JP2016204244A - 反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
炭化ケイ素粒子と成形用樹脂とを少なくとも含む原料を用意する工程と、
前記原料の薄層を形成し、当該薄層の所望の領域にレーザーを照射し、当該薄層を焼結させて焼結薄層を形成する工程と、
前記焼結薄層を形成する工程を複数回行い、焼結薄層が複数積層されてなる成形体を得る工程と、
前記成形体にアシスト剤を含浸させ、そして当該アシスト剤を含浸させた成形体を硬化させて硬化体を得る工程と、
前記硬化体に含まれる有機化合物成分を炭化させて、焼成体を得る工程と、
前記焼成体にシリコンを含浸させ、当該焼成体を反応焼結させて反応焼結炭化ケイ素部材を得る工程とを少なくとも含んでなり、
前記焼成体は炭素を8重量%以上30重量%以下含むものであることを特徴とするものである。
原料の用意
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法にあっては、先ず炭化ケイ素粒子と成形用樹脂とを少なくとも含む原料を用意する(図1、ST1)。
本発明において用いられる炭化ケイ素(SiC)粒子は、平均粒子径が1μm以上100μm以下のものであることが好ましい。炭化ケイ素粒子の平均粒子径が1μm以上であることにより、原料に流動性が付与され、良好なリコーティングが可能となる。また、平均粒子径が100μm以下であることにより、レーザー照射により、炭化ケイ素粒子と共に原料に含まれる成形用樹脂を良好に溶融させることができる。さらに、炭化ケイ素粒子の平均粒子径が上記範囲にあることで、原料の薄層の厚みを容易に150μm以下とすることが可能となる。その結果、レーザー照射により成形用樹脂を十分に溶融することができ、原料同士を強固に結合させることができる。本発明のさらに好ましい態様によれば、炭化ケイ素粒子の平均粒子径は10μm以上80μm以下である。ここで、平均粒子径とは、JIS R6002:研削といし用研磨材の粒度の試験方法に規定される光透過沈降法または沈降試験方法により測定された累積高さ50%点の粒子径(ds−50値)を意味する。
本発明において用いられる成形用樹脂は、加熱により溶融する性質を有するものである。成形用樹脂が溶融することにより、炭化ケイ素粒子同士が溶融樹脂を介して繋がる。後述するように、本発明では成形体が粉末焼結積層造形法により作製される。この造形法では原料の薄層にレーザーを照射してこれを焼結させて成形体を得るため、成形用樹脂は加熱により溶融する性質を有するものであれば、特に制限なく用いることができる。
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法において用いられる原料(粉末)は、任意成分として、炭素や炭化ホウ素を含んでもよい。炭素を添加することにより、反応焼結による炭化ケイ素の生成量の増加を促進し、得られる反応焼結炭化ケイ素部材のセラミックス特性を向上させることができる。また、炭化ホウ素を添加することにより、炭化ホウ素が軽量高剛性であるため、反応焼結炭化ケイ素部材をより軽量でより高い剛性にすることができる。炭素としては、カーボンブラックおよび黒鉛などの炭素粒子を用いることができる。炭素粒子の平均粒子径は、0.05μm以上50μm以下であることが好ましい。また、炭化ホウ素の平均粒子径は、10μm以上100μm以下であることが好ましい。
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法にあっては、次いで、原料の薄層を形成し(リコーティング)(図1、ST2)、当該薄層の所望の領域にレーザーを照射し、当該薄層を焼結させて焼結薄層を形成する(図1、ST3)。そして、この工程を複数回行い、焼結薄層が複数積層されてなる成形体を得る(図1、ST4)。
本発明において、成形体は粉末焼結積層造形法により形成される。粉末焼結積層造形法は、積層造形法の一種であり、3次元の形状データが変換処理されたスライスデータに基づき、原料の薄層の所望の領域をレーザー熱源により逐次溶融、焼結し、そして複数の焼結薄層を積層することで成形体を作製する手法である。粉末焼結積層造形法を用いることにより、成形体を作製するための成形型が不要となり、また得られた成形体を加工する必要が少ないという利点が得られる。
成形体の作製に先立って、得られた原料は、粉末焼結積層造形装置の原料容器に充填される。その後、原料を充填した原料容器は、装置本体にセットされる。
本発明の好ましい態様によれば、造形室内が不活性雰囲気であることが好ましい。不活性雰囲気とするのに、ヘリウム、アルゴン、および窒素などの不活性ガスを用いることができる。これにより、焼結に付される原料および焼結された原料の酸化を防止することができる。
本発明の好ましい態様によれば、原料を焼結する前に、原料容器(原料)および造形部(原料の薄層)を予備加熱しておくことが好ましい。これにより、焼結時原料にレーザー照射する際、原料が溶融および焼結し易くなる。また、成形体を効率良く作製することができる。予備加熱の温度は原料の種類によって適宜決定することができる。原料に含まれる成形用樹脂の融点または軟化点付近の温度で予備加熱するのが好ましい。具体的には、原料に含まれる成形用樹脂の融点または軟化点よりも5℃〜100℃低い温度、より好ましくは5℃〜50℃低い温度、さらにより好ましくは5℃〜30℃低い温度で予備加熱する。原料の成形用樹脂として、ナイロン12を用いる場合は、130℃以上180℃以下の温度で予備加熱するのが好ましい。
成形体の作製にあっては、原料の薄層を形成し(図1、ST2)、当該薄層の所望の領域にレーザーを照射して、当該薄層を焼結させて焼結薄層を形成する(図1、ST3)。そして、この工程を所望の回数繰り返し、前記焼結薄層が複数積層されてなる所望の成形体を得る(図1、ST4)。
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法にあっては、次いで、成形体に炭素源を含むアシスト剤を含浸させ(図1、ST5)、そして当該アシスト剤を含浸させた成形体を硬化させて硬化体を得る(図1、ST6)。本発明において、炭素源を含むアシスト剤とは、後述する焼成体に含まれる炭素の量を増やし、焼成体の強度を向上させる材料をいう。
本発明において、成形体に含浸させるアシスト剤は、25℃で500mPa・s以下の粘度を有するものであることが好ましい。これにより、成形体の気孔にアシスト剤を毛管力によって効率的に浸透させることができる。とりわけ、大型の反応焼結炭化ケイ素部材を製造する際、アシスト剤が成形体の内部まで浸透し易くなる。
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法にあっては、次いで、硬化体を炭化させて、焼成体を得る(図1、ST7)。
ρ=3.2×x+2.33(1−x) 式(1)
x=(ρ−2.33)/0.87 式(2)
RSi=2.33×P×(1−x) 式(3)
RSiC=3.2×P×x 式(4)
R原料SiC=G×Q 式(5)
R生成SiC=RSiC−R原料SiC=3.2×P×x−G×Q 式(6)
RC=R生成SiC/40.1×12=〔3.2×P×{(ρ−2.33)/0.87}−G×Q〕/40.1×12 式(7)
焼成体に含まれる炭素の割合(wt%)=RC/(R原料SiC+RC)×100 式(8)
本発明の一つの態様によれば、焼成体を得た後、当該焼成体にシリコンを含浸させる前に、当該焼成体を仮焼してもよい。これにより、焼成体の強度を向上させることが可能となる。また、シリコンを含浸させる際に焼成体の変形などの不具合の発生を防止または抑制することができる。さらに、焼成体の加工もしやすくなる。仮焼は、真空下1400℃以上2000℃以下の条件で行われるのが好ましい。仮焼体は、焼成体と同様の理由により、炭素を8重量%以上30重量%以下含み、8重量%以上21重量%以下含むことがより好ましく、16重量%以上21重量%以下含むことがより好ましい。
本発明による反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法にあっては、次いで、炭化工程及び/または仮焼工程で得られた焼成体にシリコンが供給できるように設置する(図1、ST8)。例えばシリコンが該焼成体に接触するように配置する。そして、シリコンを溶融温度以上に加熱して焼成体にシリコンを含浸させ、同時に反応焼結を生じさせ、反応焼結炭化ケイ素部材を得る(図1、ST9F)。
本発明により得られる反応焼結炭化ケイ素部材は、炭化ケイ素を48体積%以上80体積%以下含むことが好ましく、54体積%以上80体積%以下含むことがより好ましい。反応焼結炭化ケイ素部材に含まれる炭化ケイ素の割合が高いことにより、優れたセラミックス特性を示すことが可能となる。
本発明により得られる反応焼結炭化ケイ素部材は、高温耐久性や軽量かつ高比剛性が求められる部材に用いることが可能である。炉材、半導体製造装置、液晶製造装置、放熱部材やヒートシンクなどの部材として用いることが可能である。半導体製造装置としては、静電チャックやステージが挙げられる。炉材としては、搬送用部材やヒーターが挙げられる。
原料の用意
原料として、平均粒子径30μmの炭化ケイ素(SiC)および平均粒子径10μmのナイロン12を用いた。炭化ケイ素粉末とナイロン12との重量比(前者:後者)が100:1となるように秤量した。これらの混合粉末10kgをプラスチックポット内に投入し、2時間以上の乾式撹拌混合を行い、原料を得た。
粉末焼結積層造形装置として、粉末積層式3D造形装置(SEMplice300、Aspect社製)を用いた。得られた原料を原料容器に所定量投入し、ムラのないように充填した。次いで、原料を充填した原料容器を装置本体にセットし、その後造形室に窒素を導入した。また、造形室内の造形テーブル上に所定の厚みで原料の薄層を予め形成した。原料の薄層の形成は、詳細には以下のとおり行った。先ず、原料の薄層一層の厚さ分造形テーブルを下方に移動させた。下方への移動距離は100μmとした。その後、一方の原料容器の原料供給テーブル上に充填された原料を、当該原料供給テーブルを造形テーブルと同じ高さまで移動させて運び、さらにリコーターによって造形テーブル上に運び、原料の薄層を形成した。
得られた成形体をレゾール型フェノール樹脂(不揮発分:70%程度、粘度:25℃で130mPa・s程度)に埋没浸漬させ、真空脱泡処理を5分以上行い、成形体にフェノール樹脂を完全に含浸させた。
得られた硬化体を炭化させて、焼成体を作製した。炭化処理は窒素雰囲気中1000℃まで昇温し、2時間保持することにより行った。
得られた焼成体を仮焼して、仮焼体を得た。仮焼は真空中1700℃まで昇温し、2時間保持することにより行った。ここで、得られた仮焼体の密度、および当該仮焼体に含まれている炭素量から、反応する又は空隙に充填される金属シリコン(Si)量を算出した。仮焼体の密度は、ノギスによる寸法測定および重量測定から算出した。
炭化ケイ素粉末とナイロン12との重量比を100:3として原料を得た以外は実施例1と同様の方法で、反応焼結炭化ケイ素部材を作製した。また、実施例1と同様に反応焼結炭化ケイ素部材の表面のシリコンを除去し、所望の形状に加工した後、各種評価を行った。
炭化ケイ素粉末とナイロン12との重量比を100:10として原料を得た以外は実施例1と同様の方法で、反応焼結炭化ケイ素部材を作製した。また、実施例1と同様に反応焼結炭化ケイ素部材の表面のシリコンを除去し、所望の形状に加工した後、各種評価を行った。
原料として、平均粒子径10μmの炭化ケイ素粒子と平均粒子径80μmの炭化ケイ素粒子との混合物、および平均粒子径10μmのナイロン12を用いた。炭化ケイ素粒子の混合物は、平均粒子径が10μmの炭化ケイ素粒子と平均粒子径が80μmの炭化ケイ素粒子との重量比(前者:後者)が23:77となるように混合して得た。この混合物粉末とナイロン12との重量比を100:3とした以外は実施例1と同様の方法で、原料を得た。
成形体の作製において、レーザー光の出力を18Wとした以外は実施例2と同様の方法で、成形体を作製した。得られた成形体を60wt%濃度のα−グルコース水溶液に埋没浸漬させ、真空脱泡処理を5分以上行い、成形体にα−グルコース水溶液を完全に含浸させた。α−グルコースを含浸させた成形体を、80℃で6時間以上、乾燥および硬化させ、硬化体を作製した。
原料として、平均粒子径30μmの炭化ケイ素粒子および平均粒子径20μmのノボラック型フェノール樹脂を用いた。炭化ケイ素粉末とフェノール樹脂との重量比が100:10となるように秤量し、実施例1と同様の方法で、原料を得た。
成形体の作製において、レーザー光の出力を20Wとした以外は実施例2と同様の方法で、成形体を作製した。得られた成形体を50wt%濃度のα−グルコース水溶液に埋没浸漬させ、真空脱泡処理を5分以上行い、成形体にα−グルコース水溶液を完全に含浸させ、α−グルコースが含浸した成形体を得た。このα−グルコースを含浸させた成形体を、80℃で6時間以上、乾燥および硬化させ、硬化体を作製した。その後、この硬化体を窒素雰囲気中1000℃で2時間炭化処理を行い、焼成体を作製した。この焼成体を再度50wt%濃度のα−グルコース水溶液に埋没浸漬させ、真空脱泡処理を5分以上行い、焼成体にα−グルコース水溶液を完全に含浸させた。α−グルコースを含浸させた焼成体を、80℃で6時間以上、乾燥および硬化させ、再度硬化体を作製した。
原料として、平均粒子径30μmの炭化ケイ素粒子、平均粒子径10μmの黒鉛炭素粒子および平均粒子径10μmのナイロン12を用いた。炭化ケイ素粉末と黒鉛炭素粉末が重量比で90:10となるように秤量し、炭化ケイ素と黒鉛炭素の混合粉末を得た。この混合粉末とナイロン12との重量比が100:3となるように秤量し、実施例1と同様の方法で、原料を得た。
原料として、平均粒子径30μmの炭化ケイ素粒子、平均粒子径10μmの黒鉛炭素粒子および平均粒子径10μmのナイロン12を用いた。炭化ケイ素粉末と黒鉛炭素粉末が重量比で90:10となるように秤量し、炭化ケイ素と黒鉛炭素の混合粉末を得た。この混合粉末とナイロン12との重量比が100:3となるように秤量し、実施例1と同様の方法で、原料を得た。
得られた成形体に対しアシスト剤の含浸処理を行わなかった以外は実施例2と同様の方法で、焼成体を得た。得られた焼成体は、焼成直後は形状を保持しているのを確認できたものの、強度がなく、ハンドリングで破損した。
原料として、平均粒子径30μmの炭化ケイ素粒子および平均粒子径20μmのノボラック型フェノール樹脂を用いた。炭化ケイ素粉末とフェノール樹脂との重量比が100:10となるようにフェノール樹脂を秤量し、実施例1と同様の方法で、原料を得た。
(成形体および反応焼結炭化ケイ素部材の密度および気孔率の測定)
成形体の密度および気孔率は、JIS R1634:ファインセラミックスの焼結体密度・開気孔率の測定方法により測定した。成形体の寸法は、ノギスを用いて行った。また、反応焼結炭化ケイ素部材の密度および気孔率を測定した。各部材の密度および気孔率は、JIS R1634:ファインセラミックスの焼結体密度・開気孔率の測定方法により測定した。結果は表1に示されるとおりであった。
収縮率は、成形体の体積Vsと反応焼結炭化ケイ素部材の体積Vfを測定し、Vf/Vsにより算出した。反応焼結後のシリコンの付着が激しいものについては、反応焼結による寸法変化がほぼゼロであるため、反応焼結前の焼成体の体積をVfの代わりとして収縮率を算出した。なお、体積はノギスによる寸法測定から求めた。また、各体積は同一バッチ処理を行った試料をJIS R1634:ファインセラミックスの焼結体密度・開気孔率の測定方法に従って測定してもよい。結果は表1に示されるとおりであった。
上記式(8)により、焼成体に含まれる炭素の割合(wt%)を算出した。その際、密度および収縮率は上記の方法で得られた値を用いた。結果は表1に示されるとおりであった。
上記式(4)により、反応焼結炭化ケイ素部材の1cm3あたりに含まれる炭化ケイ素量(g)を算出した。結果は表1に示されるとおりであった。
上記式(3)により、反応焼結炭化ケイ素部材の1cm3あたりに含まれるシリコン量(g)を算出した。結果は表1に示されるとおりであった。
ヤング率の測定は、JIS R1602:ファインセラミックスの弾性率試験方法に従い、超音波パルス法にて求めた。結果は表1に示されるとおりであった。
曲げ強度の測定は、JIS R1601:ファインセラミックスの室温曲げ強さ試験方法に従い、3点曲げ試験により求めた。結果は表1に示されるとおりであった。
得られた反応焼結炭化ケイ素部材の外観評価を以下の基準で行った。結果は表1に示されるとおりであった。
○:ハガレや膨れなどの異常がなかった。
×:ハガレや膨れなどの異常が見られた。
実施例2の作製条件を用いて、大きさが、縦200mm、横200mm、高さ35mm、リブの厚さ3mmの大型かつ複雑形状の反応焼結炭化ケイ素品であるリブ構造体を作製した。割れやクラック等の不具合の発生はなかった。
Claims (7)
- 反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法であって、
炭化ケイ素粒子と成形用樹脂とを少なくとも含む原料を用意する工程と、
前記原料の薄層を形成し、当該薄層の所望の領域にレーザーを照射し、当該薄層を焼結させて焼結薄層を形成する工程と、
前記焼結薄層を形成する工程を複数回行い、前記焼結薄層が複数積層されてなる成形体を得る工程と、
前記成形体に炭素源を含むアシスト剤を含浸させ、そして当該アシスト剤を含浸させた成形体を硬化させて硬化体を得る工程と、
前記硬化体に含まれる有機化合物成分を炭化させて、焼成体を得る工程と、
前記焼成体にシリコンを含浸させ、そして当該焼成体を反応焼結させて反応焼結炭化ケイ素部材を得る工程とを少なくとも含んでなり、
前記焼成体は炭素を8重量%以上30重量%以下含むものである、反応焼結炭化ケイ素部材の製造方法。 - 前記原料は、前記炭化ケイ素粒子と前記成形用樹脂とを重量比で100:0.5以上100:100以下少なくとも含むものである、請求項1に記載の製造方法。
- 前記アシスト剤が、フェノール樹脂および/または糖類である、請求項1または2に記載の製造方法。
- 前記原料の薄層を形成した後、当該薄層を焼結させる前に、当該薄層を予備加熱する工程をさらに含んでなる、請求項1〜3のいずれか一項に記載の製造方法。
- 前記焼成体を得た後、当該焼成体にシリコンを含浸させる前に、当該焼成体を仮焼する工程をさらに含んでなる、請求項1〜4のいずれか一項に記載の製造方法。
- 前記レーザー照射が、目的成形体の三次元形状データから得られたスライスデータに基づき行われる、請求項1〜5のいずれか一項に記載の製造方法。
- 請求項1〜6のいずれか一項に記載の製造方法により得られる、反応焼結炭化ケイ素部材。
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