RU2016102389A - Источник электронов, источник рентгеновского излучения и устройство, в котором используется источник рентгеновского излучения - Google Patents

Источник электронов, источник рентгеновского излучения и устройство, в котором используется источник рентгеновского излучения Download PDF

Info

Publication number
RU2016102389A
RU2016102389A RU2016102389A RU2016102389A RU2016102389A RU 2016102389 A RU2016102389 A RU 2016102389A RU 2016102389 A RU2016102389 A RU 2016102389A RU 2016102389 A RU2016102389 A RU 2016102389A RU 2016102389 A RU2016102389 A RU 2016102389A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
electron
emission
source according
source
electron emission
Prior art date
Application number
RU2016102389A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2668268C2 (ru
RU2016102389A3 (ru
Inventor
Хуапин ТАН
Чжицян ЧЭНЬ
Юаньцзин ЛИ
Юнган ВАН
Чжаньфэн ЦИНЬ
Original Assignee
Нактех Компани Лимитед
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Нактех Компани Лимитед filed Critical Нактех Компани Лимитед
Publication of RU2016102389A publication Critical patent/RU2016102389A/ru
Publication of RU2016102389A3 publication Critical patent/RU2016102389A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2668268C2 publication Critical patent/RU2668268C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/065Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J3/00Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J3/02Electron guns
    • H01J3/021Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08Anodes; Anti cathodes
    • H01J35/112Non-rotating anodes
    • H01J35/116Transmissive anodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/02Constructional details
    • H05G1/04Mounting the X-ray tube within a closed housing
    • H05G1/06X-ray tube and at least part of the power supply apparatus being mounted within the same housing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/52Target size or shape; Direction of electron beam, e.g. in tubes with one anode and more than one cathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/304Field emission cathodes
    • H01J2201/30446Field emission cathodes characterised by the emitter material
    • H01J2201/30453Carbon types
    • H01J2201/30469Carbon nanotubes (CNTs)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2203/00Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
    • H01J2203/02Electron guns
    • H01J2203/0204Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
    • H01J2203/0208Control electrodes
    • H01J2203/0212Gate electrodes
    • H01J2203/0216Gate electrodes characterised by the form or structure
    • H01J2203/022Shapes or dimensions of gate openings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2203/00Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
    • H01J2203/02Electron guns
    • H01J2203/0204Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
    • H01J2203/0208Control electrodes
    • H01J2203/0212Gate electrodes
    • H01J2203/0216Gate electrodes characterised by the form or structure
    • H01J2203/0224Arrangement of gate openings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2203/00Electron or ion optical arrangements common to discharge tubes or lamps
    • H01J2203/02Electron guns
    • H01J2203/0204Electron guns using cold cathodes, e.g. field emission cathodes
    • H01J2203/0208Control electrodes
    • H01J2203/0212Gate electrodes
    • H01J2203/0236Relative position to the emitters, cathodes or substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/06Cathode assembly
    • H01J2235/062Cold cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/06Cathode assembly
    • H01J2235/068Multi-cathode assembly
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control

Claims (38)

1. Источник электронов, содержащий:
одну или, по меньшей мере, две области эмиссии электронов, в каждой из которых предусмотрено множество электронно-эмиссионных микроблоков; при этом:
электронно-эмиссионный микроблок содержит: базовый слой; изолирующий слой, расположенный на базовом слое; слой сетки, расположенный на изолирующем слое; отверстие в слое сетки; и эмиттер электронов, который закреплен на базовом слое, и положение которого совпадает с положением отверстия; а
электронно-эмиссионные микроблоки в пределах одной области эмиссии электронов электрически соединены друг с другом, и могут одновременно испускать или не испускать электроны.
2. Источник электронов по п. 1, в котором, если указанный источник электронов содержит, по меньшей мере, две области эмиссии электронов, разные области эмиссии электронов гальванически развязаны между собой.
3. Источник электронов по п. 2, в котором разные области эмиссии электронов гальванически развязаны между собой, а это означает, что физически отделены друг от друга соответствующие базовые слои всех областей эмиссии электронов, или физически отделены друг от друга соответствующие слои сетки всех областей эмиссии электронов, или физически отделены друг от друга как соответствующие базовые слои, так соответствующие слои сетки всех областей эмиссии электронов.
4. Источник электронов по п. 1, в котором изолирующий слой характеризуется толщиной менее 200 мкм.
5. Источник электронов по п. 1, в котором слой сетки идет параллельно базовому слою.
6. Источник электронов по п. 1, в котором размер отверстия меньше толщины изолирующего слоя и меньше расстояния от эмиттера электронов до слоя сетки.
7. Источник электронов по п. 1, в котором эмиттер электронов характеризуется высотой, составляющей менее половины толщины изолирующего слоя.
8. Источник электронов по п. 1, в котором эмиттер электронов может быть изготовлен с использованием наноматериалов, и такими наноматериалами могут служить или одностенные углеродные нанотрубки, или двустенные углеродные нанотрубки, или многостенные углеродные нанотрубки, или комбинация указанных нанотрубок.
9. Источник электронов по п. 1, в котором:
базовый слой состоит из подложки и токопроводящего слоя, расположенного на подложке; а
эмиттер электронов закреплен на токопроводящем слое.
10. Источник электронов по п. 9, в котором эмиттер электронов составлен таким образом, что токопроводящий слой представляет собой пленку, выполненную из наноматериала, а часть наноматериала нанопленки в позиции, соответствующей отверстию, поднимается и идет перпендикулярно поверхности токопроводящего слоя.
11. Источник электронов по п. 1, в котором пространство, занимаемое электронно-эмиссионным микроблоком вдоль решетки, варьируется в пределах 1-200 мкм.
12. Источник электронов по п. 1, в котором соотношение между длиной и шириной области эмиссии электронов превышает 2 к 1.
13. Источник рентгеновского излучения, содержащий:
вакуумную камеру;
источник электронов, расположенный в вакуумной камере, который содержит:
одну или, по меньшей мере, две области эмиссии электронов, в каждой из которых предусмотрено множество электронно-эмиссионных микроблоков; при этом:
электронно-эмиссионный микроблок содержит: базовый слой; изолирующий слой, расположенный на базовом слое; слой сетки, расположенный на изолирующем слое; отверстие в слое сетки; и эмиттер электронов, который закреплен на базовом слое, и положение которого совпадает с положением отверстия; а
электронно-эмиссионные микроблоки в пределах одной области эмиссии электронов электрически соединены друг с другом, и могут одновременно испускать или не испускать электроны;
анод, расположенный напротив источника рентгеновского излучения в вакуумной камере;
управляющее устройство источника электронов, выполненное с возможностью подачи напряжения между базовым слоем и слоем сетки в области эмиссии электронов источника электронов; и
высоковольтный источник электропитания, подключенный к аноду и выполненный с возможностью подачи высокого напряжения на анод.
14. Источник рентгеновского излучения по п. 13, дополнительно содержащий:
первое соединительное устройство, смонтированное на стенке вакуумной камеры и выполненное с возможностью подключения к источнику электронов и управляющему устройству источника электронов; и
второе соединительное устройство, смонтированное на стенке вакуумной камеры и выполненное с возможностью подключения к аноду и высоковольтному источнику электропитания.
15. Источник рентгеновского излучения по п. 13, в котором анод характеризуется наличием участков с фокусными пятнами, которые соотносятся с конкретными областями эмиссии электронов источника электронов; при этом каждый из указанных участков на мишени может быть выполнен из множества разных материалов.
16. Источник рентгеновского излучения по п. 13, в котором управляющее устройство источника электронов осуществляет управление таким образом, чтобы области эмиссии электронов в источнике электронов испускали электроны в заданной последовательности.
17. Источник рентгеновского излучения по п. 13, в котором управляющее устройство источника электронов осуществляет управление таким образом, чтобы заданное число соседних областей эмиссии электронов в источнике электронов испускало электроны в заданной последовательности.
18. Источник рентгеновского излучения по п. 13, в котором поверхность области эмиссии электронов характеризуется дугообразной формой по ширине, а электроны, испускаемые всеми электронно-эмиссионными микроблоками, расположенными в этой области эмиссии электронов, фокусируются на некой точке в поперечном направлении.
19. Источник рентгеновского излучения по п. 13, дополнительно содержащий:
множество фокусировочных устройств, которые соотносятся с множеством областей эмиссии электронов, и которые расположены между источником электронов и анодом; при этом:
фокусировочные устройства закрывают сверху все электронно-эмиссионные микроблоки в области эмиссии электронов; и
фокусировочное устройство представляет собой электрод или соленоид.
20. Источник рентгеновского излучения по п. 13, в котором фокусные пятна на аноде располагаются по одной из следующих схем: по кругу, по дуге, в виде замкнутого прямоугольника, в виде ломаной линии или в виде отрезка прямой.
RU2016102389A 2014-08-25 2015-08-19 Источник электронов, источник рентгеновского излучения и устройство, в котором используется источник рентгеновского излучения RU2668268C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410419359.2 2014-08-25
CN201410419359.2A CN105374654B (zh) 2014-08-25 2014-08-25 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备
PCT/CN2015/087488 WO2016029811A1 (zh) 2014-08-25 2015-08-19 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2016102389A true RU2016102389A (ru) 2018-09-27
RU2016102389A3 RU2016102389A3 (ru) 2018-09-27
RU2668268C2 RU2668268C2 (ru) 2018-09-28

Family

ID=55376746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016102389A RU2668268C2 (ru) 2014-08-25 2015-08-19 Источник электронов, источник рентгеновского излучения и устройство, в котором используется источник рентгеновского излучения

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10014148B2 (ru)
EP (1) EP3188213A4 (ru)
JP (1) JP6523301B2 (ru)
KR (1) KR101810349B1 (ru)
CN (1) CN105374654B (ru)
HK (1) HK1222474A1 (ru)
RU (1) RU2668268C2 (ru)
WO (1) WO2016029811A1 (ru)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
US10297359B2 (en) 2013-09-19 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray illumination system with multiple target microstructures
US10269528B2 (en) 2013-09-19 2019-04-23 Sigray, Inc. Diverging X-ray sources using linear accumulation
US10416099B2 (en) 2013-09-19 2019-09-17 Sigray, Inc. Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system
US10304580B2 (en) 2013-10-31 2019-05-28 Sigray, Inc. Talbot X-ray microscope
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
GB2531326B (en) * 2014-10-16 2020-08-05 Adaptix Ltd An X-Ray emitter panel and a method of designing such an X-Ray emitter panel
US10352880B2 (en) 2015-04-29 2019-07-16 Sigray, Inc. Method and apparatus for x-ray microscopy
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
CN109310380B (zh) 2016-06-15 2023-02-28 深圳市奥沃医学新技术发展有限公司 肿瘤位置的追踪方法及放射治疗设备
WO2018035171A1 (en) * 2016-08-16 2018-02-22 Massachusetts Institute Of Technology Nanoscale x-ray tomosynthesis for rapid analysis of integrated circuit (ic) dies
US11145431B2 (en) * 2016-08-16 2021-10-12 Massachusetts Institute Of Technology System and method for nanoscale X-ray imaging of biological specimen
WO2018073554A1 (en) * 2016-10-19 2018-04-26 Adaptix Ltd. X-ray source
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
CN106970411B (zh) * 2017-05-08 2023-05-02 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种电子束发散角分布测量装置及测量方法
CN109216138A (zh) * 2017-06-30 2019-01-15 同方威视技术股份有限公司 X射线管
CN107331430B (zh) * 2017-08-10 2023-04-28 海默科技(集团)股份有限公司 一种多相流相分率测定装置双源双能级射线源仓
US10573483B2 (en) * 2017-09-01 2020-02-25 Varex Imaging Corporation Multi-grid electron gun with single grid supply
US10566170B2 (en) * 2017-09-08 2020-02-18 Electronics And Telecommunications Research Institute X-ray imaging device and driving method thereof
RU2697258C1 (ru) * 2018-03-05 2019-08-13 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Рентгеновский источник и способ генерации рентгеновского излучения
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
CN112638261A (zh) 2018-09-04 2021-04-09 斯格瑞公司 利用滤波的x射线荧光的系统和方法
DE112019004478T5 (de) 2018-09-07 2021-07-08 Sigray, Inc. System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe
DE102018221177A1 (de) * 2018-12-06 2020-06-10 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Röntgen-rückstreuuntersuchungstechnik für die serienprüfung
JPWO2020122257A1 (ja) * 2018-12-14 2021-10-21 株式会社堀場製作所 X線管及びx線検出装置
WO2020141435A1 (en) * 2018-12-31 2020-07-09 Nano-X Imaging Ltd System and method for providing a digitally switchable x-ray sources
WO2021011209A1 (en) 2019-07-15 2021-01-21 Sigray, Inc. X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure
US11437218B2 (en) 2019-11-14 2022-09-06 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and method for nanoscale X-ray imaging
EP3933881A1 (en) * 2020-06-30 2022-01-05 VEC Imaging GmbH & Co. KG X-ray source with multiple grids

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4165472A (en) 1978-05-12 1979-08-21 Rockwell International Corporation Rotating anode x-ray source and cooling technique therefor
US5176557A (en) 1987-02-06 1993-01-05 Canon Kabushiki Kaisha Electron emission element and method of manufacturing the same
US4721885A (en) * 1987-02-11 1988-01-26 Sri International Very high speed integrated microelectronic tubes
JP3402301B2 (ja) * 1989-12-18 2003-05-06 セイコーエプソン株式会社 発光型表示装置
JP2625370B2 (ja) * 1993-12-22 1997-07-02 日本電気株式会社 電界放出冷陰極とこれを用いたマイクロ波管
DE4405768A1 (de) * 1994-02-23 1995-08-24 Till Keesmann Feldemissionskathodeneinrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
US5872422A (en) 1995-12-20 1999-02-16 Advanced Technology Materials, Inc. Carbon fiber-based field emission devices
KR100286828B1 (ko) * 1996-09-18 2001-04-16 니시무로 타이죠 플랫패널표시장치
JP4214617B2 (ja) * 1999-05-25 2009-01-28 ソニー株式会社 冷陰極電界電子放出表示装置用のカソード・パネルの検査方法
US6553096B1 (en) 2000-10-06 2003-04-22 The University Of North Carolina Chapel Hill X-ray generating mechanism using electron field emission cathode
JP5055655B2 (ja) * 2000-11-20 2012-10-24 日本電気株式会社 エミッタの製造方法及び該エミッタを用いた電界放出型冷陰極並びに平面画像表示装置
JP2002210029A (ja) 2001-01-19 2002-07-30 Mitsubishi Electric Corp 放射線治療装置
US6760407B2 (en) * 2002-04-17 2004-07-06 Ge Medical Global Technology Company, Llc X-ray source and method having cathode with curved emission surface
EP1779403A4 (en) * 2004-07-05 2009-05-06 Cebt Co Ltd METHOD FOR CONTROLLING AN ELECTRON BEAM IN A MULTIPLE-MICROSULE AND MULTIPLE MICROSULE THEREWITH
WO2006116365A2 (en) * 2005-04-25 2006-11-02 The University Of North Carolina At Chapel Hill X-ray imaging using temporal digital signal processing
KR20080032532A (ko) 2006-10-10 2008-04-15 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 디바이스 및 이를 이용한 전자 방출 디스플레이
JP4878311B2 (ja) 2006-03-03 2012-02-15 キヤノン株式会社 マルチx線発生装置
JP4990555B2 (ja) * 2006-05-12 2012-08-01 株式会社アルバック カソード基板及び表示素子
EP2049888B1 (en) 2006-08-11 2014-05-14 American Science & Engineering, Inc. X-ray inspection with contemporaneous and proximal transmission and backscatter imaging
CN101452797B (zh) 2007-12-05 2011-11-09 清华大学 场发射电子源及其制备方法
JP4886713B2 (ja) 2008-02-13 2012-02-29 キヤノン株式会社 X線撮影装置及びその制御方法
WO2011069024A1 (en) 2009-12-03 2011-06-09 Rapiscan Systems, Inc. Time of flight backscatter imaging system
WO2011119629A1 (en) 2010-03-22 2011-09-29 Xinray Systems Llc Multibeam x-ray source with intelligent electronic control systems and related methods
CN101961530B (zh) * 2010-10-27 2013-11-13 玛西普医学科技发展(深圳)有限公司 一种影像引导下的放射治疗设备
CN102074429B (zh) * 2010-12-27 2013-11-06 清华大学 场发射阴极结构及其制备方法
CN102306595B (zh) * 2011-08-07 2014-12-17 上海康众光电科技有限公司 一种带有限流晶体管的碳纳米管场发射阵列及制备
KR101917742B1 (ko) * 2012-07-06 2018-11-12 삼성전자주식회사 메쉬 전극 접합 구조체, 전자 방출 소자, 및 전자 방출 소자를 포함하는 전자 장치
KR102025970B1 (ko) * 2012-08-16 2019-09-26 나녹스 이미징 피엘씨 영상 캡처 장치
CN203377194U (zh) 2012-12-31 2014-01-01 同方威视技术股份有限公司 阴控多阴极分布式x射线装置及具有该装置的ct设备
RU135214U1 (ru) * 2013-05-27 2013-11-27 Владимир Фёдорович Бусаров Рентгеновская терапевтическая установка для близкофокусной рентгенотерапии, излучатель рентгеновского излучения для этой установки и рентгеновская трубка для этой установки
CN103400739B (zh) * 2013-08-06 2016-08-10 苏州爱思源光电科技有限公司 具有大发射面积场发射复合材料的尖锥阵列冷阴极x光管
CN203537653U (zh) 2013-09-18 2014-04-09 清华大学 X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备
CN203563254U (zh) * 2013-09-18 2014-04-23 同方威视技术股份有限公司 X射线装置及具有该x射线装置的ct设备
CN203590580U (zh) 2013-09-18 2014-05-07 清华大学 X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备

Also Published As

Publication number Publication date
US10014148B2 (en) 2018-07-03
KR20160058931A (ko) 2016-05-25
CN105374654A (zh) 2016-03-02
RU2668268C2 (ru) 2018-09-28
KR101810349B1 (ko) 2017-12-18
HK1222474A1 (zh) 2017-06-30
WO2016029811A1 (zh) 2016-03-03
EP3188213A1 (en) 2017-07-05
CN105374654B (zh) 2018-11-06
JP2016536771A (ja) 2016-11-24
US20170162359A1 (en) 2017-06-08
EP3188213A4 (en) 2018-07-18
RU2016102389A3 (ru) 2018-09-27
JP6523301B2 (ja) 2019-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2016102389A (ru) Источник электронов, источник рентгеновского излучения и устройство, в котором используется источник рентгеновского излучения
CN106463320B (zh) 用于x射线管的电子发射器
US8761343B2 (en) Field emission X-ray tube and method of operating the same
KR102259859B1 (ko) 이온 내충격성을 가진 전자 방출 구조물
KR102188080B1 (ko) 그래핀을 이용한 전자방출소자 및 그 제조방법
US10438764B2 (en) Field emission apparatus
KR101547516B1 (ko) 원통형 3극 전계 방출 x-선관
US7864925B2 (en) Cathode
JP2013122839A5 (ru)
KR20100123143A (ko) 전계방출소자 및 이를 채용한 전계방출 표시소자
KR102238574B1 (ko) 전계 방출 장치
US10216088B2 (en) Photolithography method based on electronic beam
KR100665881B1 (ko) 탄소나노튜브 기반의 엑스-선관의 전자빔 발생용 음극 모듈
KR20150114366A (ko) 나노 구조물을 이용한 엑스선 소스 장치 및 카트리지형 엑스선 소스 장치를 이용한 엑스선 방출 장치
KR102312202B1 (ko) 전계방출 장치
US20210100088A1 (en) X-ray generator
KR20150051820A (ko) 투과형 평판 엑스레이 발생 장치 및 엑스레이 영상 시스템
US20190139738A1 (en) Electronic beam machining system
CN102842477B (zh) X射线管
JP2016517143A5 (ru)
KR102324260B1 (ko) 선으로 정렬된 탄소나노튜브 및 게이트를 갖는 x선 소스
JP2013235656A (ja) 電界放射装置及び携帯型非破壊検査装置
KR102646636B1 (ko) 전계방출 엑스선 소스
KR102186644B1 (ko) Cnt 엑스레이 소스 장치
KR102515761B1 (ko) 엑스레이 튜브