JP2017530347A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017530347A5 JP2017530347A5 JP2017512715A JP2017512715A JP2017530347A5 JP 2017530347 A5 JP2017530347 A5 JP 2017530347A5 JP 2017512715 A JP2017512715 A JP 2017512715A JP 2017512715 A JP2017512715 A JP 2017512715A JP 2017530347 A5 JP2017530347 A5 JP 2017530347A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- sample
- detection
- light beam
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GBGB1415783.8A GB201415783D0 (en) | 2014-09-05 | 2014-09-05 | Particle characterisation |
| GB1415783.8 | 2014-09-05 | ||
| PCT/GB2015/052574 WO2016034902A1 (en) | 2014-09-05 | 2015-09-07 | A particle characterization method and apparatus |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017530347A JP2017530347A (ja) | 2017-10-12 |
| JP2017530347A5 true JP2017530347A5 (enExample) | 2018-09-13 |
| JP6936144B2 JP6936144B2 (ja) | 2021-09-15 |
Family
ID=51796295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017512715A Active JP6936144B2 (ja) | 2014-09-05 | 2015-09-07 | 粒子特性評価方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10317327B2 (enExample) |
| EP (1) | EP3189321B1 (enExample) |
| JP (1) | JP6936144B2 (enExample) |
| CN (1) | CN106605138B (enExample) |
| GB (1) | GB201415783D0 (enExample) |
| WO (1) | WO2016034902A1 (enExample) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10365198B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-07-30 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterization |
| EP3309536A1 (en) * | 2016-10-11 | 2018-04-18 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
| WO2018132306A1 (en) | 2017-01-10 | 2018-07-19 | Vermeer Manufacturing Company | Systems and methods for dosing slurries to remove suspended solids |
| JP7056178B2 (ja) * | 2018-01-30 | 2022-04-19 | 富士通株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
| DE112018007919T5 (de) * | 2018-08-21 | 2021-05-06 | Ams Ag | Feinstaub-sensor |
| CN109030298B (zh) * | 2018-11-01 | 2020-08-21 | 山东理工大学 | 一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法 |
| CN109030299B (zh) * | 2018-11-01 | 2020-08-21 | 山东理工大学 | 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法 |
| AU2020379227B2 (en) * | 2019-11-08 | 2025-11-06 | Nanotemper Technologies Gmbh | Characterization of particles in solution |
| CN112067511B (zh) * | 2020-10-10 | 2025-07-18 | 丹东百特仪器有限公司 | 一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪检测方法 |
| JP7343742B2 (ja) * | 2022-02-24 | 2023-09-13 | 独立行政法人国立高等専門学校機構 | 分析装置および分析方法 |
Family Cites Families (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3504183A (en) * | 1966-09-12 | 1970-03-31 | Iit Res Inst | Particle counter using a variable test volume |
| JPS61153546A (ja) * | 1984-12-26 | 1986-07-12 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JPH0638064B2 (ja) * | 1985-01-19 | 1994-05-18 | キヤノン株式会社 | 粒子解析装置 |
| JPS61280548A (ja) * | 1985-06-05 | 1986-12-11 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| GB8621426D0 (en) * | 1986-09-05 | 1986-10-15 | Health Lab Service Board | Particle analysis |
| JPH02253166A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Yuji Ikeda | 光ファイバレーザドップラ流速計の光学装置 |
| CH681495A5 (enExample) * | 1990-03-05 | 1993-03-31 | Tet Techno Investment Trust | |
| GB9501412D0 (en) * | 1995-01-25 | 1995-03-15 | Lumonics Ltd | Laser apparatus |
| US5847400A (en) * | 1996-02-01 | 1998-12-08 | Molecular Dynamics, Inc. | Fluorescence imaging system having reduced background fluorescence |
| JPH1172431A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Olympus Optical Co Ltd | 光断層イメージング装置 |
| JPH11223630A (ja) * | 1998-02-06 | 1999-08-17 | Hoechst Reseach & Technology Kk | 光ファイバを利用した化学的又は生物学的種検知装置及びそれを使用した遠方監視システム |
| JP2003117673A (ja) * | 2001-10-10 | 2003-04-23 | Amada Eng Center Co Ltd | 組合せレンズを有する加工ヘッド及び組合せレンズの制御方法 |
| US7471393B2 (en) * | 2004-03-06 | 2008-12-30 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining the size and shape of particles |
| US20140226158A1 (en) * | 2004-03-06 | 2014-08-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics |
| US10620105B2 (en) * | 2004-03-06 | 2020-04-14 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles from scattered light |
| ATE479918T1 (de) * | 2004-06-17 | 2010-09-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Autofocus-mechanismus für ein spektroskopisches system |
| JP4668005B2 (ja) * | 2005-08-24 | 2011-04-13 | シスメックス株式会社 | 分析システム |
| EP1915859A4 (en) * | 2006-08-22 | 2010-03-10 | Lg Innotek Co Ltd | CAMERA MODULE |
| JP2009069097A (ja) * | 2007-09-18 | 2009-04-02 | Nippon Soken Inc | 粒子濃度測定装置 |
| JP2009270982A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 液滴数密度測定方法および測定装置 |
| JP5248205B2 (ja) * | 2008-05-29 | 2013-07-31 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | レーザマーキング装置 |
| JP2010003344A (ja) * | 2008-06-19 | 2010-01-07 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置及びその制御方法 |
| US8680429B2 (en) * | 2009-11-10 | 2014-03-25 | Instrument Associates LLC | Laser beam scribing system |
| FR2956207B1 (fr) * | 2010-02-10 | 2012-05-04 | Horiba Abx Sas | Dispositif et procede de mesures multiparametriques de microparticules dans un fluide |
| JP2012026754A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Sony Corp | 微小粒子測定装置及び光照射装置 |
| JP5411089B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-02-12 | 日本電信電話株式会社 | 可変焦点レンズ |
| JP5623455B2 (ja) * | 2012-03-29 | 2014-11-12 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工ヘッドおよびレーザ加工装置 |
| CN102680475A (zh) * | 2012-04-28 | 2012-09-19 | 北京理工大学 | 一种基于平行光快速测量层流扩散火焰中碳烟浓度的装置和方法 |
| US8797514B2 (en) * | 2012-11-12 | 2014-08-05 | Lidek Chou | Localized dynamic light scattering system with doppler velocity measuring capability |
| JP2014153063A (ja) * | 2013-02-05 | 2014-08-25 | Pulstec Industrial Co Ltd | 動的光散乱測定装置及び動的光散乱測定装置の光路長調整方法 |
-
2014
- 2014-09-05 GB GBGB1415783.8A patent/GB201415783D0/en not_active Ceased
-
2015
- 2015-09-07 EP EP15763402.3A patent/EP3189321B1/en active Active
- 2015-09-07 JP JP2017512715A patent/JP6936144B2/ja active Active
- 2015-09-07 CN CN201580045684.XA patent/CN106605138B/zh active Active
- 2015-09-07 WO PCT/GB2015/052574 patent/WO2016034902A1/en not_active Ceased
- 2015-09-07 US US15/507,155 patent/US10317327B2/en active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2017530347A5 (enExample) | ||
| JP6936144B2 (ja) | 粒子特性評価方法及び装置 | |
| KR101857950B1 (ko) | 고정확 실시간 미세 입자 크기 및 개수 측정 장치 | |
| JP2016540203A5 (ja) | 粒子特性評価装置 | |
| JP2020510838A5 (enExample) | ||
| JP2020514762A5 (enExample) | ||
| JP2020510838A (ja) | 焦点可変レンズを用いた粒子特性評価装置 | |
| JP2019512701A5 (enExample) | ||
| JP5728470B2 (ja) | 粒子に作用する光学力を測定する方法および装置 | |
| CN103487359B (zh) | 一种激光激发的细胞和颗粒形态和分布测量装置 | |
| CN102636422B (zh) | 一种纳米颗粒溶液浓度测量装置及测量方法 | |
| CN102818759B (zh) | 一种基于光散射的湿性颗粒形状参数在线测量系统及方法 | |
| JP2019506622A5 (enExample) | ||
| JP2019512701A (ja) | 粒子特性評価 | |
| CN104374676A (zh) | 一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法 | |
| JP5662742B2 (ja) | 粒径計測装置及び粒径計測方法 | |
| JP2017502295A (ja) | 非イメージングコヒーレントラインスキャナシステムおよび光学検査方法 | |
| WO2017067971A1 (en) | Measurement cell for saxs measurements and for dls measurements | |
| CN101603813A (zh) | 一种光学驻波纳米颗粒尺寸测量装置 | |
| JP2018533014A5 (enExample) | ||
| CN111947593A (zh) | 基于光阱的微粒形状及表面粗糙度检测装置及方法 | |
| CN106680186A (zh) | 一种流式细胞仪多类型散射光探测系统 | |
| JP6191477B2 (ja) | 粒子径測定装置及び粒子径測定方法 | |
| CN204405545U (zh) | 一种自动调焦微流控芯片检测装置 | |
| CN207798628U (zh) | 一种液体颗粒计数检测装置 |