JP2017532546A - 有機フォトダイオードを用いたx線検出器およびx線システム - Google Patents

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Abstract

有機X線検出器が提供される。有機X線検出器は層状構造を含む。層状構造は、基板上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ、TFTアレイ上に配置された有機フォトダイオード、および有機フォトダイオード上に配置されたシンチレータ層を含む。有機X線検出器は、層状構造を少なくとも部分的に封入する封入カバーを含む。有機X線検出器はさらに、有機フォトダイオードに近接してかつ層状構造上に入射するX線放射線の経路内に配置された、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方を含む。有機X線検出器を含むX線システムも提供される。【選択図】図1

Description

本発明の諸実施形態は一般に有機X線検出器に関する。より詳細には、本発明の諸実施形態は、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層を含む有機X線検出器に関する。
連続フォトダイオード(continuous photodiodes)を用いて製作されたデジタルX線検出器には、低コストのデジタルラジオグラフィ(digital radiography)ならびに堅牢で軽量の携帯用検出器の潜在的用途がある。連続フォトダイオードを有するデジタルX線検出器は、フィルファクタが大きく、量子効率が潜在的に高い。連続フォトダイオードは一般に、有機フォトダイオード(OPD)を含む。X線を可視光線に変換するシンチレータが一般にOPDの上に配置される。
典型的な有機X線検出器(organic x−ray detectors)は、酸素および/または水分にさらされると性能低下しやすい。考えられる劣化メカニズムは、電極材料の酸化と有機材料(例えば、OPD材料)の酸化の一方または両方を含む。シンチレータ蒸着、封入、レーザリペア、作業などのOPD蒸着後のプロセス中、OPDは空気にさらされる可能性が高い。ほとんどの有機系フォトダイオードは、酸素および/または水分に弱いため、酸素を含んだ空気から保護する必要がある。したがって、信頼性のあるOPDおよび有機X線検出器を実現するために気密シールが望ましい。典型的なX線検出器は、エッジシールと共に上蓋を含む。しかし、エッジシーラントは一般に、上蓋よりも水分および酸素に対する浸透性が高く、水分/酸素のエッジ侵入が長期安定性に対する制限因子となり得る。
したがって、改良された酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層を有するX線検出器構成が必要である。
独国特許出願公開第102011084276号明細書
一態様では、本発明は有機X線検出器に関する。有機X線検出器は層状構造を含む。層状構造は、基板上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ、TFTアレイ上に配置された有機フォトダイオード、および有機フォトダイオード上に配置されたシンチレータ層を含む。有機X線検出器は、層状構造を少なくとも部分的に封入する封入カバーを含む。有機X線検出器はさらに、有機フォトダイオードに近接してかつ層状構造上に入射するX線放射線の経路内に配置された、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方を含む。
別の態様では、本発明は、層状構造を含む有機X線検出器に関する。層状構造は、基板上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ、TFTアレイ上に配置された有機フォトダイオード、および有機フォトダイオード上に配置されたシンチレータ層を含む。有機X線検出器は、層状構造を少なくとも部分的に封入する封入カバーを含む。有機X線検出器はさらに、層状構造内の有機フォトダイオードとシンチレータ層との間に配置された酸素ゲッタ層と、封入カバーの少なくとも一部と接触して配置された水分ゲッタ層と、を含む。
別の態様では、本発明はX線システムに関する。X線システムは、X線源、有機X線検出器、および有機X線検出器からのデータを処理するように動作可能なプロセッサを含む。有機X線検出器は層状構造を含む。層状構造は、基板上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ、TFTアレイ上に配置された有機フォトダイオード、および有機フォトダイオード上に配置されたシンチレータ層を含む。有機X線検出器は、層状構造を少なくとも部分的に封入する封入カバーを含む。有機X線検出器はさらに、有機フォトダイオードに近接してかつ層状構造上に入射するX線放射線の経路内に配置された、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方を含む。
本発明のこれらおよびその他の特徴、実施形態、および利点は、以下の詳細な説明を参照してより容易に理解することができる。
本発明のこれらおよびその他の特徴、態様、および利点は、添付図面を参照して以下の詳細な説明を読んだときにより良く理解されるようになる。
本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機X線検出器の概略図である。 本発明の一実施形態による有機フォトダイオードの概略図である。 本発明の一実施形態によるX線システムの概略図である。 本発明の一実施形態によるX線システムの概略図である。 本発明の一実施形態によるX線システムの概略図である。
続く以下の明細書および特許請求の範囲では、いくつかの用語が参照され、これらの用語は以下の意味を有すると定義されるものとする。単数形「1つの(a)」、「1つの(an)」および「その(the)」は、文脈上そうでないとする明確な指示がない限り、複数の指示対象を含む。「随意の(optional)」または「随意に(optionally)」は、続いて記述される事象または状況が起きても起こらなくてもよいこと、ならびに、その記述が、その事象が起こる場合およびその事象が起こらない場合を含むことを意味する。
近似の言い回しは、本明細書および特許請求の範囲全体を通じて本明細書で用いられる場合、その言い回しが関係している基本機能に変化をもたらすことなく許容範囲で変わり得る定量的表現を修飾するために適用することができる。したがって、「約(about)」や「実質的に(substantially)」などの1つまたは複数の用語で修飾される値は、指定された正確な値に限定されるものではない。いくつかの例では、近似の言い回しは、値を測定するための計器の精度に対応することができる。同様に、「ない(free)」は他の用語と組み合わせて用いられることがあり、ごくわずかな数、または微量を含むことがあるが、修飾された用語がまだないと見なされる。ここで本明細書および特許請求の範囲全体を通じて、範囲制限は、組み合わされかつ/または置き換えられてもよく、このような範囲は識別され、文脈上または言語上特に指示がない限り、本明細書に包含されるすべての部分範囲を含む。
本明細書では、用語「層(layer)」は、下にある表面の少なくとも一部上に連続的または不連続的に配置された材料を意味する。さらに、用語「層」は配置された材料の均一な厚さを必ずしも意味するものではなく、配置された材料の厚さは均一でも可変でもよい。本明細書では、用語「〜上に配置される(disposed on)」は、特に具体的に指示がない限り、複数の層が互いに直接接触して配置される、または層間に介在層を有することで間接的に配置されることを意味する。用語「隣接する(adjacent)」は、本明細書で用いられる場合、2つ層が隣接して配置されかつ互いに直接接触していることを意味する。
本開示では、ある層が別の層または基板「上にある(on)」と記述されている場合、これら層が互いに直接接触しているか、層間に1つ(または複数)の層または特徴を有しているか、のどちらかであり得ることを理解されたい。さらに、用語「〜上(on)」は、層の互いに対する相対位置を説明するものであり、相対位置の「〜の上(above)」または「〜の下(below)」が観察者に対する装置の向きに依存するので、必ずしも「〜の上部に(on top of)」を意味するものではない。さらに、「上部(top)」、「底部(bottom)」、「〜の上(above)」、「〜の下(below)」、およびこれらの用語の変形の使用は、便宜上なされるものであり、特に記載のない限り、構成要素の特定の向きを全く必要としない。
限定するものではないが、有機X線検出器などの電気光学装置は、電子的または光学的活性部分、例えば、基板上に配置されることが多いシンチレータおよびフォトダイオードを含む。活性部分および基板を水分、酸素、または腐食性化学攻撃への暴露による劣化から保護するために、電気光学装置は、通常はシールで覆われる。典型的なX線検出器は、エッジシールと共に上蓋を含む。しかし、エッジシーラントは一般に、上蓋よりも水分および酸素に対する浸透性が高く、水分/酸素のエッジ侵入が長期安定性に対する制限因子となり得る。
本発明の一態様は、限定するものではないが、有機X線検出器などの電気光学装置を提供するものである。かかる有機X線検出器(XRD)の概略図が図1〜図15に示されている。図1〜図15に示すように、有機X線検出器100は層状構造110を含む。層状構造110は、基板170上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ120、TFTアレイ120上に配置された有機フォトダイオード130、および有機フォトダイオード130に配置されたシンチレータ層140を含む。有機X線検出器はさらに、層状構造110を少なくとも部分的に封入する封入カバー160を含む。有機X線検出器はさらに、有機フォトダイオードに近接してかつ層状構造上に入射するX線放射線の経路内に配置された、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方を含む。
図1〜図15に示すように、シンチレータ層140は、入射したX線放射線20によって励起され、可視光線を生成する。シンチレータ層140は、X線を可視光線に変換することができる蛍光体材料で構成することができる。シンチレータ層140によって放出される光の波長域は約360nm〜約830nmとすることができる。層140に適した材料としては、以下に限定するものではないが、ヨウ化セシウム(CsI)、CsI(Tl)(タリウムが添加されているヨウ化セシウム)、およびテルビウム活性化酸硫化ガドリニウム(GOS)が挙げられる。この種の材料は、シートまたはスクリーンの形態で市販されている。使用され得るもう1つのシンチレータはPIB(パーティクルインバインダ)シンチレータであり、この場合、発光粒子がバインダマトリックス材料に組み込まれ、基板上に平坦化にされてもよい。シンチレータ層140は、モノリシックシンチレータまたはピクセル型シンチレータアレイとすることができる。シンチレータ層140によって生成された可視光線は、TFTアレイ120上に配置された有機フォトダイオード130に照射する。
図16に示すように、有機フォトダイオード130は、第1の電極131、第2の電極132、および第1の電極131と第2の電極132との間に介在された吸収材層(「活性層」と称されることもある)133を含む。設計の適用および変化に応じて、有機フォトダイオード130は、単一の有機層を含むことができ、または複数の有機層を含むことができる。さらに、フォトダイオード130はTFTアレイ120上に直接配置されてもよく、あるいは、設計は、フォトダイオード130とTFTアレイ120との間に配置された1つまたは複数の層を含んでいてもよい。
吸収材層は、光を吸収し、電荷を分離し、そして正孔および電子をコンタクト層まで輸送するバルクヘテロ接合型有機フォトダイオード層とすることができる。いくつかの実施形態では、吸収材はパターン化されてもよい。吸収材層は、ドナー材料とアクセプタ材料の混合物を含むことができ、複数のドナーまたはアクセプタが混合物に含められてもよい。いくつかの実施形態では、ドナーおよびアクセプタは、同一分子に組み込まれてもよい。さらに、ドナー材料およびアクセプタ材料のHOMO/LUMO準位は、エネルギー障壁を作らずに効率的な電荷の抽出を可能にするために、第1の電極および第2の電極のHOMO/LUMO準位に適合することができる。
適切なドナー材料としては、LUMO準位が約1.9eV〜約4.9eV、詳細には2.5eV〜4.5eV、より詳細には3.0eV〜4.5eVであり、HOMO準位が約2.9eV〜約7eV、詳細には4.0eV〜6eV、より詳細には4.5eV〜6eVである低バンドギャップポリマーが挙げられる。低バンドギャップポリマーとしては、チオフェン、フルオレン、フェニレンビニレン、カルバゾール、ピロロピロールなどの置換または非置換のモノ複素環モノマー、ならびに、以下に限定するものではないが、チエノチオフェン、ベンゾジチオフェン、ベンゾチアジアゾール、ピロロチオフェンモノマー、およびそれらの置換類似物を含む、チオフェン環を含む縮合複素多環系モノマーから誘導される単位からなる共役ポリマーおよび共役コポリマーが挙げられる。特定の実施形態では、低バンドギャップポリマーとしては、置換または非置換のチエノチオフェン、ベンゾジチオフェン、ベンゾチアジアゾール、カルバゾール、イソチアナフテン、ピロール、ベンゾビス(チアジアゾール)、チエノピラジン、フルオレン、チンジアゾールキノキサリン、またはこれらを組み合わせたものから誘導される単位が挙げられる。本明細書に記載した低バンドギャップポリマーに関連して、用語「〜から誘導される単位(units derived from)」は、単位がそれぞれ、重合前または重合中に存在する置換基に関係なくモノ複素環基およびポリ複素環基を含む残基であることを意味し、例えば、「チエノチオフェンから誘導された単位を含む低バンドギャップポリマー」は、低バンドギャップポリマーが二価チエノチオフェニル基を含むことを意味する。本発明による有機X線検出器における低バンドギャップポリマーとして用いるのに適した材料の例としては、置換または非置換のチエノチオフェン、ベンゾジチオフェン、ベンゾチアジアゾールもしくはカルバゾールモノマー、およびそれらを組み合わせてものから誘導されるコポリマーがあり、例えば、ポリ[[4,8−ビス[(2−エチルヘキシル)オキシ]ベンゾ[1,2−b:4,5−b’]ジチオフェン−2,6−ジイル][3−フルオロ−2−[(2−エチルヘキシル)カルボニル]チエノ[3,4−b]チオフェンジイル(PTB7)、2,1,3−ベンゾチアジアゾール4,7−ジイル[4,4−ビス(2−エチルヘキシル)−4H−シクロペンタ[2,1−b:3,4−b’]ジチオフェン−2,6−ジイル(PCPDTBT)、ポリ[[9−(1−オクチルノニル)−9H−カルバゾール−2,7−ジイル]−2,5−チオフェンジイル−2,1,3−ベンゾチアジアゾール−4,7−ジイル−2,5−チオフェンジイル](PCDTBT)、ポリ[(4,40−ビス(2−エチルヘキシル)ジチエノ[3,2−b:20,30−d]シロール)−2,6−ジイル−オルト−(2,1,3−ベンゾチアジアゾール)−4,7−ジイル](PSBTBT)、ポリ((4,8−ビス(オクチルオキシ)ベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)(2−((ドデシルオキシ)カルボニル)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB1)、ポリ((4,8−ビス(オクチルオキシ)ベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)(2−((エチルヘキシルオキシ)カルボニル)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB2)、ポリ((4,8−ビス(オクチル)ベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)(2−((エチルヘキシルオキシ)カルボニル)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB3)、ポリ((4,8−ビス−(エチルヘキシルオキシベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)(2−((オクチルオキシ)カルボニル)−3−フルオロ)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB4)、ポリ((4,8−ビス(エチルヘキシルオキシベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)((2−(オクチルオキシ)カルボニル)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB5)、ポリ((4,8−ビス(オクチルオキシ)ベンゾ(1,2−b:4,5−b’)ジチオフェン−2,6−ジイル)(2−((ブチルオクチルオキシ)カルボニル)チエノ(3,4−b)チオフェンジイル))(PTB6)、ポリ[[5−(2−エチルヘキシル)−5,6−ジヒドロ−4,6−ジオキソ−4H−チエノ[3,4−c]ピロール−1,3−ジイル][4,8−ビス[(2−エチルヘキシル)オキシ]ベンゾ[1,2−b:4,5−b’]ジチオフェン−2,6−ジイル]](PBDTTPD)、ポリ[1−(6−{4,8−ビス[(2−エチルヘキシル)オキシ]−6−メチルベンゾ[1,2−b:4,5−b’]ジチオフェン−2−イル}−3−フルオロ−4−メチルチエノ[3,4−b]チオフェン−2−イル)−1−オクタノン](PBDTTT−CF)、および、ポリ[2,1,3−ベンゾチアジアゾール−4,7−ジイル−2,5−チオフェンジイル(9,9−ジオクチル−9H−9−シラフルオレン−2,7−ジイル)−2,5−チオフェンジイル](PSiF−DBT)が挙げられる。他の適切な材料は、ポリ[5,7−ビス(4−デカニル−2−チエニル)チエノ[3,4−b]ジアチアゾール−チオフェン−2,5](PDDTT)、ポリ[2,3−ビス(4−(2−エチルヘキシルオキシ)フェニル)−5,7−ジ(チオフェン−2−イル)チエノ[3,4−b]ピラジン](PDTTP)、および、ポリチエノ[3,4−b]チオフェン(PTT)が挙げられる。特定の実施形態では、適切な材料は、PTB1〜7列やPCPDTBTなどの置換または非置換ベンゾジチオフェンモノマー、あるいはPCDTBTやPCPDTBTなどのベンゾチアジアゾールモノマーから誘導されるコポリマーである。
特定の実施形態では、ドナー材料は、低結晶化度を有するポリマー、または非晶質ポリマーである。結晶化度は、ポリマー主鎖の芳香族環を置換することによって増大させることができる。6個以上の炭素または嵩高な多面体オリゴシルセスキオキサン(POSS)を含有する長鎖アルキル基は、芳香環上に置換基を有していないポリマー、またはメチル基などの短鎖置換基を有するポリマーよりも低い結晶化度を有するポリマー材料をもたらすことができる。結晶化度はまた、以下に限定するものではないが、材料を処理するために使用される溶媒および熱アニーリング条件を含む、処理条件および手段の影響を受ける可能性がある。結晶化度は、熱量測定法、示差走査熱量測定法、X線回折、赤外線分光法、偏光光学顕微鏡などの分析技術を用いて容易に決定される。
アクセプタに適した材料としては、[6,6]−フェニル−C61−酪酸メチルエステル(PCBM)などのフラーレン誘導体、PC70BM、PC71BM、PC80BMなどのPCBM類似物、ビス−PC71BMなどの、フラーレン誘導体のビス付加体、インデン−C60モノ付加体(ICMA)などの、フラーレン誘導体のインデンモノ付加体、および、インデン−C60ビス付加体(ICBA)などのインデンビス付加体が挙げられる。ポリ[(9,9−ジオクチルフルオレニル−2,7−ジイル)−オルト−(4,7−ビス(3−ヘキシルチオフェン−5−イル)−2,1,3−ベンゾチアジアゾール)−2’,2’’−ジイル](F8TBT)などのフルオレンコポリマーが、単独でまたはフラーレン誘導体と共に使用されてもよい。
一実施形態では、第1の電極はカソードとして機能し、第2の電極はアノードとして機能する。別の実施形態では、第1の電極はアノードとして機能し、第2の電極はカソードとして機能する。適切なアノード材料としては、以下に限定するものではないが、Al、Ag、Au、Ptなどの金属、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、酸化亜鉛(ZnO)などの金属酸化物、および、PEDOTのようなpドープ共役ポリマーなどの有機導電体が挙げられる。適切なカソード材料としては、透明導電性酸化物(TCO)および金や銀などの金属の薄膜が挙げられる。適切なTCOの例としては、ITO、IZO、酸化アルミニウム亜鉛(AZO)、フッ素化酸化スズ(FTO)、酸化スズ(SnO)、二酸化チタン(TiO)、ZnO、酸化インジウム亜鉛(In−Zn−O列)、酸化インジウムガリウム、酸化ガリウム亜鉛、酸化インジウムケイ素亜鉛、酸化インジウムガリウム亜鉛、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。
再び図1〜図15を参照すると、TFTアレイは受動画素または能動画素の2次元アレイとすることができ、この2次元アレイは、非晶質ケイ素または非晶質金属酸化物で形成された活性層、または有機半導体上に配置された電子回路によって読み出すための電荷を蓄える。いくつかの実施形態では、TFTアレイは、ケイ素TFTアレイ、酸化物TFTアレイ、有機TFT、またはこれらを組み合わせたものを含む。適切な非晶質金属酸化物としては、酸化亜鉛、酸化亜鉛スズ、インジウム酸化物、インジウム亜鉛酸化物(In−Zn−O列)、インジウムガリウム酸化物、ガリウム亜鉛酸化物、インジウムケイ素亜鉛酸化物、およびインジウムガリウム亜鉛酸化物(IGZO)が挙げられる。IGZO材料としては、InGaO(ZnO)(式中、m<6)およびInGaZnOが挙げられる。適切な有機半導体としては、以下に限定するものではないが、ルブレン、テトラセン、ペンタセン、ペリレンジイミド類、テトラシアノキノジメタンなどの共役芳香族材料、および、ポリチオフェン類、ポリベンゾジチオフェン類、ポリフルオレン、ポリジアセチレン、ポリ(2,5−チオフェニレンビニレン)、ポリ(p−フェニレンビニレン)、これらの誘導体などのポリマー材料が挙げられる。
TFTアレイ120はさらに基板170上に配置される。適切な基板170の材料としては、ガラス、セラミック、プラスチック、および金属が挙げられる。基板170は、厚いガラス、厚いプラスチックシート、厚いプラスチック複合シート、金属板などの剛性シートとして、または、薄いガラスシート、薄いプラスチックシート、薄いプラスチック複合シート、金属箔などの可撓性シートとして存在することができる。基板に適した材料の例としては、剛性でも可撓性でもよいガラス;ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリアリレート、ポリイミド、ポリシクロオレフィン、ノルボルネン樹脂、フルオロポリマーなどのプラスチック;ステンレス鋼、アルミニウム、銀、金などの金属;酸化チタンや酸化亜鉛などの金属酸化物;およびケイ素などの半導体が挙げられる。1つの特定の実施形態では、基板はポリカーボネートを含む。
図1〜図15に示すように、シンチレータ層140、フォトダイオード130、およびTFTアレイ120は、これらを大気から導入される水分および酸素から保護するために、封入カバー160の内側に密閉される。いくつかの実施形態では、封入カバー160と基板170との間の効果的な密封を行うために、1つまたは複数の追加シール180が設けられてもよい。
本発明のいくつかの実施形態では、外部の水分および酸素から保護される以外に、フォトダイオード130はさらに、X線検出器の形成中またはX線検出器の動作中に(例えば、シンチレータ層140から)導入され得る酸素および/または水分から保護することができる。
この保護を行うために、酸素ゲッタ層と水分ゲッタ層の少なくとも一方がさらに有機X線検出器100内に設けられてもよい。酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層は、有機フォトダイオードに近接して配置される。用語「〜に近接して配置される(disposed proximate)」は、本明細書では、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層が、有機フォトダイオードと直接接触して配置されるか、有機フォトダイオードが酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層により酸素および/または水分への暴露から保護されるような距離を置いて配置されるか、のどちらかを意味する。さらに、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層は、X線放射線が有機フォトダイオードに到達する前に酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層の少なくとも一部を通過するように、層状構造上に入射するX線放射線の経路内に配置される。
水分ゲッタ層は、アルカリ金属、アルカリ土類金属、アルカリ金属酸化物、アルカリ土類金属酸化物、酸化アルミニウム、ゼオライト、シリカ、およびこれらを組み合わせたものからなる群から選択された任意の適切な材料を含むことができる。適切なアルカリ金属の非限定的な例としては、カルシウム、バリウム、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。適切な酸化物の非限定的な例としては、酸化カルシウム、酸化バリウム、酸化アルミニウム、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。
酸素ゲッタ層は、エーテル含有材料、アスコルビン酸、多価アルコール、アルキレングリコール、およびこれらを組み合わせたものからなる群から選択された任意の適切な材料を含むことができる。ある実施形態では、酸素ゲッタ層はエーテル含有材料を含む。適切なエーテル含有材料の非限定的な例としては、ポリエーテル、クラウンエーテル類、エポキシ樹脂、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。いくつかの実施形態では、エーテル含有材料は、ポリエーテル部分を含むポリマーを含むことができる。ポリエーテル部分は、ホモポリマーとして、ブロックコポリマー中のブロックとして、または別のポリマー上の側鎖として(すなわち、櫛形ポリマーとして)に存在することができる。ポリマー形態に対する制限はない、すなわち、ポリマーは、鎖状、枝分れ、架橋、網状、または環状とすることができる。さらに、液体または固体材料を得ることができるように任意の適切な分子量が使用されてもよい。また、酸化機構は末端基化学と無関係であるので、末端基化学に対する制限はなく、2つの末端基の性質は異なっていてもよい。例えば、一方または両方の末端基が、水素、メチル、高級アルキル、ビニル、エポキシ、チオール、グリシジル、トシラート、またはエステルであってもよい。エステルは、アクリレートまたはメタクリレートとすることができ、それによって、ポリエーテル部分の重合が単独で、または他のモノマーとの混合物として可能になる。
いくつかの実施形態では、エーテル含有材料は、例えば、ポリ(エチレングリコール)、ポリ(プロピレングリコール)、ポリ(ブチレングリコール)、またはこれらを組み合わせたものなどのポリ(アルキレングリコール)を含む。
いつつかの実施形態では、エーテル含有材料は、二官能性エチレングリコールまたはポリ(エチレングリコール)を含む。適切なエーテル含有材料の非限定的な例としては下記の化学構造が挙げられる。
化学構造(I)を有するエチレングリコールジアクリレート:
化学構造(II)を有するポリ(エチレングリコール)ジアクリレート:
化学構造(III)を有するポリ(エチレングリコール)ジグリシジルエーテル:
化学構造(IV)を有するポリ(エチレングルコール)ジチオール:
化学構造(V)を有するポリ(エチレングルコール)ジビニルエーテル:
または
化学構造(VI)を有するポリ(エチレングリコール)−ジトシラート:
さらに、架橋反応を開始しかつ/または架橋度を高めるために、光開始剤、熱開始剤、ラジカル開始剤、光酸発生剤、光塩基発生剤などの架橋促進剤が2官能エーテル含有材料に加えられてもよい。適当な促進剤の非限定的な例としては、エチルベンゾインエーテル、イソプロピルベンゾインエーテル、α−メチルベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル、α−アシルオキシムエステル、α,α−ジエトキシアセトフェノン、1,1−ジクロロアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン[Ciba Specialty ChemicalsのDarocure 1173]、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン[Ciba Specialty ChemicalsのIrgacure 184、Darocure 1116、Irgacure 907]、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルホスフィネオキシド[Ciba Specialty ChemicalsのIrgacure 819]、アントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−クロロアントラキノン、チオキサントン、イソプロピルチオキサントン、クロロチオキサントン、ベンゾフェノン、p−クロロベンゾフェノン、安息香酸ベンジル、安息香酸ベンゾイル、およびミヒラーケトンが挙げられる。適切な熱開始剤の非限定的な例としては、アゾイソブチロニトリル系開始剤および過酸化物系開始剤が挙げられる。
いくつかの実施形態では、エーテル含有材料は、酸素と反応することができる遊離基を生成するために、外来の基またはX線に依存する実質的に純粋な形態で使用することができる。あるいは、基を生成するために触媒がさらに使用されてもよい。効果的触媒は一般に、容易に利用できる複数の酸化状態を有し、鉄、コバルト、銅などの遷移金属が含まれる。
いくつかの実施形態では、酸素ゲッタ層はさらに、遷移金属触媒、例えばコバルト塩、鉄塩、銅塩、またはこれらを組み合わせたものを含むことができる。遷移金属は、ポリエーテルとの良好な相溶性が得られるようにカルボン酸塩として導入されてもよい。適切な触媒の非限定的な例としては、酢酸銅、オクタン酸銅、酢酸コバルト、オクタン酸コバルト、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。
前述したように、層は、下にある表面の少なくとも一部分上に連続的または不連続的に配置された材料を含む。さらに、用語「層」は配置された材料の均一な厚さを必ずしも意味するものではなく、配置された材料の厚さは均一でも可変でもよい。いくつかの実施形態では、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層の一方または両方が任意の適切な形状を有することができ、形状の非限定的な例としては、連続層、ストリップ、パッチ、またはこれらを組み合わせたものが挙げられる。さらに、酸素ゲッタ層および水分ゲッタの一方または両方が、主として適切なゲッタ材料で構成されてもよく、または代替的にバインダをさらに含んでいてもよく、ゲッタ材料はバインダ中に分散させてもよい。
図1〜図4は、酸素ゲッタ層150または水分ゲッタ層152を含む諸実施形態を示す。図1および図2では、酸素ゲッタ層150または水分ゲッタ層152は層状構造110内に配置される。代替実施形態では、図3および図4に示すように、酸素ゲッタ層150または水分ゲッタ層152は、封入カバー160の少なくとも一部と接触して配置される。
図5〜図15に示すいくつかの実施形態では、有機X線検出器100は酸素ゲッタ層150と水分ゲッタ層152の両方を含む。酸素ゲッタ層150および水分ゲッタ層152は、両ゲッタ層がX線放射線の経路内に配置されるという条件で、有機X線検出器内に任意の適切な構成を有することができる。いくつかの実施形態では、図5、図7、図9、図11、図12および図15に示すように、水分ゲッタ層および酸素ゲッタ層は2つの別個の層152、150として配置されてもよい。他のいくつかの実施形態では、図6、図8、図10、図13および図14に示すように、水分ゲッタ層および酸素ゲッタ層は単一層151として配置される。
さらに、図5〜図8に示すように、酸素ゲッタ層と水分ゲッタ層の少なくとも一方が層状構造110の構成要素であってもよい。あるいは、図9〜図15に示すように、酸素ゲッタ層と水分ゲッタ層の少なくとも一方は、ゲッタ層の少なくとも一部が封入カバー160と接触するように配置されてもよい。
いくつかの実施形態では、層状構造110は水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方を含む。いくつかの実施形態では、層状構造は水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の両方を含む。層状構造がゲッタ層を含んでいるいくつかの例では、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方が有機フォトダイオード層とシンチレータ層との間に介在されてもよい。他の例では、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方がシンチレータ層上に配置されてもよい。
図5は有機X線検出器100の一実施形態を示し、酸素ゲッタ層150はシンチレータ層140の上に配置され、水分ゲッタ層152は酸素ゲッタ層上に配置される。他の実施形態(図示せず)では、水分ゲッタ層152はシンチレータ層140の上に配置されてもよく、酸素ゲッタ層150は水分ゲッタ層152上に配置されてもよい。図6は有機X線検出器100の代替実施形態を示し、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層はシンチレータ層140上に単一層151として配置される。
図7は有機X線検出器100の一実施形態を示し、酸素ゲッタ層150および水分ゲッタ層152はシンチレータ層140と有機フォトダイオード130との間に介在される。図7に示す実施形態では、酸素ゲッタ層150は有機フォトダイオード130上に配置され、水分ゲッタ層152は酸素ゲッタ層150上に配置される。他の実施形態(図示せず)では、水分ゲッタ層152は有機フォトダイオード130上に配置されてもよく、酸素ゲッタ層150は水分ゲッタ層152上に配置されてもよい。図8は有機X線検出器100の代替実施形態を示し、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層は有機フォトダイオード130とシンチレータ層140との間に単一層151として配置される。
他のいくつかの実施形態では、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方が封入カバーの少なくとも一部と接触して配置される。いくつかのこのような例では、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の両方が封入カバーの少なくとも一部と接触して配置される。さらに、いくつかのこのような例では、水分ゲッタ層と酸素ゲッタ層の少なくとも一方が層状構造を実質的に封入する。
図9は有機X線検出器100の一実施形態を示し、酸素ゲッタ層150と水分ゲッタ層152の両方が封入カバー160の少なくとも一部と接触して配置される。図10は有機X線検出器100の代替実施形態を示し、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層は封入カバー160の少なくとも一部と接触して単一層151として配置される。図11は有機X線検出器100の一実施形態を示し、酸素ゲッタ層150は封入カバー160の少なくとも一部と接触して配置され、水分ゲッタ層152は酸素ゲッタ層150と接触して配置される。
図12は有機X線検出器100の一実施形態を示し、酸素ゲッタ層150は層状構造110を実質的に封入し、水分ゲッタ層152は封入カバー160の少なくとも一部と接触して配置される。図13は有機X線検出器100の代替実施形態を示し、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層は層状構造110を実質的に封入する単一層151として配置される。図13では、封入カバー160およびシール180は外部環境からの密封配置をさらに可能にすることができる。あるいは、図14に示すように、酸素および水分ゲッタ層151自体が外部環境からの密封を可能にすることができる。
図15は、酸素ゲッタ層150および水分ゲッタ層152を含む有機X線検出器の別の実施形態を示す。図15に示すように、層状構造110は酸素ゲッタ層150を含み、水分ゲッタ層152は封入カバー160の少なくとも一部と接触して配置される。
いかなる理論にも拘束されることなく、酸素ゲッタ層および水分ゲッタ層を組み込むことで、普通なら装置の性能を低下させる可能性のある酸素および水分を捕獲することにより装置の信頼性を向上させることができると考えられる。
いくつかの実施形態では、X線システムも提供される。図17に示すように、X線システム200は、対象物220にX線放射線を照射するように構成されたX線源210と、前述した有機X線検出器100と、有機X線検出器100からのデータを処理するように動作可能なプロセッサ230とを含む。図18Aおよび図18Bはさらに、実質的に平坦な対象物または湾曲した形状を有する対象物に適したX線システムの実施形態を示す。図18Aおよび図18Bに示すように、X線検出器100は対象物220に適した形状を有することができる。図18Aおよび図18Bでは、プロセッサ230は、有線接続または無線接続を使用してX線検出器100に通信で結合することができる。
本発明の実施形態によるX線検出器は、撮像システムにおいて、例えば等角撮像で、検出器が撮像面と密接した状態で使用することができる。内部構造を有する部分の場合、検出器は、撮像されている部分と接触するように丸められるかまたは成形されてもよい。本発明の諸実施形態による有機X線検出器の適用例としては、セキュリティ撮像、医療撮像、ならびにパイプライン、胴体、機体およびその他の厳重なアクセス領域用の産業的および軍事的な撮像を挙げることができる。
比較例1
酸素ゲッタ層も水分ゲッタ層も有していないX線検出器イメージャ
ITOで予めコーティングしたガラス系薄膜トランジスタ(TFT)アレイを基板として使用した。紫外線オゾン処理済みTFTアレイ基板上にスピンコート法によって正孔輸送層を堆積させ、次いで熱板上で焼成した。次いで、Nパージ済みグローブボックスの内部で正孔輸送層の上にフラーレン系アクセプタおよびドナー材料からなる吸収材層をスピンコートした。ITOカソードをスパッタリングしてイメージャの製作を完了した。次に、3Mの製品名8191Lの感圧接着剤(PSA)膜を使用して、テルビウムでドープしたスルホキシル酸ガドリニウム(GdS:Tb)で作られたDRZ−Plusシンチレータ(三菱化学)をイメージャに積層した。カバーガラスおよびエッジシーラントを使用してイメージャを封入した。
実施例1
水分ゲッタ層を有するX線検出器イメージャ
実施例1で調製したイメージャを、SAES Getters Groupから購入した水分ゲッタDryFlexを組み込んだのを除いて比較例1と同様に密閉した。
実施例2
酸素ゲッタ層を有するX線検出器イメージャ
実施例2で調製したイメージャを、Sartomerから製品名SR610で購入し、酢酸コバルト(II)四水和物触媒および1重量%のIrgacure 819光開始剤と混合した酸素ゲッタ、ポリ(エチレングリコール)600ジアクリレートを組み込んだのを除いて比較例1と同様に密閉した。SR610系酸素ゲッタ層を紫外線照射下で硬化させた。
実施例3
酸素ゲッタ層も水分ゲッタ層も有するX線検出器イメージャ
実施例3で調製したイメージャを、実施例2の酸素ゲッタ層と実施例1の水分ゲッタ層の両方を組み込んだのを除いて比較例1と同様に密閉した。両ゲッタ層の構成は図11の構成と同様とした。
比較例2
酸素ゲッタ層も水分ゲッタ層も有していないX線検出器イメージャ
比較例2で調製したイメージャを、イメージャがさらに有機平滑化層、およびITOカソードとシンチレータ層との間のITOバリアコーティングを含むのを除いて比較例1と同様に調製した。紫外線架橋性アクリレートからなる有機平滑化層をスクリーン印刷によってITOの上に塗布し、紫外線硬化させた。ITO水分バリア層を平滑化層の上にスパッタリングした。
実施例4
水分ゲッタ層を有するX線検出器イメージャ
実施例4で調製したイメージャを、SAES Getters Groupから購入した水分ゲッタDryFlexを組み込んだのを除いて比較例2と同様に調製した。
実施例5
酸素ゲッタ層も水分ゲッタ層も有するX線検出器イメージャ
実施例5で調製したイメージャを、実施例2の酸素ゲッタ層と実施例1の水分ゲッタ層の両方を組み込んだのを除いて比較例2と同様に密閉した。両ゲッタ層の構成は図11の構成と同様とした。
次いで、イメージャの信頼性を温度85℃および相対湿度85%で試験した。X線イメージャ機能試験器を使用して性能を特徴付けた。欠陥数の増加が表1および表2に要約される。表から分かるように、ゲッタ材料を組み込むと欠陥率の変化が減少し、イメージャ安定性が改善した。さらに、両ゲッタ層を使用すると欠陥数の増加が大幅に減少した。
前述の実施例は例示にすぎず、本発明の特徴の一部のみを例示する働きをする。添付の特許請求の範囲は、本発明が考案されたように幅広く本発明を主張するものであり、本明細書に提示した例は、可能なすべての実施形態の多様性からの選択された実施形態を例示するものである。したがって、添付の特許請求の範囲は、本発明の特徴を示すために利用される例の選択によって限定されるものではないことが、出願人の意図するところである。特許請求の範囲で使用される場合、用語「備える(comprises)」およびその用語の文法上の変形は、例えば、以下に限定するものではないが、「本質的に〜からなる(consisting essentially of)」や「〜からなる(consisting of)」などの様々な程度の成句を論理的にも包含する。必要に応じて、範囲が提供されている、すなわち、かかる範囲は、範囲の間のすべての下位範囲を含む。これらの範囲の変化は当業者の念頭に浮かぶであろうことが予期され、まだ公開されていない場合、かかる変化は、可能であれば添付の特許請求の範囲で網羅されると解釈されるべきである。科学技術の進歩が、言い回しの不正確さのためにここに企図されてない均等物および置換を可能にすることも予想され、これらの変化もまた、可能であれば特許請求の範囲で網羅されると解釈されるべきである。
20 X線放射線
100 有機X線検出器
110 層状構造
120 薄膜トランジスタ(TFT)アレイ
130 有機フォトダイオード
131 第1の電極
132 第2の電極
133 吸収材層
140 シンチレータ層
150 酸素ゲッタ層
151 単一層
152 水分ゲッタ層
160 封入カバー
170 基板
180 シール
200 X線システム
210 X線源
220 対象物
230 プロセッサ

Claims (22)

  1. 基板(170)上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ(120)、
    前記TFTアレイ(120)上に配置された有機フォトダイオード(130)、および
    前記有機フォトダイオード(130)上に配置されたシンチレータ層(140)
    を備える層状構造(110)と、
    前記層状構造(110)を少なくとも部分的に封入する封入カバー(160)と、
    前記有機フォトダイオード(130)に近接してかつ前記層状構造(110)上に入射するX線放射線(20)の経路内に配置された、水分ゲッタ層(152)と酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方と、
    を備えるX線検出器(100)。
  2. 前記水分ゲッタ層(152)および前記酸素ゲッタ層(150)が2つ以上の別個の層として配置される、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  3. 前記水分ゲッタ層(152)および前記酸素ゲッタ層(150)が単一層(151)として配置される、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  4. 前記層状構造(110)が、前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方を備える、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  5. 前記層状構造(110)が、前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の両方を備える、請求項4に記載のX線検出器(100)。
  6. 前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方が、前記有機フォトダイオード(130)と前記シンチレータ層(140)との間に介在される、請求項4に記載のX線検出器(100)。
  7. 前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方が、前記シンチレータ層(140)上に配置される、請求項4に記載のX線検出器(100)。
  8. 前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方が、前記層状構造(110)を封入する、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  9. 前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方が、前記封入カバー(160)の少なくとも一部と接触して配置される、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  10. 前記酸素ゲッタ層(150)が前記封入カバーの少なくとも一部と接触して配置され、前記水分ゲッタ層(152)が前記酸素ゲッタ層(150)と接触して配置される、請求項9に記載のX線検出器(100)。
  11. 前記層状構造(110)が前記酸素ゲッタ層(150)を備え、前記水分ゲッタ層(152)が前記封入カバー(160)の少なくとも一部と接触して配置される、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  12. 前記水分ゲッタ層(152)が、アルカリ金属、アルカリ性金属、アルカリ金属酸化物、アルカリ性金属酸化物、酸化アルミニウム、ゼオライト、シリカ、またはこれらを組み合わせたものを含む、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  13. 前記酸素ゲッタ層(150)が、ポリエーテル、クラウンエーテル、アスコルビン酸、多価アルコール、アルキレングリコール、またはこれらを組み合わせたものを含む、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  14. 前記基板(170)が、ガラス、金属箔、プラスチック、およびこれらを組み合わせたものからなる群から選択された材料を含む、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  15. 前記TFTアレイ(120)が、ケイ素TFTアレイ、酸化物TFTアレイ、有機TFT、またはこれらを組み合わせたものを含む、請求項1に記載のX線検出器(100)。
  16. 基板(170)上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ(120)、
    前記TFTアレイ(120)上に配置された有機フォトダイオード(130)、および
    前記有機フォトダイオード(130)上に配置されたシンチレータ層(140)
    を備える層状構造(110)と、
    前記層状構造(110)を少なくとも部分的に封入する封入カバー(160)と、
    前記層状構造(110)内の前記有機フォトダイオード(130)と前記シンチレータ層(140)との間に配置された酸素ゲッタ層(150)と、
    前記封入カバー(160)の少なくとも一部と接触して配置された水分ゲッタ層(152)と、
    を備えるX線検出器(100)。
  17. X線源(210)、
    X線検出器(100)、および
    前記X線検出器(100)からのデータを処理するように動作可能なプロセッサ(230)
    を備えるX線システム(200)であって、
    前記X線検出器(100)が、
    基板(170)上に配置された薄膜トランジスタ(TFT)アレイ(120)、
    前記TFTアレイ(120)上に配置された有機フォトダイオード(130)、および
    前記有機フォトダイオード(130)上に配置されたシンチレータ層(140)
    を備える層状構造(110)と、
    前記層状構造(110)を少なくとも部分的に封入する封入カバー(160)と、
    前記有機フォトダイオード(130)に近接してかつ前記層状構造(110)上に入射するX線放射線(20)の経路内に配置された、水分ゲッタ層(152)と酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方と、
    を備える、X線システム(200)。
  18. 前記層状構造(110)が、前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方を備える、請求項17に記載のX線システム(200)。
  19. 前記水分ゲッタ層(152)と前記酸素ゲッタ層(150)の少なくとも一方が、前記封入カバー(160)の少なくとも一部と接触して配置される、請求項17に記載のX線システム(200)。
  20. 前記水分ゲッタ層(152)および前記酸素ゲッタ層(150)が2つ以上の別個の層として配置される、請求項17に記載のX線システム(200)。
  21. 前記水分ゲッタ層(152)および前記酸素ゲッタ層(150)が単一層として配置される、請求項17に記載のX線システム(200)。
  22. 前記層状構造(110)が前記酸素ゲッタ層(150)を含み、前記水分ゲッタ層(152)が前記封入カバー(160)の少なくとも一部と接触して配置される、請求項17に記載のX線システム(200)。
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