JP2016536771A - 電子源、x線源、当該x線源を使用した装置 - Google Patents
電子源、x線源、当該x線源を使用した装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016536771A JP2016536771A JP2016544723A JP2016544723A JP2016536771A JP 2016536771 A JP2016536771 A JP 2016536771A JP 2016544723 A JP2016544723 A JP 2016544723A JP 2016544723 A JP2016544723 A JP 2016544723A JP 2016536771 A JP2016536771 A JP 2016536771A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- electron emission
- source
- electrode layer
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 53
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 44
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 42
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 40
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 claims description 37
- 238000001959 radiotherapy Methods 0.000 claims description 28
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 19
- 230000003902 lesion Effects 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 13
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 claims description 6
- 239000002079 double walled nanotube Substances 0.000 claims description 4
- 239000002109 single walled nanotube Substances 0.000 claims description 4
- 239000002048 multi walled nanotube Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 27
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 24
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 13
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 6
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 3
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001225 therapeutic effect Effects 0.000 description 2
- 108010083687 Ion Pumps Proteins 0.000 description 1
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000002786 image-guided radiation therapy Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002121 nanofiber Substances 0.000 description 1
- 239000011858 nanopowder Substances 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000008093 supporting effect Effects 0.000 description 1
- 238000002560 therapeutic procedure Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/06—Cathodes
- H01J35/065—Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
- H01J3/021—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/112—Non-rotating anodes
- H01J35/116—Transmissive anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/02—Constructional details
- H05G1/04—Mounting the X-ray tube within a closed housing
- H05G1/06—X-ray tube and at least part of the power supply apparatus being mounted within the same housing
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/52—Target size or shape; Direction of electron beam, e.g. in tubes with one anode and more than one cathode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
- H01J2201/30—Cold cathodes
- H01J2201/304—Field emission cathodes
- H01J2201/30446—Field emission cathodes characterised by the emitter material
- H01J2201/30453—Carbon types
- H01J2201/30469—Carbon nanotubes (CNTs)
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2203/00—Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
- H01J2203/02—Electron guns
- H01J2203/0204—Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
- H01J2203/0208—Control electrodes
- H01J2203/0212—Gate electrodes
- H01J2203/0216—Gate electrodes characterised by the form or structure
- H01J2203/022—Shapes or dimensions of gate openings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2203/00—Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
- H01J2203/02—Electron guns
- H01J2203/0204—Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
- H01J2203/0208—Control electrodes
- H01J2203/0212—Gate electrodes
- H01J2203/0216—Gate electrodes characterised by the form or structure
- H01J2203/0224—Arrangement of gate openings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2203/00—Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
- H01J2203/02—Electron guns
- H01J2203/0204—Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
- H01J2203/0208—Control electrodes
- H01J2203/0212—Gate electrodes
- H01J2203/0236—Relative position to the emitters, cathodes or substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/06—Cathode assembly
- H01J2235/062—Cold cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/06—Cathode assembly
- H01J2235/068—Multi-cathode assembly
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/147—Spot size control
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
Description
100 マイクロ電子放出ユニット、101 ベース電極層、102 絶縁層、 103 グリッド電極層、104 電子エミッタ、105 開口、106 ベース層、107 導電層
2 陽極、21、22、23、......陽極のX線ターゲットポイント
3 真空ボックス、4 電子源制御装置、41 第一の接続装置、5 高圧電源、51 第二の接続装置、6 集束装置、7 コリメーティング装置
81 X線源、82 検知器、83 検査対象、84 搬送装置
S マイクロ電子放出ユニットのサイズ、D 開口のサイズ、H 電子エミッタからグリッド電極までの距離、h 電子エミッタの高さ、d 電子放出領域間の間隔、V 電界放出電圧、E 電子ビーム流、X X線、O X線源中心、中心線または軸線
Claims (48)
- 少なくとも2つの電子放出領域を有し、各前記電子放出領域が複数のマイクロ電子放出ユニットを含み、
前記マイクロ電子放出ユニットは、ベース電極層と、前記ベース電極層の上方に位置する絶縁層と、前記絶縁層の上方に位置するグリッド電極層と、前記グリッド電極層における開口と、及び前記ベース電極層に固定され前記開口の位置に対応する電子エミッタとを含み、
同じ前記電子放出領域における各前記マイクロ電子放出ユニット同士が電気的に接続され、同時に電子を放出するかまたは同時に電子を放出しないこと、
異なる前記電子放出領域同士が電気的に分離されていることを特徴とする電子源。 - 異なる前記電子放出領域同士が電気的に分離されていることは、各前記電子放出領域の前記ベース電極層がそれぞれ分離して独立すること、または、各前記電子放出領域の前記グリッド電極層がそれぞれ分離して独立すること、または、各前記電子放出領域の前記ベース電極層と前記グリッド電極層がいずれもそれぞれ分離して独立することであることを特徴とする請求項1に記載の電子源。
- 前記絶縁層の厚さが200μmより小さいことを特徴とする請求項1に記載の電子源。
- 前記グリッド電極層が前記ベース電極層に平行することを特徴とする請求項1に記載の電子源。
- 前記開口のサイズが前記絶縁層の厚さより小さいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記開口のサイズが前記電子エミッタから前記グリッド電極層までの距離より小さいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記電子エミッタの高さが前記絶縁層の厚さの2分の1より小さいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記電子エミッタの材料がナノ材料を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記ナノ材料は、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブ、またはそれらの組み合わせであることを特徴とする請求項8に記載の電子源。
- 前記ベース電極層は、ベース層と前記ベース層の上方に位置する導電層とを含み、
前記電子エミッタが前記導電層に固定されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。 - 前記導電層は、フィルムであり、
前記フィルムの材料は、ナノ材料であり、
前記電子エミッタにおいて、前記開口における前記フィルムの一部のナノ材料が直立して、前記導電層の表面に直交することを特徴とする請求項10に記載の電子源。 - アレイ配列方向における前記マイクロ電子放出ユニットの空間サイズは、マイクロメートルレベルであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- アレイ配列方向における前記マイクロ電子放出ユニットの空間サイズの範囲は、1μm〜200μmであることを特徴とする請求項12に記載の電子源。
- 前記電子放出領域の長さと幅の比率が2より大きいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 各前記電子放出領域の放出電流が0.8mAより大きいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電子源。
- 真空ボックスと、
前記真空ボックス内に配置された請求項1〜15のいずれか1項に記載の電子源と、
前記電子源に対向して前記真空ボックス内に配置された陽極と、
前記電子源の前記電子放出領域の前記ベース電極層と前記グリッド電極層との間に電圧を印加するための電子源制御装置と、
前記陽極に接続され、前記陽極に高圧を供給するための高圧電源とを備えることを特徴とするX線源。 - 前記真空ボックスの壁に取付けられ、前記電子源と前記電子源制御装置を接続するための第1の接続装置と、
前記真空ボックスの壁に取付けられ、前記陽極と前記高圧電源を接続するための第2の接続装置とをさらに備えることを特徴とする請求項16に記載のX線源。 - 前記陽極は、前記電子源の各前記電子放出領域に対応するターゲットポイント位置を有し、
前記陽極のターゲットポイント位置に異なるターゲット材が設置されていることを特徴とする請求項16に記載のX線源。 - 前記電子源制御装置は、前記電子源の前記電子放出領域が所定の順番で電子放出を行うように制御することを特徴とする請求項16に記載のX線源。
- 前記電子源制御装置は、前記電子源の隣接する所定の数量の前記電子放出領域が所定の順番で電子放出を行うように制御することを特徴とする請求項16に記載のX線源。
- 前記電子放出領域の表面は、幅方向において円弧状であり、
前記電子放出領域における各前記マイクロ電子放出ユニットにより放出された電子は、幅方向において、1つの点に集束することを特徴とする請求項16に記載のX線源。 - それぞれ複数の前記電子放出領域のそれぞれに対応して、前記電子源と前記陽極の間に配置されている複数の集束装置をさらに備え、
前記集束装置は、前記電子放出領域の上方において、当該電子放出領域におけるすべての前記マイクロ電子放出ユニットを囲むことを特徴とする請求項16〜21項のいずれか1項に記載のX線源。 - 前記集束装置は、電極またはソレノイドであることを特徴とする請求項22に記載のX線源。
- 前記X線源の内部または外部に配置され、X線の出力経路に位置し、出力されたX線を所定の形状にさせるためのコリメーティング装置をさらに備えることを特徴とする請求項16〜21のいずれか1項に記載のX線源。
- 前記陽極のターゲットポイントは、円形または円弧状に配列されていることを特徴とする請求項16〜21のいずれか1項に記載のX線源。
- 前記陽極のターゲットポイントの配列形態は、四角形配列、折れ線配列または直線配列であることを特徴とする請求項16〜21のいずれか1項に記載のX線源。
- 前記陽極のターゲットは、透過型ターゲットであり、出力されたX線は、前記電子源からの電子ビーム流と同じ方向であることを特徴とする請求項16〜21のいずれか1項に記載のX線源。
- 前記陽極のターゲットは、反射ターゲットであり、出力されたX線は、前記電子源からの電子ビーム流と90度の角度をなすことを特徴とする請求項16〜21のいずれか1項に記載のX線源。
- 検査領域の一側に位置し、前記検査領域をカバーするX線を生成するための請求項16〜28のいずれか1項に記載のX線源と、
前記検査領域の、前記X線源に対向する側に位置し、前記X線源からのX線を受信するための少なくとも1つの検知器と、
前記X線源と前記検知器の間に位置し、検査対象を搬送して前記検査領域を通過させるための搬送装置とを備える
ことを特徴とする透過イメージングシステム。 - 検査領域の一側に位置し、前記検査領域をカバーするX線を生成するための請求項16〜28のいずれか1項に記載のX線源と、
前記検査領域の、前記X線源と同じ側に位置し、検査対象から反射されたX線を受信するための検知器とを備える
ことを特徴とする後方散乱イメージングシステム。 - 少なくとも2つのグループの前記X線源と前記検知器の組み合わせを有し、前記少なくとも2つのグループの前記X線源と前記検知器の組み合わせが前記検査対象の異なる側に配置されていることを特徴とする請求項30に記載の後方散乱イメージングシステム。
- 前記検査対象を搬送して前記検査領域を通過させるための搬送装置をさらに備えることを特徴とする請求項30または31に記載の後方散乱イメージングシステム。
- 前記X線源と前記検知器を移動させて検査対象が位置している領域を通過させるための移動装置をさらに備えることを特徴とする請求項30または31に記載の後方散乱イメージングシステム。
- 少なくとも2つの請求項16〜28のいずれか1項に記載のX線源と、
前記X線源に対応する検知器とを備え、
少なくとも1つのグループの前記X線源と前記検知器が検査対象に対して透過イメージングを行い、
少なくとも1つのグループの前記X線源と前記検知器が検査対象に対して後方散乱イメージングを行うことを特徴とするX線検査システム。 - 患者に対して放射線治療を行う放射線ビームを生成するための放射治療用放射線源と、
放射治療用放射線ビームの形状を調整して、病巣とマッチングさせるためのマルチリーフコリメータと、
患者を移動させて位置決めを行い、放射治療用放射線ビームの位置を病巣の位置に合わせるための移動ベッドと、
請求項16〜28のいずれか1項に記載のX線源であって、患者に対して診断イメージングを行う放射線ビームを生成するための少なくとも1つの診断用放射線源と、
診断イメージングを行うための放射線ビームを受信するためのフラットパネル検知器と、
前記フラットパネル検知器により受信された放射線ビームに基づいて、診断画像を形成し、前記診断画像における病巣の位置に対して位置決めを行い、放射治療用放射線ビームの中心を病巣の中心に合わせるようにガイドし、前記マルチリーフコリメータの放射治療用放射線ビームの形状を病巣の形状とマッチングさせるようにガイドする制御システムとを備え、
前記X線源は、形状が円環状または四角枠状であり、且つ側面からX線を出力する分散型X線源であって、前記分散型X線源の軸線または中心線と前記放射治療用放射線源のビーム流の軸線が同じ直線にあり、即ち前記診断用放射線源と前記放射治療用放射線源の位置が患者に対して同じ方向であることを特徴とするリアルタイムなイメージガイド放射線治療装置。 - 電子放出領域を有し、前記電子放出領域が複数のマイクロ電子放出ユニットを含み、
前記マイクロ電子放出ユニットは、ベース電極層と、前記ベース電極層の上方に位置する絶縁層と、前記絶縁層の上方に位置するグリッド電極層と、前記グリッド電極層における開口と、及び前記ベース電極層に固定され前記開口の位置に対応する電子エミッタとを含み、
前記電子放出領域における各前記マイクロ電子放出ユニット同士が電気的に接続され、同時に電子を放出するかまたは同時に電子を放出しないことを特徴とする電子源。 - 前記絶縁層の厚さが200μmより小さいことを特徴とする請求項36に記載の電子源。
- 前記開口のサイズが前記絶縁層の厚さより小さいことを特徴とする請求項36に記載の電子源。
- 前記開口のサイズが前記電子エミッタから前記グリッド電極層までの距離より小さいことを特徴とする請求項36に記載の電子源。
- 前記電子エミッタの高さが前記絶縁層の厚さの2分の1より小さいことを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記グリッド電極層が前記ベース電極層に平行することを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。
- アレイ配列方向における前記マイクロ電子放出ユニットの空間サイズは、マイクロメーターレベルであることを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。
- アレイ配列方向における前記マイクロ電子放出ユニットの空間サイズの範囲は、1μm〜200μmであることを特徴とする請求項42に記載の電子源。
- 前記電子放出領域の長さと幅の比率が2より大きいことを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。
- 前記ベース電極層は、ベース層および前記ベース層の上方に位置する導電層を含み、
前記電子エミッタが前記導電層に固定されていることを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。 - 前記電子放出領域の放出電流が0.8mAより大きいことを特徴とする請求項36〜39のいずれか1項に記載の電子源。
- 真空ボックスと、
前記真空ボックスに配置された請求項36〜46のいずれか1項に記載の電子源と、
前記電子源に対向して前記真空ボックスに配置された陽極と、
前記電子源の前記電子放出領域の前記ベース電極層と前記グリッド電極層の間に電圧を印加するための電子源制御装置と、
前記陽極に接続され、前記陽極に高圧を供給するための高圧電源とを備えることを特徴とするX線源。 - 請求項47に記載のX線源と、
前記X線源により生成されたX線を受信するための検知器と、
制御及び画像表示システムとを備えることを特徴とするX線イメージングシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410419359.2A CN105374654B (zh) | 2014-08-25 | 2014-08-25 | 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备 |
CN201410419359.2 | 2014-08-25 | ||
PCT/CN2015/087488 WO2016029811A1 (zh) | 2014-08-25 | 2015-08-19 | 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016536771A true JP2016536771A (ja) | 2016-11-24 |
JP6523301B2 JP6523301B2 (ja) | 2019-05-29 |
Family
ID=55376746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016544723A Active JP6523301B2 (ja) | 2014-08-25 | 2015-08-19 | 電子源、x線源、当該x線源を使用した装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10014148B2 (ja) |
EP (1) | EP3188213A4 (ja) |
JP (1) | JP6523301B2 (ja) |
KR (1) | KR101810349B1 (ja) |
CN (1) | CN105374654B (ja) |
HK (1) | HK1222474A1 (ja) |
RU (1) | RU2668268C2 (ja) |
WO (1) | WO2016029811A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020122257A1 (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | 株式会社堀場製作所 | X線管及びx線検出装置 |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
GB2531326B (en) * | 2014-10-16 | 2020-08-05 | Adaptix Ltd | An X-Ray emitter panel and a method of designing such an X-Ray emitter panel |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
CN109310380B (zh) | 2016-06-15 | 2023-02-28 | 深圳市奥沃医学新技术发展有限公司 | 肿瘤位置的追踪方法及放射治疗设备 |
US11145431B2 (en) * | 2016-08-16 | 2021-10-12 | Massachusetts Institute Of Technology | System and method for nanoscale X-ray imaging of biological specimen |
EP3500845A1 (en) * | 2016-08-16 | 2019-06-26 | Massachusetts Institute of Technology | Nanoscale x-ray tomosynthesis for rapid analysis of integrated circuit (ic) dies |
CA3039309C (en) * | 2016-10-19 | 2023-07-25 | Adaptix Ltd. | X-ray source |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
JP6937380B2 (ja) | 2017-03-22 | 2021-09-22 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線分光を実施するための方法およびx線吸収分光システム |
CN106970411B (zh) * | 2017-05-08 | 2023-05-02 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 一种电子束发散角分布测量装置及测量方法 |
CN109216138A (zh) * | 2017-06-30 | 2019-01-15 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线管 |
CN107331430B (zh) * | 2017-08-10 | 2023-04-28 | 海默科技(集团)股份有限公司 | 一种多相流相分率测定装置双源双能级射线源仓 |
US10573483B2 (en) * | 2017-09-01 | 2020-02-25 | Varex Imaging Corporation | Multi-grid electron gun with single grid supply |
US10566170B2 (en) * | 2017-09-08 | 2020-02-18 | Electronics And Telecommunications Research Institute | X-ray imaging device and driving method thereof |
RU2697258C1 (ru) * | 2018-03-05 | 2019-08-13 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" | Рентгеновский источник и способ генерации рентгеновского излучения |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
US10845491B2 (en) | 2018-06-04 | 2020-11-24 | Sigray, Inc. | Energy-resolving x-ray detection system |
GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
US10962491B2 (en) | 2018-09-04 | 2021-03-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray fluorescence with filtering |
DE112019004478T5 (de) | 2018-09-07 | 2021-07-08 | Sigray, Inc. | System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe |
DE102018221177A1 (de) * | 2018-12-06 | 2020-06-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Röntgen-rückstreuuntersuchungstechnik für die serienprüfung |
EP3906577A4 (en) * | 2018-12-31 | 2022-09-21 | Nano-X Imaging Ltd | SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING A DIGITALLY SWITCHABLE X-RAY SOURCE |
WO2021011209A1 (en) | 2019-07-15 | 2021-01-21 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
US11437218B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-09-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and method for nanoscale X-ray imaging |
EP3933881A1 (en) * | 2020-06-30 | 2022-01-05 | VEC Imaging GmbH & Co. KG | X-ray source with multiple grids |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01502307A (ja) * | 1987-02-11 | 1989-08-10 | エス・アール・アイ・インターナシヨナル | 超高速度集積超小形電子管 |
JPH07182968A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Nec Corp | 電界放出冷陰極とこれを用いたマイクロ波管 |
JP2000340121A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出素子の検査方法、冷陰極電界電子放出表示装置用のカソード・パネルの検査方法、及び、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法 |
JP2000348603A (ja) * | 1989-12-18 | 2000-12-15 | Seiko Epson Corp | 電界電子放出素子 |
JP2002157953A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Nec Corp | エミッタの製造方法及び該エミッタを用いた電界放出型冷陰極並びに平面画像表示装置 |
JP2003331762A (ja) * | 2002-04-17 | 2003-11-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 彎曲放出面を備えた陰極を有するx線源及び方法 |
WO2014027294A2 (en) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | Nanox Imaging Ltd. | Image capture device |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4165472A (en) | 1978-05-12 | 1979-08-21 | Rockwell International Corporation | Rotating anode x-ray source and cooling technique therefor |
US5176557A (en) | 1987-02-06 | 1993-01-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron emission element and method of manufacturing the same |
DE4405768A1 (de) * | 1994-02-23 | 1995-08-24 | Till Keesmann | Feldemissionskathodeneinrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
US5872422A (en) | 1995-12-20 | 1999-02-16 | Advanced Technology Materials, Inc. | Carbon fiber-based field emission devices |
KR100286828B1 (ko) * | 1996-09-18 | 2001-04-16 | 니시무로 타이죠 | 플랫패널표시장치 |
US6553096B1 (en) | 2000-10-06 | 2003-04-22 | The University Of North Carolina Chapel Hill | X-ray generating mechanism using electron field emission cathode |
JP2002210029A (ja) | 2001-01-19 | 2002-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線治療装置 |
EP1779403A4 (en) * | 2004-07-05 | 2009-05-06 | Cebt Co Ltd | METHOD FOR CONTROLLING AN ELECTRON BEAM IN A MULTIPLE-MICROSULE AND MULTIPLE MICROSULE THEREWITH |
CN101296658B (zh) * | 2005-04-25 | 2011-01-12 | 北卡罗来纳大学查珀尔希尔分校 | 使用时间数字信号处理的x射线成像 |
KR20080032532A (ko) | 2006-10-10 | 2008-04-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출 디바이스 및 이를 이용한 전자 방출 디스플레이 |
JP4878311B2 (ja) | 2006-03-03 | 2012-02-15 | キヤノン株式会社 | マルチx線発生装置 |
JP4990555B2 (ja) * | 2006-05-12 | 2012-08-01 | 株式会社アルバック | カソード基板及び表示素子 |
CN101501477B (zh) | 2006-08-11 | 2014-07-02 | 美国科技工程公司 | 使用同时的并且近似的透射和反向散射成像的x射线检测 |
CN101452797B (zh) | 2007-12-05 | 2011-11-09 | 清华大学 | 场发射电子源及其制备方法 |
JP4886713B2 (ja) | 2008-02-13 | 2012-02-29 | キヤノン株式会社 | X線撮影装置及びその制御方法 |
PL2507799T3 (pl) | 2009-12-03 | 2020-06-29 | Rapiscan Systems, Inc. | System obrazowania rozpraszania wstecznego z uwzględnieniem czasu przelotu |
CN102870189B (zh) | 2010-03-22 | 2016-08-10 | 新鸿电子有限公司 | 带有智能电子控制系统的多波束x-射线源和相关方法 |
CN101961530B (zh) * | 2010-10-27 | 2013-11-13 | 玛西普医学科技发展(深圳)有限公司 | 一种影像引导下的放射治疗设备 |
CN102074429B (zh) * | 2010-12-27 | 2013-11-06 | 清华大学 | 场发射阴极结构及其制备方法 |
CN102306595B (zh) * | 2011-08-07 | 2014-12-17 | 上海康众光电科技有限公司 | 一种带有限流晶体管的碳纳米管场发射阵列及制备 |
KR101917742B1 (ko) | 2012-07-06 | 2018-11-12 | 삼성전자주식회사 | 메쉬 전극 접합 구조체, 전자 방출 소자, 및 전자 방출 소자를 포함하는 전자 장치 |
CN203377194U (zh) | 2012-12-31 | 2014-01-01 | 同方威视技术股份有限公司 | 阴控多阴极分布式x射线装置及具有该装置的ct设备 |
RU135214U1 (ru) | 2013-05-27 | 2013-11-27 | Владимир Фёдорович Бусаров | Рентгеновская терапевтическая установка для близкофокусной рентгенотерапии, излучатель рентгеновского излучения для этой установки и рентгеновская трубка для этой установки |
CN103400739B (zh) * | 2013-08-06 | 2016-08-10 | 苏州爱思源光电科技有限公司 | 具有大发射面积场发射复合材料的尖锥阵列冷阴极x光管 |
CN203590580U (zh) | 2013-09-18 | 2014-05-07 | 清华大学 | X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备 |
CN203537653U (zh) | 2013-09-18 | 2014-04-09 | 清华大学 | X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备 |
CN203563254U (zh) * | 2013-09-18 | 2014-04-23 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线装置及具有该x射线装置的ct设备 |
-
2014
- 2014-08-25 CN CN201410419359.2A patent/CN105374654B/zh active Active
-
2015
- 2015-08-19 WO PCT/CN2015/087488 patent/WO2016029811A1/zh active Application Filing
- 2015-08-19 JP JP2016544723A patent/JP6523301B2/ja active Active
- 2015-08-19 US US14/904,061 patent/US10014148B2/en active Active
- 2015-08-19 RU RU2016102389A patent/RU2668268C2/ru active
- 2015-08-19 KR KR1020167010573A patent/KR101810349B1/ko active IP Right Grant
- 2015-08-19 EP EP15813227.4A patent/EP3188213A4/en active Pending
-
2016
- 2016-09-02 HK HK16110515.7A patent/HK1222474A1/zh unknown
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01502307A (ja) * | 1987-02-11 | 1989-08-10 | エス・アール・アイ・インターナシヨナル | 超高速度集積超小形電子管 |
JP2000348603A (ja) * | 1989-12-18 | 2000-12-15 | Seiko Epson Corp | 電界電子放出素子 |
JPH07182968A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Nec Corp | 電界放出冷陰極とこれを用いたマイクロ波管 |
JP2000340121A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出素子の検査方法、冷陰極電界電子放出表示装置用のカソード・パネルの検査方法、及び、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法 |
JP2002157953A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Nec Corp | エミッタの製造方法及び該エミッタを用いた電界放出型冷陰極並びに平面画像表示装置 |
JP2003331762A (ja) * | 2002-04-17 | 2003-11-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 彎曲放出面を備えた陰極を有するx線源及び方法 |
WO2014027294A2 (en) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | Nanox Imaging Ltd. | Image capture device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020122257A1 (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | 株式会社堀場製作所 | X線管及びx線検出装置 |
JPWO2020122257A1 (ja) * | 2018-12-14 | 2021-10-21 | 株式会社堀場製作所 | X線管及びx線検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2668268C2 (ru) | 2018-09-28 |
EP3188213A4 (en) | 2018-07-18 |
RU2016102389A3 (ja) | 2018-09-27 |
US20170162359A1 (en) | 2017-06-08 |
RU2016102389A (ru) | 2018-09-27 |
US10014148B2 (en) | 2018-07-03 |
EP3188213A1 (en) | 2017-07-05 |
KR20160058931A (ko) | 2016-05-25 |
WO2016029811A1 (zh) | 2016-03-03 |
KR101810349B1 (ko) | 2017-12-18 |
JP6523301B2 (ja) | 2019-05-29 |
CN105374654A (zh) | 2016-03-02 |
CN105374654B (zh) | 2018-11-06 |
HK1222474A1 (zh) | 2017-06-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6523301B2 (ja) | 電子源、x線源、当該x線源を使用した装置 | |
US9991085B2 (en) | Apparatuses and methods for generating distributed x-rays in a scanning manner | |
RU2635372C2 (ru) | Многокатодный распределенный рентгеновский аппарат с управлением катодом и устройство компьютерной томографии, имеющее упомянутый аппарат | |
EP2430638B1 (en) | X-ray source with a plurality of electron emitters and method of use | |
US7844032B2 (en) | Apparatus for providing collimation in a multispot X-ray source and method of making same | |
US7976218B2 (en) | Apparatus for providing shielding in a multispot x-ray source and method of making same | |
US9408577B2 (en) | Multiradiation generation apparatus and radiation imaging system utilizing dual-purpose radiation sources | |
US20060104418A1 (en) | Wide scanning x-ray source | |
US20110075802A1 (en) | Field emission x-ray source with magnetic focal spot screening | |
KR20090093815A (ko) | 멀티 x선 발생장치 및 x선 촬영장치 | |
CN111448637B (zh) | Mbfex管 | |
US10032595B2 (en) | Robust electrode with septum rod for biased X-ray tube cathode | |
US7317785B1 (en) | System and method for X-ray spot control | |
CN203377194U (zh) | 阴控多阴极分布式x射线装置及具有该装置的ct设备 | |
JP2005237779A (ja) | X線ct装置 | |
CA2919744C (en) | Electron source, x-ray source and device using the x-ray source | |
CN104616952A (zh) | 阴控多阴极分布式x射线装置 | |
KR102136062B1 (ko) | 전계 방출형 토모신테시스 시스템 | |
WO2007102947A1 (en) | System and method for x-ray spot control |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161206 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170217 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20170711 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170913 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20170921 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20171124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181026 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190214 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190425 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6523301 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |