JP6780564B2 - 気孔解析装置及び気孔解析方法 - Google Patents

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Description

本発明は、焼結鉱等の多孔体における気孔を解析する気孔解析装置及び気孔解析方法に関する。
焼結鉱等の多孔体の気孔径分布を測定する種々の方法が知られている。非特許文献1は、多孔体を水銀中に浸漬し、多孔体に水銀を圧入した場合の圧力に対する圧入量を測定することで、気孔径分布を求める方法が記載されている。特許文献1には、運搬機械に堆積された造粒物の堆積形状及び質量を測定することで、造粒物の見掛け比重及び気孔率を推定する方法が記載されている。
特開2015−151623号公報
JIS R1655
非特許文献1の方法は、気孔径分布を測定する多孔体に、気孔を破壊しないように水銀を徐々に圧入していく必要があるので、測定に多くの時間を要するおそれがある。
特許文献1の方法は、測定された気孔率が、運搬機械に堆積された造粒物全体の平均値であり、しかも、造粒物の粒度分布を仮定して得られた値である。したがって、上記造粒物の気孔率にばらつきがある場合、測定された気孔率が個々の造粒物を代表するものでないおそれがあり、また、気孔径の度数分布等の詳細情報を得ることができない。
本発明は、多孔体の気孔を容易に解析することができる気孔解析装置及び気孔解析方法を提供することを目的とする。
本発明に係る気孔解析装置は、多孔体の表面形状を測定する形状測定部と、前記形状測定部で得られた3次元形状情報から、気孔を解析する演算処理部とを備え、前記演算処理部は、前記3次元形状情報に含まれる第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離を気孔径として算出し、前記極大点群から極小点を取り除く処理を、前記極小点がなくなるまで繰り返すことを特徴とする。
本発明に係る気孔解析方法は、多孔体の表面形状を測定する形状測定ステップと、前記形状測定ステップで得られた3次元形状情報から、気孔を解析する演算処理ステップとを備え、前記演算処理ステップは、前記3次元形状情報に含まれる第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離を気孔径として算出し、前記極大点群から極小点を取り除く処理を、前記極小点がなくなるまで繰り返すことを特徴とする。
本発明によれば、3次元形状情報に含まれる全ての気孔径を求めることができるので、多孔体の気孔を容易に解析することができる。
本実施形態に係る気孔解析装置の構成を示すブロック図である。 形状測定部の構成を模式的に示す斜視図である。 気孔径を測定する場合の形状データの一例を示す模式図であり、図3Aは第1形状データ、図3Bは第1極大点群、図3Cは第1極大点群から極小点を取り除いた第2極大点群、図3Dは第2極大点群から極小点を取り除いた第3極大点群、図3Eは第3極大点群から極小点を取り除いた第4極大点群である。 気孔径を測定する他の例を説明する際に供する形状データの模式図である。 気孔体積を測定する場合の形状データの一例を示す模式図であり、図5Aは第1形状データ、図5Bは気孔体積を求める場合の例、図5Cは第1極大点群において気孔体積を求める場合の例、図5Dは第1極大点群から極小点を取り除いた第2極大点群において気孔体積を求める場合の例、図5Eは第2極大点群から極小点を取り除いた第3極大点群において気孔体積を求める場合の例である。 実施例と水銀ポロシメータとによって測定した気孔体積分布の相関を示すグラフである。 実施例と水銀ポロシメータとによって測定した総気孔量の相関を示すグラフである。 実施例の方法で測定した気孔径の度数分布を示すグラフである。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
1.実施形態
(全体構成)
図1に示す気孔解析装置10は、形状測定部12、記憶部14、入力部16、出力部18、及び演算処理部20とを備え、それらがバス22を介して接続されている。演算処理部20は、予め格納されている基本プログラムや演算処理プログラム等のアプリケーションプログラムを読み出して、これら各種プログラムに従って、気孔解析装置10全体を制御する。演算処理部20は、複数のプログラム(アプリケーションプログラム等)を並列に実行できる。
記憶部14は、例えば、半導体記憶装置、磁気テープ装置、磁気ディスク装置、又は光ディスク装置のうちの少なくとも一つを備える。記憶部14は、演算処理部20での処理に用いられるオペレーティングシステムプログラム、ドライバプログラム、アプリケーションプログラム、データ等を記憶する。例えば、記憶部14は、アプリケーションプログラムとして、焼結鉱の気孔を解析する気孔解析処理を演算処理部20に実行させるための気孔解析プログラム等を記憶する。気孔解析プログラムは、例えばCD−ROM、DVD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な可搬型記録媒体から、公知のセットアッププログラム等を用いて記憶部14にインストールされてもよい。
また、記憶部14は、気孔解析処理で使用される種々のデータを記憶する。さらに、記憶部14は、所定の処理に係る一時的なデータを一時的に記憶してもよい。
入力部16は、データの入力が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、タッチパネル、キーボード等である。作業者は、入力部16を用いて、文字、数字、記号等を入力することができる。入力部16は、作業者により操作されると、その操作に対応する信号を生成する。そして、生成された信号は、作業者の指示として、演算処理部20に供給される。
出力部18は、映像や画像等の表示が可能であればどのようなデバイスでもよく、例えば、液晶ディスプレイ又は有機EL(Electro−Luminescence)ディスプレイ等である。出力部18は、演算処理部20から供給された映像データに応じた映像や、画像データに応じた画像等を表示する。また、出力部18は、紙等の表示媒体に、映像、画像又は文字等を印刷する出力装置であってもよい。
図2に示すように形状測定部12は、多孔体24の表面形状を測定する3次元形状計である。本実施形態の場合、形状測定部12は、撮像体13及びレンズ15を有し、合焦法(例えば、「合焦法による高速三次元形状測定」石原満宏、佐々木博美、精密工学学会誌Vo.63,No.1,1997)により、多孔体24の表面形状を順次測定する。形状測定部12は、視野が4mm×4mmであり、水平方向の分解能が10μmであり、深さ方向の分解能が0.4μmである。合焦法は、対象物の表面に焦点が合うようなレンズ15と対象物との間の位置関係を検出することで、対象物の表面の3次元位置を同定する。合焦法により3次元形状を測定する方法は、上記非特許文献に記載されているので、本明細書では詳細な説明は省略する。
形状測定部12は、多孔体24の表面の3次元形状を示す3次元形状情報26を、図示しないLAN(Local Area Network)及びバス22を介して、演算処理部20に出力する。3次元形状情報26は、一例では、複数の3次元座標データを含む3次元の点群データである。例えば、図2に示すように、3次元形状情報26は、多孔体24の表面で形状測定部12の視野に入る一定範囲において、x軸に平行な列とy軸に平行な列の交点において取得された、多孔体24の3次元座標データの点群である態様が考えられる。
(気孔径演算処理)
演算処理部20における気孔解析処理のうち気孔径演算処理について説明する。演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、測定点がx軸に平行に1列に並んだ第1形状データ28を読み出す(図3A)。次いで演算処理部20は、第1形状データ28の中から、両隣の測定点よりも高さ方向の情報の値が大きい(z座標の値が大きい)測定点(極大点という)を探索する。なお、第1形状データ28のうち、両端の測定点は、内側の隣の測定点よりz座標の値が大きい場合は、極大点とする。本図の場合、演算処理部20は、測定点30A〜30FをX極大点とし、第1極大点群30を求める(図3B)。演算処理部20は、第1極大点群30に基づいて、隣り合うX極大点30A,30B間の距離L1A、X極大点30B,30C間の距離L1B、X極大点30C,30D間の距離L1C、X極大点30D,30E間の距離L1D、X極大点30E,30F間の距離L1Eを、第1気孔径として算出する。ここで求めた第1気孔径は、多孔体24における最も小さい気孔の直径に相当する。本実施形態の場合、測定できる気孔径は、20μm〜4mmである。サンプリング定理により、測定できる最小の気孔径は水平方向の分解能10μmの2倍の20μmとなる。測定できる最大の気孔径は、測定視野に入る範囲で4mmとなる。
次いで、演算処理部20は、第1極大点群30の中から、両隣の測定点よりも高さ方向の情報の値が小さい(z座標の値が小さい)測定点30B,30Dを極小点として探索し、当該測定点30B,30Dを取り除き、第2極大点群33を求める(図3C)。極小点を探索するには、第1形状データ28中に少なくとも3個の測定点が必要である。
演算処理部20は、第2極大点群33に基づいて、取り除いた測定点30Bの両隣のX極大点30A,30C間の距離L2A、取り除いた測定点30Dの両隣のX極大点30C,30E間の距離L2Bを第2気孔径として算出する。ここで求めた第2気孔径は、第1気孔径よりも1段階大きい気孔の直径に相当する。
次いで、演算処理部20は、第2極大点群33から測定点30Eを極小点として探索し、当該測定点30Eを取り除き、第3極大点群35を求める(図3D)。演算処理部20は、第3極大点群35に基づいて、取り除いた測定点30Eの両隣のX極大点30C,30F間の距離L3を第3気孔径として算出する。第3気孔径は、第2気孔径よりも1段階大きい気孔の直径に相当する。
最後に、演算処理部20は、第3極大点群35から測定点30Cを極小点として探索し、当該測定点30Cを取り除き、第4極大点群37を求める(図3E)。演算処理部20は、第4極大点群37に基づいて、取り除いた測定点30Cの両隣のX極大点30A,30F間の距離L4を第4気孔径として算出する。第4気孔径は、多孔体24における最も大きい気孔の直径に相当する。第4極大点群37には両隣の測定点よりもz座標の値が小さい測定点(極小点)が存在しないため、演算処理部20は、気孔径演算処理を終了する。
演算処理部20は、複数の極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離を気孔径として算出し、前記極大点群から極小点を取り除く処理を、取り除く極小点がなくなるまで繰り返すことにより、3次元形状情報26に含まれる全ての気孔径を求めることができる。
(動作及び効果)
気孔解析装置10の動作及び効果について説明する。形状測定部12は、搬送中の多孔体24を上方から撮像し、3次元形状情報26を取得し、演算処理部20に出力する。演算処理部20は、形状測定部12から3次元形状情報26が入力されると、3次元形状情報26の中から、測定点が所定の間隔(例えば、10μm)でx軸に平行に1列に並んだ第1形状データ28を1つ読み出す。
演算処理部20は、第1形状データ28に基づき、演算処理を行うことにより、気孔径を求める。演算処理部20は、3次元形状情報26からy軸方向に所定の間隔(例えば、10μm)で離れた第1形状データ28を順に読み出し、同様の処理をすることで形状測定部12の視野に含まれる全ての気孔径を測定する。気孔解析装置10は、演算処理部20における演算結果を画像データに変換し、当該画像データを出力部18に入力する。出力部18は、画像データに応じた画像を表示する。気孔解析装置10は、演算処理部20における演算結果を演算データとして記憶部14に記憶させてもよい。
なお、上記したx方向への極大点・極小点探索により、気孔の存在するx座標が判り、y方向に10μm毎に繰り返し解析を行った結果、x座標が(ほぼ)同一でy方向に隣接する気孔があった場合には、同一の気孔に対応しているものと見なし、この中で最大の気孔径のみを意味のある気孔径の値としてカウントするという処理によって、同一気孔を複数回カウントすることを防ぐ。
演算処理部20は、上記のように、x軸に平行な列上の点において気孔径を求める等、一定の範囲における気孔径を求めることができ、また、3次元形状情報26に含まれる全ての気孔径を求めることもできる。そのため、上記気孔径演算処理において、気孔径を求める毎に、任意の気孔径の範囲に対応して分類し、分類毎に気孔の数を逐次集計しておくことで、多孔体24上の任意の範囲で、気孔径の分類毎の気孔の数を把握することができる。したがって、把握したデータを多孔体24の気孔径分布として出力することにより、気孔径の分類毎に存在する気孔の個数の分布、即ち、ヒストグラムを算出することができる。以上より、気孔解析装置10は、3次元形状情報26に基づき、多孔体24の気孔を容易に解析することができる。
気孔解析装置10は、多孔体24の気孔に水銀を圧入する必要がないので、多孔体24の破損、汚染を防止できると共に、水銀圧入法に比べ格段と迅速に測定することができる。
本実施形態の場合、演算処理部20は、第1〜第4の4段階の大きさの気孔径を算出する場合について説明したが、本発明はこれに限らず、取り除く極小点がなくなるまで繰り返した結果、5段階以上の大きさの気孔径を算出することもできる。
気孔解析装置10は、多孔体24の表面に存在する気孔が楕円形状の場合、気孔の長軸と短軸の平均長さを気孔径として算出することができる。以下、図4を参照して、具体的に説明する。なお、本図では、説明の簡略のため、1カ所の第1気孔径について説明する。演算処理部20は、第1形状データ28に基づいて、隣り合う極大点30A,30B間の距離L1Xを求める。
演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、極大点30A,30Bの間の測定点(極小点)31を通り、測定点がy軸に平行に1列に並んだ第2形状データ32を読み出す。演算処理部20は、測定点31の両隣の極大点32A,32B間の距離L1Yを求める。
演算処理部20は、得られた2個の距離L1X,L1Yの平均値を計算し、第1気孔径とする。上記のように気孔解析装置10は、楕円の長軸と短軸の平均長さを気孔径として算出することができるので、より正確に気孔を解析することができる。同様に、演算処理部20は、他の極大点30B〜30Fについて、さらに3次元形状情報26に含まれる全ての気孔について、それぞれx軸方向、及びy軸方向の平均長さを気孔径として算出することができる。
極大点30A,30Bの間の測定点(極小点)31を通る第2形状データ32を用いる場合について説明したが、本発明はこれに限らない。2個の極大点の間の極小点を通る第2形状データが存在しない場合、上記極小点の近傍を通る第2形状データを用いることとしてもよい。
(気孔体積演算処理)
演算処理部20における気孔解析処理のうち気孔体積演算処理について説明する。まず、演算処理部20は、3次元形状情報26(図2)の中から、測定点がx軸に平行に1列に並んだ第1形状データ28を読み出す(図5A)。次いで演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、隣り合うX極大点30A,30Bの間の測定点(極小点)31を通り、測定点がy軸に平行に1列に並んだ第2形状データ32を読み出す(図5B)。演算処理部20は、X極大点30A,30Bと、測定点31の両隣のY極大点32A,32Bとによる面36、及び測定点31を外郭に含む第1気孔体積を算出する。すなわち、第1気孔体積は、X極大点30A,30Bと、Y極大点32A,32Bと、測定点31を頂点とする多面体の体積である。演算処理部20は、残りのX極大点30B〜30Fについても同様にして第1気孔体積を算出する。
次いで、演算処理部20は、第1形状データ28の中から、測定点30A〜30Fを極大点として探索して求めた第1極大点群30から、測定点30B,30Dを極小点とする(図5C)。演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、隣り合うX極大点30A,30Cの間の測定点(極小点)30Bを通り、測定点がy軸に平行に1列に並んだ第2形状データ38を読み出す。演算処理部20は、X極大点30A,30Cと、測定点30Bの両隣のY極大点38A,38Bとによる面40、及び測定点30Bを外郭に含む第2気孔体積を算出する。すなわち、第2気孔体積は、X極大点30A,30Cと、Y極大点38A,38Bと、測定点30Bを頂点とする多面体の体積である。演算処理部20は、残りの極大点30C,30Eについても同様にして第2気孔体積を算出する。
次いで、演算処理部20は、第1極大点群30から、極小点として探索した測定点30B,30Dを取り除き、第2極大点群33を求める(図5D)。演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、隣り合うX極大点30C,30Fの間の測定点(極小点)30Eを通り、測定点がy軸に平行に1列に並んだ第2形状データ42を読み出す。演算処理部20は、X極大点30C,30Fと、測定点30Eの両隣のY極大点42A,42Bとによる面44、及び測定点30Eを外郭に含む第3気孔体積を算出する。すなわち、第3気孔体積は、X極大点30C,30Fと、Y極大点42A,42Bと、測定点30Eを頂点とする多面体の体積である。
最後に、演算処理部20は、第2極大点群33から、極小点として探索した測定点30Eを取り除き、第3極大点群35を求める(図5E)。演算処理部20は、3次元形状情報26の中から、隣り合うX極大点30A,30Fの間の測定点(極小点)30Cを通り、測定点がy軸に平行に1列に並んだ第2形状データ46を読み出す。演算処理部20は、X極大点30A,30Fと、測定点30Cの両隣のY極大点46A,46Bとによる面48、及び測定点30Cを外郭に含む第4気孔体積を算出する。すなわち、第4気孔体積は、X極大点30A,30Fと、Y極大点46A,46Bと、測定点30Cを頂点とする多面体の体積である。
第3極大点群35から極小点として測定点30Cを取り除くと、隣り合うX極大点30A,30Fの間の測定点(極小点)が存在しないため、演算処理部20は、気孔径演算処理を終了する。なお本図の場合、説明の便宜上、面36,40,44,48は、簡略化して平面状に表しているが、実際は2つの面で構成される。
上記のように演算処理部20は、極小点を挟んで、隣り合うX極大点と隣り合うY極大点とによる面、及び、前記極小点、を頂点とする気孔体積を算出し、前記X極大点群から極小点を取り除く処理を、取り除く極小点がなくなるまで繰り返すことにより、多孔体24の全ての気孔体積を求めることができる。
演算処理部20は、上記のように、x軸に平行な列上の点を基準として気孔体積を求める等、一定の範囲における気孔体積を求めることができ、また、3次元形状情報26に含まれる多孔体24の全ての気孔体積を求めることもできる。そのため、上記気孔体積演算処理において、気孔体積を求める毎に、任意の体積範囲に対応して分類し、分類毎に気孔の数を逐次集計しておくことで、気孔体積の分類毎の気孔の数を把握することができる。したがって、把握したデータを多孔体24の気孔体積分布として出力することにより、気孔体積の分類毎に存在する気孔の個数の分布、即ち、ヒストグラムを算出することができる。以上より、気孔解析装置10は、3次元形状情報26に基づき、多孔体24の気孔を容易に解析することができる。
なお、2個の極大点の間の極小点を通る第2形状データが存在しない場合、上記極小点の近傍を通る第2形状データを用いることとしてもよい。
(変形例)
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲内で適宜変更することが可能である。
上記実施形態の場合、形状測定部12は合焦法により多孔体24の3次元形状を測定する場合について説明したが、本発明はこれに限らない。例えば、形状測定部12は、パターン投影法、光切断法等、任意の方法を選択できる。焼結鉱の搬送方向と直交する方向の1次元形状を取得する光切断法を用いることにより、搬送中のオンライン測定をすることができるので、測定中に焼結鉱を停止させる必要性が無くなり、測定の即時性がより向上する。
多孔体24は、気孔径が20μm〜4mmの範囲であれば、焼結鉱に限らず、例えば、軽石や、多孔質レンガでもよい。
2.実施例
実施例として上記実施形態と同様の方法で多孔体24の気孔体積を測定した。多孔体24は、直径20mm、重量12gの焼結鉱を用いた。形状測定部12は、3次元形状計(アリコナ社製、型番:IF−Sensor R25)を用いた。比較例として水銀ポロシメータ((株)島津製作所製、型番:オートポア9520)を用いて、上記実施例の測定が終わった後の多孔体24の気孔体積を測定した。その結果を図6〜図8に示す。
図6は、横軸が比較例である水銀ポロシメータにて測定した気孔体積分布(mL/g)、縦軸が実施例の方法にて測定した気孔体積分布(mm/mm)を示す。測定できる気孔径は、実施例の場合20μm〜4mmであるのに対し、比較例の場合数nm〜100μm程度である。したがって本実施例では、気孔径が20μm〜130μmの気孔の気孔体積の分布を比較した。実施例の測定結果は測定面積で、比較例の測定結果は試料重量で、それぞれ規格化している。本図より、実施例と比較例の測定結果に相関があることから、実施例の方法は、水銀圧入法と同程度の精度で気孔体積分布を測定できることが確認できた。
図7は、横軸が実施例の方法にて測定した総気孔量(mm/mm)、縦軸が比較例である水銀ポロシメータにて測定した総気孔量(mL/g)を示す。実施例の測定結果は測定面積で、比較例の測定結果は試料重量で、それぞれ規格化している。本図より、実施例と比較例の測定結果に相関があることから、実施例の方法は、水銀圧入法と同程度の精度で総気孔量を測定できることが確認できた。
図8は、実施例の方法にて測定した気孔径に基づいて、気孔径の度数分布を調べた結果を示す。本図は、横軸が気孔径(μm)、縦軸が気孔数(個)を示す。
以上の結果から、本発明に係る実施例の方法は、水銀圧入法と同程度の気孔体積、総気孔量を測定でき、さらに気孔径の度数分布も測定できることが確認できた。
12 形状測定部
20 演算処理部
24 多孔体
28 第1形状データ
30A〜30F 極大点
32 第2形状データ
32A,32B 極大点
36 面

Claims (10)

  1. 多孔体の表面形状を測定する形状測定部と、
    前記形状測定部で得られた3次元形状情報から、気孔を解析する演算処理部と
    を備え、
    前記演算処理部は、
    前記3次元形状情報に含まれる第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離を気孔径として算出し、前記極大点群から極小点を取り除く処理を、
    前記極小点がなくなるまで繰り返す
    ことを特徴とする気孔解析装置。
  2. 前記演算処理部は、前記気孔径の分布を算出することを特徴とする請求項1記載の気孔解析装置。
  3. 前記演算処理部は、
    前記第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離と、
    前記X極大点間の極小点を挟んで、前記第1形状データに直交する第2形状データに基づく隣り合うY極大点間の距離の平均を、
    前記気孔径として算出する
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の気孔解析装置。
  4. 前記演算処理部は、
    前記第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含むX極大点群から隣り合うX極大点と、
    前記X極大点間の極小点を挟んで前記第1形状データに直交する第2形状データに基づく隣り合うY極大点と、
    前記極小点と、
    を頂点とする多面体の体積を気孔体積として算出し、
    前記X極大点群から極小点を取り除く処理を、
    前記極小点がなくなるまで繰り返す
    ことを特徴とする請求項1記載の気孔解析装置。
  5. 前記演算処理部は、前記気孔体積の分布を算出することを特徴とする請求項4記載の気孔解析装置。
  6. 多孔体の表面形状を測定する形状測定ステップと、
    前記形状測定ステップで得られた3次元形状情報から、気孔を解析する演算処理ステップと
    を備え、
    前記演算処理ステップは、
    前記3次元形状情報に含まれる第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離を気孔径として算出し、前記極大点群から極小点を取り除く処理を、
    前記極小点がなくなるまで繰り返す
    ことを特徴とする気孔解析方法。
  7. 前記演算処理ステップは、前記気孔径の分布を算出することを特徴とする請求項6記載の気孔解析方法。
  8. 前記演算処理ステップは、
    前記第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含む極大点群から、隣り合うX極大点間の距離と、
    前記X極大点間の極小点を挟んで、前記第1形状データに直交する第2形状データに基づく隣り合うY極大点間の距離の平均を、
    前記気孔径として算出する
    ことを特徴とする請求項6又は7記載の気孔解析方法。
  9. 前記演算処理ステップは、
    前記第1形状データに基づいて、複数のX極大点を含むX極大点群から隣り合うX極大点と、
    前記X極大点間の極小点を挟んで前記第1形状データに直交する第2形状データに基づく隣り合うY極大点と、
    前記極小点と、
    を頂点とする多面体の体積を気孔体積として算出し、
    前記X極大点群から極小点を取り除く処理を、
    前記極小点がなくなるまで繰り返す
    ことを特徴とする請求項6記載の気孔解析方法。
  10. 前記演算処理ステップは、前記気孔体積の分布を算出することを特徴とする請求項9記載の気孔解析方法。
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