JP2017510835A - Uvおよびduv拡張コールドミラー - Google Patents

Uvおよびduv拡張コールドミラー Download PDF

Info

Publication number
JP2017510835A
JP2017510835A JP2016549055A JP2016549055A JP2017510835A JP 2017510835 A JP2017510835 A JP 2017510835A JP 2016549055 A JP2016549055 A JP 2016549055A JP 2016549055 A JP2016549055 A JP 2016549055A JP 2017510835 A JP2017510835 A JP 2017510835A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating
refractive index
index metal
cold mirror
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016549055A
Other languages
English (en)
Inventor
シュライバー,ホルスト
ワン,ジュエ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Corning Inc
Original Assignee
Corning Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Corning Inc filed Critical Corning Inc
Publication of JP2017510835A publication Critical patent/JP2017510835A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0891Ultraviolet [UV] mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/12Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements by surface treatment, e.g. by irradiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0816Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
    • G02B5/0825Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only
    • G02B5/0833Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only comprising inorganic materials only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/283Interference filters designed for the ultraviolet

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

拡張コールドミラーが提供される。このミラーは、基板と、基板上に堆積されたコーティングとを備えている。このコーティングは、低屈折率金属酸化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第1のコーティングスタックと、低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第2のコーティングスタックと、低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属フッ化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第3のコーティングスタックとを含む。

Description

関連出願の説明
本出願は、その内容が引用されその全体が参照することにより本書に組み込まれる、2014年1月31日に出願された米国仮特許出願第61/934,351号の優先権の利益を米国特許法第119条の下で主張するものである。
本開示は、深紫外線(DUV)リソグラフィ用途のためのコーティングされたミラーに関し、特にUV−DUV領域において広範な波長帯に亘り高反射率を有する、赤外線透過コールドミラーに関する。
レーザ生成プラズマ(LPP)は、極紫外線(EUV)リソグラフィ産業用の潜在的な高出力光源として広く研究されてきた。一般にLPPでは、高出力赤外レーザを用いて金属または気体のターゲットを照射してEUV放射を放出するプラズマを発生させ、次いでこの放射をEUVコレクタミラーによって集める。類似した概念を用いて、広帯域UV−VIS光源、特にレーザ駆動光源(例えば、マサチューセッツ州ウォバーン所在のエナジェティックテクノロジー社(Energetiq Technology Inc.)から市販されているLDLS(商標)など)を開発した。
LDLSの概念は、EUV放射のための光源としてのLPPに非常に類似している。集束された高出力赤外(IR)レーザが、コレクタミラーの中心の孔を通過する。この構成は、IR透過のDUV−VIS高反射ミラー、またはUV−DUV拡張コールドミラーがないことによる。従来のコールドミラーに代わるものとして、アルミニウムベースのミラーが使用されてきた。しかしながらアルミニウムベースのミラーはIR領域で不透明であり、従ってIRレーザからの光を透過しない。結果として、IRレーザからの光を通過させることができるよう、ミラーの中心孔が通常必要である。さらに、アルミニウムベースのミラーの損傷閾値は低く、これがアルミニウムベースのミラーを、高出力光源と適合性が低いものにしている。
コールドミラーは、光源に近い位置の反射体に適用されることが多い。図1Aは入射角0°のコールドミラーを示している。図1Bは、図1Aのコールドミラーでの反射率対波長のグラフであり、VIS−IR範囲での動作時に、コールドミラーが約400nmから約650nmの波長で高反射率を有することを示している。同様に、図1Cは入射角45°のコールドミラーを示している。図1Cのコールドミラーでの反射率対波長のグラフである図1Dは、VIS−IR範囲での動作時に、コールドミラーが約400nmから約650nmの波長で高反射率を有することを示している。これらのコールドミラーは、可視光の約90%を反射し、赤外線放射/エネルギー(熱)の約80%を透過するように設計され、例えば競技場用の照明、投影照明、スタジオセット、医療用途などの照明用途に、反射熱の量も低減しながら可視光を提供するために使用することができる。
従来のコールドミラーを、NIR範囲で高透過率を実現するように改良することはできるが、このミラーのDUV範囲における高反射帯域は限定される。例えば図2に示されているように、入射角0°で動作している従来のコールドミラーでのDUV範囲における高反射帯域は約15nmである。同様に図3に示されているように、入射角45°で動作している従来のコールドミラーでのDUV範囲における高反射帯域は約10nmである。
本開示の実施形態によれば、拡張コールドミラーが提供される。このミラーは、基板と、基板上に堆積されたコーティングとを備えている。コーティングは、低屈折率金属酸化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層を含む少なくとも1つの周期を備えた、第1のコーティングスタックと、低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層を含む少なくとも1つの周期を備えた、第2のコーティングスタックと、低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属フッ化物コーティング層を含む少なくとも1つの周期を備えた、第3のコーティングスタックとを含む。
さらなる特徴および利点は以下の詳細な説明の中に明記され、ある程度は、その説明から当業者には容易に明らかになるであろうし、あるいは、以下の詳細な説明、請求項、並びに添付の図面を含め、本書で説明されたように実施形態を実施することにより認識されるであろう。
前述の一般的な説明および以下の詳細な説明は単なる例示であり、請求項の本質および特徴を理解するための概要または構成を提供することを意図したものであることを理解されたい。添付の図面はさらなる理解を提供するために含まれ、本明細書に組み込まれかつその一部を構成する。図面は1以上の実施形態を示し、そしてその説明とともに、種々の実施形態の原理および動作の説明に役立つ。
本開示は、以下の説明から、また単に非限定的な例を用いて与えられる添付の図から、より明確に理解されるであろう。
入射角0°で動作している従来のコールドミラーを示した図 図1Aのコールドミラーでの、反射率および透過率対波長を示したグラフ 入射角45°で動作している従来のコールドミラーを示した図 図1Cのコールドミラーでの、反射率および透過率対波長を示したグラフ 入射角0°で動作している従来のDUVコールドミラーでの、反射率対波長を示したグラフ 入射角45°で動作している従来のDUVコールドミラーでの、反射率対波長を示したグラフ 本開示の実施形態によるコールドミラーの概略図 本開示の実施形態によるコールドミラーの概略図 本開示の実施形態によるコールドミラーの概略図 本開示の実施形態によるコールドミラーでの、反射率対波長を示したグラフ 本開示の実施形態によるコールドミラーでの、反射率対波長を示したグラフ 本開示の実施形態によるコールドミラーでの、反射率対波長を示したグラフ
ここで本実施形態を詳細に参照し、その例を添付の図面に示す。可能な限り、図面を通じて、同じまたは同様の部分の参照に同じ参照番号を使用する。
文脈が明らかに他に指示していなければ、単数形は複数の指示対象を含む。同じ特性を説明する全ての範囲の端点は、独立して組合せ可能であり、また説明された端点を含む。全ての参考文献は、参照することにより本書に組み込まれる。
本書では以下の用語は異なる光域を称し、すなわち近赤外(NIR)光は約750nmから約1400nmの範囲、可視(VIS)光は約400nmから約750nmの範囲、紫外線(UV)光は約300nmから約400nmの範囲、中間紫外線光は約200nmから約300nmの範囲、および深紫外線(DUV)光は約122nmから約200nmの範囲である。本書ではUV−DUV範囲は、約122nmから約400nmの間である。さらに本書では「コールドミラー」という用語は、赤外光を透過しながら可視光を反射するミラーを称する。
本書では「周期」という用語は、周期的な多層構造を形成するように繰り返す、コーティング層の組を称する。さらに本書では「スタック」という用語は、複数のこの層を称する。周期は本開示全体を通じて、「Lo/Ho」、「Lf/Ho」、および「Lf/Hf」など、低屈折率対高屈折率の形式を用いて説明され、ここでLoは低屈折率金属酸化物、Hoは高屈折率金属酸化物、Lfは低屈折率金属フッ化物、およびHfは高屈折率金属フッ化物である。
本開示の実施形態は、UV−DUV領域で広範な波長帯に亘り高反射率を有する、IR透過コールドミラーに関し、さらに少なくとも1つのコーティングを拡張コールドミラーに形成する方法に関する。
本書で開示される拡張コールドミラーは、基板を含む。基板は例えば、限定するものではないが、CaF2、SiO2、F−SiO2、溶融シリカ、例えばHPFS(登録商標)(ニューヨーク州コーニング所在のコーニング社から市販されている)および石英でもよい。拡張コールドミラーは、基板上に堆積された少なくとも1つのコーティングをさらに含む。少なくとも1つのコーティングは、少なくとも1つのコーティング材料を含む。本開示の実施形態によれば、少なくとも1つのコーティングは、少なくとも3つのコーティングスタックを成して堆積される、少なくとも5つのコーティング材料を含み得る。
図4は、本開示の実施形態によるコールドミラー10の概略図である。図示のようにコールドミラー10は、基板100と、基板100上に堆積されたコーティング110とを含む。コーティング110は、第1のコーティングスタック200、第2のコーティングスタック300、および第3のコーティングスタック400を含む。図示のように第1のコーティングスタックは、第1の層210および第2の層220を含む、少なくとも1つの周期を含む。第2のコーティングスタックは、第1の層310および第2の層320を含む、少なくとも1つの周期を含む。第3のコーティングスタックは、第1の層410および第2の層420を含む、少なくとも1つの周期を含む。
第1のコーティングスタック200は、基板100上に堆積される。第1のコーティングスタック200は、第1の層210および第2の層220の少なくとも1つの周期を含み得る。第1の層210は高屈折率金属酸化物でもよく、第2の層220は低屈折率金属酸化物でもよい。高屈折率金属酸化物は、限定するものではないが、Al23、Ta25、Nb25、TiO2、HfO2、およびSc23でもよい。低屈折率金属酸化物は、限定するものではないが、SiO2、F−SiO2、NドープSiO2、およびAlドープSiO2でもよい。例えば少なくとも1つの周期はSiO2/HfO2を含み得、ここでSiO2は低屈折率金属酸化物であり、HfO2は高屈折率金属酸化物である。少なくとも1つの周期は、限定するものではないが、SiO2/Sc23などの他の高屈折率金属酸化物および低屈折率金属酸化物の組を含み得る。少なくとも1つの周期は、基板100上に堆積されたSiO2/Ta25、SiO2/Nb25、またはSiO2/TiO2と、少なくとも1つの第1の周期上に堆積された、SiO2/HfO2またはSiO2/Sc23の少なくとも1つの第2の周期とをさらに含んでもよい。第1のコーティングスタック200は少なくとも1つのコーティング110に、UV領域からVIS領域まで高反射率を提供する。本書では「高反射率」という用語は、約95%を超える%の反射率を称する。例えば入射角45°では、第1のコーティングスタック200は約250nmから約760nmの間で高反射率を有する。
第2のコーティングスタック300は、第1のコーティングスタック200上に堆積される。第2のコーティングスタック300は、第1の層310および第2の層320の少なくとも1つの周期を含み得る。第1の層310は低屈折率金属フッ化物の層でもよく、第2の層320は高屈折率金属酸化物の層でもよい。高屈折率金属酸化物は、限定するものではないが、Al23、Ta25、Nb25、TiO2、HfO2、およびSc23でもよい。低屈折率金属フッ化物は、限定するものではないが、AlF3、MgF2、CaF2、BaF2、SrF2、およびNa3AlF6でもよい。例えば少なくとも1つの周期はAlF3/Al23でもよく、ここでAlF3は低屈折率金属フッ化物であり、Al23は高屈折率金属酸化物である。少なくとも1つの周期は、限定するものではないが、MgF2/Al23またはNa3AlF6/Al23などの他の低屈折率金属フッ化物および高屈折率金属酸化物の組を含み得る。第2のコーティングスタック300は少なくとも1つのコーティング110に、UV領域での高反射率をさらに提供する。例えば入射角45°で、第1のコーティングスタック200上に堆積された第2のコーティングスタック300は、第1のコーティングスタック200での約250nmから約760nmの間の高反射率を、第1のコーティングスタック200および第2のコーティングスタック300の組合せで、約200nmから約760nmの間に拡張する。
第3のコーティングスタック400は、第2のコーティングスタック300上に堆積される。第3のコーティングスタック400は、第1の層410および第2の層420の少なくとも1つの周期を含み得る。第1の層410は高屈折率金属フッ化物でもよく、また第2の層420は低屈折率金属フッ化物でもよい。低屈折率金属フッ化物は、限定するものではないが、AlF3、MgF2、CaF2、BaF2、SrF2、およびNa3AlF6でもよい。高屈折率金属フッ化物は、限定するものではないが、LaF3、GdF3、PrF3、NdF3、PmF3、SmF3、EuF3、DyF3、およびHoF3などの、ランタニド金属のフッ化物でもよい。例えば少なくとも1つの周期はAlF3/GdF3でもよく、ここでAlF3は低屈折率金属フッ化物であり、GdF3は高屈折率金属フッ化物である。少なくとも1つの周期は、限定するものではないが、MgF2/LaF3、Na3AlF6/LaF3、Na3AlF6/GdF3、またはMgF2/GdF3などの他の高屈折率金属フッ化物および低屈折率金属フッ化物の組を含み得る。図5に示されているように第3のコーティングスタック400は、第3のコーティングスタック400の周期間に少なくとも1つの中間層430をさらに含み得る。中間層430は、界面の平滑化を提供するために堆積された、フッ化物をドープしたシリカ(F−SiO2)層でもよい。さらに図6に示されているように、第3のコーティングスタック400はキャッピング層440をさらに含み得る。キャッピング層は、少なくとも1つのコーティング110を密封する上面または層として、第3のコーティングスタック400の最も外側の層の上に堆積された、F−SiO2層でもよい。第3のコーティングスタック400は、少なくとも1つのコーティング110に、DUV領域での高反射率をさらに提供する。例えば入射角45°で、第2のコーティングスタック300上に堆積された第3のコーティングスタック400は、第1のコーティングスタック200および第2のコーティングスタック300での約200nmから約760nmの間の高反射率を、第1のコーティングスタック200と第2のコーティングスタック300と第3のコーティングスタック400との組合せで、約180nmから約760nmの間に拡張する。第1のコーティングスタック200と第2のコーティングスタック300と第3のコーティングスタック400との組合せは、少なくとも1つのコーティング110に、NIR領域での反射防止特性をさらに提供する。
図4〜6に示したような異なる層は、理解を簡単にするために、本書で開示されるコールドミラーのほんのいくつかの実施形態を説明したに過ぎないことを理解されたい。コーティングスタックの夫々の、いくつかまたは全ての周期における層の構成は、逆にしてもよいことを理解されたい。例えば、第1のコーティングスタック200の第1の層210および第2の層220を逆にして、第1の層210が低屈折率金属酸化物に、また第2の層220が高屈折率金属酸化物になるようにしてもよい。さらに、図4〜6の点線は、各コーティングスタックが2以上の周期を含み得ることを示すよう意図されていることを理解されたい。
本開示の実施形態の反射率を、45°の入射角に関して上で論じたが、本書で論じられるコールドミラーはさらに、入射角が30°、40°、またはさらには60°である場合に約250nmから約760nmの間で高反射率を有し、入射角が30°、40°、またはさらには60°である場合に約200nmから約760nmの間で約90%を超える反射率を有する。
本開示の実施形態によれば、高反射帯域の幅広さは、様々な意図されている用途に基づいてVIS−DUV領域からDUV領域まで調節することができる。図7は、約180nmから約290nmの間で入射角45°で高反射率を有する、UV−DUVコールドミラーでの反射率対波長のグラフである。図8は、約190nmから約300nmの間で入射角30°で高反射率を有する、UV−DUVコールドミラーでの反射率対波長のグラフである。図9は、約185nmから約270nmの間で入射角60°で高反射率を有する、UV−DUVコールドミラーでの反射率対波長のグラフである。
本開示の実施形態によれば、基板100上に少なくとも1つのコーティング110を形成する方法が提供される。この方法は、基板100上に第1のコーティングスタック200を堆積するステップを含む。基板100上に第1のコーティングスタック200を堆積するステップは、電子ビーム蒸着技術を用いて交互周期層を堆積するステップを含む。第1のコーティングスタック200を堆積するステップは、改良されたプラズマイオンアシスト電子ビーム蒸着技術を用いて、高密度かつ滑らかな第1のコーティングスタック200を形成するステップをさらに含み得る。基板100上に第1のコーティングスタック200を堆積するステップは、約120℃から約150℃の間の温度で完成され得る。
この方法は、第1のコーティングスタック200上に第2のコーティングスタック300を堆積するステップをさらに含む。第1のコーティングスタック200上に第2のコーティングスタック300を堆積するステップは、熱ボート蒸着技術を用いてフッ化物層を堆積し、電子ビーム蒸着技術を用いて酸化物層を堆積して、交互周期層を堆積するステップを含む。第1のコーティングスタック200上に第2のコーティングスタック300を堆積するステップは、第2のコーティングスタック300の緻密化を確実にするのに十分な温度で完成され得る。この温度は約250℃から約400℃の間でもよく、あるいは約280℃から約320℃でもよい。
この方法は、第2のコーティングスタック300上に第3のコーティングスタック400を堆積するステップをさらに含む。第2のコーティングスタック300上に第3のコーティングスタック400を堆積するステップは、熱ボート蒸着技術を用いて交互周期層を堆積するステップを含む。例えば、堆積の角度を制限するのに十分な深さの2つの熱ボートを用いて、交互周期層を堆積してもよい。第2のコーティングスタック300上に第3のコーティングスタック400を堆積するステップは、第3のコーティングスタック400の緻密化を確実にするのに十分な温度で完成され得る。この温度は約250℃から約400℃の間でもよく、あるいは約280℃から約320℃でもよい。
第2のコーティングスタック300上に第3のコーティングスタック400を堆積するステップは、交互周期層の周期間に、フッ化物をドープしたシリカ層である少なくとも1つの中間層430を堆積するステップをさらに含んでもよい。さらに、第2のコーティングスタック300上に第3のコーティングスタック400を堆積するステップは、第3のコーティングスタック400の最も外側の層の上に、フッ化物をドープしたシリカ層であるキャッピング層440を堆積するステップをさらに含んでもよい。少なくとも1つの中間層430およびキャッピング層440を、改良されたプラズマイオンアシスト電子ビーム蒸着技術を用いて堆積して、高密度かつ滑らかなコーティング表面を形成することができる。
電子ビーム蒸着技術を用いた酸化物層の堆積は、堆積の角度を制限するために、酸化物蒸着ソースの上方に反転マスクを設置するステップを含み得る。反転マスクの形状は、コーティングの均一性を向上させるようにも選択され得る。同様に熱ボート蒸着技術を用いたフッ化物の堆積は、堆積の角度を制限するのに十分な深さの熱ボートを提供するステップを含み得る。
本書で論じた様々な堆積温度は、異なるコーティングスタック間の界面応力を最小限にするように選択される。従って、第1のコーティングスタック200を堆積するときに比較的低い堆積温度が使用され得、また第2のコーティングスタック300および第3のコーティングスタック400を堆積するときに比較的高い堆積温度が使用され得る。
本書で説明されるコールドミラーは、低損失特性を有する耐レーザ損傷性設計を提供し、さらにUV−DUV範囲で環境的に安定している。本書で説明されるミラーは、広帯域VIS−DUVレーザ駆動光源と共に、また広帯域UV−DUVレーザ駆動光源と共に、使用することができる。ミラーは、プラズマ生成のためのIR駆動レーザ放射を透過し、対応するVIS−DUV発光を集める。さらに、本書で説明されるコールドミラーは、従来のアルミニウムベースのミラーに比べて、設計の複雑さを低減させることができ、またレーザ駆動光源の寿命を増加させることができる。
本発明を、限られた数の実施形態に関して説明してきたが、本書で開示される本発明の範囲から逸脱しない他の実施形態が考案可能であることは、本開示の利益を得る当業者には明らかであろう。従って本発明の範囲は、添付の請求項によってのみ制限されるべきである。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
拡張コールドミラーにおいて、
基板、および、
前記基板上に堆積されたコーティングであって、
低屈折率金属酸化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第1のコーティングスタックと、
低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第2のコーティングスタックと、
低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属フッ化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第3のコーティングスタックと、
を含むコーティング、
を備えていることを特徴とする拡張コールドミラー。
実施形態2
前記第1のコーティングスタックが前記基板上に堆積され、前記第2のコーティングスタックが前記第1のコーティングスタック上に堆積され、さらに前記第3のコーティングスタックが前記第2のコーティングスタック上に堆積されていることを特徴とする実施形態1記載の拡張コールドミラー。
実施形態3
前記基板が、CaF2、SiO2、F−SiO2、溶融石英、および石英、から成る群から選択されることを特徴とする実施形態1または2記載の拡張コールドミラー。
実施形態4
前記低屈折率金属酸化物が、SiO2、F−SiO2、NドープSiO2、およびAlドープSiO2、から成る群から選択されることを特徴とする実施形態1から3いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態5
前記高屈折率金属酸化物が、Al23、Ta25、Nb25、TiO2、HfO2、およびSc23、から成る群から選択されることを特徴とする実施形態1から4いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態6
前記低屈折率金属フッ化物が、AlF3、MgF2、CaF2、BaF2、SrF2、およびNa3AlF6、から成る群から選択されることを特徴とする実施形態1から5いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態7
前記高屈折率金属フッ化物が、LaF3、GdF3、PrF3、NdF3、PmF3、SmF3、EuF3、DyF3、およびHoF3、から成る群から選択されるランタニド金属のフッ化物であることを特徴とする実施形態1から6いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態8
前記高屈折率金属フッ化物が、GdF3およびLaF3のうちの一方であることを特徴とする実施形態7記載の拡張コールドミラー。
実施形態9
前記第3のコーティングスタックが、2つの前記周期の間に少なくとも1つの中間層をさらに備えていることを特徴とする実施形態1から8いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態10
前記少なくとも1つの中間層がF−SiO2を含むことを特徴とする実施形態9記載の拡張コールドミラー。
実施形態11
前記第3のコーティングスタックが、キャッピング層をさらに備えていることを特徴とする実施形態1から10いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態12
前記キャッピング層がF−SiO2を含むことを特徴とする実施形態11記載の拡張コールドミラー。
実施形態13
前記金属フッ化物コーティング層が熱ボート蒸着層を含むことを特徴とする実施形態1から12いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態14
前記金属酸化物コーティング層が電子ビーム蒸着層を含むことを特徴とする実施形態1から13いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態15
前記第1のコーティングスタックの前記低屈折率金属酸化物コーティング層がSiO2層を含み、かつ前記第1のコーティングスタックの前記高屈折率金属酸化物コーティング層がHfO2層を含み、
前記第2のコーティングスタックの前記低屈折率金属フッ化物コーティング層がAlF3層を含み、かつ前記第2のコーティングスタックの前記高屈折率金属酸化物コーティング層がAl23層を含み、さらに、
前記第3のコーティングスタックの前記低屈折率金属フッ化物コーティング層がAlF3層を含み、かつ前記第3のコーティングスタックの前記高屈折率金属フッ化物コーティング層がGdF3層を含むことを特徴とする、実施形態1から14いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態16
前記ミラーの反射率が、入射角45°で、約200nmから約760nmの波長範囲で約95%を超えることを特徴とする実施形態1から15いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態17
前記ミラーの反射率が、入射角30°、40°、および60°で、約200nmから約760nmの波長範囲で約90%を超え、約250nmから約760nmの波長範囲で約95%を超えることを特徴とする実施形態1から16いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態18
前記ミラーの反射率が、入射角45°で、約180nmから約290nmの波長範囲で約95%を超えることを特徴とする実施形態1から15いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態19
前記ミラーの反射率が、入射角30°で、約190nmから約300nmの波長範囲で約95%を超えることを特徴とする実施形態1から15いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
実施形態20
前記ミラーの反射率が、入射角60°で、約185nmから約270nmの波長範囲で約95%を超えることを特徴とする実施形態1から15いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
10 コールドミラー
100 基板
110 コーティング
200 第1のコーティングスタック
210、310、410 第1の層
220、320、420 第2の層
300 第2のコーティングスタック
400 第3のコーティングスタック
430 中間層
440 キャッピング層

Claims (5)

  1. 拡張コールドミラーにおいて、
    基板、および、
    前記基板上に堆積されたコーティングであって、
    低屈折率金属酸化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第1のコーティングスタックと、
    低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属酸化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第2のコーティングスタックと、
    低屈折率金属フッ化物コーティング層および高屈折率金属フッ化物コーティング層の少なくとも1つの周期を備えた、第3のコーティングスタックと、
    を含むコーティング、
    を備えていることを特徴とする拡張コールドミラー。
  2. 前記低屈折率金属酸化物が、SiO2、F−SiO2、NドープSiO2、およびAlドープSiO2、から成る群から選択されることを特徴とする請求項1記載の拡張コールドミラー。
  3. 前記高屈折率金属酸化物が、Al23、Ta25、Nb25、TiO2、HfO2、およびSc23、から成る群から選択されることを特徴とする請求項1または2記載の拡張コールドミラー。
  4. 前記低屈折率金属フッ化物が、AlF3、MgF2、CaF2、BaF2、SrF2、およびNa3AlF6、から成る群から選択されることを特徴とする請求項1から3いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
  5. 前記高屈折率金属フッ化物が、LaF3、GdF3、PrF3、NdF3、PmF3、SmF3、EuF3、DyF3、およびHoF3、から成る群から選択されるランタニド金属のフッ化物であることを特徴とする請求項1から4いずれか1項記載の拡張コールドミラー。
JP2016549055A 2014-01-31 2015-01-29 Uvおよびduv拡張コールドミラー Pending JP2017510835A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201461934351P 2014-01-31 2014-01-31
US61/934,351 2014-01-31
PCT/US2015/013421 WO2015116761A1 (en) 2014-01-31 2015-01-29 Uv and duv expanded cold mirrors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017510835A true JP2017510835A (ja) 2017-04-13

Family

ID=52463215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016549055A Pending JP2017510835A (ja) 2014-01-31 2015-01-29 Uvおよびduv拡張コールドミラー

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9696467B2 (ja)
EP (1) EP3100082A1 (ja)
JP (1) JP2017510835A (ja)
WO (1) WO2015116761A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018013757A2 (en) 2016-07-14 2018-01-18 Corning Incorporated Methods of reducing surface roughness of reflectance coatings for duv mirrors
CN108680981B (zh) * 2018-05-16 2020-12-01 德州尧鼎光电科技有限公司 一种深紫外窄带滤光片制备方法
JP2022504163A (ja) 2018-10-05 2022-01-13 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 多層光学フィルム及びそれを含む物品
CN111378934B (zh) * 2020-03-30 2021-03-30 中国科学院上海光学精密机械研究所 提升电子束蒸镀薄膜元件的光谱和应力时效稳定性的镀膜方法
DE102022132139A1 (de) 2022-12-05 2024-06-06 Jenoptik Optical Systems Gmbh Vorrichtung, System und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194526A (ja) * 1999-10-29 2001-07-19 Nidek Co Ltd 多層膜反射ミラー
JP2008287219A (ja) * 2007-02-28 2008-11-27 Corning Inc レーザシステム用の設計作製フッ化物被覆素子
JP2010060855A (ja) * 2008-09-04 2010-03-18 Ushio Inc 光学装置
WO2010034367A1 (de) * 2008-09-29 2010-04-01 Carl Zeiss Smt Ag Dielektrischer spiegel und verfahren zu dessen herstellung, sowie eine projektionsbelichtungsanlage für die mikrolithographie mit einem solchen spiegel
JP2010196168A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Corning Inc 193nmでの広角高反射ミラー
JP2013529318A (ja) * 2010-05-27 2013-07-18 カール ツァイス レーザー オプティクス ゲーエムベーハー 誘電体コーティングされたミラー

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4101707A (en) * 1977-04-04 1978-07-18 Rockwell International Corporation Homogeneous multilayer dielectric mirror and method of making same
US5850309A (en) * 1996-03-27 1998-12-15 Nikon Corporation Mirror for high-intensity ultraviolet light beam
JPH11311704A (ja) * 1998-02-26 1999-11-09 Nikon Corp 紫外光用ミラー
US6574039B1 (en) * 1999-09-30 2003-06-03 Nikon Corporation Optical element with multilayer thin film and exposure apparatus with the element
US7409777B2 (en) 2000-05-09 2008-08-12 James Thomas Shiveley Rapid efficient infrared curing powder/wet coatings and ultraviolet coatings curing laboratory applied production processing
US7843632B2 (en) * 2006-08-16 2010-11-30 Cymer, Inc. EUV optics
WO2003009015A1 (fr) * 2001-07-18 2003-01-30 Nikon Corporation Element optique comportant un film de fluorure de lanthane
DE10150874A1 (de) * 2001-10-04 2003-04-30 Zeiss Carl Optisches Element und Verfahren zu dessen Herstellung sowie ein Lithographiegerät und ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
US6734957B2 (en) 2002-01-31 2004-05-11 Christie Digital Systems, Inc. Visible light sensor mechanism for constant brightness projection systems
US6834984B2 (en) 2002-10-15 2004-12-28 Delaware Captial Formation, Inc. Curved reflective surface for redirecting light to bypass a light source coupled with a hot mirror
US7193228B2 (en) * 2004-03-10 2007-03-20 Cymer, Inc. EUV light source optical elements
US7223002B2 (en) 2004-08-09 2007-05-29 Miller Jack V Hybrid fiber optic framing projector
US7638780B2 (en) 2005-06-28 2009-12-29 Eastman Kodak Company UV cure equipment with combined light path
EP1910013A2 (en) 2005-07-13 2008-04-16 Picodeon Ltd OY Radiation arrangement
US7435982B2 (en) 2006-03-31 2008-10-14 Energetiq Technology, Inc. Laser-driven light source
US7705331B1 (en) 2006-06-29 2010-04-27 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for providing illumination of a specimen for a process performed on the specimen
US20080213904A1 (en) 2006-08-24 2008-09-04 Sliwa John W Monitoring drug compliance, food-intake or toxin-intake using non-invasively-read labels
US20080175002A1 (en) 2007-01-23 2008-07-24 Michael Papac System and method for the removal of undesired wavelengths from light
US7683650B1 (en) 2007-05-24 2010-03-23 Keithley Instruments, Inc. Measurement instrument with synchronized interference signals
US20090091821A1 (en) 2007-10-09 2009-04-09 Regan Rick R Optical sighting device with selective laser wavelength removal
JP5543357B2 (ja) * 2007-11-30 2014-07-09 コーニング インコーポレイテッド Duv素子のための緻密で均質なフッ化物膜及びその作製方法
JP2011527436A (ja) * 2008-07-07 2011-10-27 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ スパッタ耐性材料を含む極紫外線放射反射要素
DE102008040265A1 (de) * 2008-07-09 2010-01-14 Carl Zeiss Smt Ag Reflektives optisches Element und Verfahren zu seiner Herstellung
TW201031948A (en) 2009-02-24 2010-09-01 Aether Systems Inc Beam shaping device
US9357920B2 (en) 2009-09-04 2016-06-07 University Of Virginia Patent Foundation Hand-held portable fundus camera for screening photography
US8526104B2 (en) * 2010-04-30 2013-09-03 Corning Incorporated Plasma ion assisted deposition of Mo/Si multilayer EUV coatings
TW201207742A (en) 2010-05-31 2012-02-16 Silverbrook Res Pty Ltd Method of identifying page from plurality of page fragment images
GB2484749B (en) 2010-10-20 2013-10-23 Frank Michael Ohnesorge Interatomic force measurements using passively drift-compensated non-contact in-situ calibrated atomic force microscopy - quantifying chemical bond forces
US9417515B2 (en) * 2013-03-14 2016-08-16 Applied Materials, Inc. Ultra-smooth layer ultraviolet lithography mirrors and blanks, and manufacturing and lithography systems therefor

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194526A (ja) * 1999-10-29 2001-07-19 Nidek Co Ltd 多層膜反射ミラー
JP2008287219A (ja) * 2007-02-28 2008-11-27 Corning Inc レーザシステム用の設計作製フッ化物被覆素子
JP2010060855A (ja) * 2008-09-04 2010-03-18 Ushio Inc 光学装置
WO2010034367A1 (de) * 2008-09-29 2010-04-01 Carl Zeiss Smt Ag Dielektrischer spiegel und verfahren zu dessen herstellung, sowie eine projektionsbelichtungsanlage für die mikrolithographie mit einem solchen spiegel
JP2010196168A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Corning Inc 193nmでの広角高反射ミラー
JP2013529318A (ja) * 2010-05-27 2013-07-18 カール ツァイス レーザー オプティクス ゲーエムベーハー 誘電体コーティングされたミラー

Also Published As

Publication number Publication date
US20150219805A1 (en) 2015-08-06
US9696467B2 (en) 2017-07-04
EP3100082A1 (en) 2016-12-07
WO2015116761A1 (en) 2015-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017510835A (ja) Uvおよびduv拡張コールドミラー
JP4904287B2 (ja) Euvスペクトル範囲のための熱安定性多層ミラー
JP2021036349A (ja) 誘電体強化ミラーを採用した高効率多波長ビームエキスパンダ
US20210132269A1 (en) Reflective optical element
TWI609605B (zh) 嚴峻環境光學元件保護技術
JP2008287219A (ja) レーザシステム用の設計作製フッ化物被覆素子
JP5913863B2 (ja) Uv又はeuvリソグラフィ用の光学素子
JP2018180544A (ja) Euv露光用反射型マスクブランク、および反射型マスク
JP7475450B2 (ja) 保護コーティングを有する光学素子、その製造方法及び光学装置
JP2018116301A (ja) 光学素子
JP2018527631A (ja) 緩衝層を含む光学コーティング
JP2007193060A (ja) 固体レーザ用ミラー
JP2004302113A (ja) 反射防止膜、光学部材、光学系及び投影露光装置、並びに反射防止膜の製造方法
JPH10160915A (ja) エキシマレーザー用ミラー
JP2006119525A (ja) 反射防止膜
JP6381632B2 (ja) 多層コーティングを備えた光学素子及び当該光学素子を備えた光学装置
JP2006072031A (ja) 赤外域用反射防止膜およびこれを用いた赤外線レンズ
Bonardi et al. A new solution for mirror coating in γ-ray Cherenkov astronomy
JP4118008B2 (ja) 多層膜反射ミラー
JP4343895B2 (ja) 軟x線用多層膜ミラー
US20110228415A1 (en) High-reflection multilayer coating
JPH11101903A (ja) エキシマレーザ用高反射鏡
JP7495922B2 (ja) 反射光学素子
JP2005266211A (ja) 多層膜反射鏡
TWI835896B (zh) 具有後側塗層的極紫外線掩模

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180222

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181226

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20190326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190527

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191002

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20191224

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200430

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20201125