KR101733018B1 - 광학 필름의 불량 검출 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광학 필름의 불량 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부, 상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부, 상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부 및 상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함한다.
Description
본 발명의 실시예들은 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 불량을 검출하기 위한 기술과 관련된다.
일반적으로, 광학 필름 롤(Roll)의 공정 과정에서 일정 영역에 다수의 불량이 발생한 경우, 해당 영역을 특별 관리 영역으로 지정하여 검품원에 의해 추가적인 검사 과정이 수행되고 있다.
이때, 검품원들은 불량 검출 Map(2차원 그래프)을 보고 밀집성 불량 여부를 판단하고 있으나, 검품원들 사이의 숙련도가 상이하며, 불량 검출 Map의 X/Y축 스케일(Scale)변화에 따른 불량 사이의 밀집 기준의 차이를 감지하기 어려운 문제점이 있어 수많은 롤에 대해 정확하고 일관된 밀집성 불량의 확인 및 관리가 어렵다는 문제가 있다. 또한, 검품원에 의해 검사가 이루어지는 경우, 검사 작업에 많은 비용과 시간을 소비하게 되는 문제점이 있다.
본 발명의 실시예들은 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 밀집성 불량을 검출하기 위한 불량 검출 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.
1. 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부; 및
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
2. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는,
각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
3. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는,
각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
4. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는,
상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
5. 위 1에 있어서, 상기 탐색부는,
상기 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 일정 거리만큼 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
6. 위 1에 있어서, 상기 불량 검출부는,
상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 메모리부;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 후보 영역 결정부; 및
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 산출하고, 상기 산출된 밀집도에 기초하여 상기 불량 후보 영역 내에 상기 밀집성 불량의 존재 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
7. 위 6에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는,
상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
8. 위 7에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는,
상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
9. 위 8에 있어서, 상기 후보 영역 결정부는,
상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
10. 위 6에 있어서, 상기 메모리부는,
2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
11. 위 6에 있어서, 상기 밀집도는,
상기 불량 후보 영역의 단위 면적 당 불량의 수 및 상기 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합 중 적어도 하나를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
12. 위 9에 있어서, 상기 밀집도는,
상기 최소 영역의 면적을 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
13. 위 6에 있어서, 상기 불량 판단부는,
상기 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 밀집성 불량으로 판단하는 광학 필름 불량 검출 장치.
14. 위 1에 있어서, 상기 불량 검출부는,
상기 밀집성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 불량 검출 정보 생성부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
15. 위 14에 있어서, 상기 불량 검출 정보 생성부는,
상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 광학 필름의 불량 검출 장치.
16. 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계; 및
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
17. 위 16에 있어서, 상기 탐색하는 단계는,
상기 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
18. 위 16에 있어서, 상기 탐색하는 단계는,
각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
19. 위 16에 있어서, 상기 탐색하는 단계는,
상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
20. 위 16에 있어서, 상기 탐색하는 단계는,
상기 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
21. 위 16에 있어서, 상기 검출하는 단계는,
상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 단계;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 단계;
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 산출하는 단계; 및
상기 산출된 밀집도에 기초하여 상기 불량 후보 영역 내에 상기 밀집성 불량의 존재 여부를 판단하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
22. 위 21에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는,
상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
23. 위 22에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는,
상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
24. 위 23에 있어서, 상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는,
상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
25. 위 21에 있어서, 상기 저장하는 단계는,
2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
26. 위 21에 있어서, 상기 밀집도는,
상기 불량 후보 영역의 단위 면적 당 불량의 수 및 상기 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합 중 적어도 하나를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
27. 위 24에 있어서, 상기 밀집도는,
상기 최소 영역의 면적을 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
28. 위 21에 있어서, 상기 판단하는 단계는,
상기 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 밀집성 불량으로 판단하는 광학 필름 불량 검출 방법.
29. 위 16에 있어서,
상기 밀집성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
30. 위 29에 있어서,
상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법.
31. 하드웨어와 결합되어,
적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계; 및
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 단계를 실행시기 위하여 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
본 발명의 실시예들에 따르면, 광학 필름에 포함된 밀집성 불량의 발생 유무가 자동으로 판단되도록 함으로써, 광학 필름의 생산량에 무관하게 일관된 기준으로 광학 필름의 품질을 관리할 수 있으며, 밀집성 불량 검출 시간을 단축시킴으로써 생산성을 향상 시킬 수 있다.
나아가, 본 발명의 실시예들에 따르면, 광학 필름에서 밀집성 불량의 발생 유무를 신속하게 파악하여 통지할 수 있도록 함으로써, 밀집성 불량 발생에 따른 신속한 조치가 가능하며, 이로 인해 광학 필름의 생산 로스(Loss)를 감소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치의 구성도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부의 상세 구성도
도 3 내지 도 6은 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 과정을 설명하기 위한 예시도,
도 7 내지 도 11은 불량 후보 영역의 설정을 설명하기 위한 예시도
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 방법의 순서도
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 밀집성 불량 검출 과정을 나타낸 순서도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부의 상세 구성도
도 3 내지 도 6은 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 과정을 설명하기 위한 예시도,
도 7 내지 도 11은 불량 후보 영역의 설정을 설명하기 위한 예시도
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 방법의 순서도
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 밀집성 불량 검출 과정을 나타낸 순서도
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 이하의 상세한 설명은 본 명세서에서 기술된 방법, 장치 및/또는 시스템에 대한 포괄적인 이해를 돕기 위해 제공된다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 상세한 설명에서 사용되는 용어는 단지 본 발명의 실시예들을 기술하기 위한 것이며, 결코 제한적이어서는 안 된다. 명확하게 달리 사용되지 않는 한, 단수 형태의 표현은 복수 형태의 의미를 포함한다. 본 설명에서, "포함" 또는 "구비"와 같은 표현은 어떤 특성들, 숫자들, 단계들, 동작들, 요소들, 이들의 일부 또는 조합을 가리키기 위한 것이며, 기술된 것 이외에 하나 또는 그 이상의 다른 특성, 숫자, 단계, 동작, 요소, 이들의 일부 또는 조합의 존재 또는 가능성을 배제하도록 해석되어서는 안 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 수신부(110), 불량 위치 결정부(120), 탐색부(130) 및 불량 검출부(140)를 포함한다.
수신부(110)는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신한다. 이때, 각 검사 장치는 광학 필름 공정 라인 상의 상이한 위치에 배치되어 광학 필름의 공정 과정에서 발생한 불량을 검출하고, 검출된 불량에 대한 불량 정보를 생성하기 위한 장치를 의미한다.
예를 들어, 검사 장치는 광학 필름 공정 라인에서 광학 필름의 상면에 배치되는 카메라 모듈을 포함할 수 있으며, 카메라 모듈을 이용하여 광학 필름을 촬영하고 촬영된 이미지로부터 불량을 검출하도록 구성될 수 있다. 또한, 이를 위하여 광학 필름을 기준으로 카메라 모듈이 위치한 면의 반대면에 광원을 구비할 수 있으며, 카메라 모듈은 광원으로부터 방출되어 광학 필름을 투과한 빛을 촬영하도록 구성될 수 있다. 이 경우 광학 필름에 불량이 존재할 경우 해당 부분은 빛의 투과도가 낮아지게 되므로 용이하게 불량을 검출할 수 있다.
한편, 검사 장치에 의해 생성되는 불량 정보는 검출된 불량의 위치, 크기, 밝기, 불량을 촬영한 이미지, 검사 시작 및 종료 시간 등을 포함할 수 있다.
불량 위치 결정부(120)는 검사 장치로부터 수신된 불량 정보에 기초하여, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정한다.
예를 들어, 불량 위치 결정부(120)는 광학 필름 롤의 길이 및 폭에 대응하는 2차원 평면을 구성하고, 각 검사 장치로부터 수신된 불량 정보를 통합하여 2차원 평면에서 불량의 위치를 결정할 수 있다. 이때, 2차원 평면에서 불량의 위치는 각 검사 장치로부터 수신된 불량 정보에 포함된 불량 위치에 기초하여 결정될 수 있다. 또한, 광학 필름 롤의 길이 및 폭은 미리 설정된 값을 이용할 수 있다.
탐색부(130)는 불량 위치 결정부(120)에 의해 결정된 불량의 위치에 기초하여, 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색한다.
예를 들어, 탐색부(130)는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 설정된 탐색 영역을 2차원 평면 상에서 순회하면서, 탐색 영역 내에 포함된 불량의 수를 카운트함으로써, 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다. 이에 대해 도 3 내지 6을 참조하여 구체적으로 설명하면 아래와 같다.
도 3 내지 6에서 점선으로 표현된 영역은 탐색 영역을 나타내며, 원으로 표시된 부분은 불량의 위치를 나타낸다. 한편, 도 3 내지 6에서 탐색 영역이 사각형의 형태인 것으로 도시하고 있으나, 이는 예시적인 것이므로, 반드시 도시된 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 탐색 영역은 원의 형태를 가질 수 있으며, 사용자의 선택에 따라 적절한 형태로 변형될 수 있다. 또한, 탐색 영역의 크기는 계산 부하, 계산의 정확성 등을 고려하여 사용자에 의해 설정될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에 포함된 각각의 불량의 위치에 대하여, 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각각의 불량의 위치를 중심으로 탐색 영역의 위치를 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
구체적으로, 도 3을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(300) 상에 포함된 복수의 불량 중 특정 불량(310)을 포함하는 탐색 영역(321)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 설정된 탐색 영역(321) 내에서 불량의 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(321)을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 이동하고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(322) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(322)을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 추가로 이동하고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(323) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이후, 탐색부(130)는 불량(310)의 위치를 중심으로 탐색 영역(323)을 Y 축 방향으로 일정 거리만큼 이동시키고, 이동 후의 위치에서 탐색 영역(324) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이와 같이 탐색부(130)는 특정 불량(310)을 중심으로, 탐색 영역을 X 축 및 Y 축으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역 내에 불량 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함된 영역을 탐색할 수 있다.
한편, 도시된 예에서, 탐색 영역의 이동 거리는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다.
또한, 탐색부(130)는 2차원 평면(300)에 포함된 각각의 불량에 대해 동일한 방식으로 탐색 영역을 설정하고, 설정된 탐색 영역을 이동하면서 각각의 위치에서 탐색 영역 내에 포함된 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
구체적인 예로, 도 4을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(400) 상에 포함된 각각의 불량에 대해 각 불량을 중심 좌표로 하는 일정 크기의 탐색 영역(410, 420, 430, 440, 450)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 각각의 탐색 영역(410, 420, 430, 440, 450)에 대하여 불량의 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함된 영역을 탐색할 수 있다.
한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
구체적인 예로, 도 5를 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(500)일정 크기의 탐색 영역(510, 520, 530, 540)으로 분할할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 각각의 탐색 영역(510, 520, 530, 540) 에 포함된 불량의 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 포함되어 있는지 여부를 판단할 수 있다.
한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 탐색부(130)는 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 2차원 평면 내에서 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
구체적인 예로, 도 6을 참조하면, 탐색부(130)는 2차원 평면(600) 상의 특정 위치에서 일정 크기의 탐색 영역(610)을 설정할 수 있다. 이후, 탐색부(130)는 설정된 탐색 영역(610) 내에서 불량의 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이후, 탐색부(130)는 탐색 영역(610)을 Y 축 방향으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역(620, 630, 640, 650) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
한편, Y 축 방향으로 탐색 영역을 더 이상 이동시킬 수 없는 경우, 탐색부(130)는 탐색 영역을 X 축 방향으로 일정 거리만큼 이동시킨 후, 탐색 영역(660) 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이후, 탐색부(130)는 탐색 영역(660)을 다시 X 축 방향으로 일정 거리만큼 순차적으로 이동시키고, 각각의 위치에서 탐색 영역 내의 불량 수를 카운트하여 불량의 수가 기 설정된 수 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
이와 같은 방식으로, 탐색부(130)는 탐색 영역을 이용하여 2차원 평면(600)의 전체 영역을 순회하면서 각각의 위치에서 탐색 영역 내의 불량 수를 카운트하여 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다
한편, 도 6에 도시된 예에서, 탐색 영역의 이동 방향 및 이동 거리는 사용자에 의해 미리 설정될 수 있다.
불량 검출부(140)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여, 밀집성 불량을 검출할 수 있다. 이때, 밀집성 불량은 일정 영역 내에서 복수의 불량이 밀집된 것을 의미한다.
구체적으로, 불량 검출부(140)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역에 기초하여, 하나 이상의 불량 후보 영역을 설정할 수 있다. 또한, 불량 검출부(140)는 설정된 각 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 계산하여 밀집성 불량을 검출할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부(140)의 상세 구성도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 불량 검출부(140)는 메모리부(141), 후보 영역 결정부(142), 불량 판단부(143) 및 불량 검출 정보 생성부(144)를 포함한다.
메모리부(141)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역의 위치를 저장할 수 있다. 구체적으로, 메모리부(141)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역의 2차원 평면 상의 위치를 저장할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 메모리부(141) 는 2차원 평면에 대응하는 2차원 배열로 구성된 이미지 버퍼의 형태로 구현될 수 있으며, 2차원 배열을 이용하여 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역의 위치를 저장할 수 있다.
후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 하나 이상의 불량 후보 영역을 결정할 수 있다.
예를 들어, 후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 각각의 탐색된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 후보 영역 결정부(142)는 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 중첩되거나 연속된 영역을 통합하고, 통합된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다. 이때, 중첩 또는 연속된 영역의 통합을 위해 Blob Labeling 알고리즘과 같은 레이블링(Labeling) 알고리즘이 이용될 수 있다.
구체적인 예로, 도 7을 참조하면, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면(710) 상에서 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역(711, 712, 713)은 2차원 배열로 구성된 메모리부(141)의 저장 영역(720)의 대응되는 위치(721, 722, 723)에 각각 저장될 수 있다.
이때, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역인 721, 722 및 723 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
다른 예로, 도 7에서 721 영역과 722 영역은 연속된 영역이므로, 후보 영역 결정부(142)는 721 영역과 722 영역을 도 8에 도시된 예와 같이 하나의 영역(724)으로 통합하고, 통합된 영역 724과 723 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
다른 예로, 도 9를 참조하면, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면(910) 상에서 탐색부(120)에 의해 탐색된 영역(911, 912, 913)은 2차원 배열로 구성된 메모리부(141)의 저장 영역(920)의 대응되는 위치(921, 922, 923)에 각각 저장될 수 있다.
이때, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역인 921, 922 및 923 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
다른 예로, 메모리부(141)에 저장된 탐색된 영역의 위치 중 921 영역과 922 영역은 중첩되는 영역이므로, 후보 영역 결정부(142)는 921 영역과 922 영역을 도 10에 도시된 예와 같이 하나의 영역(924)으로 통합하고, 통합된 영역 924과 923 영역을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 후보 영역 결정부(142)는 탐색부(130)에 의해 탐색된 영역 또는 통합된 영역 각각에 대하여, 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
구체적인 예로, 도 10 및 도 11을 참조하면, 후보 영역 결정부(142)는 통합된 영역(924)과 통합되지 않은 영역(923) 각각에 대하여, 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역(925, 926)을 설정하고, 설정된 최소 영역(925, 926)을 각각 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
한편, 도 11에 도시된 예에서는 최소 영역이 사각형 형태인 것으로 도시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 최소 영역의 형태는 예를 들어, 원형 등 다양한 형태를 가질 수 있다.
불량 판단부(143)는 각각의 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출할 수 있다.
예를 들어, 불량 판단부(143)는 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 산출하고, 산출된 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 밀집성 불량으로 판단할 수 있다. 이때, 밀집도는 예를 들어, 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합으로 계산되거나, 불량 후보 영역이 도 11에 도시된 최소 영역(925, 926)으로 결정된 경우, 최소 영역의 면적으로 계산될 수 있다.
다른 예로, 밀집도는 불량 후보 영역의 단위 면적당 불량의 수로 계산될 수 있다. 이때, 단위 면적당 불량의 수는 불량 후보 영역에 포함된 불량의 수를 불량 후보 영역의 면적으로 나눈 값으로 계산될 수 있다.
불량 검출 정보 생성부(144)는 밀집성 불량이 검출된 경우, 검출된 밀집성 불량에 관한 불량 검출 정보를 생성할 수 있다. 이때, 불량 검출 정보는 예를 들어, 광학 필름 공정 라인에서 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함할 수 있으며, 광학 필름 공정 라인에서 밀집성 불량의 발생 위치는 광학 필름 상에서 검출된 밀집성 불량의 발생 위치에 기초하여 산출될 수 있다. 예를 들어, 불량 검출 정보 생성부 (144)는 광학 필름 공정 라인에서 광학 필름의 이송 방향을 기준으로, 광학 필름의 시작 위치로부터 광학 필름에서 검출된 밀집성 불량의 발생 위치 사이의 거리에 기초하여, 광학 필름 공정 라인에서 밀집성 불량의 발생 위치를 판단할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 불량 검출 정보 생성부(144)는 생성된 불량 검출 정보를 예를 들어, 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 공정 라인 작업자의 단말 내지는 공정 라인 상의 경고 장치로 전송함으로써, 밀집성 불량 발생에 대한 즉각적인 조치가 이루어질 수 있도록 할 수 있다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름의 불량 검출 방법의 순서도이다.
도 12를 참조하면, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신한다(1210).
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 수신된 불량 정보에 기초하여, 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정한다(1220).
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 결정된 불량의 위치에 기초하여, 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색한다(1230).
예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 각각의 불량의 위치를 중심으로 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에 포함된 각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색할 수 있다.
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출한다(1240).
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 검출된 밀집성 불량에 관한 불량 검출 정보를 생성한다(1250). 이때, 불량 검출 정보는 예를 들어, 광학 필름 공정 라인에서 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다.
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 생성된 불량 검출 정보를 예를 들어, 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 공정 라인 작업자의 단말 내지는 공정 라인 상의 경고 장치로 전송한다(1260).
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 밀집성 불량 검출 과정을 나타낸 순서도이다.
도 13을 참조하면, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 도 12의 탐색 단계(1230)에서 탐색된 영역의 위치를 저장한다(1310). 이때, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 2차원 배열을 이용하여, 탐색된 영역의 위치 정보를 저장할 수 있다.
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정한다(1320).
예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 각각을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
또 다른 예로, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 탐색된 영역 또는 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 불량 후보 영역으로 결정할 수 있다.
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 불량 후보 영역에 포함된 불량들 의 밀집도를 산출한다(1330).
이때, 밀집도는 예를 들어, 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합 또는 불량 후보 영역의 단위 면적당 불량의 수로 계산될 수 있다.
또 다른 예로, 불량 후보 영역이 도 11에 도시된 최소 영역(925, 926)으로 결정된 경우, 밀집도는 최소 영역의 면적으로 계산될 수 있다.
이후, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 산출된 밀집도에 기초하여 불량 후보 영역 내에 밀집성 불량의 존재 여부를 판단한다(1340).
예를 들어, 광학 필름의 불량 검출 장치(100)는 산출된 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 밀집성 불량으로 판단할 수 있다.
도 12 및 도 13에 도시된 순서도에서는 상기 방법을 복수 개의 단계로 나누어 기재하였으나, 적어도 일부의 단계들은 순서를 바꾸어 수행되거나, 다른 단계와 결합되어 함께 수행되거나, 생략되거나, 세부 단계들로 나뉘어 수행되거나, 또는 도시되지 않은 하나 이상의 단계가 부가되어 수행될 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예는 본 명세서에서 기술한 방법들을 컴퓨터상에서 수행하기 위한 프로그램을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 기록매체를 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 기록매체는 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나, 또는 컴퓨터 소프트웨어 분야에서 통상적으로 사용 가능한 것일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광 기록 매체, 플로피 디스크와 같은 자기-광 매체, 및 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다.
이상에서 본 발명의 대표적인 실시예들을 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: 광학 필름의 불량 검출 장치
110: 수신부
120: 불량 위치 결정부
130: 탐색부
140: 불량 검출부
141: 메모리부
142: 후보 영역 결정부
143: 불량 판단부
144: 불량 검출 정보 생성부
110: 수신부
120: 불량 위치 결정부
130: 탐색부
140: 불량 검출부
141: 메모리부
142: 후보 영역 결정부
143: 불량 판단부
144: 불량 검출 정보 생성부
Claims (31)
- 적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 수신부;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 불량 위치 결정부;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 2차원 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 탐색부; 및
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 불량 검출부를 포함하고,
상기 불량 검출부는, 상기 밀집성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 불량 검출 정보 생성부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 각각의 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 탐색부는, 상기 2차원 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 일정 거리만큼 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 불량 검출부는, 상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 메모리부;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 후보 영역 결정부; 및
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 산출하고, 상기 산출된 밀집도에 기초하여 상기 불량 후보 영역 내에 상기 밀집성 불량의 존재 여부를 판단하는 불량 판단부를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 6에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 7에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 8에 있어서,
상기 후보 영역 결정부는, 상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 6에 있어서,
상기 메모리부는, 2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 6에 있어서,
상기 밀집도는, 상기 불량 후보 영역의 단위 면적 당 불량의 수 및 상기 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합 중 적어도 하나를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 9에 있어서,
상기 밀집도는, 상기 최소 영역의 면적을 포함하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 6에 있어서,
상기 불량 판단부는, 상기 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 밀집성 불량으로 판단하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 삭제
- 청구항 1에 있어서,
상기 불량 검출 정보 생성부는, 상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 광학 필름의 불량 검출 장치. - 청구항 1 내지 청구항 13 및 청구항 15 중 어느 한 항에 기재된 광학 필름의 불량 검출 장치에 의해 수행되는 광학 필름의 불량 검출 방법에 있어서,
적어도 하나의 검사 장치로부터 광학 필름 롤(roll)에 대한 불량 정보를 수신하는 단계;
상기 불량 정보에 기초하여, 상기 광학 필름 롤에 대응하는 2차원 평면 상에서 불량의 위치를 결정하는 단계;
상기 불량의 위치에 기초하여, 상기 평면 상에서 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 단계;
상기 탐색된 영역에 포함된 불량의 밀집도에 기초하여 밀집성 불량을 검출하는 단계; 및
상기 밀집성 불량이 검출된 경우, 광학 필름 공정 라인에서 상기 밀집성 불량의 발생 위치에 대한 정보를 포함하는 불량 검출 정보를 생성하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 2차원 평면에서 각각의 불량의 위치에 대하여, 상기 각각의 불량의 위치를 포함하는 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 각각의 불량의 위치를 중심으로 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 각 불량의 위치를 중심 좌표로 하는 일정 크기의 복수의 탐색 영역을 설정하고, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 2차원 평면을 일정 크기의 복수의 탐색 영역으로 분할하고, 분할된 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 탐색하는 단계는, 상기 평면에서 일정 크기의 탐색 영역을 설정하고, 상기 탐색 영역의 위치를 순차적으로 변경하여, 각 탐색 영역 중 상기 기 설정된 수 이상의 불량이 존재하는 영역을 탐색하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 16에 있어서,
상기 검출하는 단계는, 상기 탐색된 영역의 위치를 저장하는 단계;
상기 탐색된 영역의 위치에 기초하여, 불량 후보 영역을 결정하는 단계;
상기 불량 후보 영역에 포함된 불량의 밀집도를 산출하는 단계; 및
상기 산출된 밀집도에 기초하여 상기 불량 후보 영역 내에 상기 밀집성 불량의 존재 여부를 판단하는 단계를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 21에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 22에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역 중 중첩되거나 연속된 영역이 존재하는 경우, 상기 중첩된 영역 또는 연속된 영역을 통합하여 통합된 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 23에 있어서,
상기 불량 후보 영역을 결정하는 단계는, 상기 탐색된 영역 또는 상기 통합된 영역에 각각에 대하여 각 영역에 포함된 불량들을 모두 포함하는 최소 영역을 상기 불량 후보 영역으로 결정하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 21에 있어서,
상기 저장하는 단계는, 2차원 배열을 이용하여, 상기 탐색된 영역의 위치 정보를 저장하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 21에 있어서,
상기 밀집도는, 상기 불량 후보 영역의 단위 면적 당 불량의 수 및 상기 불량 후보 영역 내에서 각각의 불량이 차지하는 면적의 합 중 적어도 하나를 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 24에 있어서,
상기 밀집도는, 상기 최소 영역의 면적을 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 청구항 21에 있어서,
상기 판단하는 단계는, 상기 밀집도가 기 설정된 값 이상인 경우, 상기 밀집성 불량으로 판단하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 삭제
- 청구항 16에 있어서,
상기 불량 검출 정보를 공정 관리 시스템의 관리자 단말, 상기 광학 필름 공정 라인의 작업자 단말 및 공정 라인 상의 경고 장치 중 적어도 하나로 전송하는 단계를 더 포함하는 광학 필름의 불량 검출 방법. - 삭제
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