JP2016156821A - 光学フィルムの不良検出装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上における既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する不良検出部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を一定距離だけ順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出装置。
前記不良候補領域において、前記ロールの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている前記不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する光学フィルムの不良検出装置。
前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する不良検出情報生成部を含む光学フィルムの不良検出装置。
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する光学フィルムの不良検出装置。
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面における各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出方法。
前記不良候補領域において、前記ロールの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている前記不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する光学フィルムの不良検出方法。
前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。
110:受信部
120:不良位置決定部
130:探索部
140:不良検出部
141:メモリ部
142:候補領域決定部
143:不良判断部
144:不良検出情報生成部
Claims (27)
- 少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する受信部と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上における既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する不良検出部とを含む光学フィルムの不良検出装置。 - 前記探索部は、各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を一定距離だけ順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出部は、
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む請求項1ないし5のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。 - 前記候補領域決定部は、前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する請求項6に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記候補領域決定部は、前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する請求項7に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記候補領域決定部は、前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する請求項8に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記メモリ部は、2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する請求項6ないし9のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良判断部は、前記不良候補領域において、前記ロールの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている前記不良の数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する請求項6ないし10のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出部は、前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する不良検出情報生成部を含む請求項1ないし11のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出情報生成部は、前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する請求項12に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。 - 前記探索する段階は、前記2次元平面における各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する請求項14に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記検出する段階は、
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて、前記周期性不良の存在有無を判断する段階とを含む請求項14ないし18のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。 - 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する請求項19に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する請求項20に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小サイズの領域を前記不良候補領域として決定する請求項21に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記格納する段階は、2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する請求項19ないし22のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記判断する段階は、前記不良候補領域において、前記ロールの長さ方向を基準とし、同一列に含まれている不良の前記数が既に設定された値以上であり、かつ当該列に含まれている前記不良間の間隔のうちの同一間隔の数が既に設定された値以上である場合、前記周期性不良と判断する請求項19ないし23のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記周期性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記周期性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する段階をさらに含む請求項14ないし24のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する段階をさらに含む請求項25に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- ハードウェアと結合され、
少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の数及び前記不良間の間隔に基づいて周期性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。
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