JP2017102002A - 検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る検査装置を示す図である。電流測定器1内において、電圧源VCCの低圧側が接地端子2に接続され、高圧側が電圧出力端子3に接続されている。電流計4の一端が接地端子2に接続され、他端が電流入力端子5に接続されている。接地端子2はグラウンドに接続されている。
図2は、本発明の実施の形態2に係る検査装置を示す図である。本実施の形態ではシールドボックス16は被検査素子13及び検査治具6のみを覆って電流測定器1及び配線ケーブル14,15は覆わない。このようにシールドボックス16で覆う範囲を必要最小限とすることで、実施の形態1と同様に外乱の影響を抑えつつ、シールドボックス16のサイズを小さくすることができる。実施の形態1のように検査装置全体を覆うとシールドボックス16が大きくなり過ぎてしまう場合に本実施の形態が有効である。
図3は、本発明の実施の形態3に係る検査装置を示す図である。本実施の形態では、実施の形態2の配線ケーブル14,15の代わりに3軸のトライアキシャルケーブル17,18を用いる。トライアキシャルケーブル17,18の最外周のシールド線はシールドボックス16の筐体に接続されている。トライアキシャルケーブル17,18の内側のガード線は電流測定器1の接地端子2に接続されている。
図4は、本発明の実施の形態4に係る検査装置を示す図である。本実施の形態では、実施の形態3の電流検出側のコンタクトプローブピン12の代わりに2軸の同軸プローブ19を用いている。同軸プローブ19のガード線はトライアキシャルケーブル18のガード線を通して電流測定器1の接地端子2に接続されている。このように電流検出側の配線を被検査素子13の直近までガード線で遮蔽することで、更に確実に外乱の影響を抑えることができる。
図5は、本発明の実施の形態5に係る検査装置を示す図である。電圧印加側の配線経路であるトライアキシャルケーブル17の途中に、抵抗20,21とコンデンサ22からなるローパスフィルタ23が設けられている。また、ローパスフィルタ23はシールド線によりシールドされており、シールド線は電流測定器1の接地端子2に接続されている。ローパスフィルタ23により電圧源VCCから発生する高調波ノイズ(数百kHz)を除去することができる。
Claims (6)
- 電流測定器と、
被検査素子に電圧を印加する第1のコンタクトプローブピンと、前記被検査素子に流れる電流を検出する第2のコンタクトプローブピンとを有する検査治具と、
前記電流測定器と前記検査治具の前記第1のコンタクトプローブピンを接続する第1の配線ケーブルと、
前記電流測定器と前記検査治具の前記第2のコンタクトプローブピンを接続する第2の配線ケーブルと、
少なくとも前記被検査素子及び前記検査治具を覆って外部から全面遮蔽する金属製のシールドボックスとを備えることを特徴とする検査装置。 - 前記シールドボックスは前記電流測定器及び前記第1及び第2の配線ケーブルも覆って外部から全面遮蔽することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記シールドボックスは前記電流測定器及び前記第1及び第2の配線ケーブルは覆わないことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記第2の配線ケーブルはトライアキシャルケーブルであり、
前記トライアキシャルケーブルの最外周のシールド線と前記シールドボックスの筐体を接続し、
前記トライアキシャルケーブルのガード線は前記電流測定器の接地端子に接続されていることを特徴とする請求項3に記載の検査装置。 - 前記第2のコンタクトプローブピンは同軸プローブであり、
前記同軸プローブのガード線は前記トライアキシャルケーブルの前記ガード線を通して前記電流測定器の接地端子に接続されていることを特徴とする請求項4に記載の検査装置。 - 前記第1の配線ケーブルはローパスフィルタを有することを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の検査装置。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019244465A1 (ja) * | 2018-06-21 | 2019-12-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の信頼性評価装置および半導体素子の信頼性評価方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60165557A (ja) * | 1984-02-08 | 1985-08-28 | Rohm Co Ltd | C−v測定装置 |
| JPH0395645U (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-30 | ||
| JPH075197A (ja) * | 1993-03-30 | 1995-01-10 | Bekutoru Semiconductor:Kk | 電気的特性測定用プローブ装置 |
| JP2006229782A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Nec Corp | 同軸型lpf及びlpf内蔵同軸ケーブル |
| US20100148813A1 (en) * | 2006-07-18 | 2010-06-17 | Multiprobe, Inc. | Apparatus and method for combined micro-scale and nano-scale c-v, q-v, and i-v testing of semiconductor materials |
| JP2010210330A (ja) * | 2009-03-09 | 2010-09-24 | Espec Corp | 半導体試験装置および測定装置 |
-
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60165557A (ja) * | 1984-02-08 | 1985-08-28 | Rohm Co Ltd | C−v測定装置 |
| JPH0395645U (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-30 | ||
| JPH075197A (ja) * | 1993-03-30 | 1995-01-10 | Bekutoru Semiconductor:Kk | 電気的特性測定用プローブ装置 |
| JP2006229782A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Nec Corp | 同軸型lpf及びlpf内蔵同軸ケーブル |
| US20100148813A1 (en) * | 2006-07-18 | 2010-06-17 | Multiprobe, Inc. | Apparatus and method for combined micro-scale and nano-scale c-v, q-v, and i-v testing of semiconductor materials |
| JP2010210330A (ja) * | 2009-03-09 | 2010-09-24 | Espec Corp | 半導体試験装置および測定装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019244465A1 (ja) * | 2018-06-21 | 2019-12-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の信頼性評価装置および半導体素子の信頼性評価方法 |
| JPWO2019244465A1 (ja) * | 2018-06-21 | 2020-09-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の信頼性評価装置および半導体素子の信頼性評価方法 |
| CN112334783A (zh) * | 2018-06-21 | 2021-02-05 | 三菱电机株式会社 | 半导体元件的可靠性评价装置和半导体元件的可靠性评价方法 |
| JP2021063836A (ja) * | 2018-06-21 | 2021-04-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の信頼性評価装置および半導体素子の信頼性評価方法 |
| JP7090757B2 (ja) | 2018-06-21 | 2022-06-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の信頼性評価装置および半導体素子の信頼性評価方法 |
| US11808801B2 (en) | 2018-06-21 | 2023-11-07 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device reliability evaluation apparatus and semiconductor device reliability evaluation method |
| CN112334783B (zh) * | 2018-06-21 | 2024-03-22 | 三菱电机株式会社 | 半导体元件的可靠性评价装置和半导体元件的可靠性评价方法 |
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| JP6455413B2 (ja) | 2019-01-23 |
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