JP2016219274A - 電極組立体の製造方法及び電極積層体 - Google Patents

電極組立体の製造方法及び電極積層体 Download PDF

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Abstract

【課題】溶接の成否を外観によって検査することができる電極組立体の製造方法及び電極積層体を提供する。【解決手段】電極組立体3の製造方法は、本体14a,17aと、本体14a,17aの一端から突出するタブ14b,17bとを含む複数の電極(正極11及び負極12)を積層することにより、互いに積層された複数のタブ14b,17bからなるタブ積層部21,25を構成する積層工程と、タブ14b,17bの積層方向に沿った複数の貫通孔22,26をタブ積層部21,25に形成する孔形成工程と、孔形成工程の後に、複数のタブ14b,17bを互いに溶接する溶接工程と、を備える。孔形成工程においては、積層方向からみてタブ14b,17bの溶接予定領域Wの外縁に重複するように複数の貫通孔22,26を形成する。【選択図】図4

Description

本発明は、電極組立体の製造方法及び電極積層体に関する。
特許文献1には、アルミニウム箔の溶接方法が記載されている。この方法では、積層したアルミニウム箔に予め小孔を設ける。続いて、アルミニウム箔の酸化被膜を小孔内面に沿って除去する。そして、小孔を中心とする被圧着域に抵抗溶接機の電極を押圧しつつ電極に通電し、抵抗溶接を行なう。
特開2006−326622号公報
ところで、例えば二次電池等に用いられる電極を積層して複数のタブを互いに溶接する場合には、次のような要求がある。すなわち、通電時に溶接箇所の抵抗が大きいと、電池品質が保証できなくなるので、溶接箇所の抵抗は、十分に低い必要がある。この溶接箇所の抵抗に大きく影響するのが溶接面積である。溶接箇所の抵抗が十分に低いとは、すなわち、溶接面積が足りていることを意味する。したがって、タブ溶接の成否を確認する手段として、溶接面積を判定基準とすることが考えられる。しかしながら、特許文献1に記載の方法においては、溶接によって一定の面積が十分に溶融されたか否か(溶接の成否)を、外観によって判定することが困難である。
そこで、本発明は、溶接の成否を外観によって判定することを可能とする電極組立体の製造方法及び電極積層体を提供することを目的とする。
本発明に係る電極組立体の製造方法は、本体と本体の一端から突出するタブとを含む複数の電極を積層することにより、互いに積層された複数のタブからなるタブ積層部を構成する積層工程と、タブの積層方向に沿った複数の貫通孔をタブ積層部に形成する孔形成工程と、孔形成工程の後に、複数のタブを互いに溶接する溶接工程と、を備え、孔形成工程においては、積層方向からみてタブの溶接予定領域の外縁に重複するように複数の貫通孔を形成する。
この製造方法においては、タブの溶接工程の前に、タブの積層部分(タブ積層部)に複数の貫通孔を形成する。複数の貫通孔は、一定の面積を有する溶着予定領域の外縁に重複するように設けられる。したがって、タブの溶接工程の後には、貫通孔の閉塞状況を外観から観察することにより、溶着予定領域においてタブが十分に溶融されたか否かを判定することが可能である。一例として、溶接予定領域の全体にわたってタブが十分に溶融されていない場合、貫通孔が閉塞されず貫通したままである。この場合には、溶接が不十分であると判定することができる。一方、溶接予定領域の全体にわたってタブが十分に溶融されている場合、貫通孔の少なくとも一部が溶融したタブによって閉塞される。この場合には、溶接が十分であると判定することができる。以上のように、この製造方法によれば、溶接の成否を外観によって判定することが可能である。
本発明に係る電極組立体の製造方法においては、孔形成工程において、積層方向からみて、溶接予定領域を通る第1の基準線と、溶接予定領域を通ると共に第1の基準線に交差する第2の基準線と、のそれぞれの上に貫通孔を形成する。この場合、タブの積層方向からみて貫通孔が二次元的に配置されることになる。よって、貫通孔の閉塞状況から溶接された領域の面積を確実に把握できるため、溶接の成否を外観によって確実に判定することが可能となる。
本発明に係る電極積層体は、互いに積層された複数の電極を含む電極積層体であって、電極は、本体と、本体の一端から突出し、溶接予定領域が設定されたタブと、を含み、複数のタブは、互いに積層されてタブ積層部を構成しており、タブ積層部には、タブの積層方向に沿った複数の貫通孔が形成されており、貫通孔は、積層方向からみてタブの溶接予定領域の外縁に重複するように、タブ積層部に形成されている。
この電極積層体においては、タブの積層部分(タブ積層部)に複数の貫通孔が形成されている。複数の貫通孔は、一定の面積を有する溶着予定領域の外縁に重複するように設けられている。したがって、タブを溶接した後には、貫通孔の閉塞状況を外観から観察することにより、溶着予定領域においてタブが十分に溶融されたか否かを判定することが可能である。つまり、この電極積層体によれば、溶接の成否を外観によって判定することが可能である。
本発明によれば、溶接の成否を外観によって判定することが可能な電極組立体の製造方法及び電極積層体を提供することができる。
本実施形態に係る蓄電装置の断面図である。 図1のII-II線に沿った断面図である。 電極組立体の製造方法の主要な工程を示す斜視図である。 電極組立体の製造方法の主要な工程を示す斜視図である。 (a)は、電極組立体の製造方法の主要な工程を示す模式的な断面図である。(b)は、電極組立体の製造方法の主要な工程を示す模式的な断面図である。 (a)は、電極組立体の製造方法の主要な工程を示す模式的な断面図である。(b)は、電極組立体の製造方法の主要な工程を示す模式的な断面図である。 (a)は、貫通孔の一例を示す平面図である。(b)は、貫通孔の他の例を示す平面図である。(c)は、貫通孔の他の例を示す平面図である。
以下、図面を参照しながら、本発明の一実施形態について詳細に説明する。なお、図面において同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する場合がある。
図1は、本実施形態に係る蓄電装置の断面図である。図2は、図1のII-II線に沿った断面図である。図1及び図2に示される蓄電装置1は、例えばリチウムイオン二次電池といった非水電解質二次電池として構成されている。
図1及び図2に示されるように、蓄電装置1は、例えば略直方体形状をなす中空のケース2と、ケース2内に収容された電極組立体3とを備えている。ケース2は、例えばアルミニウム等の金属によって形成されている。ケース2の内壁面上には、絶縁フィルム(図示せず)が設けられる。ケース2の内部には、例えば非水系有機溶媒系の電解液が注液されている。電極組立体3では、後述する正極11の正極活物質層15、負極12の負極活物質層18、及びセパレータ13が多孔質をなしており、その空孔内に、電解液が含浸されている。ケース2の上面部には、正極端子5と負極端子6とが互いに離間して配置されている。正極端子5は、絶縁リング7を介してケース2に固定され、負極端子6は、絶縁リング8を介してケース2に固定されている。
電極組立体3は、正極(電極)11と、負極(電極)12と、正極11と負極12との間に配置された袋状のセパレータ13とによって構成されている。セパレータ13内には、例えば正極11が収容されている。セパレータ13内に正極11が収容された状態で、正極11と負極12とが(複数の電極が)セパレータ13を介して交互に積層されている。
正極11は、例えばアルミニウム箔からなる金属箔14と、金属箔14の両面に形成された正極活物質層15と、を有している。正極11の金属箔14は、矩形状の本体14aと、正極端子5の位置に対応するように本体14aの一端から突出する矩形状のタブ14bと、を含む。正極活物質層15は、正極活物質とバインダとを含んで形成されている多孔質の層である。正極活物質層15は、本体14aの両面において、少なくとも本体14aの中央部分に正極活物質が担持されて形成されている。
正極活物質としては、例えば複合酸化物、金属リチウム、硫黄等が挙げられる。複合酸化物には、例えばマンガン、ニッケル、コバルト及びアルミニウムの少なくとも1つと、リチウムとが含まれる。ここでは、一例として、タブ14bには、正極活物質が担持されていない。ただし、タブ14bにおける本体14a側の基端部分には、活物質が担持されている場合もある。タブ14bは、本体14aの一端から上方に延び、導電部材16を介して正極端子5に接続されている。導電部材16は、例えば、正極11の金属箔と同一の材料から矩形平板状に構成される。
負極12は、例えば銅箔からなる金属箔17と、金属箔17の両面に形成された負極活物質層18と、を有している。負極12の金属箔17は、正極11の金属箔14と同様に、矩形状の本体17aと、負極端子6の位置に対応するように本体17aの一端部から突出する矩形状のタブ17bと、を含む。負極活物質層18は、本体17aの両面において、少なくとも本体17aの中央部分に負極活物質が担持されて形成されている。負極活物質層18は、負極活物質とバインダとを含んで形成されている多孔質の層である。
負極活物質としては、例えば黒鉛、高配向性グラファイト、メソカーボンマイクロビーズ、ハードカーボン、ソフトカーボン等のカーボン、リチウム、ナトリウム等のアルカリ金属、金属化合物、SiOx(0.5≦x≦1.5)等の金属酸化物、ホウ素添加炭素等が挙げられる。ここでは、一例として、タブ17bには、負極活物質が担持されていない。ただし、タブ17bにおける本体17a側の基端部分には、活物質が担持されている場合もある。タブ17bは、本体17aの上縁部から上方に延び、導電部材19を介して負極端子6に接続されている。導電部材19は、例えば、負極12の金属箔と同一の材料から矩形平板状に構成される。
セパレータ13は、正極11を収容している。セパレータ13は、正極11及び負極12の積層方向からみて矩形状である。セパレータ13は、例えば、一対の長尺シート状のセパレータ部材を互いに溶着して袋状に形成される。セパレータ13の材料としては、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)等のポリオレフィン系樹脂からなる多孔質フィルム、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート(PET)、メチルセルロース等からなる織布又は不織布等が例示される。
引き続いて、電極組立体3の製造方法について説明する。図3及び図5の(a)に示されるように、この製造方法においては、まず、電極積層体20Aを用意する(積層工程)。電極積層体20Aは、互いに積層された複数の正極11及び負極12を含む。正極11及び負極12は、タブ14b同士が互いに積層されるように、且つ、タブ17b同士が互いに積層されるように積層されている。複数のタブ14bは、互いに積層されてタブ積層部21を構成している。また、複数のタブ17bは、互いに積層されてタブ積層部25を構成している。つまり、この工程では、複数の電極(正極11及び負極12)を積層することにより、互いに積層された複数のタブ14b,17bからなるタブ積層部21,25を構成する。タブ積層部21は、導電部材16上に配置される。タブ積層部25は、導電部材19上に配置される。
タブ積層部21には、溶接予定領域Wが設定されている。溶接予定領域Wは、例えば仮想的な領域である。溶接予定領域Wは、例えば、複数のタブ14bを互いに溶接する場合にタブ14bの溶融を必要とする最低限の領域である。溶接予定領域Wは、タブ14bの積層方向からみて一定の面積を占める。ここでは、一例として、溶接予定領域Wは、タブ14bの積層方向からみて円形状である。溶接予定領域Wは、円形状に限定されず、種々の形状とすることができる。タブ積層部25には、タブ積層部21側と同様にして、溶接予定領域Wが設定されている。
続く工程では、図4に示されるように、タブ積層部21における導電部材16と接する面とは反対側の面に保護板23を配置する。保護板23は、タブ14bの積層方向からみて、タブ積層部21と導電部材16とが互いに重複する範囲内において、タブ14bの溶接予定領域Wを覆う位置に配置される。保護板23は、例えば、正極11の金属箔14及び導電部材16と同一の材料から構成される。
また、タブ積層部25における導電部材19と接する面とは反対側の面に保護板27を配置する。保護板27は、タブ17bの積層方向からみて、タブ積層部25と導電部材19とが互いに重複する範囲内において、タブ17bの溶接予定領域Wを覆う位置に配置される。保護板27は、例えば、負極12の金属箔17及び導電部材19と同一の材料から構成される。これらの保護板23,27は、タブ14b,17bと共に、導電部材16,19に溶接される。保護板23,27は、例えば、溶接後において、箔状のタブ14b,17bが剥離したり損傷したりすることを抑制する。
続いて、図4、図5の(b)、及び図7の(a)に示されるように、タブ14bの積層方向に沿った複数の貫通孔22をタブ積層部21に形成する(孔形成工程)。貫通孔22は、タブ14bの積層方向からみて溶接予定領域Wの外縁に重複するように、タブ積層部21に形成される。また、貫通孔22は、タブ14bの積層方向からみて、溶接予定領域Wを通る第1の基準線L1と、溶接予定領域Wを通ると共に第1の基準線L1に交差(一例として直交)する第2の基準線L2と、のそれぞれの上に形成される。ここでは、一例として、第1の基準線L1と溶接予定領域Wの外縁との2箇所の交点、及び、第2の基準線L2と溶接予定領域Wの外縁との2箇所の交点のそれぞれに貫通孔22を形成する。
同様に、この工程では、タブ17bの積層方向に沿った複数の貫通孔26をタブ積層部25に形成する。貫通孔26は、タブ17bの積層方向からみて溶接予定領域Wの外縁に重複するように、タブ積層部25に形成されている。また、貫通孔26は、タブ17bの積層方向からみて、溶接予定領域Wを通る第1の基準線と、溶接予定領域Wを通ると共に第1の基準線に交差(一例として直交)する第2の基準線と、のそれぞれの上に形成される。ここでは、一例として、第1の基準線と溶接予定領域Wの外縁との2箇所の交点、及び、第2の基準線と溶接予定領域Wの外縁との2箇所の交点のそれぞれに貫通孔22を形成する。
貫通孔22,26は、タブ14b,17bの積層方向からみて、その外縁が溶接予定領域Wの外縁に内接するようにタブ積層部21,25に形成されていてもよいし、その外縁が溶接予定領域Wの外縁と交差するようにタブ積層部21,25に形成されていてもよい。貫通孔22,26は、例えばポンチ等の針をタブ積層部21,25に対してタブ14b,17bの積層方向に沿って突き刺すことで形成することができる。貫通孔22,26は、一例として円筒状である。なお、この工程では、貫通孔22は、タブ積層部21上に保護板23を配置した状態で形成される。また、貫通孔26は、タブ積層部25上に保護板27を配置した状態で形成される。したがって、貫通孔22は、保護板23及び導電部材16を貫通している。また、貫通孔26は、保護板27及び導電部材19を貫通している。
この工程により、電極積層体20Aに貫通孔22,26が形成され、電極積層体20が構成される。電極積層体20は、互いに積層された複数の電極(正極11及び負極12)を含む電極積層体である。電極は、本体14a,17aと、本体14a,17aの一端から突出し、溶接予定領域Wが設定されたタブ14b,17bと、を含む。タブ14b,17bは、互いに積層されてタブ積層部21,25を構成している。タブ積層部21,25には、タブ14b,17bの積層方向に沿った複数の貫通孔22,26が形成されている。貫通孔22,26は、タブ14b,17bの積層方向からみて溶接予定領域Wの外縁に重複するように、タブ積層部21,25に形成されている。
続く工程では、図6に示されるように、複数のタブ14b,17bを互いに溶接する(溶接工程)。一例として、まず、図6の(a)に示されるように、一対の溶接電極30によって、タブ積層部21、導電部材16、及び保護板23を挟み込む。その後、図6の(b)に示されるように、一対の溶接電極30を用いた抵抗溶接によって、複数のタブ14b、導電部材16、及び保護板23を互いに溶接する。ここでは、溶融部分(溶融後に再固化した部分)をハッチングにより示している。これにより、複数の正極11と導電部材16とが各タブ14bを介して電気的に接続される。
同様に、一対の溶接電極によって、タブ積層部25、導電部材19、及び保護板27を挟み込む。その後、一対の溶接電極を用いた抵抗溶接によって、複数のタブ17b、導電部材19、及び保護板27を互いに溶接する。これにより、複数の負極12と導電部材19とが各タブ17bを介して電気的に接続される。以上の工程により、電極組立体3が製造される。
以上説明したように、本実施形態に係る電極組立体3の製造方法においては、タブ14b,17bの溶接工程の前に、タブ14b,17bの積層部分(タブ積層部21,25)に複数の貫通孔22,26を形成する。複数の貫通孔22,26は、一定の面積を有する溶接予定領域Wの外縁に重複するように設けられる。したがって、タブ14b,17bの溶接工程の後には、貫通孔22,26の閉塞状況を外観から観察することにより、溶接予定領域Wにおいてタブ14b,17bが十分に溶融されたか否かを判定することが可能である。
一例として、溶接予定領域Wの全体にわたってタブ14b,17bが十分に溶融されていない場合、貫通孔22,26が閉塞されず貫通したままである。この場合には、溶接が不十分であると判定することができる。一方、溶接予定領域Wの全体にわたってタブ14b,17bが十分に溶融されている場合、貫通孔22,26の少なくとも一部が溶融したタブ14b,17bによって閉塞される。この場合には、溶接が十分であると判定することができる。以上のように、この製造方法によれば、溶接の成否を外観によって判定することが可能である。なお、溶接の成否の外観検査は、例えば、カメラ等を用いて複数の貫通孔22を撮像し、撮像した画像を画像処理することによって行うことができる。
本実施形態に係る電極組立体3の製造方法においては、孔形成工程において、タブ14bの積層方向からみて、溶接予定領域Wを通る第1の基準線L1と、溶接予定領域Wを通ると共に第1の基準線L1に交差する第2の基準線L2と、のそれぞれの上に貫通孔22を形成する。また、孔形成工程においては、タブ17bの積層方向からみて、溶接予定領域Wを通る第1の基準線と、溶接予定領域Wを通ると共に第1の基準線に交差する第2の基準線と、のそれぞれの上に貫通孔26を形成する。この場合、タブ14b,17bの積層方向からみて貫通孔22,26が二次元的に配置されることになる。よって、貫通孔22,26の閉塞状況から溶接された領域の面積を確実に把握できるので、溶接の成否を外観によって確実に判定することが可能となる。
本実施形態に係る電極積層体20においては、タブ14b,17bの積層部分(タブ積層部21,25)に複数の貫通孔22,26が形成されている。複数の貫通孔22,26は、一定の面積を有する溶接予定領域Wの外縁に重複するように設けられている。したがって、タブ14b,17bを溶接した後には、貫通孔22,26の閉塞状況を外観から観察することにより、溶接予定領域Wにおいてタブ14b,17bが十分に溶融されたか否かを判定することが可能である。つまり、この電極積層体20によれば、溶接の成否を外観によって判定することが可能である。
以上の実施形態は、本発明に係る電極組立体の製造方法及び電極積層体の一実施形態を説明したものである。したがって、本発明に係る電極組立体の製造方法及び電極積層体は、上述した形態に限定されない。本発明に係る電極組立体の製造方法及び電極積層体は、各請求項の要旨を変更しない範囲において、上述した形態を任意に変更したものとすることができる。
例えば、上記実施形態においては、タブ14bの積層方向からみて、溶接予定領域Wの外縁と第1の基準線L1との交点と、溶接予定領域Wの外縁と第2の基準線L2との交点と、において貫通孔22を形成した。また、タブ17bの積層方向からみて、溶接予定領域Wの外縁と第1の基準線との交点と、溶接予定領域Wの外縁と第2の基準線との交点と、において貫通孔26を形成した。しかしながら、貫通孔22,26の数及び位置は、この例に限定されない。
例えば、図7の(b)に示されるように、第1の基準線L1及び第2の基準線L2上において、溶接予定領域Wの中心から放射状に複数の貫通孔22を形成してもよい。より具体的には、ここでは、第1の基準線L1上において、溶接予定領域Wの外縁に重複する箇所に2つの貫通孔22を形成し、溶接予定領域Wの内側に2つの貫通孔22を形成し、溶接予定領域Wの外側に2つの貫通孔22を形成している。また、第2の基準線L2上において、溶接予定領域Wの外縁に重複する箇所に2つの貫通孔22を形成し、溶接予定領域Wの内側に2つの貫通孔22を形成し、溶接予定領域Wの外側に2つの貫通孔22を形成している。貫通孔26についても同様とすることができる。この場合、溶接予定領域Wの中心からの距離が異なる複数の貫通孔22のうちのどの貫通孔22が閉塞されているかを確認することにより、実際に溶接された領域の面積を更に精度よく把握することが可能となる。
また、図7の(c)に示されるように、タブ14bの積層方向からみて、第1の基準線L1に沿って延びる長孔状の貫通孔22を形成すると共に、第2の基準線L2に沿って延びる長孔状の貫通孔22を形成してもよい。このとき、それぞれの貫通孔22は、溶接予定領域Wの外縁を越えて溶接予定領域Wの内側から外側にわたって延在する。貫通孔26についても、同様とすることができる。この場合には、複数の貫通孔22のそれぞれがどこまで閉塞されているかを確認することにより、実際に溶接された領域の面積を精度よく把握することが可能となる。
また、上記実施形態においては、タブ積層部21における導電部材16と接する面とは反対側の面に保護板23が配置され、タブ積層部25における導電部材19と接する面とは反対側の面に保護板27が配置されていたが、これら保護板23,27が設けられていなくてもよい。
11…正極(電極)、12…負極(電極)、14a,17a…本体、14b,17b…タブ、20…電極積層体、21,25…タブ積層部、22,26…貫通孔、L1…第1の基準線、L2…第2の基準線、W…溶接予定領域。

Claims (3)

  1. 本体と前記本体の一端から突出するタブとを含む複数の電極を積層することにより、互いに積層された複数の前記タブからなるタブ積層部を構成する積層工程と、
    前記タブの積層方向に沿った複数の貫通孔を前記タブ積層部に形成する孔形成工程と、
    前記孔形成工程の後に、複数の前記タブを互いに溶接する溶接工程と、
    を備え、
    前記孔形成工程においては、前記積層方向からみて前記タブの溶接予定領域の外縁に重複するように複数の前記貫通孔を形成する、
    電極組立体の製造方法。
  2. 前記孔形成工程においては、前記積層方向からみて、前記溶接予定領域を通る第1の基準線と、前記溶接予定領域を通ると共に前記第1の基準線に交差する第2の基準線と、のそれぞれの上に前記貫通孔を形成する、
    請求項1に記載の電極組立体の製造方法。
  3. 互いに積層された複数の電極を含む電極積層体であって、
    前記電極は、本体と、前記本体の一端から突出し、溶接予定領域が設定されたタブと、を含み、
    複数の前記タブは、互いに積層されてタブ積層部を構成しており、
    前記タブ積層部には、前記タブの積層方向に沿った複数の貫通孔が形成されており、
    前記貫通孔は、前記積層方向からみて前記タブの前記溶接予定領域の外縁に重複するように、前記タブ積層部に形成されている、
    電極積層体。
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