JP2016187792A - ガス浄化方法及び装置、並びに有価物生成方法及び装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】対象ガスからアセチレン及び酸素を除去するにあたって、銅アセチリド等の金属アセチリドが生成されるのを防止する。【解決手段】対象ガスgの供給路4に沿って、アセチレン除去部13を酸素除去部14より上流側に配置する。アセチレン除去部13によって、対象ガスg中のアセチレンを除去する。その後、酸素除去部14の酸素除去金属触媒14aに対象ガスgを接触させて、対象ガスg中の酸素を除去する。【選択図】図1

Description

本発明は、ガスの浄化方法及び装置、並びに有価物の生成方法及び装置に関し、特に、嫌気性微生物の培養に供される合成ガスの前処理として好適なガス浄化方法及び装置、並びに浄化後のガスを用いた有価物生成方法及び装置に関する。
例えば、特許文献1では、合成ガスから嫌気性微生物の発酵作用によってエタノール等の有価物を生成している。合成ガスには、酸素、粒子状物質、タール、硫化水素、BTEX(ベンゼン、トルエン、エチルベンゼン、キシレン)等が少量含まれており、これらは微生物に有害である可能性があるために、前処理部で除去することが記載されている。
特開2014−050406号公報([0102])
発明者等の研究によれば、廃棄物を燃焼させて得た合成ガスには、水素、一酸化炭素、二酸化炭素といった主成分に加えて、不純物成分として、上掲特許文献1に列記の酸素、硫化水素、ベンゼン等のほか、アセチレン(C)も含まれているとの知見を得た。この合成ガスを、例えば、嫌気性のガス資化性微生物の培養などに利用する際には、これら不純物成分を除去する必要がある。
ガス中の酸素を除去する最も一般的な方法として、銅触媒を利用する方法が挙げられる。しかしながら、ガスがアセチレンをも含む場合、アセチレンと銅が反応し、銅アセチリド(CCu)が生成されることが考えられる。銅アセチリドは、雰囲気中の水分量や粒子径等によっては爆発性を有すると言われている。
本発明は、上記事情に鑑み、合成ガス等の浄化すべき対象ガスからアセチレン及び酸素を除去するにあたって、銅アセチリド等の金属アセチリドが生成されるのを防止することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明方法は、酸素及びアセチレンを不純物成分として含む対象ガスを浄化する方法であって、
アセチレン除去部によって前記対象ガス中のアセチレンを除去するアセチレン除去工程と、
酸素除去金属触媒によって前記対象ガス中の酸素を除去する酸素除去工程と、
を含み、前記アセチレン除去工程の後、前記酸素除去工程を行うことを特徴とする。
また、本発明装置は、酸素及びアセチレンを不純物成分として含む対象ガスを浄化する装置であって、
酸素除去金属触媒によって前記対象ガス中の酸素を除去する酸素除去部と、
前記対象ガス中のアセチレンを除去するアセチレン除去部と、
を備え、前記アセチレン除去部が、前記対象ガスの供給路に沿って前記酸素除去部の上流側に配置されていることを特徴とする。
前記酸素除去金属触媒の金属成分としては、銅(Cu)、白金(Pt)、ニッケル(Ni)等が挙げられ、特に銅が好ましい。
本発明によれば、対象ガスからセチレンを除去したうえで、その対象ガスを酸素除去金属触媒に接触させて酸素除去する。これによって、銅アセチリド等の金属アセチリドが生成されるのを防止することができる。
前記ガス浄化方法において、前記対象ガスから水分を除去する水除去工程を、少なくとも前記酸素除去工程より前に行うことが好ましい。
前記ガス浄化装置において、前記対象ガスから水分を除去する水除去部が、前記供給路の少なくとも前記酸素除去部の上流側に配置されていることが好ましい。
これによって、対象ガスの水分含有量を微小とし、好ましくは対象ガスが殆ど水分を含まないようにしたうえで、対象ガスを酸素除去金属触媒に接触させることができる。この結果、たとえ金属アセチリドが生成されたとしても、該金属アセチリドが爆発性を持たないようにすることができる。
前記ガス浄化方法において、前記アセチレン除去工程では、前記対象ガスを水素化金属触媒と接触させることが好ましい。
前記ガス浄化装置において、前記アセチレン除去部が、水素化金属触媒を含むことが好ましい。
これによって、対象ガス中のアセチレンを水素化してエチレン等に変換することができる。
前記水素化金属触媒の金属成分としては、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、等の貴金属が挙げられ、特にパラジウムが好ましい。
前記ガス浄化方法において、前記アセチレン除去工程の前に、前記対象ガスから硫黄含有物質を除去する脱硫工程を行うことが好ましい。
前記ガス浄化装置において、前記供給路に沿って前記アセチレン除去部の上流側に、前記対象ガスから硫黄含有物質を除去する脱硫部が設けられていることが好ましい。
これによって、前記水素化金属触媒が硫黄含有物質により被毒されるのを防止でき、水素化金属触媒の触媒機能を保持することができる。
本発明に係る有価物生成方法は、前記ガス浄化方法にて浄化された対象ガスを、ガス資化性微生物を培養する液状の培地に供給し、前記ガス資化性微生物の発酵によって有価物を生成することを特徴とする。
本発明に係る有価物生成装置は、前記ガス浄化装置と、液状の培地中でガス資化性微生物を培養する培養槽とを備え、前記ガス浄化装置からの対象ガスを前記培養槽に供給して、前記ガス資化性微生物の発酵によって有価物を生成することを特徴とする。
前記ガス資化性微生物が対象ガスを摂取して有価物を発酵する。酸素やアセチレン等の不純物質を除去したうえで、対象ガスを液状培地に供給することで、ガス資化性微生物を安定的に培養することができる。
本発明によれば、対象ガスからアセチレン及び酸素を除去するにあたって、金属アセチリドが生成されるのを防止することができる。
図1は、本発明の一実施形態に係る有価物生成システムの概略を示す構成図である。
以下、本発明の一実施形態を図面にしたがって説明する。
図1に示すように、有価物生成システム1は、合成ガス生成部2(対象ガス生成部)と、有価物生成装置3とを備えている。合成ガス生成部2において合成ガスg(対象ガス)が生成される。有価物生成装置3において合成ガスgから有価物が生成される。生成目的の有価物は、例えばエタノール(COH)である。
この実施形態における合成ガス生成部2は、廃棄物処理施設である。廃棄物としては、都市ゴミ、タイヤ、バイオマス、木質チップ、プラスチックごみ等が挙げられる。廃棄物処理施設2には溶融炉が設けられている。溶融炉において、廃棄物が高濃度の酸素ガスによって燃焼されて低分子レベルまで分解される。最終的に、合成ガスgが生成される。
廃棄物由来の合成ガスgは、主要成分としてCO、H、COを含む。また、合成ガスgは、不純物質として、酸素(O)、硫化水素(HS)すなわち硫黄含有物質、アセチレン(C)等を含む。
有価物生成装置3は、ガス浄化装置5と、培養槽6(有価物生成反応部)を備えている。合成ガス生成部2から供給路4が培養槽6へ延びている。供給路4上にガス浄化装置5が介在されている。
ガス浄化装置5は、水除去部11と、脱硫部12と、アセチレン除去部13と、酸素除去部14などを備えている。供給路4に沿って上流側(合成ガス生成部2の側)から水除去部11、脱硫部12、アセチレン除去部13、酸素除去部14の順に配置されている。
水除去部11は、例えばPSA装置(pressure-swing adsorption)にて構成されている。PSA装置によれば、効率的に水分を除去でき、合成ガスgをよりドライにするために好適である。PSA装置の吸着剤としては、ゼオライト、シリカゲル、活性炭等を用いることができる。
なお、水除去部11が、熱交換器ないしは凝縮器にて構成されていてもよい。
脱硫部12は、脱硫剤12aを含む。脱硫剤12aとして酸化鉄が用いられている。
脱硫部12の下流側にアセチレン除去部13が設けられている。アセチレン除去部13は、水素化金属触媒13aを含む。水素化金属触媒13aの金属成分としては、パラジウム(Pd)が用いられている。
アセチレン除去部13の下流側に酸素除去部14が設けられている。言い換えると、酸素除去部14の上流側にアセチレン除去部13が配置されている。
酸素除去部14は、酸素除去金属触媒14aを含む。酸素除去金属触媒14aの金属成分は、銅(Cu)にて構成されている。以下、酸素除去金属触媒14aを適宜「銅触媒14a」と称す。
供給路4の下流端が培養槽6に接続されている。詳細な図示は省略するが、培養槽6内の液状の培地中で嫌気性のガス資化性微生物が培養されている。ガス資化性微生物としては、例えば上掲特許文献1や、国際公開第2011/087380号、米国特許US2013/0065282等に開示された嫌気性細菌を用いることができる。
図示は省略するが、培養槽6の後段には、蒸留塔を含む精製部が設けられている。
有価物生成システム1によって、エタノール(有価物)を生成する方法を説明する。
<合成ガス生成工程>
合成ガス生成部2において廃棄物を燃焼することによって合成ガスgを生成する。
<合成ガス供給工程>
この合成ガスgを供給路4によってガス浄化装置5を経て培養槽6へ送る。
<浄化工程>
ガス浄化装置5においては、合成ガスg中の不純物質を除去することで、合成ガスgを浄化する。
<水除去工程>
詳しくは、水除去部11において合成ガスgを冷却して、合成ガスg中の水分を凝縮させる。これよって、合成ガスgから水分を除去できる。水除去部11をPSA方式とすることによって、合成ガスgから水分を十分に除去でき、合成ガスgを十分にドライな状態にすることができる。水除去工程後の合成ガスg(ひいては銅触媒14aに供給される合成ガスg)の水分含有量は、好ましくは4.8g/m〜5.7g/m程度である。
<脱硫工程>
次に、合成ガスgを脱硫部12に導入して、脱硫剤12aと接触させる。
これによって、脱硫剤12aの酸化鉄によって合成ガスg中の硫化水素(HS)を下式(1)〜(2)のようにして除去できる。
Fe+2HS+H→2FeS+3HO (1)
4FeS+7O→2Fe+4SO (2)
<アセチレン除去工程>
次に、合成ガスgをアセチレン除去部13に導入して、水素化金属触媒13aと接触させる。
これによって、水素化金属触媒13aのPdによって合成ガスg中のアセチレンを下式(3)のように水素化して除去できる。好ましくは、合成ガスgからアセチレンをほぼ完全に除去する。
+H→C (3)
アセチレン除去工程に先立って、脱硫工程によって合成ガスg中の硫化水素(硫黄含有物質)を除去しておくことによって、水素化金属触媒13aが硫黄成分により被毒を受け失活するのを回避できる。したがって、水素化金属触媒13aの触媒機能を長期にわたって維持することができる。
<酸素除去工程>
次に、合成ガスgを酸素除去部14に導入して、銅触媒14aと接触させる。
これによって、銅触媒14aによって合成ガスg中の酸素(O)を下式(4)〜(5)のようにして除去できる。
2Cu+O→2CuO (4)
CuO+H→Cu+HO (5)
予めアセチレン除去工程によって合成ガスgからアセチレンを除去したうえで、酸素除去工程において合成ガスgを銅触媒14aと接触させるため、銅アセチリド(金属アセチリド)が生成されるのを確実に防止することができる。
また、酸素除去工程に先立って、水除去工程によって合成ガスg中の水分を十分に取り除くことによって、万が一、銅アセチリドが生成されたとしても、該銅アセチリドが爆発性を持つのを避けることができる。
これによって、有価物生成システム1の安全性を確保することができる。
なお、上記の何れかの工程の前後において、合成ガスg中のBTEX(ベンゼン、トルエン、エチルベンゼン、キシレン)を除去してもよい。BTEXの除去部としては、PSA装置を用いることができる。
また、フィルタによって、合成ガスg中のススやタール等の固形又は液状の不純物質を除去してもよい。
このようにして、合成ガスgをクリーンな状態にすることができる。
<反応工程>
その後、合成ガスgを培養槽6の液状培地に導入する。これによって、培地中のガス資化性微生物が、合成ガスgのCO及びH等を摂取して、エタノール等を発酵生成する。つまり、合成ガスgからエタノール(有価物)の生成反応を起こす。
予め合成ガスg中の、酸素、アセチレン、硫化水素等の不純物質を除去しておくことで、ガス資化性微生物を安定的に培養できる。
<精製工程>
上記培養液の一部を蒸留塔(図示せず)へ導入して蒸留する。これによって、エタノールを抽出することができる。
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の改変をなすことができる。
例えば、水除去部11は、少なくとも酸素除去部14よりも上流側に配置されていればよい。水除去部11を、脱硫部12とアセチレン除去部13との間や、アセチレン除去部13と酸素除去部14の間に配置してもよい。
水素化金属触媒13aは、Pdに限られず、Pt、Au、Ag等の、Pd以外の貴金属等であってもよい。
アセチレン除去部13が、水や様々な吸着剤によってアセチレンを吸着するものであってもよい。
酸素除去金属触媒14aは、銅に限られず、白金・ニッケル等の銅以外の金属であってもよい。本発明は、酸素除去金属触媒14aが、アセチレンと反応して金属アセチリドを生成し得るものに好適である。
生成目的の有価物は、エタノールに限られず、酢酸やメタノール等であってもよい。
有価物生成装置3が、有価物生成反応部として、培養槽6に代えて、合成ガスgを金属触媒に接触させることでエタノール等の有価物を生成する反応槽を有していてもよい。
対象ガスの用途は、有価物生成に限られない。ガス浄化装置5を、対象ガスを排気する際の前処理装置として用いてもよい。
対象ガスは、製鉄所の副生ガス(転炉、高炉ガス等)であってもよい。
対象ガス生成部2は、廃棄物処理施設に限られず、製鉄所や石炭発電所等であってもよい。
本発明は、例えば産業廃棄物の焼却処理で生じるシンガスからエタノールを生成するエタノール生成システムに適用できる。
g 合成ガス(対象ガス)
1 有価物生成システム
2 合成ガス生成部(対象ガス生成部)
3 有価物生成装置
4 供給路
5 ガス浄化装置
6 培養槽
11 水除去部
12 脱硫部
12a 脱硫剤
13 アセチレン除去部
13a 水素化金属触媒
14 酸素除去部
14a 酸素除去金属触媒(銅触媒)

Claims (10)

  1. 酸素及びアセチレンを不純物成分として含む対象ガスを浄化する方法であって、
    アセチレン除去部によって前記対象ガス中のアセチレンを除去するアセチレン除去工程と
    酸素除去金属触媒によって前記対象ガス中の酸素を除去する酸素除去工程と、
    を含み、前記アセチレン除去工程の後、前記酸素除去工程を行うことを特徴とするガス浄化方法。
  2. 前記対象ガスから水分を除去する水除去工程を、少なくとも前記酸素除去工程より前に行うことを特徴する請求項1に記載のガス浄化方法。
  3. 前記アセチレン除去工程では、前記対象ガスを水素化金属触媒と接触させることを特徴とする請求項1又は2に記載のガス浄化方法。
  4. 前記アセチレン除去工程の前に、前記対象ガスから硫黄含有物質を除去する脱硫工程を行うことを特徴とする請求項3に記載のガス浄化方法。
  5. 請求項1〜4の何れか1項に記載のガス浄化方法にて浄化された対象ガスを、ガス資化性微生物を培養する液状の培地に供給し、前記ガス資化性微生物の発酵によって有価物を生成することを特徴とする有価物生成方法。
  6. 酸素及びアセチレンを不純物成分として含む対象ガスを浄化する装置であって、
    酸素除去金属触媒によって前記対象ガス中の酸素を除去する酸素除去部と、
    前記対象ガス中のアセチレンを除去するアセチレン除去部と、
    を備え、前記アセチレン除去部が、前記対象ガスの供給路に沿って前記酸素除去部の上流側に配置されていることを特徴とするガス浄化装置。
  7. 前記対象ガスから水分を除去する水除去部が、前記供給路の少なくとも前記酸素除去部の上流側に配置されていることを特徴する請求項6に記載のガス浄化装置。
  8. 前記アセチレン除去部が、水素化金属触媒を含むことを特徴とする請求項6又は7に記載のガス浄化装置。
  9. 前記供給路に沿って前記アセチレン除去部の上流側に、前記対象ガスから硫黄含有物質を除去する脱硫部が設けられていることを特徴とする請求項8に記載のガス浄化装置。
  10. 請求項6〜9の何れか1項に記載のガス浄化装置と、液状の培地中でガス資化性微生物を培養する培養槽とを備え、前記ガス浄化装置からの対象ガスを前記培養槽に供給して、前記ガス資化性微生物の発酵によって有価物を生成することを特徴とする有価物生成装置。
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