JP2017011137A - 加圧加熱冷却装置及びフリップチップ実装装置並びにフリップチップ実装方法及び半導体装置 - Google Patents

加圧加熱冷却装置及びフリップチップ実装装置並びにフリップチップ実装方法及び半導体装置 Download PDF

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Abstract

【課題】冷却の際の熱収縮による接合への影響を最小限とした加圧加熱冷却装置及びフリップチップ実装方法及び半導体装置の提供。【解決手段】第1位置決め移動手段10と、上下方向に位置決め移動される移動部20と、第2固定部31及び第2可動部32を備える第2位置決め移動手段30と、上下方向に位置決め移動されるヘッド部40と、ヘッド部の下端位置の基準となる下死点規定部材21と、第3固定部51及び第3可動部52を備える第3位置決め移動手段50と、部品を下面に保持するツール42と、ツールを支持する支持部41と、ツールを冷却する冷却手段44と、ツールを加熱する加熱部43と、を具備する。第3位置決め移動手段50の第3固定部51は、第3位置決め移動手段50によりツール42に当接又は離間するように移動自在であり、第2位置決め移動手段30は、ヘッド部40を下死点規定部材21に対して所定加重で下方向に向かって当接する。【選択図】図1

Description

本発明は、例えば、フリップチップ実装を行うためのフリップチップ実装装置のヘッド部に適用して好適な加圧加熱冷却装置及びフリップチップ実装装置並びにフリップチップ実装方法及び該実装方法により製造された半導体装置に関する。
半導体の組み立てには LSI端子配列がPeripheral配置の場合 主に金線を用いたワイヤーボンディング(以下、WB実装),Area配置においてはC4(Controlled Collapse Chip Connection)に代表されるフリップチップ実装(以下、FC実装)が用いられている。
しかし、近年の高速信号化で信号波形の乱れやすいWB実装ではLSIの性能に支障をきたす場合もあり、FC実装化の要求が高まっている。
C4実装では、Area端子配置でピッチが130μm以上でないと適用できないことからピッチ100μm以下の端子を持つLSIの実装にはカメラによる位置合わせ・加圧・加熱・冷却機能を併せ持つフリップチップ実装機(以下、FC−Bonder)を用いた半田、金−Snなどの接合を行うFC実装が行われている(特許文献1、図6参照)。
しかしながら、C4で用いるマウンター及びリフロー炉の機能を併せ持つFC−Bonderは高価であることから、高い生産性が求められている。従って、急速な加熱・冷却による所要時間の短縮が必要である。
上記の対策として、加圧前においては ヒーターのホルダーに凹部を設け、ホルダーへの熱の逃げを防ぎ加熱時間の短縮を図る提案がされている(特許文献1、図1〜4参照)。
また、High−K材,Low−K材など複合素材化しつつあるLSIにダメージを与えないことの重要性が高まりつつある。
特開平11−135573号公報
しかしながら、従来のFC−Bonderのヘッド構造(ヒーター+ツール一体型:特許文献1、図6参照)では 冷却時にヒーターとツールを冷却することで LSIを介して接合部の半田や接着剤を冷却することから、冷却時間が長くなると同時に、次回の加熱時にはヒーターは冷却状態から加熱をする必要があり、処理時間の短縮が難しい状況であった。
また、加熱後、冷却する際に、ツールやセラミックブロック体が熱収縮することにより接合ギャップが大きくなり、接合部に引張り応力がかかり、場合によっては、はんだ接合部が破壊されるという問題があった。
本発明はこのような事情に鑑み、加熱・冷却サイクルを短縮でき、冷却の際の熱収縮による接合品質への影響を最小限とした加圧加熱冷却装置及びフリップチップ実装装置並びにフリップチップ実装方法及び該実装方法により製造された半導体装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決する本発明の態様は、第1固定部及び第1可動部を備える第1位置決め移動手段と、前記第1位置決め移動手段の前記第1可動部に設けられて上下方向に位置決め移動される移動部と、前記移動部に設けられ、第2固定部及び第2可動部を備える第2位置決め移動手段と、前記第2位置決め移動手段の前記第2可動部に設けられ、上下方向に位置決め移動されるヘッド部と、前記第2位置決め移動手段の前記第2固定部に設けられ、前記ヘッド部の下端位置の基準となる下死点規定部材と、前記ヘッド部に設けられ、第3固定部及び第3可動部を備える第3位置決め移動手段と、前記ヘッド部に設けられ、部品を下面に保持するツールと、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを支持する支持部と、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを冷却する冷却手段と、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを加熱する加熱部と、を具備し、前記第3位置決め移動手段の前記第3固定部は、前記支持部に固定され、前記加熱部は、前記第3可動部に固定され、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接又は離間するように移動自在であり、前記第2位置決め移動手段は、前記ヘッド部を前記下死点規定部材に対して所定加重で下方向に向かって当接するように設定可能である、ことを特徴とする加圧加熱冷却装置にある。
かかる態様では、ヘッド部は第2位置決め移動手段により下死点規定部材に対して所定荷重で当接し支持され且つ下死点規定部材への当接位置より下方への移動が規制され、この状態で加熱部でのツールの加熱を行うことができ、部品の下方のギャップを変化させることなく、部品の加圧加熱冷却を行うことができる。また、加熱後、冷却時には加熱部をツールから離間させることができるので、冷却を促進することができ、且つ加熱部は予熱状態で待機させることができる。
本発明の第2の態様は、前記第2位置決め移動手段は、ボイスコイルモーター又はアクチュエータであることを特徴とする第1の態様の加圧加熱冷却装置にある。
かかる態様では、ヘッド部を下死点規定部材に対して所定荷重で当接し支持する状態を比較的容易に実現することができる。
本発明の第3の態様は、前記第3位置決め移動手段は、ボイスコイルモーター又はアクチュエータであることを特徴とする第1又は2の態様の加圧加熱冷却装置にある。
かかる態様では、加熱部のツールへの当接又は離間を省スペースで比較的容易に実現することができる。
本発明の第4の態様は、前記冷却手段は、気体噴射による冷却装置であることを特徴とする第1〜3の何れかの態様の加圧加熱冷却装置にある。
かかる態様では、スペースを取らずにツールの冷却を行うことができる。
本発明の第5の態様は、前記ヘッド部の下端部に前記ツールが固定され、前記ヘッド部の前記下死点規定部材との当接面は前記ツールの下面と略面一であることを特徴とする第1〜4の何れかの態様の加圧加熱冷却装置にある。
かかる態様では、ヘッド部の下方への移動位置を規定する下死点規定部材より下方には部品のみとなるので、ツール及び支持部の熱膨張収縮による部品の下方への移動は可支部規定部材により規制されるので、ツール及び支持部の熱膨張収縮により部品が移動するのを防止することができる。
本発明の第6の態様は、第1〜5の何れかの態様の加圧加熱冷却装置を具備することを特徴とするフリップチップ実装装置にある。
かかる態様では、ヘッド部は第2位置決め移動手段により下死点規定部材に対して所定荷重で当接されたフロート状態で支持され且つ下死点規定部材への当接位置より下方への移動が規制され、この状態で加熱部でのツールの加熱を行うことができ、部品の下方のギャップを変化させることなく、部品の加圧加熱冷却を行い、フリップチップ実装を行うことができる装置が実現できる。また、加熱後、冷却時には加熱部をツールから離間させることができるので、冷却を促進することができ、且つ加熱部は予熱状態で待機させることができるので、実装サイクルの短縮を図ることができる。
本発明の第7の態様は、第1固定部及び第1可動部を備える第1位置決め移動手段と、前記第1位置決め移動手段の前記第1可動部に設けられて上下方向に位置決め移動される移動部と、前記移動部に設けられ、第2固定部及び第2可動部を備える第2位置決め移動手段と、前記第2位置決め移動手段の前記第2可動部に設けられ、上下方向に位置決め移動されるヘッド部と、前記第2位置決め移動手段の前記第2固定部に設けられ、前記ヘッド部の下端位置の基準となる下死点規定部材と、前記ヘッド部に設けられ、第3固定部及び第3可動部を備える第3位置決め移動手段と、前記ヘッド部に設けられ、部品を下面に保持するツールと、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを支持する支持部と、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを冷却する冷却手段と、前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを加熱する加熱部と、を具備し、前記第3位置決め移動手段の前記第3固定部は、前記支持部に固定され、前記加熱部は、前記第3可動部に固定され、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接又は離間するように移動自在であり、前記第2位置決め移動手段は、前記ヘッド部を前記下死点規定部材に対して所定加重で下方向に向かって当接するように設定可能である、フリップチップ実装装置を用い、実装基板に実装する実装部品を前記ツールに保持する保持工程と、前記第2位置決め移動手段により前記ヘッド部を前記下死点規定部材に所定荷重で下方に向かって当接された状態に設定する当接工程と、前記第1位置決め移動手段で前記移動部を前記下死点規定部材が所定の位置となるまで下降させ、前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とをバンプを介して当接させ且つ前記ヘッド部が前記下死点規定部材から上方に所定距離だけ離間して状態とする下降工程と、前記下降工程の後、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接させた状態の前記加熱部により前記実装部品を加熱する加熱工程と、前記加熱工程により前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とをバンプが溶融して前記ヘッド部が前記下死点規定部材に当接した状態となる溶融工程と、前記溶融工程の後、前記第3位置決め移動手段により前記加熱部を前記ツールから離間すると共に前記冷却手段により前記実装部品を冷却する冷却工程と、前記冷却工程の後、前記ツールによる前記実装部品の保持を解除すると共に前記第1位置決め移動手段により前記移動部を上昇させて前記ヘッド部を前記実装部品を実装した実装基板から離間させる上昇工程と、を実施することを特徴とするフリップチップ実装方法にある。
かかる態様では、ヘッド部を第2位置決め移動手段により下死点規定部材に対して所定荷重で当接された状態で支持し且つ下死点規定部材への当接位置より下方への移動を規制した状態で、実装基板の端子と実装部品の端子とをバンプを介して当接させ、ヘッド部は下死点規定部材から上方に所定距離だけ離間した状態とし、第3位置決め移動手段によりツールに当接させた状態の加熱部により実装部品を加熱することにより、実装基板の端子と実装部品の端子との間のバンプが溶融し、ヘッド部が下降するが、下死点規定部材に当接した位置で停止し、所定のギャップが維持されて実装することができる。また、加熱後、加熱部を離間した状態で冷却できるので、実装サイクルの冷却時間を短縮することができ、また、加熱部は予熱状態で待機させることができる。
本発明の第8の態様は、前記下降工程が、前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とが前記バンプを介して当接するまで前記移動部を下降させる第1下降工程と、前記第1下降工程の後、前記ヘッド部が前記下死点規定部材に当接した状態において、前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とのギャップが所定の大きさになるように前記下死点規定部材の位置が所定位置になるまで前記移動部を下降させる第2下降工程と、からなることを特徴とする第7の態様のフリップチップ実装方法にある。
かかる態様では、実装基板の端子と実装部品の端子とがバンプを介して当接するまで移動部を下降させた後、精密に移動させてギャップの調整を行うことにより、下降工程の時間を短縮することができる。
本発明の第9の態様は、前記加熱工程より前に、前記第3位置決め移動手段により前記加熱部を前記ツールに当接させて予備加熱する予備加熱工程を実施する、ことを特徴とする第7又は8の態様のフリップチップ実装方法にある。
かかる態様では、予備加熱工程を実行することにより、実装サイクルの短縮を行うことができる。
本発明の第10の態様は、前記バンプは、前記実装基板の端子に設けられたはんだバンプであることを特徴とする第7〜9の何れかの態様のフリップチップ実装方法にある。
かかる態様では、はんだバンプを有する実装基板に実装部品を実装することができる。
本発明の第11の態様は、第7〜10の何れかの態様のフリップチップ実装方法により製造されたことを特徴とする半導体装置にある。
一実施形態の加圧加熱冷却装置を備えたフリップチップ実装装置を模式的に示す図。 フリップチップ実装装置の動作を示す要部拡大図。 フリップチップ実装装置の動作を示す要部拡大図。 フリップチップ実装装置の動作を示す要部拡大図。 フリップチップ実装装置の動作を示す要部拡大図。 ツール温度、ツール位置、及び荷重の状態を示すタイミングチャート。
図1は、一実施形態の加圧加熱冷却装置を備えたフリップチップ実装装置を模式的に示す図である。図1に示すように、例えば、ボールネジ移動機構を用いた第1位置決め移動手段10を具備し、第1位置決め移動手段10は、第1固定部11と第1可動部12とを具備し、モーター13によりボールネジである第1固定部11を回転駆動することにより、ナット部である第1可動部12が、第1固定部11に対して上下方向に位置決め移動自在となっている。
第1可動部12には、移動部20が固定され、移動部20は第1可動部12と共に上下方向に位置決め移動自在となっている。
移動部20は、例えば、ボイスコイルモーター(以下、VCMという)を用いた第2位置決め移動手段30を具備し、第2位置決め移動手段30は、第1可動部12に固定された第2固定部31と、第2固定部31に対して上下方向に位置決め移動自在となる第2可動部32とを具備する。ここで、第2固定部31には、詳細は後述するが、第2可動部32の最下端移動位置を規定する下死点規定部材21が設けられている。
第2可動部32の下端には、ヘッド部40が設けられている。ヘッド部40は、第2可動部32に固定された支持部41と、支持部41の下端部に支持されるツール42と、支持部41に設けられた第3位置決め移動手段50と、ツール42を加熱する加熱部43と、ツール42を空気や窒素などを噴射する気体噴射による冷却装置である冷却手段44とを具備する。
ここで、支持部41は、第3位置決め移動手段50及び加熱部43を囲むように設けられ、下端部にツール42が固定されている。支持部41の内部に設けられた第3位置決め移動手段50は、例えば、ボイスコイルモーター(以下、VCMという)であり、第3固定部51と第3可動部52とからなり、第3固定部51が支持部41に固定され、第3可動部52は、第3固定部51に対して位置決め移動自在となっている。また、第3可動部52には加熱部43が固定され、加熱部43は、支持部41に固定された第3固定部51に対して位置決め移動自在となっている。この結果、加熱部43は、支持部41に設けられたツール42に当接又は離間するように移動自在となっている。
ツール42は、実装部品60を保持する機構を備え、本実施形態では、真空吸着により実装部品60を吸着保持できるようになっており、真空引きのための通路42aは、図示しない真空ポンプなどの吸引手段に接続されている。なお、実装部品60の保持機構はこれに限定されず、静電吸着などを採用してもよい。
ツール42は、支持部41の下端部に設けられ、支持部41の下面とツール42の下面とは略同位置になるようになっている。実際には、支持部41の下面よりツール42の下面の方が若干下方に突出するように構成しているが、これは実装部品60を確実に吸着保持するためのクリアランスを確保するためである。よって、このような目的でツール42の下面が支持部41の下面より若干突出している場合も含め、両者の下面が略同位置であるという。勿論、詳細は後述するが、ツール42の熱膨張収縮による実装への影響が許容されるようであれば、支持部41の下面にツール42を設け、ツール42全体が支持部41の下面より下側に突出するようにしてもよい。
また、下死点規定部材21の下死点規定面21aには、本実施形態では、支持部41の下面が当接するようになっている。これにより、第2可動部32に固定されたヘッド部40は、支持部41の下面が下死点規定面21aに当接した位置より下方には移動できないようになっている。下死点規定面21aと当接するのは、後述する熱膨張収縮による実装への影響を最低限とするためには、ツール42の下面と同一位置となるのがよいが、略同位置となる支持部41の下面と当接するようにしている。
ここで、第1位置決め移動手段10は、第1可動部12と共に移動部20を上下方向に位置決め移動できるようになっているが、第1位置決め移動手段10は、第1固定部11に対する第1可動部12の位置を検知する図示しない位置センサを具備すると共に、第1可動部12の下方への移動に対して下方から作用する力を検知する図示しないロードセルを具備する。具体的には、第1位置決め移動手段10は、第1可動部12を下方に位置決め移動する際には、移動部20の下端である実装部品60が下方の実装基板等に当接して所定荷重以上の作用を検出するまで移動させる高速制御を行うことができる。また、下死点規定部材21の下死点規定面21aの位置が所定位置となるように精密に位置決め移動する精密制御を行うことができる。
なお、第1位置決め移動手段10は、ボールネジ機構によるものを例示したが、これに限定されず、エアシリンダー、オイルシリンダーなど空気などの気体やオイルなどの液体によって駆動されるアクチュエータ機構によるもの、又はボイスコイルモーターなどを採用してもよく、特に限定されるものではない。ボイスコイルモーターを用いるのが、小型化、精度等の面で好ましい。
また、第2位置決め移動手段30及び第3位置決め移動手段50を構成するボイスコイルモーターは、例えば、第2固定部31及び第3固定部51が、磁石を内蔵するヨークから構成され、第2可動部32及び第3可動部52が、コイルから構成され、磁石により形成される磁場の中に存在するコイルへの通電電流を制御することにより、コイルを位置決め移動できるように構成されている。なお、ボイスコイルモーターには、ヨークとコイルが作る磁場の中で可動部となる磁石が移動するタイプもあり、その構成は特に限定されない。
また、第2位置決め移動手段30及び第3位置決め移動手段50は、第2固定部31又は第3固定部51に対する第2可動部32又は第3可動部52の位置を検出する図示しない位置検出センサを具備しており、第2可動部32又は第3可動部52が位置決め移動可能となっている。
さらに、第2位置決め移動手段30は、第2可動部32に作用する力を検出するロードセル33を具備し、第2可動部32に対して下方から上方に向かって作用する力が所定値以内となるように、すなわち、第2可動部32に固定されたヘッド部40が下死点規定部材21を下方に押圧する荷重が所定値以内となるように、第2可動部32を位置決め移動できるようになっている。
また、第3位置決め移動手段50も、第3可動部52に作用する力を検出するロードセル53を具備し、第3可動部52に対して下方から上方に向かって作用する力が所定値以内となるように、すなわち、第3可動部52に固定された加熱部43がツール42を下方に押圧する荷重が所定値以内となるように、加熱部43をツール42に当接するようになっている。なお、かかる機構は必ずしも具備する必要はない。
なお、第2位置決め移動手段30及び第3位置決め移動手段50は、ボイスコイルモーターに限定されるものではなく、ボールネジ機構によるもの、空気などの気体又はオイルなどの液体によって駆動されるアクチュエータ機構によるものなどを採用してもよいが、ボールネジ機構によるものを例示したが、これに限定されず、エアシリンダー、オイルシリンダーなど空気などの気体やオイルなどの液体によって駆動されるアクチュエータ機構によるもの、又はボイスコイルモーターなどを採用してもよく、特に限定されるものではない。しかしながら、第3位置決め移動手段50は、小型軽量、精度確保などの理由からボイスコイルモーターを採用するのが好ましい。
また、加熱部43は、電気ヒーターを採用すればよいが、これに限定されず、電磁誘導によるヒーター、セラミックヒーター、赤外線ヒーターなど特に限定されるものではない。
また、冷却手段44は、気体噴射によるものに限定されず、スペース的に許容されるものであれば、ペルチェ素子や水冷機構などを採用してもよい。
なお、第1位置決め移動手段10、第2位置決め移動手段30、第3位置決め移動手段50、加熱部43、冷却手段44は、制御部70により制御されるようになっている。
以下、上述したフリップチップ実装装置を用いたフリップチップ実装方法の一例を図2〜図6を参照して説明する。
まず、図2(a)に示すように、ツール42を真空引きしてツール42の下面に、端子61を具備する実装部品60を吸着保持する保持工程を実施する。また、実装部品60の下方に、実装基板80を載置する。なお、実装基板80は端子81を具備し、端子81にははんだバンプ82が設けられている。
次に、図2(b)に示すように、第2位置決め移動手段30によりヘッド部40を前記下死点規定部材21の下死点規定面21aに対して所定荷重(以下、第1所定荷重という)、例えば、5g〜15gの荷重で下方に向かって当接された状態、すなわち、第2可動部32及びヘッド部40は、下方から上方に向かって5g〜15gの所定荷重を超える荷重を受けると、下死点規定面21aに対して上方に移動するフロート状態になるように設定する。このように第2位置決め移動手段30により第2可動部32及びヘッド部40をフロート状態に設定する工程を当接工程という。すなわち、この当接工程の後、第2可動部32及びヘッド部40は、第2位置決め移動手段30により上方への荷重である浮力が付与されており、(自重−浮力)=第1所定荷重となっている。ここで、第1所定荷重は、後述する第1下降工程を実施する際に、端子61がはんだバンプ82に大きな荷重を負荷してはんだバンプ82に連結しているLSIなどへのダメージを最低限に抑えるため、5〜15g程度の小さな値としている。なお、この工程は、図3(b)で示す下降工程の途中、又は下降工程の後に実施してもよい。
次いで、図3(a)に示すように、第3位置決め移動手段50により、加熱部43を下方に移動し、所定荷重(第2所定荷重という)でツール42に対して加熱部43を当接させる。また、加熱部43を予備加熱状態、例えば、50〜180℃に予備加熱し、上述する加熱に備える。なお、この加熱部43のツール42への当接及び予備加熱工程は、後述する加熱工程の前までに実行すればよい。また、第2所定荷重は、加熱部43の熱がツール42に伝達されるものであればよい。
この状態で、次に、図3(b)に示すように、第1位置決め移動手段10により第1可動部12と共にヘッド部40を高速制御で移動して、ヘッド部40の下端に設けられた実装部品60の端子61が実装基板80のはんだバンプ82に当接するまで移動する第1下降工程を実行する。この第1下降工程は、端子61がはんだバンプ82と当接を第1位置決め移動手段10が内蔵する荷重検知手段により検出することにより、終了するようになっている。この端子61のはんだバンプ82への当接により、第2位置決め移動手段30のロードセル33は、第1所定荷重以上の荷重を検知するので、ヘッド部40は下死点規定部材21の下死点規定面21aから、目視できない程度の微小ではあるが、浮いた状態となる。
この状態において、下死点規定面21aの位置はPであり、端子61の下面の位置はQである。
次いで、図4(a)に示すように、第1位置決め移動手段10により第1可動部12と共に移動部20を精密制御で移動し、下死点規定部材21の下死点規定面21aの位置を、理想的な実装状態での端子61と端子81とのギャップが所定ギャップとなるような位置まで下降する第2下降工程を実行する。この場合、下死点規定面21aが、PからPまでLだけ移動する。
また、このとき、第2可動部32及びヘッド部40は移動せず、端子61とはんだバンプ82とはQの位置で当接した状態のままであり、ヘッド部40の下面はPの位置であり、端子61と端子81との間隔であるギャップはGである。
ここで、下死点規定部材21の下死点規定面21aの位置Pは、ヘッド部40の下面が下死点規定面21aに当接した際の端子61と端子81とのギャップが、所定ギャップ(図4(b)のG)となるように設定される。
なお、第1下降工程は必ずしも実装する必要はなく、第2位置決め移動手段30の精密制御により、下死点規定部材21の下死点規定面21aの位置を所定位置まで移動すればよい。
次に、図4(b)に示すように、加熱部43を予備加熱からはんだバンプ82を溶融する加熱状態、例えば、240〜260℃に制御する加熱工程を実施する。これにより、はんだバンプ82は加熱されて溶融し、溶融工程が実行される。
このとき、はんだバンプ82は実装部品60の端子61から上述した第1所定荷重を受けているので、実装部品60は、ヘッド部40及び第2可動部32と共に下方に徐々に移動する。このとき第1所定荷重が5g〜15g程度と小さいので、はんだバンプ82の溶融により急激に下降することがないので、溶融後のはんだバンプの形状が理想的な形状となる。また、この移動は、ヘッド部40の下面が下死点規定面21aに当接するまで、すなわち、ヘッド部40の下面の位置はPからPであり、端子61の下面の位置はQからQまでであり、移動距離はLとなる。これにより、端子61と端子81とのギャップはGから所定ギャップGとなる。
また、この加熱・溶融工程において、ツール42や加熱部43及び支持部41が熱膨張しても、ヘッド部40の下面は、下死点規定部材21の下死点規定面21aへの当接により規制されているので、熱膨張の影響は上方へのみ作用するので、端子61と端子72との隙間への影響はない。
このように、はんだバンプ82が溶融する際に、端子61から受ける荷重が第1所定荷重に設定され、低荷重且つ一定であり、また、下死点規定部材21により下降下限値は規制され、また、熱膨張の影響もないので、端子81と端子61との間の隙間は目標ギャップとなり、はんだバンプ82は理想的な溶融はんだ82aとなる。
なお、第1所定荷重は、5g〜15gとしたが、これに限定されず、もっと大きな荷重としてもよく、また、下降工程の第1所定荷重と、溶融工程での第1所定荷重を異なるようにしてもよい。また、第1所定荷重は、上述したように、自重から第2位置決め移動手段30から受ける浮力を減算した値としたが、第2位置決め移動手段30から下方に向けて所定の荷重を受けるようにして、自重に所定荷重を付加した自重より大きな荷重となるようにすることもできる。
次に、図5(a)に示すように、加熱部43を加熱状態から予熱状態とすると共に加熱部43を第3位置決め移動手段50により上方に移動し、ツール42から離間させる。また、冷却手段44から冷却空気を噴射し、ツール42及び実装部品60並びに実装基板80を冷却する冷却工程を実施する。
このとき、加熱部43がツール42から離間しているので、ツール42や溶融はんだ82aの冷却が迅速に行われ、加熱部43をツール42に当接させたまま加熱を停止しし、冷却工程を実行するよりも、実装サイクルの著しい短縮を図ることができる。
また、加熱部43を完全に停止させずに、予熱状態として待機させることができるので、次の実装サイクルまでの時間も短縮できる。なお、加熱部43は、ツール42から離間した状態で予熱状態ではなく、停止状態とし、所定のタイミングで次の実装サイクルに備えて予熱状態としてもよいことはいうまでもない。
さらに、冷却工程において、ツール42や加熱部43及び支持部41が収縮しても、ヘッド部40の下面が下死点規定部材21の下死点規定面21aに当接しているので、収縮の影響は下死点規定部材21の下死点規定面21aの上方のみに作用するので、端子61と端子81との隙間への影響はないので、従来のような溶融はんだ82aの剥がれや破壊は発生しない。
最後に、図5(b)に示すように、ツール42から実装部品60を離間し、第1位置決め移動手段10により移動部20を上方に移動させる。
図6には、上述した実装工程において、ツール42のツール温度、端子61の位置に相当するツール位置、及び端子61に作用する荷重の状態を示すタイミングチャートである。図6に示すように、領域(A)は、第1下降工程であり、端子61がはんだバンプ82に当接した状態でツール位置が停止する。その後、第2下降工程を実施して下死点規定部材21を下方に移動させても、端子61がはんだバンプ82と当接しているのっで、ツール位置はそのままである。また、この状態では、端子61に第1所定荷重がかかった状態となる。領域(B)は加熱工程であり、ツール温度が所定の温度まで上昇すると、所定のタイミングではんだバンプ82が溶融し、端子61がヘッド部40の移動が下死点規定部材21で規制されるまで下方にLだけ移動する(ポイント(C))。また、領域(D)は冷却工程であり、領域(E)は上昇工程である。ポイント(C)でツール位置が下死点規定部材21で規定された位置まで移動した後は、その後の加熱・溶融工程及び冷却工程でも端子61の位置は不変である。
上述した実施形態で例示したフリップチップ実装方法では、バンプは実装基板側に設けられていたが、実装部品側に設けられていてもよく、また、バンプははんだに限定されず、錫、錫合金、金などでもよく、特に限定されない。
上述した実施形態のフリップチップ実装装置の加圧加熱冷却装置は、フリップチップ実装装置に限定されず、他の用途に使用できる。例えば、半導体実装、レンズなどの光学部品実装(接着剤でのレンズ固定)などへの適用が考えられる。
所定ギャップ
位置
10 第1位置決め移動手段
11 第1固定部
12 第1可動部
13 モーター
20 移動部
21 下死点規定部材
21a 下死点規定面
30 第2位置決め移動手段
31 第2固定部
32 第2可動部
33 ロードセル
40 ヘッド部
41 支持部
42 ツール
42 加熱部
42a 通路
43 加熱部
44 冷却手段
50 第3位置決め移動手段
51 第3固定部
52 第3可動部
53 ロードセル
60 実装部品
61 端子
70 制御部
72 端子
80 実装基板
81 端子
82 はんだバンプ

Claims (11)

  1. 第1固定部及び第1可動部を備える第1位置決め移動手段と、
    前記第1位置決め移動手段の前記第1可動部に設けられて上下方向に位置決め移動される移動部と、
    前記移動部に設けられ、第2固定部及び第2可動部を備える第2位置決め移動手段と、
    前記第2位置決め移動手段の前記第2可動部に設けられ、上下方向に位置決め移動されるヘッド部と、
    前記第2位置決め移動手段の前記第2固定部に設けられ、前記ヘッド部の下端位置の基準となる下死点規定部材と、
    前記ヘッド部に設けられ、第3固定部及び第3可動部を備える第3位置決め移動手段と、
    前記ヘッド部に設けられ、部品を下面に保持するツールと、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを支持する支持部と、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを冷却する冷却手段と、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを加熱する加熱部と、
    を具備し、
    前記第3位置決め移動手段の前記第3固定部は、前記支持部に固定され、
    前記加熱部は、前記第3可動部に固定され、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接又は離間するように移動自在であり、
    前記第2位置決め移動手段は、前記ヘッド部を前記下死点規定部材に対して所定加重で下方向に向かって当接するように設定可能である、
    ことを特徴とする加圧加熱冷却装置。
  2. 前記第2位置決め移動手段は、ボイスコイルモーター又はアクチュエータであることを特徴とする請求項1記載の加圧加熱冷却装置。
  3. 前記第3位置決め移動手段は、ボイスコイルモーター又はアクチュエータであることを特徴とする請求項1又は2記載の加圧加熱冷却装置。
  4. 前記冷却手段は、気体噴射による冷却装置であることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項記載の加圧加熱冷却装置。
  5. 前記ヘッド部の下端部に前記ツールが固定され、前記ヘッド部の前記下死点規定部材との当接面は前記ツールの下面と略面一であることを特徴とする請求項1〜4の何れか一項記載の加圧加熱冷却装置。
  6. 請求項1〜5の何れか一項記載の加圧加熱冷却装置を具備することを特徴とするフリップチップ実装装置。
  7. 第1固定部及び第1可動部を備える第1位置決め移動手段と、
    前記第1位置決め移動手段の前記第1可動部に設けられて上下方向に位置決め移動される移動部と、
    前記移動部に設けられ、第2固定部及び第2可動部を備える第2位置決め移動手段と、
    前記第2位置決め移動手段の前記第2可動部に設けられ、上下方向に位置決め移動されるヘッド部と、
    前記第2位置決め移動手段の前記第2固定部に設けられ、前記ヘッド部の下端位置の基準となる下死点規定部材と、
    前記ヘッド部に設けられ、第3固定部及び第3可動部を備える第3位置決め移動手段と、
    前記ヘッド部に設けられ、部品を下面に保持するツールと、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを支持する支持部と、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを冷却する冷却手段と、
    前記ヘッド部に設けられ、前記ツールを加熱する加熱部と、
    を具備し、
    前記第3位置決め移動手段の前記第3固定部は、前記支持部に固定され、
    前記加熱部は、前記第3可動部に固定され、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接又は離間するように移動自在であり、
    前記第2位置決め移動手段は、前記ヘッド部を前記下死点規定部材に対して所定加重で下方向に向かって当接するように設定可能である、フリップチップ実装装置を用い、
    実装基板に実装する実装部品を前記ツールに保持する保持工程と、
    前記第2位置決め移動手段により前記ヘッド部を前記下死点規定部材に所定荷重で下方に向かって当接された状態に設定する当接工程と、
    前記第1位置決め移動手段で前記移動部を前記下死点規定部材が所定の位置となるまで下降させ、前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とをバンプを介して当接させ且つ前記ヘッド部が前記下死点規定部材から上方に所定距離だけ離間して状態とする下降工程と、
    前記下降工程の後、前記第3位置決め移動手段により前記ツールに当接させた状態の前記加熱部により前記実装部品を加熱する加熱工程と、
    前記加熱工程により前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とをバンプが溶融して前記ヘッド部が前記下死点規定部材に当接した状態となる溶融工程と、
    前記溶融工程の後、前記第3位置決め移動手段により前記加熱部を前記ツールから離間すると共に前記冷却手段により前記実装部品を冷却する冷却工程と、
    前記冷却工程の後、前記ツールによる前記実装部品の保持を解除すると共に前記第1位置決め移動手段により前記移動部を上昇させて前記ヘッド部を前記実装部品を実装した実装基板から離間させる上昇工程と、
    を実施することを特徴とするフリップチップ実装方法。
  8. 前記下降工程が、
    前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とが前記バンプを介して当接するまで前記移動部を下降させる第1下降工程と、
    前記第1下降工程の後、前記ヘッド部が前記下死点規定部材に当接した状態において、前記実装基板の端子と前記実装部品の端子とのギャップが所定の大きさになるように前記下死点規定部材の位置が所定位置になるまで前記移動部を下降させる第2下降工程と、
    からなることを特徴とする請求項7記載のフリップチップ実装方法。
  9. 前記加熱工程より前に、前記第3位置決め移動手段により前記加熱部を前記ツールに当接させて予備加熱する予備加熱工程を実施する、
    ことを特徴とする請求項7又は8記載のフリップチップ実装方法。
  10. 前記バンプは、前記実装基板の端子に設けられたはんだバンプであることを特徴とする請求項7〜9の何れか一項記載のフリップチップ実装方法。
  11. 請求項7〜10の何れか一項記載のフリップチップ実装方法により製造されたことを特徴とする半導体装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH06326156A (ja) * 1993-05-11 1994-11-25 Seiko Epson Corp ボンディングツールの構造
JPH11297749A (ja) * 1998-04-07 1999-10-29 Mitsubishi Electric Corp フリップチップボンディング装置及びフリップチップボンディング方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06326156A (ja) * 1993-05-11 1994-11-25 Seiko Epson Corp ボンディングツールの構造
JPH11297749A (ja) * 1998-04-07 1999-10-29 Mitsubishi Electric Corp フリップチップボンディング装置及びフリップチップボンディング方法

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