JP2017020886A - 物理量センサー、物理量センサー装置、電子機器および移動体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】物理量センサー1は、ベース基板2と、ベース基板2に接合された素子片4と、を有する。また、素子片4は、ベース基板2に固定されている固定部481、491と、固定部481に支持された第1固定電極指483と、固定部491に支持された第2固定電極指493と、固定部481、491の間に位置し、ベース基板2に固定された固定部41と、固定部41に対して変位可能な可動部42と、固定部41と可動部42とを連結する弾性部43と、可動部42に支持され、第1固定電極指483と対向して配置されている第1可動電極指423と、可動部42に支持され、第2固定電極指493と対向して配置されている第2可動電極指424と、を有する。
【選択図】図1
Description
本適用例の物理量センサーは、基板と、
前記基板に配置されている素子片と、を有し、
前記素子片は、
前記基板に固定されている第1固定部と、
前記基板に固定されている第2固定部と、
前記第1固定部に支持され、前記第1固定部に対して前記第2固定部と反対側に位置している第1固定電極指と、
前記第2固定部に支持され、前記第2固定部に対して前記第1固定部と反対側に位置している第2固定電極指と、
前記第1固定部および前記第2固定部の間に位置し、前記基板に固定されている第3固定部と、
前記第3固定部に対して変位可能な可動部と、
前記第3固定部に前記可動部を変位可能に連結し、少なくとも一部が前記第1固定電極指と前記第2固定電極指との間に位置する弾性部と、
前記可動部に支持され、前記第1固定電極指と対向して配置されている第1可動電極指と、
前記可動部に支持され、前記第2固定電極指と対向して配置されている第2可動電極指と、を有することを特徴とする。
これにより、第1固定部、第2固定部および第3固定部を互いに近接して配置することが可能となり、熱膨張による基板の反りの影響を受け難くなるため、物理量の検知精度に優れる物理量センサーとなる。
本適用例の物理量センサーでは、前記第1固定部、前記第2固定部および前記第3固定部は、前記可動部の振動方向に沿って配置されていることが好ましい。
これにより、可動部に回転モーメントが作用することを低減することができる。
本適用例の物理量センサーでは、前記可動部は、枠状をなしており、
前記可動部の内側に、前記第1固定部、前記第2固定部および前記第3固定部が配置されていることが好ましい。
これにより、物理量センサーの小型化を図ることができる。
本適用例の物理量センサーでは、前記可動部は、前記第1固定電極指と対向配置されている第1対向部と、前記第2固定電極指と対向配置されている第2対向部と、を有していることが好ましい。
これにより、第1対向部を第1可動電極指として利用でき、第2対向部を第2可動電極指として利用することができる。
本適用例の物理量センサーでは、前記第1対向部は、前記第1可動電極指よりも幅が大きく、
前記第2対向部は、前記第2可動電極指よりも幅が大きいことが好ましい。
これにより、可動部の機械的強度が向上する。
本適用例の物理量センサーでは、前記可動部は、前記弾性部と前記第1固定電極指との間に位置する第1部分と、前記弾性部と前記第2固定電極指との間に位置する第2部分と、を有していることが好ましい。
これにより、可動部の外形を大きくすることなく、可動部の質量を大きくすることができる。
本適用例の物理量センサー装置は、上記適用例の物理量センサーと、
前記物理量センサーと電気的に接続されている電子部品と、を有することを特徴とする。
これにより、信頼性の高い物理量センサー装置が得られる。
本適用例の電子機器は、上記適用例の物理量センサーを有することを特徴とする。
これにより、信頼性の高い電子機器が得られる。
本適用例の移動体は、上記適用例の物理量センサーを有することを特徴とする。
これにより、信頼性の高い移動体が得られる。
図1は、本発明の第1実施形態に係る物理量センサーの平面図である。図2は、図1中のA−A線断面図である。図3は、素子片とベース基板の接合状態を示す断面図である。図4は、素子片を示す部分拡大平面図である。図5は、素子片が有する弾性部を示す部分拡大平面図である。図6は、素子片とベース基板の接合状態を示す断面図である。図7は、ベース基板が有する凹部内の配線を示す平面図である。
[ベース基板]
ベース基板2は、その上面に開口する凹部21を有している。この凹部21は、素子片4とベース基板2との接触を防止するための逃げ部として機能する。また、ベース基板2は、図3に示すように、凹部21の底面から突出し、素子片4との接合面を有する突起291、292、293を有している。また、ベース基板2は、その上面に開口し、凹部21に接続された凹部211、212、213を有している。凹部211には配線711および端子712が形成され、凹部212には配線721および端子722が形成され、凹部213には配線731および端子732が形成されている。また、各端子712、722、732は、蓋体3から露出するように配置されており、外部(例えば後述するICチップ102)との電気的な接続が可能となっている。
素子片4は、ベース基板2に接合されている。この素子片4は、ベース基板2に対して変位可能な部分を有する第1構造体4Aと、ベース基板2に対して位置が固定されている第2構造体4Bと、を有している。このような素子片4は、例えば、リン、ボロン等の不純物がドープされたシリコン基板から形成されている。具体的には、例えば、ベース基板2の上面に予め不純物がドープされたシリコン基板を陽極接合によって接合し、次に、必要に応じてシリコン基板をCMP(Chemical Mechanical Polishing)等によって薄肉化し、次に、シリコン基板をフォトリソグラフィー技法およびエッチング技法を用いてパターニングすることで、素子片4を形成することができる。ただし、素子片4の構成材料としては、シリコンに限定されず、その他の半導体等を用いることができる。
蓋体3は、図2に示すように、下面に開口する凹部31を有しており、この凹部31が凹部21とで内部空間Sを形成するように、ベース基板2に接合されている。このような蓋体3は、本実施形態では、シリコン基板で形成されている。これにより、蓋体3とベース基板2とを陽極接合によって接合することができる。なお、蓋体3をベース基板2に接合しただけの状態では、ベース基板2に形成されている凹部211、212、213を介して内部空間Sの内外が連通されている。そのため、本実施形態では、TEOS(テトラエトキシシラン)を用いたCVD法等で形成されたSiO2膜8によって凹部211、212、213を塞いで、内部空間Sを気密封止している。
次に、本発明の第2実施形態に係る物理量センサー装置について説明する。
図8に示す物理量センサー装置100は、基板101と、接着層103を介して基板101の上面に固定された物理量センサー1と、接着層104を介して物理量センサー1の上面に固定されたICチップ(電子部品)102と、を有している。そして、物理量センサー1およびICチップ102が基板101の下面を露出させた状態で、モールド材Mによってモールドされている。なお、接着層103、104としては、例えば、半田、銀ペースト、樹脂系接着剤(ダイアタッチ剤)等を用いることができる。また、モールド材Mとしては、例えば、熱硬化型のエポキシ樹脂を用いることができ、例えば、トランスファーモールド法によってモールドすることができる。
次に、本発明の第3実施形態に係る電子機器について説明する。
次に、本発明の第4実施形態に係る移動体について説明する。
図12に示すように、自動車1500には物理量センサー1が内蔵されており、例えば、物理量センサー1によって車体1501の姿勢を検出することができる。物理量センサー1の検出信号は、車体姿勢制御装置1502に供給され、車体姿勢制御装置1502は、その信号に基づいて車体1501の姿勢を検出し、検出結果に応じてサスペンションの硬軟を制御したり、個々の車輪1503のブレーキを制御したりすることができる。また、物理量センサー1は、他にもキーレスエントリー、イモビライザー、カーナビゲーションシステム、カーエアコン、アンチロックブレーキシステム(ABS)、エアバック、タイヤ・プレッシャー・モニタリング・システム(TPMS:Tire Pressure Monitoring System)、エンジンコントロール、ハイブリッド自動車や電気自動車の電池モニター等の電子制御ユニット(ECU:electronic control unit)に広く適用できる。
Claims (9)
- 基板と、
前記基板に配置されている素子片と、を有し、
前記素子片は、
前記基板に固定されている第1固定部と、
前記基板に固定されている第2固定部と、
前記第1固定部に支持され、前記第1固定部に対して前記第2固定部と反対側に位置している第1固定電極指と、
前記第2固定部に支持され、前記第2固定部に対して前記第1固定部と反対側に位置している第2固定電極指と、
前記第1固定部および前記第2固定部の間に位置し、前記基板に固定されている第3固定部と、
前記第3固定部に対して変位可能な可動部と、
前記第3固定部に前記可動部を変位可能に連結し、少なくとも一部が前記第1固定電極指と前記第2固定電極指との間に位置する弾性部と、
前記可動部に支持され、前記第1固定電極指と対向して配置されている第1可動電極指と、
前記可動部に支持され、前記第2固定電極指と対向して配置されている第2可動電極指と、を有することを特徴とする物理量センサー。 - 前記第1固定部、前記第2固定部および前記第3固定部は、前記可動部の振動方向に沿って配置されている請求項1に記載の物理量センサー。
- 前記可動部は、枠状をなしており、
前記可動部の内側に、前記第1固定部、前記第2固定部および前記第3固定部が配置されている請求項2に記載の物理量センサー。 - 前記可動部は、前記第1固定電極指と対向配置されている第1対向部と、前記第2固定電極指と対向配置されている第2対向部と、を有している請求項3に記載の物理量センサー。
- 前記第1対向部は、前記第1可動電極指よりも幅が大きく、
前記第2対向部は、前記第2可動電極指よりも幅が大きい請求項4に記載の物理量センサー。 - 前記可動部は、前記弾性部と前記第1固定電極指との間に位置する第1部分と、前記弾性部と前記第2固定電極指との間に位置する第2部分と、を有している請求項1ないし5のいずれか1項に記載の物理量センサー。
- 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の物理量センサーと、
前記物理量センサーと電気的に接続されている電子部品と、を有することを特徴とする物理量センサー装置。 - 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の物理量センサーを有することを特徴とする電子機器。
- 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の物理量センサーを有することを特徴とする移動体。
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Cited By (3)
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CN108663539A (zh) * | 2017-03-27 | 2018-10-16 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、电子设备、便携式电子设备及移动体 |
CN109425756A (zh) * | 2017-08-25 | 2019-03-05 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、物理量传感器装置、电子设备以及移动体 |
WO2019087457A1 (ja) | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 日本特殊陶業株式会社 | 流体加熱用のセラミックヒータ |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6150056B2 (ja) * | 2013-07-24 | 2017-06-21 | セイコーエプソン株式会社 | 機能素子、電子機器、および移動体 |
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JP2019060675A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、物理量センサー装置、電子機器、および移動体 |
JP2020101484A (ja) * | 2018-12-25 | 2020-07-02 | セイコーエプソン株式会社 | 慣性センサー、電子機器および移動体 |
JP7225817B2 (ja) * | 2019-01-17 | 2023-02-21 | セイコーエプソン株式会社 | 角速度センサー、慣性計測装置、電子機器および移動体 |
JP7090249B2 (ja) * | 2019-06-06 | 2022-06-24 | 国立大学法人 東京大学 | 静電型デバイスを製造する製造方法 |
JP2022071486A (ja) * | 2020-10-28 | 2022-05-16 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー及び慣性計測装置 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19639946B4 (de) | 1996-09-27 | 2006-09-21 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauelement |
CN2424450Y (zh) * | 2000-06-02 | 2001-03-21 | 中国科学院上海冶金研究所 | 微机械梳状电容式加速度传感器 |
JP2002082127A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 静電容量型加速度センサ、静電容量型角加速度センサおよび静電アクチュエータ |
EP1626283B1 (en) | 2004-08-13 | 2011-03-23 | STMicroelectronics Srl | Micro-electromechanical structure, in particular accelerometer, with improved insensitivity to thermomechanical stresses |
EP2246706B1 (en) * | 2008-02-07 | 2013-01-09 | Alps Electric Co., Ltd. | Physical quantity sensor |
DE102008001863A1 (de) * | 2008-05-19 | 2009-11-26 | Robert Bosch Gmbh | Beschleunigungssensor mit umgreifender seismischer Masse |
US8056415B2 (en) * | 2008-05-30 | 2011-11-15 | Freescale Semiconductor, Inc. | Semiconductor device with reduced sensitivity to package stress |
JP5314979B2 (ja) | 2008-09-22 | 2013-10-16 | アルプス電気株式会社 | Memsセンサ |
US8207586B2 (en) * | 2008-09-22 | 2012-06-26 | Alps Electric Co., Ltd. | Substrate bonded MEMS sensor |
JP5237733B2 (ja) | 2008-09-22 | 2013-07-17 | アルプス電気株式会社 | Memsセンサ |
US8138007B2 (en) * | 2009-08-26 | 2012-03-20 | Freescale Semiconductor, Inc. | MEMS device with stress isolation and method of fabrication |
DE102009045391A1 (de) * | 2009-10-06 | 2011-04-07 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische Struktur und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur |
US9021880B2 (en) * | 2010-04-30 | 2015-05-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Micromachined piezoelectric three-axis gyroscope and stacked lateral overlap transducer (slot) based three-axis accelerometer |
JP5750867B2 (ja) * | 2010-11-04 | 2015-07-22 | セイコーエプソン株式会社 | 機能素子、機能素子の製造方法、物理量センサーおよび電子機器 |
JP2013015478A (ja) * | 2011-07-06 | 2013-01-24 | Seiko Epson Corp | 物理量センサー及び電子機器 |
DE102011083487B4 (de) * | 2011-09-27 | 2023-12-21 | Robert Bosch Gmbh | Beschleunigungssensor und Verfahren zum Betrieb eines Beschleunigungssensors |
US9062972B2 (en) * | 2012-01-31 | 2015-06-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | MEMS multi-axis accelerometer electrode structure |
JP5962900B2 (ja) | 2012-04-02 | 2016-08-03 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサーおよび電子機器 |
JP5880877B2 (ja) * | 2012-05-15 | 2016-03-09 | 株式会社デンソー | センサ装置 |
JP5772873B2 (ja) * | 2012-06-13 | 2015-09-02 | 株式会社デンソー | 静電容量式物理量センサ |
JP5900398B2 (ja) * | 2013-03-27 | 2016-04-06 | 株式会社デンソー | 加速度センサ |
-
2015
- 2015-07-10 JP JP2015138475A patent/JP6575187B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108663539A (zh) * | 2017-03-27 | 2018-10-16 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、电子设备、便携式电子设备及移动体 |
CN108663539B (zh) * | 2017-03-27 | 2021-12-21 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、电子设备、便携式电子设备及移动体 |
CN109425756A (zh) * | 2017-08-25 | 2019-03-05 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、物理量传感器装置、电子设备以及移动体 |
CN109425756B (zh) * | 2017-08-25 | 2022-08-09 | 精工爱普生株式会社 | 物理量传感器、物理量传感器装置、电子设备以及移动体 |
WO2019087457A1 (ja) | 2017-10-31 | 2019-05-09 | 日本特殊陶業株式会社 | 流体加熱用のセラミックヒータ |
CN111279791A (zh) * | 2017-10-31 | 2020-06-12 | 日本特殊陶业株式会社 | 流体加热用的陶瓷加热器 |
KR20200081378A (ko) | 2017-10-31 | 2020-07-07 | 니혼도꾸슈도교 가부시키가이샤 | 유체 가열용의 세라믹 히터 |
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