JP2016159073A - 細隙灯顕微鏡 - Google Patents

Abstract

【課題】被検眼の広域の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。
【解決手段】細隙灯顕微鏡は、照明系８と、撮影系６とを含む。照明系８は、照明合焦機構５０を含む。照明系８は、被検眼Ｅを細隙光で照明する。照明合焦機構５０は、細隙光のフォーカス位置を変更するために用いられる。撮影系８は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置１３に導く。
【選択図】図２

Description

この発明は、細隙灯顕微鏡に関する。

細隙灯顕微鏡は、細隙光を用いて被検眼の観察部位の光切片を切り取ることにより観察部位の断面を観察したり、当該断面の画像を取得したりするための眼科装置である。角膜や水晶体等の診断には、一般的に、細隙灯顕微鏡が用いられる。たとえば、医師は、細隙灯顕微鏡を操作し、細隙光で照明された被検眼の観察部位を水平方向や深さ方向にシフトさせることにより診断部位全体を観察し、当該診断部位における異常の有無を判断する。

特表２０１３−５２７７７５号公報

しかしながら、細隙灯顕微鏡により診断部位全体を観察する場合、診断記録として保存可能な画像は診断部位の一部の断面画像に過ぎず、その他の大半の部位の断面画像は診断記録として保存されない。このため、診断部位に対する所見は診断部位全体を観察した医師の主観に左右されやすくなり、診断精度の向上の障害となる場合がある。

また、近年では、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ
Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）装置により診断部位を３次元的に撮影することが可能になっている。それにより、医師が、ＯＣＴ装置により取得された３次元画像から当該診断部位の診断等を行うケースが増えている。ところが、細隙灯顕微鏡による検査の結果を受け、医師が３次元画像等の広域の画像から診断を行う場合、ＯＣＴ装置の設置スペースを別途用意する必要があったり、ＯＣＴ装置用の検査位置に被検者を移動させる必要があったりする。

この発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、被検眼の広域の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供することにある。

実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、照明系と、撮影系とを含む。照明系は、被検眼を細隙光で照明し、細隙光のフォーカス位置を変更するための照明合焦機構を備える。撮影系は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導く。

この発明に係る細隙灯顕微鏡によれば、被検眼の広域の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供することができる。

実施形態に係る細隙灯顕微鏡の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の制御系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作説明図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作説明図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作例の説明図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作例の説明図である。 実施形態に係る細隙灯顕微鏡の動作例の説明図である。

この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。

まず方向を定義しておく。装置光学系において最も被検者側に位置するレンズ（対物レンズ）から被検者に向かう方向を前方向、深さ方向（奥行き方向）とし、その逆方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。更に、前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。

［外観構成］
この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の外観構成について、図１を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡１には、コンピュータ１００が接続されている。コンピュータ１００は、各種の制御処理や演算処理を行う。なお、顕微鏡本体（光学系等を格納する筐体）とは別にコンピュータ１００を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。

細隙灯顕微鏡１はテーブル２上に載置される。なお、コンピュータ１００は他のテーブル上またはその他の場所に設置されていてもよい。基台４は、移動機構部３を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台４は、操作ハンドル５を傾倒操作することにより移動される。

基台４の上面には、観察撮影系６および照明系８を支持する支持部１５が設けられている。支持部１５には、観察撮影系６を支持する支持アーム１６が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６の上部には、照明系８を支持する支持アーム１７が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６、１７は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。

観察撮影系６は、支持アーム１６を回動させることで移動される。照明系８は、支持アーム１７を回動させることで移動される。支持アーム１６、１７は、電気的な機構によって回動されるように構成されている。そのため、移動機構部３には、各支持アーム１６、１７を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を各支持アームに伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ（パルスモータ）により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。なお、観察撮影系６は、支持アーム１６を手動で回動させることで移動されてもよい。また、照明系８は、支持アーム１７を手動で回動させることで移動されてもよい。

照明系８は、被検眼Ｅに照明光を照射する。照明系８は、前述のように、回動軸を中心に左右方向に振ることができる。それにより被検眼Ｅに対する照明光の照射方向が変更される。照明系８は上下方向にも振れるように構成されていてもよい。つまり、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。

観察撮影系６は、照明光の被検眼Ｅからの反射光を案内する左右一対の光学系を有する。この光学系は鏡筒本体９内に収納されている。鏡筒本体９の終端は接眼部９ａである。検者は接眼部９ａをのぞき込むことで被検眼Ｅを肉眼で観察する。前述のように、支持アーム１６を回動させることにより鏡筒本体９を左右方向に回動させることができる。それにより被検眼Ｅに対する観察撮影系６の向き（観察撮影系６の光軸の向き）を変更することができる。なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Ｅを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「戻り光」または「反射光」と呼ぶことにする。

鏡筒本体９に対峙する位置には顎受け台１０が配置されている。顎受け台１０には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部１０ａと額当て１０ｂが設けられている。

鏡筒本体９の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ１１が配置されている。更に、鏡筒本体９には、被検眼Ｅを撮影するための撮像装置１３が接続されている。撮像装置１３は撮像素子を含んで構成されている。撮像素子は、光を検出して画像信号ＧＳ（電気信号）を出力する光電変換素子である。画像信号ＧＳはコンピュータ１００に入力される。撮像素子としては、たとえばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサが用いられる。照明系８の下方位置には、照明系８から出力される照明光束を被検眼Ｅに向けて反射するミラー１２が配置されている。

［光学系の構成］
細隙灯顕微鏡１の光学系の構成について、図２を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡１は、観察撮影系６と、照明系８とを備えている。

〔観察撮影系〕
観察撮影系６は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。検者は、この左右の光学系により被検眼Ｅを双眼で観察することができる。なお、図２には、観察撮影系６の左右の光学系の一方のみが示されている。観察撮影系６は、左右の光学系の一方のみを備えていてもよい。符号Ｏ１は観察撮影系６の光軸（観察光軸、撮影光軸）である。

観察撮影系６の左右の各光学系は、対物レンズ３１、変倍光学系３２、ビームスプリッタ３４、結像レンズ３５、プリズム３６および接眼レンズ３７を有する。ビームスプリッタ３４は、左右の光学系の一方にまたは双方に設けられる。接眼レンズ３７は接眼部９ａ内に設けられている。符号Ｐは、接眼レンズ３７に導かれる光の結像位置を示している。符号Ｅｃは被検眼Ｅの角膜を示している。符号Ｅｏは検者眼を示している。

変倍光学系３２は、複数（たとえば２枚）の変倍レンズ３２ａ、３２ｂ、３２ｃを含んで構成される。この実施形態では、観察撮影系６の光路に対して選択的に挿入可能な複数の変倍レンズ群が設けられている。これら変倍レンズ群は、それぞれ異なる倍率を付与するように構成されている。観察撮影系６の光路に配置された変倍レンズ群が変倍レンズ３２ａ、３２ｂ、３２ｃとして用いられる。それにより、被検眼Ｅの肉眼観察像や撮影画像の倍率（画角）を変更できる。倍率の変更、つまり観察撮影系６の光路に配置される変倍レンズ群の切り替えは、観察倍率操作ノブ１１を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。

ビームスプリッタ３４は、光軸Ｏ１に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ３４を透過した光は、結像レンズ３５、プリズム３６および接眼レンズ３７を介して検者眼Ｅｏに導かれる。プリズム３６は、光の進行方向を上方に平行移動させる。

他方、ビームスプリッタ３４により反射された光は、集光レンズ４１およびミラー４２を介して、撮像装置１３の撮像素子４３に導かれる。すなわち、観察撮影系６は、照明系８により照明された被検眼Ｅからの細隙光の戻り光を撮像装置１３に導く。撮像素子４３は、この戻り光を検出して画像信号ＧＳを生成する。

また、観察撮影系６は、そのフォーカス位置を変更するための合焦機構４０を含んで構成されている。合焦機構４０は、対物レンズ３１を光軸Ｏ１（観察撮影系６の光軸）に沿って移動させる。たとえば、合焦機構４０は、対物レンズ３１を保持する保持部材と、この保持部材を光軸Ｏ１の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。

合焦機構４０は、自動または手動により対物レンズ３１を移動させることが可能である。

自動で移動させる場合、たとえば、コンピュータ１００が公知のフォーカス調整手法（位相差検出方式やコントラスト検出方式など）を用いて被検眼Ｅからの戻り光に基づいてフォーカス位置を求める。アクチュエータは、コンピュータ１００により求められたフォーカス位置に対物レンズ３１を光軸Ｏ１に沿って移動させる。手動で移動させる場合、図示しない操作部に対するユーザ（たとえば、術者）の操作内容に基づいてアクチュエータが対物レンズ３１を光軸Ｏ１に沿って移動させる。

なお、観察撮影系６は、対物レンズ３１と撮像素子４３との間の光軸Ｏ１上の所定位置に配置された第１合焦レンズを含んで構成されていてもよい。この場合、合焦機構４０が、第１合焦レンズを光軸Ｏ１に沿って移動させることにより観察撮影系６のフォーカス位置を変更する。たとえば、合焦機構４０は、第１合焦レンズを保持する保持部材と、この保持部材を光軸Ｏ１の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。合焦機構４０は、対物レンズ３１を移動させる場合と同様に、自動または手動により第１合焦レンズを移動させることが可能である。

また、観察撮影系６の全体が光軸Ｏ１に沿って移動可能に構成されていてもよい。この場合、合焦機構４０が、観察撮影系６の全体を光軸Ｏ１に沿って移動させることにより、観察撮影系６のフォーカス位置を変更する。たとえば、合焦機構４０は、観察撮影系６が搭載された可動ステージと、この可動ステージを光軸Ｏ１の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。合焦機構４０は、対物レンズ３１を移動させる場合と同様に、自動または手動により観察撮影系６の全体を移動させることが可能である。

〔照明系〕
照明系８は、照明光源５１、集光レンズ５２、細隙形成部５３、および対物レンズ５４を有する。符号Ｏ２は、照明系８の光軸（照明光軸）を示す。

照明光源５１は照明光を出力する。なお、照明系８に複数の光源を設けてもよい。たとえば、定常光を出力する光源（ハロゲンランプ、ＬＥＤ等）と、フラッシュ光を出力する光源（キセノンランプ、ＬＥＤ等）の双方を照明光源５１として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。照明光源５１は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。照明光源５１は、たとえば、赤外光（たとえば、中心波長が８００ｎｍ〜１０００ｎｍ）を出力する光源を含み、照明光として赤外光を出力してもよい。

細隙形成部５３は、細隙光を生成するために用いられる。細隙形成部５３は、一対のスリット刃を有する。これらスリット刃の間隔（スリット幅）を変更することにより細隙光の幅が変更される。

照明系８は、細隙光のフォーカス位置を変更するための合焦機構５０を含んで構成されている。合焦機構５０は、対物レンズ５４を光軸Ｏ２（照明系の光軸）に沿って移動させる。たとえば、合焦機構５０は、対物レンズ５４を保持する保持部材と、この保持部材を光軸Ｏ１の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。

合焦機構５０は、自動または手動により対物レンズ５４を移動させることが可能である。

自動で移動させる場合、たとえば、コンピュータ１００が被検眼Ｅからの戻り光に基づく像が描出された画像を解析することによりフォーカス位置を求める。アクチュエータは、コンピュータ１００により求められたフォーカス位置に対物レンズ５４を光軸Ｏ２に沿って移動させる。手動で移動させる場合、図示しない操作部に対するユーザの操作内容に基づいてアクチュエータが対物レンズ５４を光軸Ｏ２に沿って移動させる。

なお、照明系８は、対物レンズ５４と細隙形成部５３との間の光軸Ｏ２上の所定位置に配置された第２合焦レンズを含んで構成されていてもよい。この場合、合焦機構５０が、第２合焦レンズを光軸Ｏ２に沿って移動させることにより細隙光のフォーカス位置を変更する。たとえば、合焦機構５０は、第２合焦レンズを保持する保持部材と、この保持部材を光軸Ｏ２の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。合焦機構５０は、対物レンズ５４を移動させる場合と同様に、自動または手動により第２合焦レンズを移動させることが可能である。

また、照明系８の全体が光軸Ｏ２に沿って移動可能に構成されていてもよい。この場合、合焦機構５０が、照明系８の全体を光軸Ｏ２に沿って移動させることにより、細隙光のフォーカス位置を変更する。たとえば、合焦機構５０は、照明系８が搭載された可動ステージと、この可動ステージを光軸Ｏ２の方向に移動させるスライド機構と、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をスライド機構に伝達する部材とを含む。合焦機構５０は、対物レンズ５４を移動させる場合と同様に、自動または手動により照明系８の全体を移動させることが可能である。

図２では図示が省略されているが、たとえば、光軸Ｏ２上にミラー１２が配置されている。照明系８は、ミラー１２と一体となって回動軸を中心に移動可能に構成されていてもよい。

細隙灯顕微鏡１は、観察部位に対して観察撮影系６および照明系８の双方のフォーカス位置を変更しながら複数の画像を取得することが可能である。たとえば、取得された画像は、その取得位置を示す位置情報に関連付けて保存される。それにより、取得された複数の画像を観察部位の広域の画像（たとえば、３次元画像）として合成したり、各画像を順番に表示したりすることが可能になる。

細隙灯顕微鏡１は、細隙光のフォーカス位置や観察撮影系６のフォーカス位置を検出するための合焦位置検出部や、観察撮影系６および照明系８のうち少なくとも一方の位置を検出するスキャン位置検出部を含んで構成されていてもよい。合焦位置検出部やスキャン位置検出部については、後述する。

この実施形態において、合焦機構５０は「照明合焦機構」の一例であり、観察撮影系６は「撮影系」の一例であり、合焦機構４０は「撮影合焦機構」の一例である。また、移動機構部３、支持アーム１６、１７やこれらを移動させる機構は「移動機構」の一例である。更に、対物レンズ３１は「撮影対物レンズ」の一例であり、対物レンズ５４は「照明対物レンズ」の一例である。

［制御系の構成］
細隙灯顕微鏡１の制御系について、図３〜図５を参照しながら説明する。図３に示すように、細隙灯顕微鏡１の制御系は、制御部１０１を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部がコンピュータ１００に含まれていてもよい。

〔制御部〕
制御部１０１は、細隙灯顕微鏡１の各部を制御する。制御部１０１は、観察撮影系６の制御、照明系８の制御、画像合成部１２０の制御、および表示部１３０の制御などを行う。

観察撮影系６の制御としては、変倍光学系３２の制御、撮像素子４３の制御、合焦機構４０の制御、観察撮影系６を移動させるための移動機構６０の制御、合焦位置検出部１５０の制御、スキャン位置検出部１６０の制御などがある。変倍光学系３２の制御としては、観察倍率操作ノブ１１に対する操作内容を受けて被検眼Ｅの肉眼観察像や撮影画像の倍率を変更する制御などがある。撮像素子４３の制御としては、撮像素子４３の電荷蓄積時間、感度、フレームレート等を変更する制御や、撮像素子４３により得られた画像信号ＧＳを画像合成部１２０に送る制御などがある。合焦機構４０の制御としては、合焦機構４０による観察撮影系６のフォーカス位置の変更制御などがある。移動機構６０は、移動機構部３、支持アーム１６、１７やこれらを移動させる機構を含み、照明系８および観察撮影系６のうち少なくとも一方を移動させる。移動機構６０の制御としては、観察撮影系６を移動させる制御などがある。合焦位置検出部１５０の制御としては、合焦位置検出部１５０により検出された位置を取得し、取得された位置を画像合成部１２０に送る制御などがある。スキャン位置検出部１６０の制御としては、スキャン位置検出部１６０により検出された位置を取得し、取得された位置を画像合成部１２０に送る制御などがある。

照明系８の制御としては、照明光源５１の制御、細隙形成部５３の制御、合焦機構５０の制御、照明系８を移動させるための移動機構６０の制御、合焦位置検出部１５０に対する制御、スキャン位置検出部１６０に対する制御などがある。照明光源５１の制御としては、照明光源５１の点灯や消灯の切り換え、照明光の光量の変更制御などがある。細隙形成部５３の制御としては、一対のスリット刃の間隔を変更することによる細隙光の幅の変更制御などがある。合焦機構５０の制御としては、合焦機構５０による細隙光のフォーカス位置（照明系８のフォーカス位置）の変更制御などがある。移動機構６０の制御としては、照明系８を移動させる制御などがある。合焦位置検出部１５０の制御としては、合焦位置検出部１５０により検出された位置を取得し、取得された位置を画像合成部１２０に送る制御などがある。スキャン位置検出部１６０の制御としては、スキャン位置検出部１６０により検出された位置を取得し、取得された位置を画像合成部１２０に送る制御などがある。

画像合成部１２０の制御としては、観察撮影系６により取得された複数の画像の合成処理に対する制御などがある。

制御部１０１は、合焦制御部１０１Ａと、スキャン制御部１０１Ｂと、記憶部１０２とを含む。

合焦制御部１０１Ａは、被検眼Ｅの画像を取得するためのフォーカス位置を制御する。

図４に、合焦制御部１０１Ａの動作説明図を示す。図４は、被検眼Ｅの角膜Ｅｃに対する観察撮影系６および照明系８のフォーカス位置を模式的に表したものである。なお、図４において、観察撮影系６については対物レンズ３１のみが図示され、照明系８については対物レンズ５４のみが図示されている。符号Ｃｆは、角膜Ｅｃの角膜前面を示し、符号Ｃｂは角膜Ｅｃの角膜後面を示す。符号Ｃｃは、観察部位の曲率中心位置として角膜Ｅｃ（角膜前面Ｃｆ）の曲率中心位置を示す。たとえば、観察撮影系６および照明系８の回動軸は、曲率中心位置Ｃｃに移動される。

合焦制御部１０１Ａは、被検眼Ｅの観察部位に対する深さ方向（動径方向）のスキャン（ｒスキャン）を制御することができる。合焦制御部１０１Ａは、合焦機構４０と合焦機構５０とを連係制御する。たとえば、合焦制御部１０１Ａは、合焦機構４０および合焦機構５０を制御して、観察部位の深さ方向（奥行き方向）の位置ＰＳ１、ＰＳ２、ＰＳ３の順番に観察撮影系６のフォーカス位置および照明系８のフォーカス位置を変更する。観察撮影系６は、変更されたフォーカス位置に対応した被写界深度の範囲で合焦状態の被検眼Ｅの画像の取得が可能である。たとえば、観察撮影系６は、位置ＰＳ１に対応した被写界深度ＰＣ１の範囲で被検眼Ｅの画像の取得が可能である。

合焦制御部１０１Ａは、撮像装置１３に画像を取得させる制御と上記の連係制御とを交互に実行することが可能である。それにより、合焦制御部１０１Ａは、被検眼Ｅの観察部位の深さ方向について複数の断面画像の取得を制御することができる。たとえば、合焦制御部１０１Ａは、位置ＰＳ１、ＰＳ２、ＰＳ３の断面の画像を順次に取得する制御を行うことができる。

たとえば、合焦制御部１０１Ａは、１回以上の画像の取得制御と連係制御とを交互に実行することが可能である。１回以上の画像の取得制御には、複数の画像を取得し、取得された複数の画像から１つの画像を生成する制御が含まれる。１つの画像を生成する制御には、取得された複数の画像を加算平均して１つの画像を生成する制御や、取得された複数の画像から１つの画像を選択する制御や、照明光の波長を変更しつつ取得された複数の画像から１つの画像を選択する制御などがある。

スキャン制御部１０１Ｂは、被検眼Ｅの観察部位の水平方向（深さ方向に略直交する方向）のスキャン位置を制御する。

図５に、スキャン制御部１０１Ｂの動作説明図を示す。図５は、被検眼Ｅの角膜Ｅｃに対する観察撮影系６および照明系８のフォーカス位置を模式的に表したものである。なお、図５において、図４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

スキャン制御部１０１Ｂは、被検眼Ｅの観察部位の水平方向（偏角方向）のスキャン（θスキャン）を制御することができる。スキャン制御部１０１Ｂは、照明系８の移動と観察撮影系６の移動とを連係させるように移動機構６０を制御する。たとえば、スキャン制御部１０１Ｂは、水平方向のスキャン位置ＰＳ１、ＰＳ１１、ＰＳ１２の順番に観察撮影系６および照明系８を移動させる。

スキャン制御部１０１Ｂは、撮像装置１３に画像を取得させる制御と移動機構６０の制御（移動制御）とを交互に実行することが可能である。それにより、スキャン制御部１０１Ｂは、被検眼Ｅの観察部位の水平方向について複数の断面画像の取得を制御することができる。たとえば、スキャン制御部１０１Ｂは、位置ＰＳ１、ＰＳ１１、ＰＳ１２の断面の画像を順次に取得する制御を行うことができる。

水平方向の位置ＰＳ１、ＰＳ１１、ＰＳ１２のそれぞれにおいて、合焦制御部１０１Ａにより観察撮影系６のフォーカス位置および照明系８のフォーカス位置が深さ方向に変更される。それにより、位置ＰＳ１、ＰＳ２、ＰＳ３、ＰＳ１１、ＰＳ２１、ＰＳ３１、ＰＳ１２、ＰＳ２２、ＰＳ３２のそれぞれについて断面の画像の取得を制御することができる。

記憶部１０２は、各種のコンピュータプログラムやデータを記憶する。コンピュータプログラムには、各種の検査を細隙灯顕微鏡１に実行させるための演算プログラムや制御プログラムが含まれる。データには、各種の検査において使用されるデータが含まれる。このようなデータの例として、スキャン情報がある。スキャン情報は、たとえば、観察部位の複数のスキャン位置に観察撮影系６および照明系８を移動させるための制御情報と、各スキャン位置について１以上の深さ方向の位置に観察撮影系６および照明系８のフォーカス位置を変更するための制御情報とを含む。これらの制御情報は、事前に記憶部１０２に保存される。制御部１０１は、記憶部１０２に記憶されたスキャン情報を用いて、スキャン制御部１０１Ｂにより水平方向のスキャン位置を制御しつつ合焦制御部１０１Ａによりフォーカス位置を制御することが可能である。

制御部１０１は、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。ＲＯＭやハードディスクドライブ等の記憶装置には、制御プログラムがあらかじめ記憶されている。制御部１０１の動作は、この制御プログラムとハードウェアとが協働することによって実現される。制御部１０１は、細隙灯顕微鏡１の装置本体（たとえば基台４内）やコンピュータ１００に配置される。

〔画像合成部〕
画像合成部１２０は、移動機構６０により観察撮影系６および照明系８のうち少なくとも一方を移動させつつ撮像装置１３により取得された複数の画像を合成する。たとえば、画像合成部１２０は、合焦機構４０および合焦機構５０によりフォーカス位置を変更しつつ撮像装置１３により取得された複数の画像を合成する。

画像合成部１２０は、断面位置が異なる複数の２次元の断面画像を合成することにより、被検眼Ｅの３次元画像（画像データ）を形成することが可能である。３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータあるいはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像合成部１２０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施す。それにより、画像合成部１２０は、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成することが可能である。また、画像合成部１２０は、３次元画像の任意の断面を画像化することができる（ＭＰＲ（Ｍｕｌｔｉ−Ｐｌａｎａｒ Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）：断面変換）。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断面画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャン位置において得られた複数の断面画像を、スキャン位置の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断面画像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。制御部１０１または画像合成部１２０は、スタックデータに基づくＭＰＲ処理を行うことが可能である。

画像合成部１２０は、配列処理部１２１と、合成処理部１２２とを含む。画像合成部１２０は、取得された複数の画像に対応する複数のフォーカス位置の配置に応じて、当該複数の画像を合成することが可能である。

配列処理部１２１は、撮像装置１３により取得された複数の画像を配列する。たとえば、合焦位置検出部１５０により検出された細隙光のフォーカス位置を制御部１０１から受け、配列処理部１２１は、撮像装置１３により取得された複数の画像を配列する。また、スキャン位置検出部１６０により検出された観察撮影系６および照明系８のうち少なくとも一方の位置を制御部１０１から受け、配列処理部１２１は、撮像装置１３により取得された複数の画像を配列する。配列処理部１２１は、合焦制御部１０１Ａおよびスキャン制御部１０１Ｂの少なくとも一方の制御内容に基づいて、撮像装置１３により取得された複数の画像を配列してもよい。

合成処理部１２２は、配列処理部１２１により配列された複数の画像を合成する。したがって、合成処理部１２２は、配列された複数の画像に対応する複数のフォーカス位置の配置に応じて、これら複数の画像を合成することが可能である。複数の画像の合成には、観察部位における取得位置を示す位置情報を各画像に付して複数の画像を配列することや、各画像の位置情報に基づいて１つの合成画像を作成することなどが含まれる。制御部１０１は、配列された複数の画像や作成された１つの合成画像を表示部１３０に表示させることが可能である。

また、画像合成部１２０は、撮像装置１３により取得された１以上の画像を解析することにより複数の画像を合成してもよい。すなわち、画像合成部１２０は、合焦位置検出部１５０やスキャン位置検出部１６０を設けることなく、画像解析により複数の画像を合成するようにしてもよい。たとえば、配列処理部１２１は、撮像装置１３により取得された複数の画像の位置を各画像の周縁部に基づいて特定し、特定された位置に基づいて複数の画像を配列する。合成処理部１２２は、配列処理部１２１により各画像の周縁部に基づいて特定された位置に応じて配列された複数の画像を合成する。あるいは、たとえば、配列処理部１２１は、撮像装置１３により取得された複数の画像の位置を被検眼Ｅの正面画像に写り込んだ細隙光の像の位置に基づいて特定し、特定された位置に基づいて複数の画像を配列する。合成処理部１２２は、配列処理部１２１により細隙光の像の位置に基づいて特定された位置に応じて配列された複数の画像を合成する。

〔合焦位置検出部〕
合焦位置検出部１５０は、たとえば、観察撮影系６に設けられ対物レンズ３１の位置を検出する撮影系位置センサーと、照明系８に設けられ対物レンズ５４の位置を検出する照明系位置センサーとを含む。合焦位置検出部１５０は、撮影系位置センサーおよび照明系位置センサーのいずれか一方のみを含んで構成されていてもよい。細隙光のフォーカス位置を特定可能であれば、合焦位置検出部１５０の設置態様に限定されるものではない。

なお、合焦制御部１０１Ａによる対物レンズ３１、５４に対する制御履歴等の制御内容を参照して対物レンズ３１、５４の現在位置を特定することも可能である。この場合、合焦位置検出部１５０を設けなくてもよい。

〔スキャン位置検出部〕
スキャン位置検出部１６０は、たとえば、観察撮影系６および照明系８を支持する支持部１５が設けられた基台４の位置を検出するための位置センサーと、支持アーム１６、１７の位置を検出するための角度センサーとを含む。スキャン位置検出部１６０は、基台４の位置を検出するための位置センサー、および支持アーム１６、１７の位置を検出するための角度センサーのすべてを含んで構成されていなくてもよい。観察撮影系６および照明系８の位置を特定可能であれば、スキャン位置検出部１６０の設置態様に限定されるものではない。

なお、スキャン制御部１０１Ｂによる観察撮影系６および照明系８に対する制御履歴等の制御内容を参照して観察撮影系６および照明系８の位置や角度を特定することも可能である。この場合、スキャン位置検出部１６０を設けなくてもよい。

〔表示部〕
表示部１３０は、制御部１０１の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部１３０は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。表示部１３０は、細隙灯顕微鏡１の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ１００に設けられていてもよい。

〔操作部〕
操作部１４０は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部１４０には、細隙灯顕微鏡１に設けられたボタンやスイッチ（たとえば操作ハンドル５、観察倍率操作ノブ１１等）や、コンピュータ１００に設けられた操作デバイス（マウス、キーボード等）が含まれる。また、操作部１４０は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてよい。

図３では、表示部１３０と操作部１４０とを別々に表しているが、これらの少なくとも一部を一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチスクリーンを用いることができる。

合焦位置検出部は「第１検出部」の一例であり、スキャン位置検出部は「第２検出部」の一例である。

［動作］
細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。細隙灯顕微鏡１の動作例を図６に示す。図６に示す細隙灯顕微鏡１の動作例の説明図を図７Ａ〜図７Ｃに示す。図７Ａ〜図７Ｃは、被検眼Ｅに対する観察撮影系６および照明系８の位置を模式的に表したものである。

（Ｓ１）
まず、検者が細隙灯顕微鏡１の電源をオンにし、顎受部１０ａに被検者の顔を載せると、操作部１４０を用いて細隙光の幅などの形状を調整する。細隙灯顕微鏡１では、操作部１４０に対する操作を受け、制御部１０１は、細隙形成部５３を制御することにより細隙光の形状を細くて長いスリット状に変更する。

（Ｓ２）
制御部１０１は、スキャン制御部１０１Ｂにより移動機構６０を制御することにより観察撮影系６と照明系８とを初期位置に配置する。初期位置は、たとえば、記憶部１０２に記憶されたスキャン情報により特定された位置である。制御部１０１は、支持アーム１７を回動させることにより被検眼Ｅの基準方向Ｄ（たとえば、正面方向）に対し左方向にα度（たとえば、３０度）の位置に照明系８を配置させる。また、制御部１０１は、支持アーム１６を回動させることにより被検眼Ｅの基準方向に対し右方向にα度の位置に観察撮影系６を配置させる（図７Ａ参照）。

（Ｓ３）
制御部１０１は、移動機構６０を制御することにより観察撮影系６および照明系８の回動軸を観察部位を観察するための所定位置（たとえば、角膜や水晶体の曲率中心位置）に移動させる。たとえば、制御部１０１は、観察部位に写り込む照明系８の瞳位置に基づいて回動軸の位置を所望の位置に移動させる。

（Ｓ４）
制御部１０１は、記憶部１０２に記憶されたスキャン情報を用いて、合焦制御部１０１Ａによりを変更しつつ、当該スキャン位置における観察撮影系６および照明系８のフォーカス位置において、撮像装置１３により被検眼Ｅを撮影させる。たとえば、制御部１０１は、対物レンズ３１、５４を各系の光軸に沿って所定のシフト量だけ移動させつつ、各スキャン位置において深さ方向にシフト量が異なる複数の画像を取得させる。対物レンズ３１、５４のシフト量は、被検眼Ｅの観察部位や観察範囲の情報等に基づいて一意に決まるように設定することが可能である。

制御部１０１は、撮像素子４３により得られた画像信号ＧＳに基づいて画像データを生成し、生成された画像データを記憶部１０２に保存する。

ここで、制御部１０１は、合焦位置検出部１５０により検出された細隙光のフォーカス位置と、スキャン位置検出部１６０により検出された観察撮影系６および照明系８の位置とを、上記の画像データに関連付けて保存する。

なお、合焦制御部１０１Ａによる制御履歴等の制御内容に基づいて細隙光のフォーカス位置の特定が可能な場合、合焦制御部１０１Ａによる制御内容に基づく情報を上記の画像データに関連付けて保存してもよい。同様に、スキャン制御部１０１Ｂによる制御履歴等の制御内容に基づいて観察撮影系６および照明系８の位置の特定が可能な場合、スキャン制御部１０１Ｂによる制御内容に基づく情報を上記の画像データに関連付けて保存してもよい。

（Ｓ５）
制御部１０１は、記憶部１０２に記憶されたスキャン情報に基づいて撮影が終了したか否かを判定する。スキャン情報により指定された全スキャン位置についての撮影が終了したとき、撮影が終了したと判定される。撮影が終了したと判定されたとき（Ｓ５：Ｙ）、細隙灯顕微鏡１の動作はＳ７に移行する。撮影が終了しないと判定されたとき（Ｓ５：Ｎ）、細隙灯顕微鏡１の動作はＳ６に移行する。

（Ｓ６）
Ｓ５において撮影が終了しないと判定されたとき（Ｓ５：Ｎ）、制御部１０１は、記憶部１０２に記憶されたスキャン情報を用いて、スキャン制御部１０１Ｂにより移動機構６０を制御することにより観察撮影系６と照明系８とを相対移動させる。たとえば、照明系８を右方向に所定の角度だけ回動させることにより水平方向にスキャン位置を移動させる。細隙灯顕微鏡１の動作は、Ｓ４に移行する。Ｓ４では、Ｓ６において移動されたスキャン位置において、フォーカス位置が異なる複数の画像が取得される。

図７Ｂに示すように、被検眼Ｅの基準方向Ｄに対する照明系８の角度が０度になったとき、制御部１０１は、観察撮影系６を基準方向Ｄに対して左方向にα度の位置に配置させる。制御部１０１は、照明系８を右方向に所定の角度だけ回動させる、基準方向Ｄに対して右方向にα度の位置になるまで、観察撮影系６および照明系８の相対移動と撮影とを繰り返す（図７Ｃ参照）。

（Ｓ７）
Ｓ５において撮影が終了したと判定されたとき（Ｓ５：Ｙ）、制御部１０１は、画像合成部１２０により、Ｓ４で繰り返し取得された複数の画像を合成させ、たとえば３次元画像を形成させる。それにより、制御部１０１は、角膜や水晶体などの３次元画像を表示部１３０に表示させたり、操作部１４０に対する操作内容に基づいて指定された任意断面の画像を表示させたりすること可能になる。なお、Ｓ４において、合焦制御部１０１Ａやスキャン制御部１０１Ｂによる制御内容に基づく情報が画像データに関連付けて保存された場合、画像合成部１２０は、これらの情報に基づいて複数の画像を合成してもよい。

以上で、細隙灯顕微鏡１の動作は終了となる（エンド）。

この実施形態では、対物レンズを光軸に沿って移動させることにより各系のフォーカス位置を変更するようにしたので、駆動対象の重量が少なくて済み、駆動対象を高速に移動させることが可能になる。それにより、高速撮影に好適な細隙灯顕微鏡を提供することができる。

また、観察撮影系６の光軸と照明系８の光軸とのなす角度が大きくなると、観察撮影系６のフォーカス位置と照明系８のフォーカス位置とのずれが大きくなる。しかしながら、この実施形態では、観察撮影系６および照明系８のそれぞれの系で独立にフォーカス位置を調整するようにしたので、観察撮影系６のフォーカス位置と照明系８のフォーカス位置とのずれを容易に補正することが可能になる。特に、合焦位置検出部１５０として支持アーム１６、１７に角度センサーを設けることにより、観察撮影系６のフォーカス位置と照明系８のフォーカス位置とのずれを容易、且つ、高精度に補正することが可能になる。

更に、この実施形態では、主として、被検眼Ｅの基準方向Ｄに対する照明系８の角度を変更することにより被検眼Ｅの観察部位をスキャンする。それにより、観察撮影系６および照明系８の回動軸の位置を観察部位の曲率中心位置に合わせておくだけで、被検眼Ｅの広域の画像をスムーズに取得することができる。たとえば、観察撮影系６のフォーカス位置を照明系８のフォーカス位置から少しずらし、観察撮影系６の被写界深度内で水平方向にスキャン（横スキャン）を行うことで、被検眼Ｅの広域の画像を取得することが可能になる。

［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置の作用および効果について説明する。

実施形態に係る細隙灯顕微鏡（たとえば、細隙灯顕微鏡１）は、照明系（たとえば、照明系８）と、撮影系（たとえば、観察撮影系６）とを含む。照明系は、被検眼（たとえば、被検眼Ｅ）を細隙光で照明し、細隙光のフォーカス位置を変更するための照明合焦機構（たとえば、合焦機構４０）を備える。撮影系は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置（たとえば、撮像装置１３）に導く。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向における細隙光の複数のフォーカス位置において被検眼の断面の画像を取得することが可能になるので、被検眼の広域の断面の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供することができる。

また、撮影系は、そのフォーカス位置を変更するための撮影合焦機構（たとえば、合焦機構５０）を備えてもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向における細隙光の複数のフォーカス位置について撮影系のフォーカス位置を変更することが可能になるので、より広域の被検眼の断面の画像を取得することが可能になる。

また、細隙灯顕微鏡は、照明合焦機構と撮影合焦機構とを連係制御する第１制御部（たとえば、合焦制御部１０１Ａ）を含んでもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の任意の位置に対し、細隙光のフォーカス位置と撮影系のフォーカス位置とを連係して変更することができるので、被検眼の広域の断面の画像の取得を容易化することが可能になる。

また、第１制御部は、撮像装置に画像を取得させる制御と上記の連係制御とを交互に実行してもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向に細隙光のフォーカス位置を変更しつつ各フォーカス位置において断面の画像の取得が可能になるので、被検眼の広域の断面の画像の取得や管理、取得された複数の断面の画像の合成等を容易化できる。また、被検眼の広域の断面の画像を効率的に取得することが可能になるので、被検眼の検査負担の軽減が可能になる。

また、細隙灯顕微鏡は、少なくとも照明系を移動させる移動機構（たとえば、移動機構６０）を含んでもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位における水平方向の複数の位置について断面の画像を取得することができるので、より広域の被検眼の断面の画像の取得が可能になる。

また、移動機構は、照明系および撮影系の双方を移動させてもよい。細隙灯顕微鏡は、照明系の移動と撮影系の移動とを連係させるように移動機構を制御する第２制御部（たとえば、スキャン制御部１０１Ｂ）を含んでもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位について水平方向および深さ方向の複数の位置について複数の断面の画像を取得することができるので、被検眼の３次元画像の取得が可能になる。

また、第２制御部は、撮像装置に画像を取得させる制御と上記の移動機構の制御とを交互に実行してもよい。

このような構成によれば、照明系および撮影系を移動しつつ被検眼の観察部位の深さ方向に細隙光のフォーカス位置において断面の画像の取得が可能になるので、被検眼の広域の断面の画像の取得や管理、取得された複数の断面の画像の合成等を容易化できる。また、被検眼の広域の断面の画像を効率的に取得することが可能になるので、被検眼の検査負担の軽減が可能になる。

また、細隙灯顕微鏡は、画像合成部（たとえば、画像合成部１２０）を含んでもよい。画像合成部は、移動機構により少なくとも照明系を移動させつつ撮像装置により取得された複数の画像を合成する。

このような構成によれば、照明系および撮影系を移動しつつ被検眼の観察部位の深さ方向に細隙光のフォーカス位置において断面の画像を取得し、取得された断面の画像を合成するようにしたので、合成画像の取得が容易になる。

また、画像合成部は、照明合焦機構によりフォーカス位置を変更しつつ撮像装置により取得された複数の画像を合成してもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向に細隙光のフォーカス位置において断面の画像の取得が可能になるので、被検眼の広域の断面の画像の取得や管理、取得された複数の断面の画像の合成等を容易化することができる。また、被検眼の広域の断面の画像を効率的に取得することが可能になるので、被検眼の検査負担の軽減が可能になる。

また、細隙灯顕微鏡は、照明合焦機構によりフォーカス位置を変更しつつ撮像装置により取得された複数の画像を合成する画像合成部を含んでもよい。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向の細隙光のフォーカス位置において断面の画像を取得し、取得された断面の画像を合成するようにしたので、合成画像の取得が容易になる。

また、画像合成部は、配列処理部（たとえば、配列処理部１２１）と、合成処理部（たとえば、合成処理部１２２）とを含んでもよい。配列処理部は、複数の画像を配列する。合成処理部は、配列処理部により配列された複数の画像を合成する。

このような構成によれば、被検眼の観察部位の深さ方向の細隙光のフォーカス位置において取得された断面の画像の合成を簡素化することができる。

また、細隙灯顕微鏡は、細隙光のフォーカス位置を検出する第１検出部（たとえば、合焦位置検出部１５０）を含み、配列処理部は、第１検出部により検出されたフォーカス位置に基づいて複数の画像を配列してもよい。

このような構成によれば、細隙光のフォーカス位置の配置に応じて、取得された断面の画像を配置することが可能になる。これにより、細隙光のフォーカス位置における断面の画像の観察が容易になる。

また、細隙灯顕微鏡は、照明系および撮影系のうち少なくとも一方の位置を検出する第２検出部（たとえば、スキャン位置検出部１６０）を含み、配列処理部は、第２検出部により検出された位置に基づいて複数の画像を配列してもよい。

このような構成によれば、照明系および撮影系の位置に応じて、取得された断面の画像を配置することが可能になる。これにより、照明系および撮影系の位置における断面の画像の観察が容易になる。

また、撮影系は、撮影対物レンズ（たとえば、対物レンズ３１）を備え、撮影合焦機構は、撮影対物レンズを撮影系の光軸に沿って移動させてもよい。

このような構成によれば、撮影対物レンズを光軸に沿って移動させることによりフォーカス位置を変更するようにしたので、駆動対象の重量が少なくて済み、駆動対象を高速に移動させることが可能になる。それにより、高速撮影に好適な細隙灯顕微鏡を提供することができる。

また、照明系は、照明対物レンズ（たとえば、対物レンズ５４）を備え、照明合焦機構は、照明対物レンズを照明系の光軸に沿って移動させてもよい。

このような構成によれば、照明対物レンズを光軸に沿って移動させることによりフォーカス位置を変更するようにしたので、駆動対象の重量が少なくて済み、駆動対象を高速に移動させることが可能になる。それにより、高速撮影に好適な細隙灯顕微鏡を提供することができる。

（変形例）
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

上記の実施形態では、同軸で回動可能に構成された観察撮影系６および照明系８が設けられた基台４を移動させることにより被検眼Ｅの観察部位に対し観察撮影系６および照明系８を移動させる場合について説明した。しかしながら、本発明に係る実施形態はこれに限定されるものではない。たとえば、観察撮影系６および照明系８のそれぞれが非同軸で回動可能に構成され、観察撮影系６の回動軸と照明系８の回動軸とが独立に移動可能に構成されていてもよい。各系の位置は、上記の実施形態と同様に、各系に設けられたスキャン位置検出部により取得することが可能である。そのため、上記の実施形態と同様に、被検眼の観察部位の水平方向および深さ方向に各系のフォーカス位置を変更しつつ、各位置で断面の画像を取得することができる。

上記の実施形態では、主として観察撮影系６および照明系８を移動させることにより被検眼Ｅの観察部位の複数の位置について複数の画像を取得する場合について説明した。しかしながら、本発明に係る実施形態はこれに限定されるものではない。たとえば、細隙形成部５３は、一対のスリット刃の位置を水平方向に移動可能に構成されてもよい。あるいは、細隙形成部５３は、一対のスリット刃の間隔の向き（スリットの向き）を回転可能に構成されてもよい。この場合、一対のスリット刃の位置や一対のスリット刃の間隔の向きを変更することにより、断面の画像を取得する撮影位置を変更することが可能である。

上記の実施形態では、照明系８が照明光源５１と細隙形成部５３とにより形成された細隙光を被検眼Ｅに照明する場合について説明したが、本発明に係る実施形態はこれに限定されるものではない。たとえば、照明系８が制御部１０１からの制御により指定された照明パターンの照明光を投影する投影手段を含み、投影手段により投影された照明光で被検眼Ｅを照明するようにしてもよい。

上記の実施形態では、画像合成部１２０が合焦位置検出部１５０やスキャン位置検出部１６０の検出結果、制御部１０１の制御内容などを用いて複数の画像を合成する場合について説明したが、本発明に係る実施形態はこれに限定されるものではない。たとえば、細隙灯顕微鏡１が観察撮影系６や照明系８を被検眼Ｅの動きに追従させるように公知のトラッキング制御を行い、画像合成部１２０がトラッキング制御に内容を用いて複数の画像を合成するようにしてもよい。

上記の実施形態において、被検眼Ｅの観察部位における複数の位置において取得された複数の画像を、被検眼Ｅについて別途取得された正面画像における位置と関連付けて保存するようにしてもよい。

上記の実施形態では、細隙灯顕微鏡について説明したが、この発明を適用可能な装置はこれに限定されるものではない。たとえば、眼軸長測定機能、眼圧測定機能、眼底撮影機能、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有する装置は、本発明の機能を具備することが可能である。なお、眼軸長測定機能は光干渉断層計等により実現される。また、眼軸長測定機能は、被検眼に光を投影し、当該被検眼に対する光学系のＺ方向（前後方向）の位置を調整しつつ眼底からの戻り光を検出することにより、当該被検眼の眼軸長を測定するようにしてもよい。眼圧測定機能は眼圧計等により実現される。眼底撮影機能は眼底カメラや走査型検眼鏡（ＳＬＯ）等により実現される。ＯＣＴ機能は光干渉断層計等により実現される。超音波検査機能は超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち２つ以上を具備した装置（複合機）に対してこの発明を適用することも可能である。

１ 細隙灯顕微鏡
３ 移動機構部
４ 基台
６ 観察撮影系
８ 照明系
１０ 顎受け台
１０ａ 顎受部
１０ｂ 額当て
１３ 撮像装置
１５ 支持部
１６、１７ 支持アーム
３１、５４ 対物レンズ
３４ ビームスプリッタ
４０、５０ 合焦機構
４３ 撮像素子
５１ 照明光源
５３ 細隙形成部
６０ 移動機構
１００ コンピュータ
１０１ 制御部
１０１Ａ 合焦制御部
１０１Ｂ スキャン制御部
１０２ 記憶部
１２０ 画像合成部
１２１ 配列処理部
１２２ 合成処理部
１３０ 表示部
１４０ 操作部
１５０ 合焦位置検出部
１６０ スキャン位置検出部
Ｅ 被検眼
Ｅｃ 角膜

Claims (15)

1. 被検眼を細隙光で照明し、前記細隙光のフォーカス位置を変更するための照明合焦機構を備える照明系と、
   前記被検眼からの前記細隙光の戻り光を撮像装置に導く撮影系と、
   を含む細隙灯顕微鏡。
2. 前記撮影系は、そのフォーカス位置を変更するための撮影合焦機構を備えることを特徴とする請求項１に記載の細隙灯顕微鏡。
3. 前記照明合焦機構と前記撮影合焦機構とを連係制御する第１制御部を含むことを特徴とする請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
4. 前記第１制御部は、前記撮像装置に画像を取得させる制御と前記連係制御とを交互に実行することを特徴とする請求項３に記載の細隙灯顕微鏡。
5. 少なくとも前記照明系を移動させる移動機構を含むことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の細隙灯顕微鏡。
6. 前記移動機構は、前記照明系および前記撮影系の双方を移動させ、
   前記照明系の移動と前記撮影系の移動とを連係させるように前記移動機構を制御する第２制御部を含む
   ことを特徴とする請求項５に記載の細隙灯顕微鏡。
7. 前記第２制御部は、前記撮像装置に画像を取得させる制御と前記移動機構の制御とを交互に実行することを特徴とする請求項６に記載の細隙灯顕微鏡。
8. 前記移動機構により少なくとも前記照明系を移動させつつ前記撮像装置により取得された複数の画像を合成する画像合成部を含むことを特徴とする請求項５〜請求項７のいずれか一項に記載の細隙灯顕微鏡。
9. 前記画像合成部は、前記照明合焦機構により前記フォーカス位置を変更しつつ前記撮像装置により取得された複数の画像を合成することを特徴とする請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
10. 前記照明合焦機構により前記フォーカス位置を変更しつつ前記撮像装置により取得された複数の画像を合成する画像合成部を含むことを特徴とする請求項１〜請求項７のいずれか一項に記載の細隙灯顕微鏡。
11. 前記画像合成部は、
    前記複数の画像を配列する配列処理部と、
    前記配列処理部により配列された前記複数の画像を合成する合成処理部と、
    を含む
    ことを特徴とする請求項８〜請求項１０のいずれか一項に記載の細隙灯顕微鏡。
12. 前記細隙光のフォーカス位置を検出する第１検出部を含み、
    前記配列処理部は、前記第１検出部により検出された前記フォーカス位置に基づいて前記複数の画像を配列する
    ことを特徴とする請求項１１に記載の細隙灯顕微鏡。
13. 前記照明系および前記撮影系のうち少なくとも一方の位置を検出する第２検出部を含み、
    前記配列処理部は、前記第２検出部により検出された前記位置に基づいて前記複数の画像を配列する
    ことを特徴とする請求項１１または請求項１２に記載の細隙灯顕微鏡。
14. 前記撮影系は、撮影対物レンズを備え、
    前記撮影合焦機構は、前記撮影対物レンズを前記撮影系の光軸に沿って移動させる
    ことを特徴とする請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
15. 前記照明系は、照明対物レンズを備え、
    前記照明合焦機構は、前記照明対物レンズを前記照明系の光軸に沿って移動させる
    ことを特徴とする請求項１〜請求項１４のいずれか一項に記載の細隙灯顕微鏡。

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