JP2017034018A - 加工装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】製造コスト及び作業工数を増加させることなく、板状ワークの不良チップにマーキングすると共に板状ワークを分割すること。
【解決手段】複数のチップが形成された板状ワーク(W)を分割予定ライン(64)に沿って個々のチップに分割する切削手段を備える加工装置であり、板状ワークに付されたコードシンボル(65)から不良チップの行列番号を含む不良チップ情報を読み取る読み取り手段(51)と、読み取り手段で読み取った不良チップ情報で示される不良チップをマーキングするマーキング手段(52)とを備える構成にした。
【選択図】図3
【解決手段】複数のチップが形成された板状ワーク(W)を分割予定ライン(64)に沿って個々のチップに分割する切削手段を備える加工装置であり、板状ワークに付されたコードシンボル(65)から不良チップの行列番号を含む不良チップ情報を読み取る読み取り手段(51)と、読み取り手段で読み取った不良チップ情報で示される不良チップをマーキングするマーキング手段(52)とを備える構成にした。
【選択図】図3
Description
本発明は、板状ワークを分割予定ラインに沿って個々のチップに分割する加工装置に関する。
通常、板状ワークを個々のチップに分割する前に、検査装置において板状ワークの各チップの良否が検査され、検査結果に基づいてマーキング装置において不良チップがマーキングされるシステムが知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載のシステムでは、検査装置によって板状ワークの外枠部分に検査結果が二次元コードで印刷され、マーキング装置によって二次元コードが読み込まれることで板状ワークの不良チップがマーキングされる。板状ワークが分割されると、マーキングされていない良品チップが取り出され、マーキングされた不良チップが廃棄される。
ところで、検査装置は、板状ワークの個々のチップに対する電気的特性を検査するため、接触子等にゴミが付着しないように清浄に保つ必要がある。一方で、マーキング装置は、インクジェットによって板状ワークの不良チップをマーキングするため、インクのゴミ等が生じ易くなっている。このため、特許文献1のシステムでは、マーキング時のゴミが検査に悪影響を与えないように検査装置とマーキング装置を個別に用意して、検査工程とマーキング工程を独立して実施しなければならなかった。よって、製造コストと共に作業工数が増加するという問題が生じていた。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、製造コスト及び作業工数を増加させることなく、板状ワークの不良チップにマーキングすると共に板状ワークを分割することができる加工装置を提供することを目的とする。
本発明の加工装置は、分割予定ラインで区画されて複数のチップが形成される板状ワークを該分割予定ラインに沿って分割する分割手段を備える加工装置であって、板状ワークには、不良チップの行列番号を有する不良チップ情報を読み取り可能なコードシンボルが付され、該コードシンボルから該不良チップ情報を読取る読取り手段と、該読取り手段で読取った不良チップ情報の不良チップをマーキングするマーキング手段と、を備えた。
この構成によれば、加工装置において板状ワークに付されたコードシンボルから不良チップ情報が読み取られ、加工装置によって不良チップ情報で示される板状ワークの不良チップがマーキングされる。よって、加工装置において不良チップに対するマーキングと板状ワークの分割が実施されるため、マーキング装置が不要になり、製造コスト及び作業工数を低減することができる。
本発明によれば、加工装置において板状ワークの不良チップにマーキングするようにしたことで、製造コスト及び作業工数を増加させることなく、板状ワークの不良チップにマーキングすると共に板状ワークを分割することができる。
以下、添付図面を参照して、本実施の形態について説明する。図1は、本実施の形態に係る加工装置の外観斜視図である。図2は、本実施の形態に係る板状ワークの上面図である。なお、以下の説明では、加工装置として切削装置を例示して説明するが、この構成に限定されない。例えば、加工装置は、レーザー加工装置等の他の加工装置であってもよい。図1においては、説明の便宜上、一部の部材については省略して記載しているが、切削装置が通常備える構成については備えているものとする。
図1に示すように、加工装置1は、検査装置(不図示)で不良チップが検査された板状ワークWをチャックテーブル25で保持し、切削ブレード42で分割予定ライン64に沿って切削して個々のチップに分割するように構成されている。図2に示すように、板状ワークWは、格子状のチップが並んだ長方形の基材61を矩形枠状の固定治具62に固定したものである。基材61の裏面にはテープTが貼着されており、テープTを介して固定治具62に支持されている。また、固定治具62の上面には、不良チップの行列番号を有する不良チップ情報を読み取り可能なコードシンボル65が付されている。
板状ワークWの基材61は、分割予定ライン64によって多数の領域に区画されており、個々の領域が板状ワークWの分割後のチップに対応している。なお、本実施の形態では、CSP(Chip Size Package)基板、QFN(Quad Flat Non-leaded package)基板等の長方形状のパッケージ基板を板状ワークWとして説明するが、円形のウエーハを板状ワークWとしてもよい。また、基材61を固定治具62に固定したものが板状ワークWとして加工装置1に搬入されたが、固定治具62に固定されていない基材61が板状ワークWとして加工装置1に搬入されてもよい。
図1に戻り、加工装置1の支持台10中央は、X方向に延在するように開口されており、この開口はチャックテーブル25と共に移動可能な移動板11及び蛇腹状の防水カバー12に覆われている。支持台10上には、このX軸方向に延びる開口を挟んで、板状ワークWが搬入されるエレベータ手段13と、加工済みの板状ワークWがスピンナー洗浄される洗浄手段14とが設けられている。また、支持台10の上方には、エレベータ手段13、チャックテーブル25、洗浄手段14の相互間で板状ワークWを搬送する1つ又は複数の搬送手段(不図示)が設けられている。
防水カバー12の下方には、チャックテーブル25をX軸方向に切削送りする切削送り手段20(図3B参照)が設けられている。切削送り手段20は、基台15上に配置されたX軸方向に平行な一対のガイドレール21と、一対のガイドレール21にスライド可能に設置されたモータ駆動のX軸テーブル22とを有している。X軸テーブル22の背面側には、図示しないナット部が形成され、このナット部にボールネジ23が螺合されている。ボールネジ23の一端部に連結された駆動モータ24が回転駆動されることで、チャックテーブル25が一対のガイドレール21に沿ってX軸方向に切削送りされる。
X軸テーブル22の上部には、板状ワークWを保持するチャックテーブル25がZ軸回りに回転可能に設けられている。チャックテーブル25は、個々のチップに対応した位置に複数の吸引口26が形成されており、複数の吸引口26によって保持面が形成されている。各吸引口26は、それぞれチャックテーブル25内の流路を通じて吸引源に接続されており、各吸引口26に生じる負圧によって板状ワークWが吸引保持される。また、支持台10の上面には、チャックテーブル25の移動経路であるX軸方向に延在する開口を跨ぐように門型の立壁部17が立設されている。
立壁部17には、一対の切削手段(分割手段)40をY軸方向にインデックス送りするインデックス送り手段30と、各切削手段40をZ軸方向に切込み送りする切り込み送り手段35とが設けられている。インデックス送り手段30は、立壁部17の前面に配置されたY軸方向に平行な一対のガイドレール31と、一対のガイドレール31にスライド可能に設置されたY軸テーブル32とを有している。切り込み送り手段35は、Y軸テーブル32上に配置されたZ軸方向に平行な一対のガイドレール36と、一対のガイドレール36にスライド可能に設置されたZ軸テーブル37とを有している。
各Z軸テーブル37の下部には、板状ワークWを切削する切削手段40が設けられている。Y軸テーブル32およびZ軸テーブル37の背面側には、それぞれナット部が形成され、これらナット部に、ボールネジ33、38が螺合されている。Y軸テーブル32用のボールネジ33、Z軸テーブル37用のボールネジ38の一端部には、それぞれ駆動モータ34、39が連結されている。駆動モータ34、39により、それぞれのボールネジ33、38が回転駆動されることで、切削手段40がガイドレール31に沿ってY軸方向に移動され、切削手段40がガイドレール36に沿ってZ軸方向に切込み送りされる。
切削手段40は、ハウジング41から突出したスピンドル(不図示)の先端に切削ブレード42を回転可能に装着して構成される。切削ブレード42は、例えば、ダイヤモンド砥粒をレジンボンドで固めて円板状に成形されている。また、切削手段40のハウジング41には、板状ワークWの上面を撮像する撮像手段43が設けられており、撮像手段43の撮像画像に基づいて板状ワークWに対して切削ブレード42がアライメントされる。切削手段40は、切削ノズル(不図示)から板状ワークWに切削水を噴射しながら、切削ブレード42で板状ワークWを切削する。
ところで、板状ワークWの固定治具62には、不良チップの位置情報を格納したコードシンボル65(図2参照)が付されているため、コードシンボル65を読み取ることで良品チップと不良品チップを選別可能である。しかしながら、例えば、オペレータが目視にてチップの良否を選別する場合には、固定治具62にコードシンボル65が付されていても、不良チップを特定することはできない。このため、通常は加工装置1に搬入される前に、マーキング装置で板状ワークWの不良チップがマーキングされるが、マーキング装置を用意しなければならずコストが増加するという問題がある。
そこで、本実施の形態では、加工装置1に読み取り手段51とマーキング手段52とを設けて、読み取り手段51で不良チップ情報を読み取り、マーキング手段52で不良チップ情報の不良チップをマーキングするようにしている。このような構成により、製造コスト及び作業工数を増加させることなく、マーキングと共に板状ワークWを分割することができる。特に、パッケージ基板のように分割後のチップが回収ボックスにバルク収容されても、良品チップと不良チップが混在した回収ボックスから、マークが付された不良チップだけを取り除くことが可能になっている。
以下、図3を参照して、読み取り手段及びマーキング手段について詳細に説明する。図3は、本実施の形態に係るマーキング手段の周辺模式図である。なお、図3Aはマーキング手段の周辺の上面模式図を示し、図3Bはマーキング手段の周辺の側面模式図を示している。なお、図3においては、説明の便宜上、移動板及び防水カバーを省略している。
図3A及び図3Bに示すように、支持台10(図1参照)上にはX軸方向に延びる開口を、Y軸方向に跨ぐ門型フレーム50が設けられている。門型フレーム50の前面には読み取り手段51が固定され、門型フレーム50の背面にはマーキング手段52がY軸方向に移動可能に取り付けられている。読み取り手段51は、いわゆる2次元コード用のコードリーダであり、板状ワークWのコードシンボル65を撮像して、シンボル画像から不良チップ情報を読み取るようにしている。読み取り手段51が読み取った不良チップ情報は、読み取り手段51に接続された制御手段55に出力される。
この場合、読み取り手段51は、固定治具62の角部に付されたコードシンボル65を真上から読み取ることができるように、門型フレーム50の一端部に固定されている。したがって、門型フレーム50の下方を板状ワークWが通過することで、読み取り手段51によってコードシンボル65から不良チップ情報が読み取られる。不良チップ情報には、板状ワークWの表面を格子状の分割予定ライン64で行方向と列方向に区画して、各区画を行方向の番号と列方向の番号で特定した行列番号が含まれている。不良チップの行列番号は、例えば、板状ワークWの行番号と列番号からなる座標で表される。
なお、本実施の形態では、コードシンボルとしてQRコード(登録商標)を例示して説明したが、この構成に限定されない。コードシンボルは、不良チップの行列番号が読み取り可能であればよく、Maxiコード(登録商標)、データマトリクス(登録商標)等の他の二次元コードでもよい。また、コードシンボルは、JANコード等のバーコードでもよい。さらに、制御手段55のメモリに不良チップの行列番号が格納されている場合には、コードシンボル65に直に不良チップの行列番号を含める代わりに、不良チップの行列番号が格納されたメモリ内のアドレス情報を含めてもよい。
マーキング手段52は、例えばインクジェット式の塗布装置であり、ノズルヘッド53からインクを吐出してチップの表面をマーキングするように構成されている。マーキング手段52は、門型フレーム50の背面に設けたリニアモータ式のスライダ54に固定されており、スライダ54によってY軸方向に移動される。マーキング手段52は、読み取り手段51で読み取られた不良チップ情報の行番号に基づいて、制御手段55によってY軸方向に移動制御される。マーキング手段52は、不良チップに位置合わせされた後に、不良チップに対して真上からインクを吐出する。
チャックテーブル25は、上記したように切削送り手段20によってX軸方向に移動するように構成されている。チャックテーブル25は、板状ワークWの切削時とは異なり、不良チップのマーキング時にはX軸方向に間欠的に移動される。チャックテーブル25は、読み取り手段51で読み取られた不良チップ情報の列番号に基づいて、制御手段55によってX軸方向に移動制御される。このように、チャックテーブル25によって不良チップを含むチップ列がマーキング手段52の真下に位置付けられ、スライダ54によってマーキング手段52がチップ列内の不良チップの真上に位置付けられる。
また、加工装置1には、装置各部を統括制御する制御手段55が設けられている。制御手段55は、各種処理を実行するプロセッサやメモリ等により構成される。メモリは、用途に応じてROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の一つ又は複数の記憶媒体で構成される。メモリには、不良チップ情報等のパラメータの他、マーキング処理用のプログラム等が記憶されている。このように構成された加工装置1では、読み取り手段51で読み取られた不良チップ情報に基づいて、チャックテーブル25とマーキング手段52が動かされて不良チップがマーキングされる。
以下、図4を参照して、加工装置によるマーキング動作について説明する。図4は、本実施の形態に係る加工装置によるマーキング動作の説明図である。図4A及び図4Cはマーキング動作を側方から見た図であり、図4B及び図4Dはマーキング動作を上方から見た図である。
図4A及び図4Bに示すように、検査後の板状ワークWがチャックテーブル25上に載置されると、門型フレーム50に向かってチャックテーブル25がX軸方向に移動される。チャックテーブル25の前端が門型フレーム50を通過すると、板状ワークWの矩形枠状の固定治具62の角部に付されたコードシンボル65が読み取り手段51の下方に移動する。読み取り手段51とコードシンボル65とがX軸方向で同軸上に位置付けられているため、読み取り手段51の読み取り範囲内にコードシンボル65が位置付けられる。読み取り手段51でコードシンボル65から不良チップ情報が読み取られ、不良チップ情報が制御手段55(図3参照)に出力される。
図4C及び図4Dに示すように、制御手段55では不良チップ情報に含まれる行番号及び列番号に基づいてスライダ54及びチャックテーブル25の移動が制御される。この場合、不良チップ情報の列番号によってチャックテーブル25がX軸方向に移動され、不良チップを含むチップ列が門型フレーム50の手前のマーキング手段52によるマーキング領域Aに位置付けられる。続いて、不良チップ情報の行番号によってスライダ54がY軸方向に移動され、チップ列に含まれる不良チップの真上にマーキング手段52が位置付けられる。
具体的には、図4Dに示す例では、板状ワークWの不良チップが存在する11列目のチップ列がマーキング手段52によるマーキング領域Aに位置付けられる。続いて、11列目の3行目に不良チップが存在するため、スライダ54によって11列目の3行目にマーキング手段52が位置付けられる。マーキング手段52が不良チップの真上に位置付けられると、ノズルヘッド53から不良チップの表面に向けてインクの液滴が吐出される。これにより、板状ワークW上の不良チップにインクの液滴が付着して、不良チップが丸印でマーキングされる。
このように、チャックテーブル25及びスライダ54の移動とマーキング手段52の吐出動作が繰り返されることで板状ワークW上の全ての不良チップがマーキングされる。マーキング後の板状ワークWは、一対の切削手段40(図1参照)の下方まで移動されて、分割予定ライン64に沿って切削されて個々のチップに分割される。分割後の不良チップにはインクでマーキングされているため、オペレータが目視にて不良チップを選別することが可能になっている。
また、チャックテーブル25の移動経路の上方の門型フレーム50に読み取り手段51及びマーキング手段52が配置されている。すなわち、単に加工装置1にマーキング装置の構成を搭載したのではなく、チャックテーブル25をX軸方向に切削送りする切削送り手段20を板状ワークWのチップ列の位置合わせに利用している。このように、加工装置1は、板状ワークWの分割に使用するチャックテーブル25上で板状ワークWをマーキングすることで、装置のコンパクト化を実現している。
以上のように、本実施の形態に係る加工装置1によれば、板状ワークWに付されたコードシンボル65から不良チップ情報が読み取られ、加工装置1によって不良チップ情報で示される不良チップがマーキングされる。よって、加工装置において不良チップに対するマーキングと板状ワークの分割が実施されるため、マーキング装置が不要になり、製造コスト及び作業工数を低減することができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
例えば、上記した本実施の形態においては、マーキング手段52としてのインクジェット式の塗布装置で板状ワークWの不良チップをマーキングする構成にしたが、この構成に限定されない。マーキング手段52は、不良チップ情報の不良チップをマーキング可能であればよく、インクによってマーキングする構成に限定されない。マーキング手段52は、加工装置1において板状ワークWを分割予定ライン64に沿って分割する分割手段で構成されてもよい。
例えば、本実施の形態では、図5Aに示すように、分割手段として切削手段40を備えた加工装置1では、切削ブレード42によって不良チップの表面を切削加工することでマーキングしてもよい。また、図5Bに示すように、分割手段としてレーザー加工手段(分割手段)70を備えた加工装置1では、レーザー加工手段70によって不良チップの表面をアブレーション加工することでマーキングしてもよい。このように、マーキング手段52として分割手段を用いることで加工装置1の装置構成をさらに簡略化することができ、コストを低減することが可能になっている。
また、上記した本実施の形態においては、マーキング手段52がスライダ54によってY軸方向に移動可能に構成されたが、この構成に限定されない。マーキング手段52は、門型フレーム50に沿ってY軸方向に吐出口を並べたライン状の塗布装置で構成されてもよい。
また、上記した本実施の形態においては、板状ワークWに対するマーキング後に分割する構成にしたが、この構成に限定されない。板状ワークWの分割後に各チップにマーキングしてもよいし、板状ワークWの分割とマーキングを同時に実施してもよい。
また、上記した本実施の形態においては、読み取り手段51を門型フレーム50に固定する構成にしたが、この構成に限定されない。読み取り手段51は、門型フレーム50に対してY軸方向に移動可能に取り付けられてもよい。この場合、板状ワークWに付されたコードシンボル65の位置が特に限定されない。
また、上記した本実施の形態において、読み取り手段51がコードシンボル65を撮像することで不良チップ情報を読み取る構成にしたが、この構成に限定されない。読み取り手段51は、コードシンボル65から不良チップ情報を読み取り可能であればよく、レーザー式のコードリーダでもよい。
また、上記した本実施の形態において、単一のコードシンボル65から不良チップ情報を読み取る構成にしたが、この構成に限定されない。分割QRコード等の複数のコードシンボルから不良チップ情報を読み取る構成にしてもよい。
また、上記した本実施の形態において、コードシンボル65は板状ワークWに付されていればよく、コードシンボル65は、印刷に限らず、シールによって板状ワークWに付されていてもよい。
また、上記した本実施の形態において、チップに付されたマーキングの色やマーキングの形状は特に限定されない。
以上説明したように、本発明は、製造コスト及び作業工数を増加させることなく、マーキングと共に板状ワークを分割することができるという効果を有し、特に、切削装置やレーザー加工装置等の加工装置に有用である。
1 加工装置
40 切削手段(分割手段)
42 切削ブレード
50 門型フレーム
51 読み取り手段
52 マーキング手段
55 制御手段
64 分割予定ライン
65 コードシンボル
70 レーザー加工手段(分割手段)
W 板状ワーク
40 切削手段(分割手段)
42 切削ブレード
50 門型フレーム
51 読み取り手段
52 マーキング手段
55 制御手段
64 分割予定ライン
65 コードシンボル
70 レーザー加工手段(分割手段)
W 板状ワーク
Claims (1)
- 分割予定ラインで区画されて複数のチップが形成される板状ワークを該分割予定ラインに沿って分割する分割手段を備える加工装置であって、
板状ワークには、不良チップの行列番号を有する不良チップ情報を読み取り可能なコードシンボルが付され、
該コードシンボルから該不良チップ情報を読取る読取り手段と、
該読取り手段で読取った不良チップ情報の不良チップをマーキングするマーキング手段と、を備えた加工装置。
Priority Applications (1)
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JP2015150489A JP2017034018A (ja) | 2015-07-30 | 2015-07-30 | 加工装置 |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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2015
- 2015-07-30 JP JP2015150489A patent/JP2017034018A/ja active Pending
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