JP2016134630A - 検査装置の操作方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】検査装置の操作方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、可動子を有する半導体検査装置に適用される検査装置の操作方法を提出する。該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定することと、を含む。このほかに、タッチ信号によって可動子の移動方向も決定できる。本発明を通じて、オペレータはより一層直感的に半導体検査装置内の各可動子を操作できる。
【選択図】図1

Description

本発明は、検査装置の移動制御方法に関し、特に、半導体検査装置のウエハーチャックテーブル又は撮像モジュール等の可動子の移動速度或いは方向の制御方法に関する。
従来の半導体検査装置のウエハーチャックテーブル(或いは被検査物載置台)、撮像モジュール又はプローバーの移動は、ジョイスティック、マウス、キー及び半導体検査装置に内蔵するユーザ操作ソフトウェアを通じて実施してきたが、その利便性及び効率に限りがあった。
しかしながら、現在の市場や文献において、タッチ信号によるウエハーチャックテーブル(或いは被検査物載置台)、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッド等の可動子の移動を制御する技術的思想は見られなかった。
よって本発明の目的の1つは、タッチ信号によって検査装置の可動子を制御し、更に直接的かつ効率的に可動子の移動又は関連の被検査物の検査を行うことである。
本発明の概念の1つは、検査装置の操作方法で、可動子を有する半導体検査装置に適用される。該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定することと、を含む。
半導体検査装置を示す模式図である。 ウエハ画像を示す模式図(一)である。 ウエハ画像を示す模式図(二)である。 ウエハ画像を示す模式図(三)である。 ウエハ画像が手指のスワイプ方向に伴って移動する様子を示す模式図(一)である。 ウエハ画像が手指のスワイプ方向に伴って移動する様子を示す模式図(二)である。
図1乃至図4を参照する。各々半導体検査装置を示す模式図及びウエハ画像を示す模式図(一)〜(三)で、検査装置及び被検査物図を各々例示するために用いられる。ウエハ画像を示す模式図(一)〜(三)は、異なる拡大倍率下のウエハ画像を各々示し、ウエハ画像を示す模式図(三)の拡大倍率がウエハ画像を示す模式図(二)より大きく、ウエハ画像を示す模式図(二)の拡大倍率が更にウエハ画像を示す模式図(一)より大きい。
本発明の実施例1は、検査装置の操作方法で、可動子を有する半導体検査装置1に適用される。図1に示すように、半導体検査装置1は、ウエハーチャックテーブル11と撮像モジュール12とプローバー13とタッチパネルディスプレイ14と表示装置15とプローバーヘッド16とケーシング19とを含む。ウエハーチャックテーブル11と撮像モジュール12とプローバー13とプローバーヘッド16は可動子とする。タッチパネルディスプレイ14は、ウエハ画像を表示するために用いることができ、表示装置15が撮像モジュール12のリアルタイムでキャプチャーした画像を表示するために用いることができる。
プローバーヘッド16はプローバー13に設けられ、プローバー13と伴って移動できる以外に、プローバーヘッド16自体も単独でプローバー13に対して移動できる。撮像モジュール12は、ウエハーチャックテーブル13の上方からZ軸方向に沿って画像をキャプチャーでき、またケーシング19の側辺においてX軸方向或いはY軸方向に沿って画像もキャプチャーできる。
特に、本実施例は半導体検査装置の関連素子及びモジュールとウエハ画像で例示説明を行うが、その他の検査装置及び被検査物図もこれをもって調整して応用でき、これに限られるものではなく、且つ可動子もウエハーチャックテーブル11、撮像モジュール12、プローバー13、表示装置15及びプローバーヘッド16に限られるものではない。
図2乃至図4を参照する。本発明の実施例1で提出した検査装置の操作方法のうちの1つのステップは、ウエハ画像20をタッチパネルディスプレイ14に表示することである。
ウエハ画像20上の各グリッドはウエハ上に形成される各チップに相当し、21を付けているチップは欠陥を有するチップ或いは検査実施予定チップとする。ウエハ画像は、第1拡大倍率である図2のウエハ画像20に示すような比較的低い倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲が比較的広く、つまり表示装置15上に比較的多いチップを表示する。ウエハ画像は、第2拡大倍率である図3のウエハ画像30に示されるような中程度の倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲が比較的狭くなり、つまり表示装置15上に比較少ないチップを表示する。ウエハ画像は、第3拡大倍率である図4のウエハ画像40に示すような高倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲がより狭くなり、つまり表示装置15上により少ないチップを表示する。
拡大倍率がウエハ画像20が示す第1拡大倍率にある場合オペレータが手指をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプすると、ウエハーチャックテーブル11が第1速度で移動する。拡大倍率がウエハ画像30に示す第2拡大倍率にある場合オペレータが手指をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプすると、ウエハーチャックテーブル11が第2速度で移動する。拡大倍率が、ウエハ画像40に示す第3拡大倍率にある場合オペレータが手指をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプすると、ウエハーチャックテーブル11が第3速度で移動する。第3速度は、第2速度より小さく、第2速度が第1速度より小さい。つまりウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、ウエハーチャックテーブル11の伴う移動速度が遅くなり、又はオペレータは手指をタッチパネルディスプレイ14上で同じ距離をスワイプした時、対応するウエハ画像の拡大倍率が比較的高い場合、その対応するウエハーチャックテーブル11の移動距離は比較的短くなる。
ウエハーチャックテーブル11の移動或いは操作過程中、撮像モジュール12はやはりウエハーチャックテーブル11上にあるウエハの画像をキャプチャーし続け、また表示装置15或いはタッチパネルディスプレイ14を通じてウエハ(被検査物)の全体図、局部図、マーク図、及び/或いは拡大図を表示してオペレータの観察のために供する。
タッチパネルディスプレイ14がマルチタッチをサポートする場合、上記ウエハ画像の拡大倍率は、オペレータのタッチパネルディスプレイ14における指の動きを通じて実行できる。例えば2本の手指をタッチパネルディスプレイ14上に互いに接近する場合、ウエハ画像が縮小され、2本の手指でタッチパネルディスプレイ14上を互いに開いた場合、ウエハ画像が拡大される。
図5と図6は、各々ウエハ画像が手指のスワイプ方向に伴って移動する様子を示す模式図(一)及び(二)である。
実施例1において、タッチ信号はタッチパネルディスプレイ14に発生したスワイプ軌跡29でトリガーされ、オペレータが手指39をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプ軌跡29をスワイプした時、本実施例はスワイプ軌跡29に対応する複数のタッチ座標を算出し、且つ算出したタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出し、そして算出したスワイプ方向によって可動子(例えばウエハーチャックテーブル11、撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16等)の移動方向を決定する。
このほかに、ウエハ画像40自体も手指39のスワイプ方向によってタッチパネルディスプレイ14の画面上で移動できる。ウエハ画像40の移動速度と移動方向は、手指39のスワイプ速度とスワイプ方向によって決まる。手指39をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプした場合、ウエハ画像40がリアルタイムで伴って移動する。
上記に続き、本実施例は、更に算出したタッチ座標に基づいてスワイプ速度を算出し、また算出したスワイプ速度によって可動子の移動速度を決定できる。
例を挙げて言うと、半導体装置1内にスワイプ速度と移動速度の対照表を内蔵でき、算出したスワイプ速度は第1値と第2値の間にある時、移動速度がV1で、算出したスワイプ速度が第2値と第3値の間にある時、移動速度がV2となり、以後も同様とする。つまり対照表を見る方式によって可動子の移動速度を決定でき、必ず特定のアルゴリズムで計算して可動子の移動速度を決定することはない。該第3値は該第2値より大きく且つ該第2値が該第1値より大きい場合、V2がV1より大きくなる。
実施例1は、タッチパネルディスプレイ14上で表示するウエハ画像の拡大倍率によって可動子の移動速度を決定し、ウエハ画像の拡大倍率の上昇に伴い、ウエハーチャックテーブル11の移動速度が遅くなり、その原因がウエハ画像の拡大に伴い、撮像モジュール12の撮像範囲も狭くなり、この時ウエハの移動が速すぎると、観察したいチップが撮像範囲から外れる。これ以外に、実施例1もオペレータのタッチパネルディスプレイ14上における手指のスワイプ方向によって可動子の移動方向を決定できる。
本実施例を介して半導体装置1内の各可動子の制御はより一層直感的となり、操作もより一層便利になる。
本発明の実施例2は、同様に検査装置の操作方法で、可動子を有する半導体検査装置1に適用される。前記可動子は、ウエハーチャックテーブル11、撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16から選ばれるいずれか1つである。
本実施例は、同様にウエハ画像をタッチパネルディスプレイ14に表示し、またオペレータの手指39をタッチパネルディスプレイ14でのスワイプ軌跡29によってスワイプ軌跡29に対応する複数のタッチ座標を算出する。そして算出した複数のタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出し、更に算出したスワイプ方向によって可動子の移動方向を算出する。
実施例2も更にタッチ信号生成時のウエハ画像の拡大倍率を検出してからタッチ信号生成時のウエハ画像の拡大倍率によって可動子の移動速度を決定できる。タッチ信号生成時、ウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、可動子の移動速度が低くなる。
同様に実施例2も更にタッチ座標に基づいてスワイプ速度とスワイプ方向を算出し、また算出した手指39のスワイプ速度とスワイプ方向によって可動子の移動速度と移動方向を決定できる。このほかに、ウエハ画像40自体も算出した手指39のスワイプ方向によってタッチパネルディスプレイ14の画面上でリアルタイムで対応移動できる。
本実施例において、ウエハーチャックテーブル11は、XY平面上における移動のみについて例示するが、本発明はこれに限られるものではなく、撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16は更にZ軸上に沿って移動でき、つまりウエハーチャックテーブル11に対して上昇或いは下降できる。
オペレータにタッチパネルディスプレイ14を通じて撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16の昇降を制御させるため、タッチパネルディスプレイ14上に物理的又は仮想の切替スッチを設けてオペレータに手指をタッチパネルディスプレイ14で上下に移動する時、可動子を制御してY軸に沿って移動するか、又はZ軸に沿って移動するかを決定させることができる。また切替スイッチ或いは可動子の操作制御スイッチを例えば操作卓(図示せず)のようなその他の位置に設けることができ、本発明はこれに限られるものではない。
以上の各実施例で称するウエハ画像は、データ処理を経た後変換した図面、撮像モジュール12で実際に撮影した画像ファイル、又はその他の形の代表図面とすることができる。
本発明は、検査装置の操作方法を別途開示する。可動子を有する半導体検査装置に適用され、該可動子がウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドから選ばれたいずれか1つとする。
該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示するS110と、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出するS120と該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率を検出するS130と、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定するS140と、を含む。
本発明は、検査装置の操作方法を別途開示する。可動子を有する半導体検査装置に適用され、該可動子がウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドから選ばれたいずれか1つとする。
該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示するS210と、該タッチパネルディスプレイが生成し、タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされるタッチ信号を検出するS220と、該スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出するS230と、それらタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出するS240と該スワイプ方向によって該可動子の移動方向を決定するS250と、を含む。
本発明は、検査装置の操作方法を別途開示する。可動子を有する検査装置に適用され、該可動子が被検査物の載置台及び撮像モジュールから選ばれたいずれか1つとする。
該方法は、被検査物図をタッチパネルディスプレイに表示するS410と、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出するS420と該タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率を検出するS430と、該タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定するS440と、を含む。
上記の3つ方法の実施例の内容は、本明細書内の前記説明から得られるが、簡潔を求めるため、ここではその説明を省略する。
上記を取りまとめると、明細書で開示されている内容によれば、本発明はタッチ信号によって検査装置の可動子を制御することで、より一層直接的かつ効率的に可動子の移動又は関連の被検査物の検査を行うことができる。
上述の説明は、単に本発明の最良の実施例を挙げたまでであり、本発明を限定しない。その他本発明の開示する要旨を逸脱することなく完成された同等効果の修飾または置換はいずれも後述の特許請求の範囲に含まれる。
1 半導体検査装置
11 ウエハーチャックテーブル
12 撮像モジュール
13 プローバー
14 タッチパネルディスプレイ
15 表示装置
16 プローバーヘッド
19 ケーシング
20 ウエハ画像
21 チップ
29 スワイプ軌跡
39 手指
40 ウエハ画像
S110〜S440 ステップ

Claims (15)

  1. 可動子を有する半導体装置に適用される検査装置の操作方法であって、
    前記可動子はウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドのうちの1つであり、
    ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、
    前記タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、
    前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、
    前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を含むことを特徴とする、
    検査装置の操作方法。
  2. 前記タッチ信号の生成時、前記ウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記タッチ信号は、タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされ、前記方法は、前記スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出することと、前記タッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出することと、前記スワイプ方向によって前記可動子の移動方向を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 前記スワイプ方向によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
  5. 前記タッチ座標に基づいてスワイプ速度を算出することと、前記スワイプ速度によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
  6. 前記スワイプ速度によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 可動子を有する半導体装置に適用される検査装置の操作方法であって、
    前記可動子はウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドのうちの1つであり、
    ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、
    前記タッチパネルディスプレイが生成し、前記タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされるタッチ信号を検出することと、
    前記スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出することと、
    前記タッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出することと、
    前記スワイプ方向によって前記可動子の移動方向を決定することと、を含むことを特徴とする、
    検査装置の操作方法。
  8. 前記タッチ信号の生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含み、前記タッチ信号生成時、前記ウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項7に記載の方法。
  9. 前記タッチ座標に基づいてスワイプ速度を算出することと、前記スワイプ速度によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
  10. 前記スワイプ速度によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 前記スワイプ方向によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
  12. 前記可動子は前記ウエハーチャックテーブルであり、前記スワイプ方向によって前記ウエハーチャックテーブルの平面上における移動方向を決定することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
  13. 前記可動子は前記撮像モジュール、前記プローバー及び前記プローバーヘッドのうちのいずれかであり、前記スワイプ方向によって前記可動子の上昇或いは下降を決定することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
  14. 可動子を有する検査装置に適用される検査装置の操作方法であって、
    前記可動子が被検査物の載置台及び撮像モジュールのうちの1つであり、
    被検査物図をタッチパネルディスプレイに表示することと、
    前記タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、
    前記タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率を検出することと、
    前記タッチ信号生成時の前記被検査物図の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を含むことを特徴とする、
    検査装置の操作方法。
  15. 前記タッチ信号生成時、前記被検査物図の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項14に記載の方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI652489B (zh) * 2017-12-05 2019-03-01 旺矽科技股份有限公司 應用於半導體檢測裝置的對位方法
US11036390B2 (en) * 2018-05-25 2021-06-15 Mpi Corporation Display method of display apparatus
TWI779329B (zh) * 2019-12-31 2022-10-01 旺矽科技股份有限公司 物料移載狀態偵測系統及方法
TWI768733B (zh) * 2020-11-10 2022-06-21 旺矽科技股份有限公司 晶圓檢測方法及晶圓檢測系統

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0886965A (ja) * 1995-10-06 1996-04-02 Nikon Corp 顕微鏡用電動ステージ制御装置
JP2000147070A (ja) * 1998-11-17 2000-05-26 Hitachi Ltd プローブ装置
JP2007311430A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Tokyo Electron Ltd 被撮像物の移動方法、この方法を記録した記憶媒体及びこれらを用いる処理装置
JP2011221068A (ja) * 2010-04-05 2011-11-04 Olympus Corp 顕微鏡コントローラ及び該顕微鏡コントローラを有する顕微鏡システム
JP2014056192A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Kyocera Optec Co Ltd 顕微鏡

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4644172A (en) * 1984-02-22 1987-02-17 Kla Instruments Corporation Electronic control of an automatic wafer inspection system
US5566877A (en) * 1995-05-01 1996-10-22 Motorola Inc. Method for inspecting a semiconductor device
EP0860704A3 (en) * 1997-02-24 2000-01-19 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for inspecting semiconductor integrated circuits, and contactor incorporated in the apparatus
US6895109B1 (en) * 1997-09-04 2005-05-17 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for automatically detecting defects on silicon dies on silicon wafers
US6774620B2 (en) * 2000-11-13 2004-08-10 Advantest Corp Wafer map display apparatus and method for semiconductor test system for displaying an image of wafer and IC chips with optimum display size
CN1260800C (zh) * 2001-09-19 2006-06-21 奥林巴斯光学工业株式会社 半导体晶片检查设备
JP2003098112A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Hitachi Ltd 薄膜デバイスの表面画像の検出・出力方法及びその装置並びにそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置
JP3910406B2 (ja) * 2001-10-31 2007-04-25 シャープ株式会社 半導体装置の検査方法
US6900877B2 (en) * 2002-06-12 2005-05-31 Asm American, Inc. Semiconductor wafer position shift measurement and correction
JP4316853B2 (ja) * 2002-10-09 2009-08-19 株式会社トプコン 表面検査方法および装置
US7319935B2 (en) * 2003-02-12 2008-01-15 Micron Technology, Inc. System and method for analyzing electrical failure data
JP4895569B2 (ja) * 2005-01-26 2012-03-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ 帯電制御装置及び帯電制御装置を備えた計測装置
US7694234B2 (en) * 2005-08-04 2010-04-06 Microsoft Corporation Virtual magnifying glass with on-the fly control functionalities
US8573077B2 (en) * 2005-08-26 2013-11-05 Camtek Ltd. Wafer inspection system and a method for translating wafers
TW200941606A (en) * 2008-03-20 2009-10-01 King Yuan Electronics Co Ltd Die marking apparatus
TWI465969B (zh) * 2008-05-23 2014-12-21 Microsoft Corp 利用拖曳操作平移內容
JP2010040847A (ja) * 2008-08-06 2010-02-18 Nikon Corp 露光装置、露光システム及び露光方法並びにデバイス製造方法
US8564555B2 (en) * 2009-04-30 2013-10-22 Synaptics Incorporated Operating a touch screen control system according to a plurality of rule sets
US10705692B2 (en) * 2009-05-21 2020-07-07 Sony Interactive Entertainment Inc. Continuous and dynamic scene decomposition for user interface
JP5174750B2 (ja) * 2009-07-03 2013-04-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置及び荷電粒子線画像を安定に取得する方法
CN202036805U (zh) * 2011-03-15 2011-11-16 群联电子股份有限公司 信号转发附加装置与遥控装置
TWM426046U (en) * 2011-05-10 2012-04-01 Chiuan Yan Technology Co Ltd Active target tracking microphotography module
JP2013197511A (ja) * 2012-03-22 2013-09-30 Toshiba Corp サポート基板、半導体装置の製造方法、半導体装置の検査方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0886965A (ja) * 1995-10-06 1996-04-02 Nikon Corp 顕微鏡用電動ステージ制御装置
JP2000147070A (ja) * 1998-11-17 2000-05-26 Hitachi Ltd プローブ装置
JP2007311430A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Tokyo Electron Ltd 被撮像物の移動方法、この方法を記録した記憶媒体及びこれらを用いる処理装置
JP2011221068A (ja) * 2010-04-05 2011-11-04 Olympus Corp 顕微鏡コントローラ及び該顕微鏡コントローラを有する顕微鏡システム
JP2014056192A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Kyocera Optec Co Ltd 顕微鏡

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