JP2017207481A - 非接触三次元形状測定機、及び、これを用いた形状測定方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】測定ヘッドが一定速度で移動しない場合であっても、フレーム画像を精度良く合成して、高精度な形状測定を可能とする非接触三次元形状測定機を提供する。
【解決手段】測定ヘッド10を光軸(Z軸)方向に走査させながらカメラで撮像したフレーム画像と、その画像を取得した位置情報を元にして撮像対象の三次元形状を合成するようにされた非接触三次元形状測定機において、複数の生画像を撮像する間の測定ヘッド10の走査位置dZ1、dZ2を検出する手段12と、撮像された生画像1,2に対して、走査位置dZ1、dZ2の情報を利用した線形補間により補間画像を生成すると共に、補間画像を用いて合成フレーム画像を生成する手段と、を備える。
【選択図】図3

Description

本発明は、非接触三次元形状測定機、及び、これを用いた形状測定方法に係り、特に、インターレースカメラを備えた画像測定機や測定顕微鏡に用いるのに好適な、フレーム画像を精度良く合成して、高精度な形状測定が可能な非接触三次元形状測定機、及び、これを用いた形状測定方法に関する。
従来の画像測定機に搭載される非接触三次元形状合成方法には、合焦位置検出による三次元形状合成(Point From Focus;以下PFF)と、白色光干渉を利用した三次元形状合成(White Light Interference;以下WLI)があるが、どちらも測定ヘッドを光軸方向に走査させながら撮像した連続画像(ここで言う画像はフレーム画像)と、その画像を取得した位置情報を元にして三次元形状を合成している。
ここで、連続画像の撮像にインターレースカメラを用いた場合、図1(A)に例示する如く、Z軸方向に走査される測定ヘッド10に搭載されるインターレースカメラは、奇数(Odd)及び偶数(Even)の2つのフィールドに分けて1視野の範囲の画像が撮像されるため、三次元形状を合成するためには、Odd及びEvenフィールド画像から、1視野の画像(フレーム画像)を合成する必要がある。
このフレーム画像の合成処理は、図1(A)に示した如く、例えば位置Z2、Z3で撮像されたOdd及びEvenフィールド画像(生画像)に対して、図1(B)に示す如く、それぞれ同じ位置Z2、Z3のEven及びOddフィールドの補間画像(補間フィールド画像)を生成し、各位置Z2、Z3の生画像(Z2ではOdd、Z3ではEven)と補間フィールド画像(Z2ではEven、Z3ではOdd)を合成することで、図1(C)に示す如く、各位置Z2、Z3のフレーム画像を生成している。
特開2000−270211号公報 特開2009−49547号公報 特開平9−274669号公報
しかしながら、従来のフレーム画像合成処理は、図2に例示する如く、一定時間間隔での画像の撮像と一定速度での測定ヘッド10の移動により、測定ヘッドの走査方向に対して一定の距離間隔で画像が撮像されることを前提に合成処理を行っていた。即ち、ある位置のOddフィールド画像に対するEvenの補間フィールド画像を生成する手法として、Oddフィールド画像の前後のEvenフィールド画像(図2ではEven生画像1と2)を用い、各画素の輝度値I1ijとI2ijを単純平均した輝度値
ij=(I1ij+I2ij)/2
を有する画像をEven補間フィールド画像としていた。
しかしながら、実際には、測定ヘッドの加減速中の速度変動や、低速移動時の速度リップルなどにより、測定ヘッドが一定速度で移動しない為、一定距離間隔での画像が撮像されない。特に測定ヘッドの移動にサーボモータを用いた場合には、動き始めと動き終わりの加速減が緩やかになるため、一定時間ピッチによる画像取得では、正確な一定空間ピッチでの画像取得が困難であった。その結果、正しくフレーム画像の合成ができず、測定精度が悪化するという問題点を有していた。
なお、特許文献1には、OddデータとEvenデータの画像を合成することが記載され、特許文献2には、複数の画像の画像データの各々に重み付けして合成することが記載され、特許文献3には、対象物までの距離を予め求める事なく合成画像を生成することが記載されているが、いずれも、前記問題点を解決することはできなかった。
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、フレーム画像の合成方法を改善して、測定精度を向上することを課題とする。
本発明は、測定ヘッドを光軸方向に走査させながらカメラで撮像したフレーム画像と、その画像を取得した位置情報を元にして撮像対象の三次元形状を合成するようにされた非接触三次元形状測定機において、複数の生画像を撮像する間の測定ヘッドの走査位置を検出する手段と、撮像された生画像に対して、前記走査位置の情報を利用した線形補間により補間画像を生成すると共に、該補間画像を用いて合成フレーム画像を生成する手段と、を備えることにより前記課題を解決したものである。
ここで、前記カメラがインターレースカメラである場合は、前記複数の生画像を奇数及び偶数フィールドそれぞれの生画像とし、撮像した生画像の前記走査位置の情報を利用した線形補間により、それぞれ同じ位置の偶数及び奇数フィールドの補間画像を生成して、各位置の偶数フィールドの生画像と奇数フィールドの補間画像、及び、奇数フィールドの生画像と偶数フィールドの補間画像を合成することで合成フレーム画像を生成することができる。
又、前記カメラがノンインターレースカメラであり、複数の生画像間の補間画像を生成することができる。
又、前記非接触三次元形状測定機は、対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えた、Point From Focus(PFF)測定が可能な画像光学測定ヘッドと、干渉対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えたWhite Light Interference(WLI)光学測定ヘッドの少なくともいずれか一方を備えることができる。
又、前記走査位置を検出する手段は、Z軸スケールとすることができる。
本発明は、又、対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えた画像光学測定ヘッドを用いて非接触三次元形状測定機によりPoint From Focus(PFF)測定を行うに際して、ワークに対し、対物レンズをZ軸コラムに沿ってZ軸方向に走査するステップと、画像光学測定ヘッドに搭載されたカメラから生画像を取得すると共に、Z軸コラムに搭載されたZ軸スケールからZ座標値を取得することにより、定ピッチで画像とZ座標値をスタックするステップと、取得された生画像に対して、走査位置の情報を利用して補間画像を生成し、該補間画像を利用して合成フレーム画像を生成するステップと、スタック画像から各ピクセル位置のコントラストカーブを生成するステップと、各ピクセルのコントラストピーク位置をZ位置として3D形状を合成するステップとを含むことを特徴とする非接触三次元形状測定機の形状測定方法を提供するものである。
本発明は、又、干渉対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えたWhite Light Interference(WLI)光学測定へッドを用いて非接触三次元形状測定機によりWLI測定を行うに際して、干渉対物レンズをZ軸方向に走査するステップと、WLI光学測定ヘッドに搭載されたカメラから生画像を取得すると共に、Z軸コラムに搭載されたZ軸スケールからZ座標値を取得することにより、定ピッチで画像とZ座標値をスタックするステップと、取得された生画像に対して、走査位置の情報を利用して補間画像を生成し、該補間画像を利用して合成フレーム画像を生成するステップと、スタック画像の干渉稿から各ピクセルの干渉信号を生成するステップと、各ピクセルの干渉稿ピーク位置をZ位置として3D形状を合成するステップとを含むことを特徴とする非接触三次元形状測定機の形状測定方法を提供するものである。
本発明においては、例えばインターレースカメラを用いた場合には、図3に概要を示す如く、例えばEven補間フィールド画像を生成する際に、測定ヘッド10で撮像したフィールド画像の、例えばZ軸スケール12によって得た位置情報(Z座標値dZ1、dZ2)を利用した線形補間によって得られた輝度値
ij={(dZ2−dZ1)*I1ij+dZ1*I2ij}/dZ2
により、画像を生成するようにしている。
従って、従来の単純平均によるフレーム画像合成に比べると、高精度化が期待できる。又、インターレースカメラで取得したフィールド画像に欠損が生じた場合でも、本発明を使用することで、欠損していない隣接するフィールド画像から、補間フィールド画像を正確に生成できるので、精度の劣化を防ぐことができる。
なお、本発明の適用対象は、インターレースカメラを用いたものに限定されず、ノンインターレースのプログレッシブなカメラを用いた場合で、複数の生画像間の補間画像を合成する場合にも同様に適用できる。
インターレースカメラでフレーム画像を合成する方法の説明図 従来のフィールド画像の補間処理の説明図 インターレースカメラを用いた場合の本発明による線形補間を用いたフィールド画像の補間処理の原理の説明図 本発明が適用される非接触三次元形状測定機の一例の全体構成を示す斜視図 同じくシステム構成を示すブロック図 PFF測定の手順を示す流れ図 PFF測定の原理を示す説明図 WLI測定のMirau型の光学系の構成を示す図 同じくマイケルソン型の光学系の構成を示す断面図 WLI測定の手順を示す流れ図 WLI測定の原理を示す説明図 ノンインターレースカメラを用いた場合の本発明による線形補間を用いたフィールド画像の補間処理の原理の説明図
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態及び実施例に記載した内容により限定されるものではない。又、以下に記載した実施形態及び実施例における構成要件には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。更に、以下に記載した実施形態及び実施例で開示した構成要素は適宜組み合わせてもよいし、適宜選択して用いてもよい。
本発明の実施形態は、図4に全体構成、図5にシステム構成を示す如く、XYステージ22とZ軸コラム24を備えた非接触三次元形状測定機20において、対物レンズ32、CCDカメラ34及び照明ユニット38を備えた、PFF測定が可能な画像光学測定ヘッド30と、干渉対物レンズ42、CCDカメラ44及び照明ユニット48を備えたWLI光学測定ヘッド40の2つの測定ヘッドの両方またはいずれか一方を備えている。
前記Z軸コラム24には、図示しないZ軸スケール(図3の符号12)が配設され、測定ヘッド30、40のZ軸方向位置が細かく測定可能とされている。
前記画像光学測定ヘッド30は、図5に詳細に示す如く、前記CCDカメラ34と、対物レンズ32を入れ替えるためのパワーターレット36とを備え、前記照明ユニット38は、例えば、白色LEDによる透過照明38a、白色LEDによる垂直落射照明38b、及び、白色LEDによるプログラム制御リング照明38cを備えている。
前記WLI光学測定ヘッド40は、同じく図5に詳細に示す如く、前記CCDカメラ44と、顕微鏡ユニット46とを備え、前記照明ユニット48は、例えばハロゲン電球による垂直落射照明を備えている。
図5において、60は本体部を遠隔操作するためのリモートボックス、62はハロゲンコントローラ、64は除振台、70は、画像光学測定ヘッド用のフレームグラバ74、WLI光学測定ヘッド用のフレームグラバ76、ビデオタイミング入力インターフェース(I/F)78を含むコンピュータ(PC)本体72と、マウス80と、キーボード82と、モニタ84とを備えたコンピュータ部、86はソフトウェアである。
なお、PFF測定用三次元形状測定機の場合は、WLI光学測定ヘッド40、干渉対物レンズ42、WLI光学測定ヘッド用のフレームグラバ76が省略される。一方、WLI測定用三次元形状測定機の場合は、PFF測定は行われない。
以下、図6及び図7を参照して、PFF測定の手順を説明する。
まずステップ100で、図7(A)に示す如く、ワーク8に対し、対物レンズ32をZ軸コラム24に沿ってZ軸方向に走査する。
次いでステップ110で、図7(B)に示す如く、定ピッチで画像とZ座標値をスタックする。具体的には、画像光学測定ヘッド30に搭載されたCCDカメラ34から生画像を取得すると共に、Z軸コラム24に搭載されたZ軸スケール(図示省略)からZ座標値を取得する。
次いでステップ120で、本発明により、図3に示したような方法で、取得された生画像(Odd/Even)に対して、それぞれの補間フィールド画像(Even/Odd)を生成し、ステップ130で、合成フレーム画像を生成する。
次いでステップ140で、図7(C)に示す如く、スタック画像から各ピクセル位置のコントラストカーブを生成する。
次いでステップ150で、図7(D)に示す如く、各ピクセルのコントラストピーク位置をZ位置として3D形状を合成する。
このようにして、インターレースカメラを用いたPFFによる画像測定の形状測定精度を高めることができる。
次に、同じくインターレースカメラを用いたWLI測定について説明する。
この場合、Mirau型の光学系は図8に示す如く構成され、マイケルソン型の光学系は図9に示す如く構成される。
いずれの構成においても、照明ユニット48中の白色光源49から照射された照明光は、干渉対物レンズ42のビームスプリッタ52により、参照ミラー50への光束と、ワーク8への光束に2分割される。ここで干渉対物レンズ42をZ軸方向に走査すると、参照ミラー50から反射した光束と、ワーク8表面から反射した光束の光路差がゼロとなる位置を中心に干渉縞が発生する。そこで、この干渉縞の強度のピーク位置をCCDカメラ44の各ピクセル位置で検出することにより、ワーク8表面の三次元形状を得ることができる。図において、54はコリメータレンズ、56はビームスプリッタ、58はチューブレンズである。
以下、このWLI測定の手順を図10を参照して説明する。
まずステップ200で、干渉対物レンズ42をZ軸方向に走査する。
次いでステップ210で、定ピッチで画像とZ座標値をスタックする。ここで、WLI光学測定ヘッド40に搭載されたCCDカメラ44から生画像を取得すると共に、Z軸コラム24に搭載されたZ軸スケール(図示省略)からZ座標値を取得する。
次いでステップ220で、本発明により、図3に示したような方法で、取得された生画像(Odd/Even)に対して、それぞれの補間フィールド画像(Even/Odd)を生成し、ステップ230で、合成フレーム画像を生成する。
次いでステップ240で、図11に示す如く、スタック画像の干渉縞から各ピクセル位置の干渉信号を生成する。
次いでステップ250で、各ピクセルの干渉縞ピーク位置をZ位置として3D形状を合成する。
このようにして、インターレースカメラを用いたWLIによる画像測定の形状測定精度を向上することができる。
なお前記実施形態においては、いずれも、本発明がインターレースカメラを用いた三次元形状測定機に適用されていたが、本発明の適用対象はこれに限定されず、図12に原理を示す如く、ノンインターレースカメラを用いた三次元形状測定機や測定顕微鏡にも同様に適用することができる。カメラもCCDカメラに限定されない。又、測定原理もPFF測定やWLI測定に限定されない。
10…測定ヘッド
12…Z軸スケール
20…非接触三次元形状測定機
22…XYステージ
24…Z軸コラム
30…画像光学(PFF)測定ヘッド
32…対物レンズ
34、44…CCDカメラ
38、48…照明ユニット
40…WLI光学測定ヘッド
70…コンピュータ部
72…コンピュータ(PC)本体
86…ソフトウェア

Claims (7)

  1. 測定ヘッドを光軸方向に走査させながらカメラで撮像したフレーム画像と、その画像を取得した位置情報を元にして撮像対象の三次元形状を合成するようにされた非接触三次元形状測定機において、
    複数の生画像を撮像する間の測定ヘッドの走査位置を検出する手段と、
    撮像された生画像に対して、前記走査位置の情報を利用した線形補間により補間画像を生成すると共に、該補間画像を用いて合成フレーム画像を生成する手段と、
    を備えたことを特徴とする非接触三次元形状測定機。
  2. 前記カメラがインターレースカメラであり、前記複数の生画像が奇数及び偶数フィールドそれぞれの生画像であり、撮像した生画像の前記走査位置の情報を利用した線形補間により、それぞれ同じ位置の偶数及び奇数フィールドの補間画像を生成して、各位置の偶数フィールドの生画像と奇数フィールドの補間画像、及び、奇数フィールドの生画像と偶数フィールドの補間画像を合成することで合成フレーム画像を生成するようにされていることを特徴とする請求項1に記載の非接触三次元形状測定機。
  3. 前記カメラがノンインターレースカメラであり、複数の生画像間の補間画像を生成するようにされていることを特徴とする請求項1に記載の非接触三次元形状測定機。
  4. 前記非接触三次元形状測定機が、対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えた、Point From Focus(PFF)測定が可能な画像光学測定ヘッドと、干渉対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えたWhite Light Interference(WLI)光学測定ヘッドの少なくともいずれか一方を備えていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の非接触三次元形状測定機。
  5. 前記走査位置を検出する手段が、Z軸スケールであることを特徴とする請求項1に記載の非接触三次元形状測定機。
  6. 対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えた画像光学測定ヘッドを用いて非接触三次元形状測定機によりPoint From Focus(PFF)測定を行うに際して、
    ワークに対し、対物レンズをZ軸コラムに沿ってZ軸方向に走査するステップと、
    画像光学測定ヘッドに搭載されたカメラから生画像を取得すると共に、Z軸コラムに搭載されたZ軸スケールからZ座標値を取得することにより、定ピッチで画像とZ座標値をスタックするステップと、
    取得された生画像に対して、走査位置の情報を利用して補間画像を生成し、該補間画像を利用して合成フレーム画像を生成するステップと、
    スタック画像から各ピクセル位置のコントラストカーブを生成するステップと、
    各ピクセルのコントラストピーク位置をZ位置として3D形状を合成するステップとを含むことを特徴とする非接触三次元形状測定機の形状測定方法。
  7. 干渉対物レンズ、カメラ及び照明ユニットを備えたWhite Light Interference(WLI)光学測定へッドを用いて非接触三次元形状測定機によりWLI測定を行うに際して、
    干渉対物レンズをZ軸方向に走査するステップと、
    WLI光学測定ヘッドに搭載されたカメラから生画像を取得すると共に、Z軸コラムに搭載されたZ軸スケールからZ座標値を取得することにより、定ピッチで画像とZ座標値をスタックするステップと、
    取得された生画像に対して、走査位置の情報を利用して補間画像を生成し、該補間画像を利用して合成フレーム画像を生成するステップと、
    スタック画像の干渉稿から各ピクセルの干渉信号を生成するステップと、
    各ピクセルの干渉稿ピーク位置をZ位置として3D形状を合成するステップとを含むことを特徴とする非接触三次元形状測定機の形状測定方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019135667A1 (de) 2018-12-28 2020-07-02 Mitutoyo Corporation Bildaufnahmevorrichtung, Bildmessvorrichtung, berührungslose Verlagerungserfassungsvorrichtung und berührungslose Profilmessvorrichtung
JP2021124429A (ja) * 2020-02-06 2021-08-30 株式会社東京精密 走査測定方法及び走査測定装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10445894B2 (en) * 2016-05-11 2019-10-15 Mitutoyo Corporation Non-contact 3D measuring system
TWI645158B (zh) * 2018-03-23 2018-12-21 泓邦科技有限公司 三維量測裝置
US10812701B2 (en) * 2018-12-13 2020-10-20 Mitutoyo Corporation High-speed tag lens assisted 3D metrology and extended depth-of-field imaging

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5784164A (en) * 1997-03-20 1998-07-21 Zygo Corporation Method and apparatus for automatically and simultaneously determining best focus and orientation of objects to be measured by broad-band interferometric means
JP2001280925A (ja) * 2000-03-28 2001-10-10 Minolta Co Ltd 三次元形状計測装置
JP2009244081A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 V Technology Co Ltd 表面形状測定方法
US20120140243A1 (en) * 2010-12-03 2012-06-07 Zygo Corporation Non-contact surface characterization using modulated illumination
WO2013105922A2 (en) * 2011-12-12 2013-07-18 Zygo Corporation Non-contact surface characterization using modulated illumination
JP2016090520A (ja) * 2014-11-10 2016-05-23 株式会社ミツトヨ 白色光干渉計光学ヘッドを用いた非接触表面形状測定方法及び装置

Family Cites Families (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3095475A (en) * 1960-09-14 1963-06-25 Technicolor Corp Of America Smoothing spatially discontinuous images
US3128374A (en) * 1960-12-08 1964-04-07 Bendix Corp Control system
US5175616A (en) * 1989-08-04 1992-12-29 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of National Defence Of Canada Stereoscopic video-graphic coordinate specification system
JP3321865B2 (ja) * 1992-12-28 2002-09-09 株式会社日立製作所 立体形状検出装置およびその方法
US5615003A (en) * 1994-11-29 1997-03-25 Hermary; Alexander T. Electromagnetic profile scanner
US6044170A (en) * 1996-03-21 2000-03-28 Real-Time Geometry Corporation System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation
JP3341575B2 (ja) 1996-04-04 2002-11-05 三菱電機株式会社 画像合成装置
US6858826B2 (en) * 1996-10-25 2005-02-22 Waveworx Inc. Method and apparatus for scanning three-dimensional objects
JPH11325851A (ja) * 1998-05-12 1999-11-26 Canon Inc ワーク表面測定装置及び方法
JP2000270211A (ja) 1999-03-16 2000-09-29 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置
EP1037069A3 (en) * 1999-03-17 2004-01-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Rangefinder
US6542249B1 (en) * 1999-07-20 2003-04-01 The University Of Western Ontario Three-dimensional measurement method and apparatus
US6522712B1 (en) * 1999-11-19 2003-02-18 General Electric Company Reconstruction of computed tomographic images using interpolation between projection views
US6600168B1 (en) * 2000-02-03 2003-07-29 Genex Technologies, Inc. High speed laser three-dimensional imager
JP4010753B2 (ja) * 2000-08-08 2007-11-21 株式会社リコー 形状計測システムと撮像装置と形状計測方法及び記録媒体
EP1334623A2 (en) * 2000-10-12 2003-08-13 Reveo, Inc. 3d projection system with a digital micromirror device
JP2002232908A (ja) * 2000-11-28 2002-08-16 Monolith Co Ltd 画像補間方法および装置
US7538764B2 (en) * 2001-01-05 2009-05-26 Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum (Imec) System and method to obtain surface structures of multi-dimensional objects, and to represent those surface structures for animation, transmission and display
TW580826B (en) * 2001-01-12 2004-03-21 Vrex Inc Method and apparatus for stereoscopic display using digital light processing
US20040257360A1 (en) * 2001-10-22 2004-12-23 Frank Sieckmann Method and device for producing light-microscopy, three-dimensional images
US7493470B1 (en) * 2001-12-07 2009-02-17 Arc International, Plc Processor apparatus and methods optimized for control applications
US7197193B2 (en) * 2002-05-03 2007-03-27 Creatv Microtech, Inc. Apparatus and method for three dimensional image reconstruction
US7399220B2 (en) * 2002-08-02 2008-07-15 Kriesel Marshall S Apparatus and methods for the volumetric and dimensional measurement of livestock
JP4056922B2 (ja) * 2003-04-21 2008-03-05 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線計算断層画像装置
US7391933B2 (en) * 2003-10-30 2008-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for image interpolation based on adaptive polyphase filters
US8319975B2 (en) * 2004-03-11 2012-11-27 Nano-Or Technologies (Israel) Ltd. Methods and apparatus for wavefront manipulations and improved 3-D measurements
US7085342B2 (en) * 2004-04-22 2006-08-01 Canamet Canadian National Medical Technologies Inc Method for tracking motion phase of an object for correcting organ motion artifacts in X-ray CT systems
WO2006134793A1 (ja) * 2005-06-14 2006-12-21 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha 投影装置
WO2007043535A1 (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Nikon Corporation 光学特性計測方法、露光方法及びデバイス製造方法、並びに検査装置及び計測方法
EP1971820B1 (de) * 2006-01-08 2012-10-17 Hermann Tropf Erstellung eines abstandsbildes
US8224066B2 (en) * 2007-05-29 2012-07-17 Gerd Haeusler Method and microscopy device for the deflectometric detection of local gradients and the three-dimensional shape of an object
JP2009049547A (ja) 2007-08-15 2009-03-05 Seiko Epson Corp 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム
US7978346B1 (en) * 2009-02-18 2011-07-12 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Methods and systems for realizing high resolution three-dimensional optical imaging
JP2011019202A (ja) * 2009-07-10 2011-01-27 Sony Corp 映像信号処理装置および映像表示装置
WO2011052400A1 (ja) * 2009-10-28 2011-05-05 株式会社 日立メディコ 超音波診断装置及び画像構成方法
WO2012015732A1 (en) * 2010-07-26 2012-02-02 Siemens Corporation Global error minimization in image mosaicking using graph laplacians and its applications in microscopy
US10048480B2 (en) * 2011-01-07 2018-08-14 Zeta Instruments, Inc. 3D microscope including insertable components to provide multiple imaging and measurement capabilities
CN102579071B (zh) * 2011-01-14 2015-11-25 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种三维超声成像的方法及系统
US20120238876A1 (en) * 2011-03-18 2012-09-20 Fujifilm Corporation Ultrasound diagnostic apparatus and method of producing ultrasound image
JP5254389B2 (ja) * 2011-03-18 2013-08-07 富士フイルム株式会社 超音波診断装置および超音波画像生成方法
JP6392117B2 (ja) * 2011-06-03 2018-09-19 トムソン ライセンシングThomson Licensing 小型プロジェクタおよびそれに適用される方法
JP5787255B2 (ja) * 2011-07-12 2015-09-30 国立大学法人 筑波大学 Ps−octの計測データを補正するプログラム及び該プログラムを搭載したps−octシステム
US20130064344A1 (en) * 2011-08-22 2013-03-14 Mark Carol Vertical Imaging of an Upright Patient
US9942534B2 (en) * 2011-12-20 2018-04-10 Olympus Corporation Image processing system and microscope system including the same
US8948482B2 (en) * 2012-11-01 2015-02-03 Align Technology, Inc. Motion compensation in a three dimensional scan
DK2956084T3 (da) * 2013-02-13 2022-10-31 3Shape As Fokusscanningsapparat til registrering af farve
JP6147080B2 (ja) * 2013-05-14 2017-06-14 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、貼り合わせ領域の決定方法、及び、プログラム
US9605950B2 (en) * 2013-05-22 2017-03-28 Cognex Corporation System and method for efficient surface measurement using a laser displacement sensor
CN105431090A (zh) * 2013-08-14 2016-03-23 株式会社日立医疗器械 放射线断层像拍摄装置
JP2017505561A (ja) * 2013-11-26 2017-02-16 コンメド コーポレイション 平面視制御ユニットを使用した立体視カメラシステム
EP2905575B1 (en) * 2014-02-06 2018-10-31 Mitutoyo Corporation Image sequence and evaluation method, system and computer program for structured illumination microscopy for measuring a 3D height map
US9715724B2 (en) * 2014-07-29 2017-07-25 Applied Materials Israel Ltd. Registration of CAD data with SEM images
JP5799155B1 (ja) 2014-11-14 2015-10-21 寛 江川 処方箋データを管理するためのシステム、サーバ装置およびプログラム
FR3043193B1 (fr) * 2015-11-02 2019-04-19 Mesure-Systems3D Dispositif de controle tridimensionnel sans contact d’une piece mecanique a denture
US9958267B2 (en) * 2015-12-21 2018-05-01 Industrial Technology Research Institute Apparatus and method for dual mode depth measurement
US10445894B2 (en) * 2016-05-11 2019-10-15 Mitutoyo Corporation Non-contact 3D measuring system
US10410098B2 (en) * 2017-04-24 2019-09-10 Intel Corporation Compute optimizations for neural networks

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5784164A (en) * 1997-03-20 1998-07-21 Zygo Corporation Method and apparatus for automatically and simultaneously determining best focus and orientation of objects to be measured by broad-band interferometric means
JP2001280925A (ja) * 2000-03-28 2001-10-10 Minolta Co Ltd 三次元形状計測装置
JP2009244081A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 V Technology Co Ltd 表面形状測定方法
US20120140243A1 (en) * 2010-12-03 2012-06-07 Zygo Corporation Non-contact surface characterization using modulated illumination
WO2013105922A2 (en) * 2011-12-12 2013-07-18 Zygo Corporation Non-contact surface characterization using modulated illumination
JP2016090520A (ja) * 2014-11-10 2016-05-23 株式会社ミツトヨ 白色光干渉計光学ヘッドを用いた非接触表面形状測定方法及び装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019135667A1 (de) 2018-12-28 2020-07-02 Mitutoyo Corporation Bildaufnahmevorrichtung, Bildmessvorrichtung, berührungslose Verlagerungserfassungsvorrichtung und berührungslose Profilmessvorrichtung
JP2020106480A (ja) * 2018-12-28 2020-07-09 株式会社ミツトヨ 撮像装置、画像測定装置、非接触変位検出装置、および非接触形状測定装置
US11193757B2 (en) 2018-12-28 2021-12-07 Mitutoyo Corporation Image pick-up device, image measurement apparatus, non-contact displacement-detecting device and non-contact profile-measuring device
JP7390790B2 (ja) 2018-12-28 2023-12-04 株式会社ミツトヨ 画像測定装置および非接触形状測定装置
JP2021124429A (ja) * 2020-02-06 2021-08-30 株式会社東京精密 走査測定方法及び走査測定装置

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Publication number Publication date
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