれぞれ設置される。つまり、試薬ディスク２６Ａ、２６Ｂは選択的に回転可能な試薬ボトル収納部である。ディスク２６Ａの近傍にはバーコード読取装置２３Ａが配設され、ディスク２６Ｂの近傍にはバーコード読取装置２３Ｂが配設される。試薬分注器は試薬分注ピペッタ８Ａ、８Ｂおよび試薬用シリンジポンプ１１を含む。これらのピペッタ８Ａ、８Ｂは、吸入位置に停止された試薬ボトル１２内の試薬液を吸排ノズル内に所定量吸入保持し、それらの吸排ノズルを反応容器列上に回動し試薬受入位置に停止している反応容器６に、保持していた試薬液を吐出する。この際に分注される試薬液は、各反応容器に割り当てられている分析項目に対応した種類のものである。

検体搬送ディスク２、反応容器６、ポンプ７、試薬分注ピペッタ８Ａ、８Ｂ、試薬用シリンジポンプ１１、分注機構５、反応浴槽９、恒温液供給部１０、撹拌機構１３、光源１４、反応テーブル１７、洗浄機構１９、バーコード読取装置２３Ａ、２３Ｂ、試薬ディスク２６Ａ、２６Ｂ、多波長分光器１５、マイクロコンピュータ３等により検体の分析部が形成される。

それぞれの試薬ボトル１２には、その外壁にバーコードが印刷された試薬バーコードラベルが貼付けされている。このバーコードとして表示される情報は、例えば、シーケンス番号からなる各ボトル固有の試薬ボトルコード、そのボトルのサイズ、その試薬液の有効期限、第１試薬か第２試薬か第３試薬かを示す試薬分注順番、その試薬液の最大分析可能回数、１回の分注使用量を示す試薬分注量、製造ロット番号などである。

各試薬ボトル１２からバーコード読取装置２３Ａ、２３Ｂによって読み取られた試薬情報は、記憶部（メモリ）２５又はマイクロコンピュータ３の各々対応するメモリエリアに記憶される。試薬ボトル１２が試薬ディスク２６Ａ、２６Ｂに収納されたのに伴って試薬情報がバーコード読取装置２３Ａ、２３Ｂによって読み取られるが、その際に、各試薬ディスク２６Ａ、２６Ｂに設けられている回転角検知部によって各試薬ボトルのセット位置を示す信号が出力され、インターフェイス４を介してマイクロコンピュータ３に入力される。試薬情報とボトルセット位置と分析項目は対応づけて記憶される。

操作者は、ＣＲＴ（表示部）１８の画面とキーボード２１を使って各種情報を入力することができる。分析項目の測定結果は、プリンタ２７およびＣＲＴ１８に表示できる。光学式記録媒体（光ディスク）２４の情報はその読取装置によって読み取られ、記憶部２５又はマイクロコンピュータ３の該当するメモリエリアに記憶される。光学式記録媒体２４に記憶されている情報は、例えば次のものである。すなわち、５桁で表示される分析項目コード、その分析項目で共通に使用されるパラメータ、試薬ボトルごとに別々に記憶されるパラメータなどである。そのうち、分析項目で共通に使用されるパラメータとしては、光度計で使用する波長、サンプル量、キャリブレーション方法、標準液濃度、標準液本数、分析異常のチェック限界値、などである。また、試薬ボトルごとのパラメータとしては、試薬種別、試薬分注順番、試薬ボトルコード、試薬液容量、試薬分注量、最大分析可能回数、試薬製造年月日などである。

記憶部２５には、光学式記録媒体２４から読み取られた情報の他に、自動分析装置の各機構部の動作条件、各分析項目の分析パラメータ、各試薬のボトル管理を行う判定論理、試薬ボトルから読み取られた最大分析可能回数、分析結果などが記憶される。試薬情報は試薬ボトルの納入時にメーカによって供される光学式記録媒体によって提供される。光学式記録媒体によって試薬情報が準備されない場合は、試薬ボトルに付属されている目視確認用紙に記載された情報を、操作者がＣＲＴ１８の画面とキーボード２１を使用して自動分析装置に入力することもできる。

検体容器１には、その外壁にバーコードが印刷された検体バーコードラベルが貼付けされている。このバーコードとして表示される情報は、例えば、検体を一意に決定する検体識別番号である。この番号は、バーコード読取装置２８により読み取られ、検体搬送ディスク２の角度検知により、検体位置と検体識別番号の対応が認識される。一方、検体識別番号に対応した分析項目はあらかじめキーボード２１とＣＲＴ１８により入力され記憶されているので、先のバーコード読み取り時に検体位置と検体識別番号と分析項目が対応づけられて記憶される。また、検体識別番号の上位番号によりその検体が標準検体なのかコントロール検体なのか一般検体なのかが一般に識別可能となっている。

自動分析装置全体の分析は以下のようにサンプリング、試薬分注、撹拌、測光、反応容器の洗浄、濃度換算等のデータ処理の順番に実施される。試料を入れた検体容器１は、検体ディスク２上に複数個設置されている。検体ディスク２は、コンピュータ３によりインターフェイス４を介して制御される。また、検体ディスク２は、検体容器１外壁のバーコードをバーコード読取装置２８で読ませて、検体と分析項目を対応づける。その後、分析される試料の順番に従って検体分注機構５のプローブの下まで回転移動し、所定の検体容器１の検体が、検体分注機構５に連結された検体用ポンプ７の動作により反応容器６の中に所定量分注される。検体を分注された反応容器６は、反応浴槽９の中を第１試薬添加位置まで移動する。移動した反応容器６には、試薬分注ピペッタ８の吸排ノズルに連結された試薬用ポンプ１１の動作により試薬容器１２から吸引された試薬が所定量加えられる。第１試薬添加後の反応容器６は、撹拌機構１３の位置まで移動し、最初の撹拌が行われる。試薬ディスク２６Ａ、２６Ｂに第４試薬までセットされている場合には、このような試薬の添加−撹拌が、第１〜第４試薬について行われる。

内容物が撹拌された反応容器６は光源１４から発した光束を通過し、この時の吸光度が多波長分光器１５により検知される。検知された吸光度信号はＡ／Ｄコンバータ１６を経由して、インターフェイス４を介してコンピュータ３に入り、検体の濃度に変換される。濃度変換されたデータは、インターフェイス４を介してプリンタ２７から印字出力され、ＣＲＴ１８の画面に表示される。測光の終了した反応容器６は、洗浄機構１９の位置まで移動し、容器洗浄ポンプにより内部を排出後、洗浄液で洗浄され、次の分析に提供される。

以上のように構成された自動分析装置において、メンテナンス画面はＣＲＴ（表示部）１８に表示される。なお、ＣＲＴ１８は液晶等の表示装置であってよい。

図２はＣＲＴ１８に表示されるメンテナンス画面１８０１の一例を示す図である。当該画面１８０１では、メンテナンス項目名２０１、メンテナンス項目毎の残有効期間（％）２０２、次回実施予定日時２０３、残期限２０４、所要時間２０５をメンテナンス推奨実施周期ごとに一覧で表示することで、操作者にメンテナンスのスケジューリングの参考となる情報を提示する。

上記メンテナンス項目及び推奨実施周期は、予め定められており、後述するデータベースに設定されている。

図２に示したメンテナンス画面１８０１では周期ごとに分類されたメンテナンス項目の情報が表示される。図２の例ではＤａｙ（日）、Ｗｅｅｋ（週）、Ｍｏｎｔｈ（月）、Ｓｏｍｅｔｉｍｅｓ(随時)に分類して表示している。

これらメンテナンス項目は、後述するデータベースに登録されているメンテナンス推奨実施周期により分類される（例えば、推奨実施周期が２４ｈならＤａｙに表示する）。推奨実施周期がデータベースに登録されていないメンテナンス項目（次回メンテナンス時期が測定周期に依存しない項目等）はＳｏｍｅｔｉｍｅｓに表示される。

また、ユーザ（操作者）の指定した次回実施予定日時が実施推奨周期より期限が短い場合は、ユーザの指定した次回実施予定日時を「次回実施予定日時」２０３の欄に表示する。

なお、自動分析装置の利用形態によっては２週毎、２月毎などの周期によって表示してもよい。

図２に示したメンテナンス画面１８０１ではメンテナンス項目ごとに残有効期間（％）２０２をパーセント表示している。残有効期間（％）とは、メンテナンス実施時期に影響を与える要素（経過時間、分析回数、稼働時間等）に関する、要素に許されている猶予に対するメンテナンス最終実施日時からメンテナンス画面表示時までの変化量の割合である。例えば、あるメンテナンス項目においてメンテナンスの推奨実施周期が設定されている場合、このメンテナンス項目のメンテナンス実施時期はメンテナンス最終実施日時からの経過時間に影響を受ける。この場合、残有効期間（％）はメンテナンス推奨実施周期に対する残り時間の割合となる。

メンテナンス項目によっては残有効期間（％）が複数設定される場合が考えられる。例えばメンテナンス項目の一つである比較電極の交換では、経過時間と分析回数がメンテナンス実施時期に影響を与える。このとき、残有効期間（％）の表示の方法はいくつか想定される。想定される表示方法として、（１）メンテナンス項目に関する全ての残有効期間（％）を表示する、（２）最も残有効期間（％）の高い（低い）ものを表示する、（３）常に１つの要素に関する残有効期間（％）を表示し、ポップアップや別画面にて残りの要素に関する残有効期間（％）を表示する等が挙げられる。利用形態を考慮し適切な表示方法を選択することが重要である。なお、本発明の一実施例においては、該当するメンテナンス項目に対して、残時間と分析回数とから決定される（２） 最も残有効期間（％）の低いものをコンピュータ３が演算し、メモリ２５のデータベースに記憶させ、かつ、表示部１８に表示することを想定している。

図２のメンテナンス画面１８０１における残有効期間（％）は、数字とバーにより表示されている。単純にメンテナンス項目ごとの残時間を表示した場合、バーの長さは際限なく伸びてしまい、画面内に収まらない場合等が想定される。当該画面１８０１では単純に残時間ではなく割合である残有効期間（％）を表示することで、各メンテナンス項目に対して同じ大きさの領域で表示することが可能となっている。

上述したように、メンテナンス項目ごとのメンテナンスの残り期限が表示されるので、メンテナンスの優先度（緊急性）を視覚的に理解することが可能となり、かつ、メンテナンス項目毎に所要時間も表示されているので、利用者はその情報に基いて、自動分析装置の稼働スケジュールに合わせて、メンテナンスのスケジュール策定に役立てることができる。また、メンテナンス項目によっては当該表示が消耗品の発注時期、発注数の決定を支援することも可能となる。

また、図２のメンテナンス画面１８０１ではメンテナンス項目ごとの残有効期間（％）の値によって表示を変えることができる。例えば、図２のＭｏｎｔｈの欄に表示されたメンテナンス項目の「反応セル交換」、「反応槽清掃」、「ＩＳＥ希釈槽清掃」で表示されている残有効期間（％）のバー表示は、残有効期間（％）の値によりそれぞれバーの表示（色）が変わっている。操作者はバーの色を確認することで、直感的にメンテナンスの優先度、あるいは緊急性を理解することが可能になる。表示が変化する残有効期間（％）の値はメンテナンス項目ごとに設定が可能であり、操作者によって変更可能であればより望ましい。

また、図２のメンテナンス画面１８０１ではメンテナンス項目ごとにメンテナンスの次回実施予定日時２０３が表示可能である。この次回実施予定日時２０３はメンテナンスが実施された時点で更新される。

また、図２のメンテナンス画面１８０１ではメンテナンス項目ごとにメンテナンスの残期限２０４が表示可能である。この残期限２０４の表示単位は日、時間、あるいは分析回数など適宜変更してよい。

また、図２のメンテナンス画面１８０１ではメンテナンス項目ごとにＤＢ（データベース）に記憶されたメンテナンスの所要時間２０５を表示可能である。この所要時間２０５はメンテナンスごとにあらかじめ決められていてもよいし、実際にかかった時間から算出することで更新されてもよい。また、所要時間を表示するかどうかも任意であり、操作者がメンテナンスに関して熟知しているような利用形態においては煩雑な表示ともなりうるため表示しなくてもよい。

図２のメンテナンス画面１８０１を確認することで、操作者は周期ごとのメンテナンス項目に関する種々の情報を一目で確認することができるようになる。これにより、メンテナンスのスケジュールを適切に決定すること、あるいは決定までに要する時間を低減することにつながると考えられる。

図３は図２のメンテナンス画面１８０１を拡張したメンテナンス画面１８０２を示す図であり、周期ごとに分類されたメンテナンス項目の情報の表示領域Ｃに加え、当日中に実施すべきメンテナンス項目の表示領域Ａ、近日中に実施が推奨されるメンテナンス項目の表示領域Ｂを有している。このメンテナンス画面１８０２は、メンテナンス画面１８０１に代えて表示することが出来、いずれを表示するかを任意に選択することができる。

メンテナンス画面１８０２の表示領域Ａおよび表示領域Ｂを用意することは必須ではないが、残り期限、あるいはその割合を基に、当日、あるいは近日中に実施すべきメンテナンス項目を推定し提示することで、メンテナンスのスケジュール策定を支援することが可能となる。

以降、表示領域Ａおよび表示領域Ｂについて説明する。

まず、表示領域Ａについて説明する。

表示領域Ａには当日中に実施すべきメンテナンス項目が一覧で表示される。図６は表示領域Ａに表示されるメンテナンス項目を選定するアルゴリズムである。図６に示したアルゴリズムは自動分析装置に設定されたすべてのメンテナンス項目に対し実施される。図５は、メンテナンス項目毎の情報を管理するためのＤＢ３００を示す図であり、ＤＢ３００はメモリ２５に格納されている。このＤＢ３００は各メンテナンスの名称３０１、推奨実施周期３０２、最終実施日時３０３、残期限率閾値ａ３０４、ユーザ指定実施日時３０５、残期限率閾値ｂ３０６、所要時間３０７、Ｔｏｄａｙフラグ３０８、Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ（近日中実施推奨）フラグ３０９で構成される。フラグ３０８、３０９は、一時的なＴｏｄａｙ３０８、Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ３０９をユーザが登録する場合に利用する。また、フラグ３０８、３０９は、後述する画面１８０２に表示される「Ｔｏｄａｙに追加」、「Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎに追加」ボタンを押下することで、クリックしたメンテナンス項目に対して、有効（Ｔｒｕｅ）にすることができる。優先度は、フラグ３０８の方がフラグ３０９よりも高い。また、フラグ３０８、３０９がＴｒｕｅになった後、そのメンテナンス項目が実行されると、フラグはＦａｌｓｅになる。

図３のメンテナンス画面１８０２の表示指示を受けた時点で図６のアルゴリズムは開始される。このアルゴリズムが開始されるとまず現在日時を取得する（ステップＳ１０１）。

次に、ＤＢ３００からメンテナンス項目の推奨実施周期３０２およびを最終実施日時３０３取得する（ステップＳ１０２）。ステップＳ１０１で取得した現在日時とステップＳ１０２で取得した最終実施日時から次式（１）に基づいて該メンテナンス項目の経過時間を算出する(ステップＳ１０３)。

経過時間＝現在日時−最終実施日時 ・・・（１）
次に、上記式（１）の経過時間とメンテナンス項目の推奨実施周期３０２から次式（２）に基づいてメンテナンス項目の残時間を算出する（ステップＳ１０４）。

残時間＝推奨実施周期−経過時間 ・・・（２）
上記式（２）の残時間によりメンテナンス項目が表示領域Ａに表示されるべきか否か（残時間が２４時間以下か否か）を判定する（ステップＳ１０５）。残時間が２４時間以下である場合、メンテナンス項目を表示領域Ａに表示し（ステップＳ１１２）、処理を終了する。

ステップＳ１０５において、残時間が２４時間より大きい場合、Ｔｏｄａｙフラグ３０８を取得し（ステップＳ１０６）、Ｔｏｄａｙフラグ３０８がＴｒｕｅか否かを判断する（ステップＳ１０７）。Ｔｏｄａｙフラグ３０８がＴｒｕｅであれば、つまり、残時間から、当日中に実施されるべきメンテナンス項目であるか否かを判断し、該当するメンテナンス項目を表示領域Ａ（表示部に形成されたＴｏｄａｙの欄（当日の欄））に表示し（ステップＳ１１２）、処理を終了する。

ステップＳ１０７において、Ｔｏｄａｙフラグ３０８がＴｒｕｅでなければ、ＤＢ３０８に、ユーザ指定実施日時が設定済みか否かを判断する（ステップＳ１０８）。ユーザ指定実施日時が設定済みでなければ、処理は終了する。

ステップＳ１０８において、ユーザ指定実施日時が設定済みであれば、ＤＢ３００に設定された「ユーザ指定実施日時」を取得し（ステップＳ１０９）、ユーザ指定残時間を算出し（ステップＳ１１０）、ユーザ指定残時間が２４時間以下か否かを判断する（ステップＳ１１１）。

ステップＳ１１１において、ユーザ指定残時間が２４時間以下であれば、メンテナンス項目を表示領域Ａに表示し（ステップＳ１１２）、処理を終了する。

ステップＳ１１１において、ユーザ指定残時間が２４時間以下でなければ処理を終了する。

なお、ユーザ指定残時間は次式（３）により算出する。

ユーザ指定残時間＝ユーザ指定実施日時−現在日時 ・・・（３）
次に、表示領域Ｂについて説明する。

図７は表示領域Ｂに表示されるメンテナンス項目を選定するアルゴリズムである。

このアルゴリズムが開始されるとまず現在日時を取得する（ステップＳ２０１）。

次に、ＤＢ３００からメンテナンス項目の推奨実施周期３０２およびを最終実施日時３０３取得する（ステップＳ２０２）。

ステップＳ２０１で取得した現在日時とステップＳ２０２で取得した最終実施日時から上記式（１）に基づいて該メンテナンス項目の経過時間を算出する(ステップＳ２０３)。

次に、上記式（１）の経過時間とメンテナンス項目の推奨実施周期３０２から上記式（２）に基づいてメンテナンス項目の残時間を算出する（ステップＳ２０４）。

次に、ＤＢ３００に設定されたＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎフラグを取得し（ステップＳ２０５）、取得したＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎフラグがＴｒｕｅか否かを判断する（ステップＳ２０６）。取得したＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎフラグがＴｒｕｅであれば、メンテナンス項目を表示領域Ｂに表示し（ステップＳ２１０）、処理を終了する。

ステップＳ２０６において、取得したＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎフラグがＴｒｕｅでなければ（Ｆａｌｓｅ）、次式（４）により残期限率を算出する（ステップＳ２０７）。

残期限率＝残時間／推奨実施周期 ・・・（４）
次に、ＤＢ３００に設定された残期限率閾値ａを取得し（ステップＳ２０８）、ステップＳ２０７で算出した残期限率が、残期限率閾値ａ以上か否かを判断する（ステップＳ２０９）。残期限率が残期限率閾値ａ以上であれば、処理は終了する。残期限率が残期限率閾値ａ未満であれば、メンテナンス項目を表示領域Ｂに表示し（ステップＳ２１０）、処理を終了する。

次に、表示領域Ｃについて説明する。表示領域Ｃは、Ｗｅｅｋ、Ｍｏｎｔｈ、Ｓｏｍｅｔｉｍｅｓについてのメンテナンス項目を表示する領域であり、基本的には図２に示した表示内容と同様となっている。図４は、図３の表示の追加説明図である。

図４において、表示領域Ｃでは、メンテナンス項目をクリックすると、クリックしたメンテナンス項目に対するメニューとして、メンテナンス実施画面、メンテナンス詳細画面、スケジュール設定画面に遷移するボタンが表示される。図４に示した例は、メンテナンス項目が反応セル交換の場合の例である。また、指定したメンテナンス項目をＴｏｄａｙ又はＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ（近日中に実施推奨の欄）に追加する場合のボタンが表示されている。

メンテナンス実施を押下すると、指定したメンテナンス項目を実行するための画面が表示される。

また、メンテナンス詳細を押下すると、指定したメンテナンス項目の詳細（状態、関連メンテナンス項目、実施対象メンテナンスモジュール、関連消耗品情報）を表示する画面が表示される。

図８は、メンテナンス詳細画面１８０３を示す図である。図８において、図４に示した画面１８０２でクリックした対象メンテナンス項目とその状態が表示されている。

また、関連メンテナンス項目の表示では、対象メンテナンス項目に関連するメンテナンス項目が表示される。例えば、対象メンテナンス項目が「反応セル交換」であった場合、続けて実施を行う必要があるメンテナンス項目、「反応系の洗浄」、「セルブランク測定」が必須関連メンテナンス項目として表示され、また、実施は必須ではないが、同じモジュールに対するメンテナンス項目である、「反応槽フィルターの清掃」などが任意関連メンテナンス項目として表示される。

また、関連消耗品情報は、対象メンテナンスに関連する洗剤や交換部品などの消耗品の情報を表示する。その際、対象メンテナンス項目のみに必要な消耗品情報を表示してもよいし、必須関連メンテナンス項目を含めた場合の消耗品を表示してもよい。またそれらの表示内容を操作者に選択させてもよい。

また、実施対象メンテナンスモジュールは、対象メンテナンス項目が実施されるモジュールを視覚的に表示する。図８の例では「分析部」が対象メンテナンス項目「反応セル交換」における実施対象メンテナンスモジュールとなる。

このメンテナンス詳細画面１８０３は、後述するスケジュール設定時の補助情報として参照することができる。また、このメンテナンス詳細画面１８０３は、サブ画面として、図３、図４に示したメンテナンス画面１８０２にサブ画面として表示することも可能である。

図９は、メンテナンス詳細画面をサブ画面１８０４として、メンテナンス画面１８０２に表示した図である。このサブ画面１８０４はドラッグすることにより、移動可能であり、サイズも変更可能である。

次に、図４に示したスケジュール設定ボタンを押下した場合について説明する。

図１０は、スケジュール設定ボタンを押下したときに、表示されるスケジュール設定画面１８０５を示す図である。図１０において、対象メンテナンス項目は、スケジュール設定の変更対象となるメンテナンス項目名が表示される。この対象メンテナンス項目は、スケジュール設定ボタンを表示するためにクリックしたメンテナンス項目である。

次回実施日時指定には、次回実行予定日時を設定するか否かを選択する。また、次回実施日時には、次回実行予定日時を入力する。上記「次回実施日時指定」で[しない]が選択されている場合は、その表示を非活性にすることが望ましい。メンテナンス推奨設定は、メンテナンスの推奨に関する設定をする。メンテナンスからの経過時間、稼働時間、計測回数、残量など、どの条件で推奨をかけるか選択する。バー表示における赤・黄色で表示する残有効期限を設定する。周期の欄には、メンテナンス実施の周期を設定する（基本的には変更しない。また、メーカの指定する初期値より緩い条件は付けられない)。

バー表示において、Ｒｅｄの値はＤＢ３００に格納された閾値ａに対応する。Ｒｅｄの部分は、バーの表示を赤くし、Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎにメンテナンス項目を表示するためのキーとなる。ＹｅｌｌｏｗはＤＢ３００に格納された閾値ｂに対応する。バーの色を黄色にするためのキーとなる。Ｒｅｄ及びＹｅｌｌｏｗの値は周期の値か残有効期限（％）により設定が可能である。

図１１は、次回実施日時を指定しない場合のスケジュール設定画面１８０５を示す図である。図１１に示すように、次回実施日時を指定しない場合は、次回実施日時の欄が非活性表示となる。周期時間以外でメンテナンスの推奨をする場合の設定画面例である。

図１２は、上述したスケジュール設定のアルゴリズムを示す図である。

図１２において、次回実施予定日時、あるいはメンテナンス推奨設定を変更したいメンテナンス項目を選択する（ステップＳ３０１）。次に、スケジュール設定ボタンを押下し（ステップＳ３０２）、スケジュール設定画面を表示する（ステップＳ３０３）。そして、次回実施予定日時を指定するか否かを判断し（ステップＳ３０４）、次回実施予定日時を指定する場合は、次回実施日時指定で［する］を選択し（ステップＳ３０５）、次回実施日時を入力する（ステップＳ３０６）。

次に、メンテナンス推奨設定を変更するか否かを判断する（ステップＳ３０７）。ステップＳ３０４で、次回実施予定日時を指定しない場合も、ステップＳ３０７に進む。ステップＳ３０７で、メンテナンス推奨設定を変更する場合は、ステップ３０８に進み、メンテナンス推奨設定を変更する。そして、設定を反映するか否かを判断する（ステップＳ３０９）。ステップＳ３０７において、メンテナンス推奨設定を変更しない場合も、ステップＳ３０９に進む。ステップＳ３０９において、設定を反映する場合は、決定ボタンを押下し（ステップＳ３１０）、設定を反映しない場合は、取り消しボタンを押下する（ステップＳ３１１）。

図１３は、表示画面１８０１、１８０２、１８０３、１８０４及び１８０５の表示制御、図６、図７及び図１２のアルゴリズムの実行を行うための、コンピュータ（演算制御部）３内の機能ブロック図である。

図１３において、コンピュータ３は、残時間算出部３１と、メンテナンス所要時間抽出部３４と、スケジュール変更部３２と、メンテナンス推奨設定変更部３３と、判断部３５とを備えている。図１３に示したクロック発生部２９は、時計の役割を果たすものであり、残時間算出部３１は、クロック発生部２９から現在の時刻を取得する。また、残時間算出部３１は、メモリ２５に格納されたＤＢ３００からデータを取得し、図６のステップＳ１０１〜Ｓ１０４、Ｓ１０９、Ｓ１１０、図７のステップＳ２０１〜Ｓ２０４、Ｓ２０７を実行する。

また、メンテナンス所要時間抽出部３４は、メモリ２５に格納されたＤＢ３００の所要時間を抽出し、判断部３４５を介して表示部１８に表示させる。また、スケジュール変更部３２、入力部（キーボード）２１からの入力に基いて、判断部３５と共に図１２のアルゴリズムを実行する。

また、メンテナンス推奨設定変更部３３は、残時間算出部３１及び判断部３５と共に図７のアルゴリズムを実行する。判断部３５は、残時間算出部３１、メンテナンス所要時間抽出部３４、スケジュール変更部３２、及びメンテナンス推奨設定変更部３３からの情報に基いて表示部１８の表示内容を制御する。

以上のように、本発明の一実施例によれば、図２に示した画面１８０１又は図３に示した画面１８０２を確認することで、当日中に実施すべきメンテナンス項目、近日中に実施が推奨されるメンテナンス項目、メンテナンス項目の所要時間および周期ごとに分類されたメンテナンス項目毎の情報を一目で確認することができる。これにより、操作者は、分析動作を考慮した当日実施すべきメンテナンス項目の把握と、当日以降のメンテナンスのスケジュールを決定するための情報の取得とを容易に行うことが可能となる。

また、本発明の一実施例によれば、メンテナンスの予定を変更した場合にも、その変更に容易に対応して表示を変更することが可能である。

なお、画面１８０１、１８０２内や別箇の画面にメンテナンス項目ごとの関連情報が提示できることが望ましい。関連情報とは、使用する部品の情報(型番、在庫数、価格、前回発注日時)、消耗品の情報(型番、在庫数、価格、前回発注日時)、同時に実施することが推奨されるメンテナンス項目(同一モジュールのメンテナンス、部品交換時の調整作業等)などが挙げられる。当該情報はメンテナンスのスケジューリングにおいて考慮される場合が多く、一度に参照できるようにすることでスケジューリングの支援につながると考えられる。

なお、上述した実施例においては、残有効期間（％）をバーで表示したが、メータやグラフ、マーク、色彩により残有効期間（％）を表示してもよい。本明細書においては、バー、メータ、グラフ、マーク、色彩を総称して図形表示と定義する。

１・・・検体容器、２・・・検体搬送ディスク、３・・・マイクロコンピュータ、４・・・インターフェイス、５・・・検体分注機、６・・・反応容器、７・・・検体用シリンジポンプ、８Ａ、８Ｂ・・・試薬分注ピペッタ、９・・・反応浴槽、１０・・・恒温液供給部、１１・・・試薬用シリンジポンプ、１２・・・試薬ボトル、１３・・・撹拌機構、１４・・・多波長光度計光源、１５・・・多波長分光器、１６・・・Ａ／Ｄコンバータ、１７・・・反応テーブル、１８・・・ＣＲＴ、１９・・・洗浄機構、２１・・・キーボード、２３Ａ、２３Ｂ・・・バーコード読取装置、２４・・・光ディスク、２５・・・記憶部、２６Ａ、２６Ｂ・・・試薬ディスク、２７・・・プリンタ、２８・・・バーコード読取装置、１８０１、１８０２・・・メンテナンス画面、１８０３・・・メンテナンス詳細画面、１８０４・・・サブ画面、１８０５・・・スケジュール設定画面

Claims (7)

1. 検体を分析する分析部と、
   少なくとも、上記分析部についての複数のメンテナンス項目と、これらメンテナンス項目ごとの最終実施日時と、上記メンテナンス項目ごとの推奨実施周期と、上記メンテナンス項目毎の実行に要する所要時間とを記憶するメモリと、
   上記メモリに記憶されたメンテナンス項目ごとの推奨実施周期と最終実施日時から、メンテナンス推奨実施時期までの残時間と、上記メンテナンスごとの推奨実施周期に対する上記残時間との割合とを算出する残時間算出部を有する演算制御部と、
   上記メンテナンス項目ごとに、上記残時間算出部により算出された残時間と、上記推奨実施周期に対する上記残時間の割合と、上記メンテナンス項目毎の実行に要する所要時間とを表示する表示部と、
   を備えることを特徴とする自動分析装置。
2. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   上記演算制御部は、上記複数のメンテナンス項目のうち、所定のメンテナンス項目については、上記分析部の分析回数と上記残時間とから決定される残有効期間を演算し、演算した残有効期間を上記メモリに記憶させるとともに、上記表示部に残時間として表示させることを特徴とする自動分析装置。
3. 請求項１または２に記載の自動分析装置において、
   上記表示部は、上記推奨実施周期に対する上記残時間の割合を、図形表示により視覚的に表示することを特徴とする自動分析装置。
4. 請求項３に記載の自動分析装置において、
   上記図形表示は、バー、メータ、グラフ、マークまたは色彩であることを特徴とする自動分析装置。
5. 請求項１または２に記載の自動分析装置において、
   上記演算制御部は、上記残時間から、当日中に実施されるべきメンテナンス項目を判断し、判断したメンテナンス項目を、上記表示部に形成した当日中に実施すべきメンテナンス項目の表示領域に表示することを特徴とする自動分析装置。
6. 請求項１または２に記載の自動分析装置において、
   上記演算制御部は、上記残時間から、近日中に実施されるべきメンテナンス項目を判断し、判断したメンテナンス項目を、上記表示部に形成した近日中に実施が推奨されるメンテナンス項目の表示領域に表示することを特徴とする自動分析装置。
7. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   上記メモリには、上記メンテナンス項目毎に操作者が予め定めたＴｏｄａｙフラグと、上記メンテナンス項目のうち、上記操作者が選択したメンテナンス項目に指定実施予定日時が記憶され、
   上記演算制御部は、
   上記メモリに記憶されたメンテナンス項目ごとに、上記算出した残時間が２４時間以下であるか否かを判断し、残時間が２４時間以下である場合は、判断したメンテナンス項目を、上記表示部に形成した当日中に実施を行うメンテナンス項目の表示領域に表示し、
   上記算出した残時間が２４時間を超える場合は、上記メモリに記憶されたメンテナンス項目のＴｏｄａｙフラグがＴｒｕｅを示すときは、上記表示部に形成した当日中に実施を行うメンテナンス項目の表示領域に表示し、
   上記メモリに記憶されたメンテナンス項目のＴｏｄａｙフラグがＴｒｕｅを示さないときは、上記指定実施予定日時が記憶されているか否かを判断し、
   上記指定実施予定日時が記憶されている場合は、現時刻から上記指定実施予定日時までの残時間を算出し、残時間が２４時間以下である場合は、判断したメンテナンス項目を、上記表示部に形成した当日中に実施を行うメンテナンス項目の表示領域に表示することを特徴とする自動分析装置。

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