JP2016537619A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016537619A5 JP2016537619A5 JP2016518161A JP2016518161A JP2016537619A5 JP 2016537619 A5 JP2016537619 A5 JP 2016537619A5 JP 2016518161 A JP2016518161 A JP 2016518161A JP 2016518161 A JP2016518161 A JP 2016518161A JP 2016537619 A5 JP2016537619 A5 JP 2016537619A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- vectors
- bus
- fixture
- shared
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000001808 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
Claims (14)
- テストフィクスチャであって、
テスト対象設計を前記テストフィクスチャに通信可能に結合するように配されるテストコネクタであって、選択されたピンの第1のセットに結合される共用テストバスを含む、前記テストコネクタと、
前記テストコネクタに通信可能に結合され、ダウンロード可能なテストベンチを受け取るように配される、プログラム可能な論理インタフェースであって、前記ダウンロード可能なテストベンチが、テストベクトルの第1のセットからのテストベクトルを第1のテスト制御バスに適用するように配される、前記プログラム可能な論理インタフェースと、
前記第1のテスト制御バスと第2のテスト制御バスの一方を前記共用テストバスに選択的に結合するように配されるマルチプレクサであって、前記第2のテスト制御バスが、テストベクトルの第2のセットからのテストベクトルを適用するように配される、前記マルチプレクサと、
を含む、テストフィクスチャ。 - 請求項1に記載のテストフィクスチャであって、
前記テストベクトルの第2のセットが、前記テストベクトルの第1のセットの実行を制御するように人間により動作され得るデバッガにより供給される、テストフィクスチャ。 - 請求項2に記載のテストフィクスチャであって、
前記共用テストバスのマスターシップを前記デバッガとダウンロード可能なテストベンチとの間で移動させるように配されるアービタを更に含む、テストフィクスチャ。 - 請求項2に記載のテストフィクスチャであって、
前記テストベクトルの第1のセットが、前記テストコネクタに結合される前記テスト対象設計の性能を検証するように配される、テストフィクスチャ。 - 請求項3に記載のテストフィクスチャであって、
前記アービタが、前記プログラム可能な論理インターフェースから受信したコマンドに依存する前記共用テストバスのマスターシップを転送する、テストフィクスチャ。 - 請求項3に記載のテストフィクスチャであって、
前記アービタが、前記第1の制御バスの内容に依存する前記共用テストバスのマスターシップを転送する、テストフィクスチャ。 - 請求項3に記載のテストフィクスチャであって、
前記アービタが、前記第2の制御バスの内容に依存する前記共用テストバスのマスターシップを転送する、テストフィクスチャ。 - 請求項3に記載のテストフィクスチャであって、
前記アービタが、テスト対象設計の出力に依存する前記共用テストバスのマスターシップを転送する、テストフィクスチャ。 - 請求項1に記載のテストフィクスチャであって、
前記テストベクトルの第1のセットがストアされる、アドレス指定可能なメモリを含む、テストフィクスチャ。 - 請求項9に記載のテストフィクスチャであって、
前記プログラム可能な論理インタフェースが、アドレスを生成するように配されるプログラムカウンタを含むようにプログラムされたフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)を含み、そのアドレスにより、前記テストベクトルの第1のセットからのテストベクトルがリトリーブされる、テストフィクスチャ。 - 請求項10に記載のテストフィクスチャであって、
前記プログラムカウンタの値が、前記テストベクトルの第1のセットからのリトリーブされたテストベクトルの値に応答して変えられる、テストフィクスチャ。 - 請求項11に記載のテストフィクスチャであって、
前記テストベクトルの第1のセットからの前記リトリーブされたテストベクトルの第1のセットの第1の部分が、前記テストコネクタの前記選択されたピンの第1のセットに適用され、
前記テストベクトルの第1のセットに対する前記リトリーブされたテストベクトルの第1のセットの第2の部分が、前記テストコネクタの選択されたピンの第2のセットに結合される第3のテストバスに適用され、
前記テストコネクタの前記選択されたピンの第2のセットが、前記選択されたピンの第1のセットにおける前記選択されたピンとは異なる選択されたピンを含む、テストフィクスチャ。 - テスト対象設計を検証してデバッグするための方法であって、
前記テスト対象設計の選択されたピンの第1のセットに結合される共用テストバスを含むテストコネクタを介して前記テスト対象設計と通信し、
第1のテスト制御バスからテストベクトルの第1のセットを含むダウンロード可能なテストベンチを受信することと、
第2のテスト制御バスからテストベクトルの第2のセットを受信することと、
前記テストベクトルの第1のセットの実行を制御するために人間により動作され得るデバッガから前記テストベクトルの第2のセットを供給することと、
前記テストベクトルの第1のセットと前記テストベクトルの第2のセットの一方を前記共用テストバスに選択的に結合することと、
記テスト対象設計で前記テストベクトルの第1のセットと前記テストベクトルの第2のセットの一方を前実行することと、
前記テスト対象設計で前記テストベクトルの第1のセットと前記テストベクトルの第2のセットの前記選択的に結合された一方の実行の結果を考察することと、
を含む、方法。 - 請求項13に記載の方法であって、
前記デバッガと前記テスト対象設計の出力に依存する前記ダウンロード可能なテストベンチとの間の前記共用テストバスのマスターシップを転送すること更に含む、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/038,743 US9152520B2 (en) | 2013-09-26 | 2013-09-26 | Programmable interface-based validation and debug |
US14/038,743 | 2013-09-26 | ||
PCT/US2014/057579 WO2015048366A1 (en) | 2013-09-26 | 2014-09-26 | Programmable interface-based validation and debug |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016537619A JP2016537619A (ja) | 2016-12-01 |
JP2016537619A5 true JP2016537619A5 (ja) | 2017-11-02 |
JP6557220B2 JP6557220B2 (ja) | 2019-08-07 |
Family
ID=52692126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016518161A Active JP6557220B2 (ja) | 2013-09-26 | 2014-09-26 | プログラム可能なインタフェースベースの検証及びデバッグ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9152520B2 (ja) |
EP (1) | EP3049934A4 (ja) |
JP (1) | JP6557220B2 (ja) |
CN (1) | CN105474178B (ja) |
WO (1) | WO2015048366A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2509715A (en) * | 2013-01-09 | 2014-07-16 | Nordic Semiconductor Asa | Tester for microcontroller integrated circuit |
US9152520B2 (en) * | 2013-09-26 | 2015-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Programmable interface-based validation and debug |
US10126362B2 (en) * | 2014-12-15 | 2018-11-13 | International Business Machines Corporation | Controlling a test run on a device under test without controlling the test equipment testing the device under test |
US9647688B1 (en) | 2014-12-19 | 2017-05-09 | Cadence Design Systems, Inc. | System and method of encoding in a serializer/deserializer |
US9547739B2 (en) * | 2015-05-18 | 2017-01-17 | Synopsys, Inc. | Placing and routing debugging logic |
US9702933B1 (en) | 2015-10-22 | 2017-07-11 | Cadence Design Systems, Inc. | System and method for concurrent interconnection diagnostics field |
US9697324B1 (en) * | 2015-11-05 | 2017-07-04 | Cadence Design Systems, Inc. | System for concurrent target diagnostics field |
US9989592B2 (en) * | 2015-12-18 | 2018-06-05 | Intel IP Corporation | Interfaces for wireless debugging |
CN105866662A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-08-17 | 佰电科技(苏州)有限公司 | 一种打印机触摸屏功能测试装置 |
US10481990B2 (en) * | 2016-06-13 | 2019-11-19 | Intel Corporation | Apparatuses and methods for a multiple master capable debug interface |
US10139445B2 (en) * | 2016-09-30 | 2018-11-27 | Intel Corporation | High speed I/O pinless structural testing |
US10339036B2 (en) * | 2016-12-30 | 2019-07-02 | Accenture Global Solutions Limited | Test automation using multiple programming languages |
US10976361B2 (en) * | 2018-12-20 | 2021-04-13 | Advantest Corporation | Automated test equipment (ATE) support framework for solid state device (SSD) odd sector sizes and protection modes |
US11178085B2 (en) * | 2019-02-27 | 2021-11-16 | A Social Company | Social media platform for sharing reactions to videos |
US11137910B2 (en) * | 2019-03-04 | 2021-10-05 | Advantest Corporation | Fast address to sector number/offset translation to support odd sector size testing |
US11237202B2 (en) | 2019-03-12 | 2022-02-01 | Advantest Corporation | Non-standard sector size system support for SSD testing |
US10884847B1 (en) | 2019-08-20 | 2021-01-05 | Advantest Corporation | Fast parallel CRC determination to support SSD testing |
KR20210058351A (ko) * | 2019-11-14 | 2021-05-24 | 삼성전자주식회사 | 테스트 보드 및 이를 포함하는 테스트 시스템 |
KR102380506B1 (ko) | 2020-10-29 | 2022-03-31 | 포스필 주식회사 | 전자기기 자가 진단 장치 |
US11442726B1 (en) | 2021-02-26 | 2022-09-13 | International Business Machines Corporation | Vector pack and unpack instructions |
CN116794493A (zh) * | 2022-03-18 | 2023-09-22 | 英业达科技有限公司 | 以电路板电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法 |
Family Cites Families (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6474474A (en) * | 1987-09-16 | 1989-03-20 | Hitachi Electr Eng | Pattern generating device |
US5475624A (en) | 1992-04-30 | 1995-12-12 | Schlumberger Technologies, Inc. | Test generation by environment emulation |
US5243274A (en) * | 1992-08-07 | 1993-09-07 | Westinghouse Electric Corp. | Asic tester |
US5425036A (en) | 1992-09-18 | 1995-06-13 | Quickturn Design Systems, Inc. | Method and apparatus for debugging reconfigurable emulation systems |
DE4305442C2 (de) * | 1993-02-23 | 1999-08-05 | Hewlett Packard Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Testvektors |
JPH07243875A (ja) * | 1994-03-02 | 1995-09-19 | Mitsubishi Electric Corp | デバイスの測定装置及び測定方法 |
JPH07280893A (ja) * | 1994-04-04 | 1995-10-27 | Advantest Corp | 半導体メモリ試験装置 |
US5751737A (en) * | 1997-02-26 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Boundary scan testing device |
US6034542A (en) * | 1997-10-14 | 2000-03-07 | Xilinx, Inc. | Bus structure for modularized chip with FPGA modules |
JP2000098001A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Hitachi Ltd | テスト容易化回路 |
US6801869B2 (en) * | 2000-02-22 | 2004-10-05 | Mccord Don | Method and system for wafer and device-level testing of an integrated circuit |
US7188063B1 (en) | 2000-10-26 | 2007-03-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Capturing test/emulation and enabling real-time debugging using an FPGA for in-circuit emulation |
US6462570B1 (en) * | 2001-06-06 | 2002-10-08 | Sun Microsystems, Inc. | Breakout board using blind vias to eliminate stubs |
US6631340B2 (en) * | 2001-10-15 | 2003-10-07 | Advantest Corp. | Application specific event based semiconductor memory test system |
US6668237B1 (en) * | 2002-01-17 | 2003-12-23 | Xilinx, Inc. | Run-time reconfigurable testing of programmable logic devices |
FR2841668B1 (fr) * | 2002-06-26 | 2006-08-11 | Emulation And Verification Eng | Procede et systeme d'emulation d'un circuit sous test associe a un environnement de test |
US7146598B2 (en) * | 2002-11-07 | 2006-12-05 | Computer Network Technoloy Corp. | Method and apparatus for configuring a programmable logic device |
US7290192B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-10-30 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method for testing plurality of devices in parallel |
JP4291596B2 (ja) * | 2003-02-26 | 2009-07-08 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の製造方法 |
US7072825B2 (en) * | 2003-06-16 | 2006-07-04 | Fortelink, Inc. | Hierarchical, network-based emulation system |
US7406641B2 (en) * | 2003-06-30 | 2008-07-29 | Intel Corporation | Selective control of test-access ports in integrated circuits |
US7307433B2 (en) * | 2004-04-21 | 2007-12-11 | Formfactor, Inc. | Intelligent probe card architecture |
US7225416B1 (en) * | 2004-06-15 | 2007-05-29 | Altera Corporation | Methods and apparatus for automatic test component generation and inclusion into simulation testbench |
US7219287B1 (en) * | 2004-09-29 | 2007-05-15 | Xilinx, Inc. | Automated fault diagnosis in a programmable device |
US7245134B2 (en) * | 2005-01-31 | 2007-07-17 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly including a programmable device to selectively route signals from channels of a test system controller to probes |
US7454729B1 (en) * | 2005-11-16 | 2008-11-18 | Altera Corporation | Method and system for validating testbench |
US7906982B1 (en) * | 2006-02-28 | 2011-03-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Interface apparatus and methods of testing integrated circuits using the same |
US7496820B1 (en) * | 2006-03-07 | 2009-02-24 | Xilinx, Inc. | Method and apparatus for generating test vectors for an integrated circuit under test |
KR101058468B1 (ko) * | 2006-06-28 | 2011-08-24 | 아크로닉스 세미컨덕터 코포레이션 | 집적 회로용의 재구성 가능한 로직 패브릭과, 재구성 가능한 로직 패브릭을 구성하기 위한 시스템 및 방법 |
US7800404B2 (en) * | 2007-12-05 | 2010-09-21 | Integrated Device Technology, Inc. | Field programmable application specific integrated circuit with programmable logic array and method of designing and programming the programmable logic array |
US8042086B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-10-18 | Oracle America, Inc. | Method and apparatus for verifying integrated circuit design using a constrained random test bench |
US20090287969A1 (en) * | 2008-05-13 | 2009-11-19 | Bpm Microsystems | Electronic apparatus and bit error rate tolerance method for programming non-volatile memory devices |
US8620638B1 (en) * | 2008-12-15 | 2013-12-31 | Xilinx, Inc. | Method of performing a simulation of a design under test and a circuit for enabling testing of a circuit design |
US8170828B2 (en) * | 2009-06-05 | 2012-05-01 | Apple Inc. | Test method using memory programmed with tests and protocol to communicate between device under test and tester |
FI20095884A0 (fi) * | 2009-08-27 | 2009-08-27 | Martti Venell | Menetelmä integroidun piirin suunnittelun verifioimiseksi verifiointiympäristössä |
US8127187B2 (en) * | 2009-09-30 | 2012-02-28 | Integrated Device Technology, Inc. | Method and apparatus of ATE IC scan test using FPGA-based system |
JP2011203857A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-13 | Renesas Electronics Corp | 回路動作検証システム及び検証環境構築方法 |
US8718967B2 (en) * | 2010-05-28 | 2014-05-06 | Advantest Corporation | Flexible storage interface tester with variable parallelism and firmware upgradeability |
CN103221833B (zh) * | 2010-10-29 | 2016-06-08 | 爱德万测试公司 | 具有专用电子模块的测试器和并入或使用该测试器的系统和方法 |
US9117022B1 (en) * | 2011-10-07 | 2015-08-25 | Altera Corporation | Hierarchical arbitration |
US20130227367A1 (en) * | 2012-01-17 | 2013-08-29 | Allen J. Czamara | Test IP-Based A.T.E. Instrument Architecture |
US9910086B2 (en) * | 2012-01-17 | 2018-03-06 | Allen Czamara | Test IP-based A.T.E. instrument architecture |
US9431133B2 (en) * | 2012-06-01 | 2016-08-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Digital test system |
US9135087B1 (en) * | 2012-12-27 | 2015-09-15 | Altera Corporation | Workgroup handling in pipelined circuits |
US9116785B2 (en) * | 2013-01-22 | 2015-08-25 | Teradyne, Inc. | Embedded tester |
US20140236527A1 (en) * | 2013-02-21 | 2014-08-21 | Advantest Corporation | Cloud based infrastructure for supporting protocol reconfigurations in protocol independent device testing systems |
US20140237292A1 (en) * | 2013-02-21 | 2014-08-21 | Advantest Corporation | Gui implementations on central controller computer system for supporting protocol independent device testing |
US9952276B2 (en) * | 2013-02-21 | 2018-04-24 | Advantest Corporation | Tester with mixed protocol engine in a FPGA block |
US20140282327A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Nvidia Corporation | Cutter in diagnosis (cid) a method to improve the throughput of the yield ramp up process |
US9310427B2 (en) * | 2013-07-24 | 2016-04-12 | Advantest Corporation | High speed tester communication interface between test slice and trays |
US9152520B2 (en) * | 2013-09-26 | 2015-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Programmable interface-based validation and debug |
-
2013
- 2013-09-26 US US14/038,743 patent/US9152520B2/en active Active
-
2014
- 2014-09-26 WO PCT/US2014/057579 patent/WO2015048366A1/en active Application Filing
- 2014-09-26 CN CN201480046839.7A patent/CN105474178B/zh active Active
- 2014-09-26 JP JP2016518161A patent/JP6557220B2/ja active Active
- 2014-09-26 EP EP14847940.5A patent/EP3049934A4/en not_active Ceased
-
2015
- 2015-05-26 US US14/721,216 patent/US20150253387A1/en not_active Abandoned
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2016537619A5 (ja) | ||
JP2014157603A5 (ja) | ||
JP6557220B2 (ja) | プログラム可能なインタフェースベースの検証及びデバッグ | |
EP4321993A3 (en) | Programmable matrix processing engine | |
JP2014508996A5 (ja) | ||
US9600618B2 (en) | Implementing system irritator accelerator FPGA unit (AFU) residing behind a coherent attached processors interface (CAPI) unit | |
WO2015187771A3 (en) | Apparatuses and methods for performing an exclusive or operation using sensing circuitry | |
JP2016027701A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2013025795A5 (ja) | ||
JP2015057697A5 (ja) | ||
WO2018080827A3 (en) | Remote access of cellular communication devices for software development and testing | |
EP3499371A3 (en) | Real time analysis and control for a multiprocessor system | |
WO2007115235B1 (en) | Application specific distributed test engine architecture system and method | |
JP2009527821A5 (ja) | ||
JP2015507743A5 (ja) | ||
WO2015130675A3 (en) | Apparatus and method for testing computer program implementation against a design model | |
JP2018152927A5 (ja) | ||
EP3312965A4 (en) | Simulated signal generation device, simulated signal generation method, and computer program | |
JP2014191020A5 (ja) | ||
JP2018081400A5 (ja) | ||
EP2500827A3 (en) | Memory controller address and data pin multiplexing | |
JP6435826B2 (ja) | データ処理装置およびデータ処理方法 | |
EP3370237A4 (en) | COMPUTER PROGRAM FOR SIMULATING NUCLEAR FUELS AND METHOD FOR SIMULATING NUCLEAR FUELS USED THEREIN | |
US20110307239A1 (en) | Hardware Emulation Proxy for Hardware Software Co-Emulation | |
JP2017520829A (ja) | マルチプロセッサコアデバイスのためにデバイスピン所有権を割り当てるためのデバイスおよび方法 |