JP2016134630A - 検査装置の操作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、可動子を有する半導体検査装置に適用される検査装置の操作方法を提出する。該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定することと、を含む。このほかに、タッチ信号によって可動子の移動方向も決定できる。本発明を通じて、オペレータはより一層直感的に半導体検査装置内の各可動子を操作できる。
【選択図】図1
Description
しかしながら、現在の市場や文献において、タッチ信号によるウエハーチャックテーブル(或いは被検査物載置台)、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッド等の可動子の移動を制御する技術的思想は見られなかった。
本発明の実施例1は、検査装置の操作方法で、可動子を有する半導体検査装置1に適用される。図1に示すように、半導体検査装置1は、ウエハーチャックテーブル11と撮像モジュール12とプローバー13とタッチパネルディスプレイ14と表示装置15とプローバーヘッド16とケーシング19とを含む。ウエハーチャックテーブル11と撮像モジュール12とプローバー13とプローバーヘッド16は可動子とする。タッチパネルディスプレイ14は、ウエハ画像を表示するために用いることができ、表示装置15が撮像モジュール12のリアルタイムでキャプチャーした画像を表示するために用いることができる。
プローバーヘッド16はプローバー13に設けられ、プローバー13と伴って移動できる以外に、プローバーヘッド16自体も単独でプローバー13に対して移動できる。撮像モジュール12は、ウエハーチャックテーブル13の上方からZ軸方向に沿って画像をキャプチャーでき、またケーシング19の側辺においてX軸方向或いはY軸方向に沿って画像もキャプチャーできる。
特に、本実施例は半導体検査装置の関連素子及びモジュールとウエハ画像で例示説明を行うが、その他の検査装置及び被検査物図もこれをもって調整して応用でき、これに限られるものではなく、且つ可動子もウエハーチャックテーブル11、撮像モジュール12、プローバー13、表示装置15及びプローバーヘッド16に限られるものではない。
ウエハ画像20上の各グリッドはウエハ上に形成される各チップに相当し、21を付けているチップは欠陥を有するチップ或いは検査実施予定チップとする。ウエハ画像は、第1拡大倍率である図2のウエハ画像20に示すような比較的低い倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲が比較的広く、つまり表示装置15上に比較的多いチップを表示する。ウエハ画像は、第2拡大倍率である図3のウエハ画像30に示されるような中程度の倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲が比較的狭くなり、つまり表示装置15上に比較少ないチップを表示する。ウエハ画像は、第3拡大倍率である図4のウエハ画像40に示すような高倍率にある時、撮像モジュール12の撮像範囲がより狭くなり、つまり表示装置15上により少ないチップを表示する。
ウエハーチャックテーブル11の移動或いは操作過程中、撮像モジュール12はやはりウエハーチャックテーブル11上にあるウエハの画像をキャプチャーし続け、また表示装置15或いはタッチパネルディスプレイ14を通じてウエハ(被検査物)の全体図、局部図、マーク図、及び/或いは拡大図を表示してオペレータの観察のために供する。
実施例1において、タッチ信号はタッチパネルディスプレイ14に発生したスワイプ軌跡29でトリガーされ、オペレータが手指39をタッチパネルディスプレイ14上でスワイプ軌跡29をスワイプした時、本実施例はスワイプ軌跡29に対応する複数のタッチ座標を算出し、且つ算出したタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出し、そして算出したスワイプ方向によって可動子(例えばウエハーチャックテーブル11、撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16等)の移動方向を決定する。
例を挙げて言うと、半導体装置1内にスワイプ速度と移動速度の対照表を内蔵でき、算出したスワイプ速度は第1値と第2値の間にある時、移動速度がV1で、算出したスワイプ速度が第2値と第3値の間にある時、移動速度がV2となり、以後も同様とする。つまり対照表を見る方式によって可動子の移動速度を決定でき、必ず特定のアルゴリズムで計算して可動子の移動速度を決定することはない。該第3値は該第2値より大きく且つ該第2値が該第1値より大きい場合、V2がV1より大きくなる。
本実施例を介して半導体装置1内の各可動子の制御はより一層直感的となり、操作もより一層便利になる。
本実施例は、同様にウエハ画像をタッチパネルディスプレイ14に表示し、またオペレータの手指39をタッチパネルディスプレイ14でのスワイプ軌跡29によってスワイプ軌跡29に対応する複数のタッチ座標を算出する。そして算出した複数のタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出し、更に算出したスワイプ方向によって可動子の移動方向を算出する。
同様に実施例2も更にタッチ座標に基づいてスワイプ速度とスワイプ方向を算出し、また算出した手指39のスワイプ速度とスワイプ方向によって可動子の移動速度と移動方向を決定できる。このほかに、ウエハ画像40自体も算出した手指39のスワイプ方向によってタッチパネルディスプレイ14の画面上でリアルタイムで対応移動できる。
オペレータにタッチパネルディスプレイ14を通じて撮像モジュール12、プローバー13及びプローバーヘッド16の昇降を制御させるため、タッチパネルディスプレイ14上に物理的又は仮想の切替スッチを設けてオペレータに手指をタッチパネルディスプレイ14で上下に移動する時、可動子を制御してY軸に沿って移動するか、又はZ軸に沿って移動するかを決定させることができる。また切替スイッチ或いは可動子の操作制御スイッチを例えば操作卓(図示せず)のようなその他の位置に設けることができ、本発明はこれに限られるものではない。
該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示するS110と、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出するS120と該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率を検出するS130と、該タッチ信号生成時の該ウエハ画像の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定するS140と、を含む。
該方法は、ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示するS210と、該タッチパネルディスプレイが生成し、タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされるタッチ信号を検出するS220と、該スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出するS230と、それらタッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出するS240と該スワイプ方向によって該可動子の移動方向を決定するS250と、を含む。
該方法は、被検査物図をタッチパネルディスプレイに表示するS410と、該タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出するS420と該タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率を検出するS430と、該タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率によって該可動子の移動速度を決定するS440と、を含む。
11 ウエハーチャックテーブル
12 撮像モジュール
13 プローバー
14 タッチパネルディスプレイ
15 表示装置
16 プローバーヘッド
19 ケーシング
20 ウエハ画像
21 チップ
29 スワイプ軌跡
39 手指
40 ウエハ画像
S110〜S440 ステップ
Claims (15)
- 可動子を有する半導体装置に適用される検査装置の操作方法であって、
前記可動子はウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドのうちの1つであり、
ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、
前記タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、
前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、
前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を含むことを特徴とする、
検査装置の操作方法。 - 前記タッチ信号の生成時、前記ウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記タッチ信号は、タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされ、前記方法は、前記スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出することと、前記タッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出することと、前記スワイプ方向によって前記可動子の移動方向を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記スワイプ方向によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記タッチ座標に基づいてスワイプ速度を算出することと、前記スワイプ速度によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記スワイプ速度によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項5に記載の方法。
- 可動子を有する半導体装置に適用される検査装置の操作方法であって、
前記可動子はウエハーチャックテーブル、撮像モジュール、プローバー及びプローバーヘッドのうちの1つであり、
ウエハ画像をタッチパネルディスプレイに表示することと、
前記タッチパネルディスプレイが生成し、前記タッチパネルディスプレイに発生したスワイプ軌跡でトリガーされるタッチ信号を検出することと、
前記スワイプ軌跡に対応する複数のタッチ座標を算出することと、
前記タッチ座標に基づいてスワイプ方向を算出することと、
前記スワイプ方向によって前記可動子の移動方向を決定することと、を含むことを特徴とする、
検査装置の操作方法。 - 前記タッチ信号の生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率を検出することと、前記タッチ信号生成時の前記ウエハ画像の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含み、前記タッチ信号生成時、前記ウエハ画像の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 前記タッチ座標に基づいてスワイプ速度を算出することと、前記スワイプ速度によって前記可動子の移動速度を決定することと、を更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 前記スワイプ速度によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記スワイプ方向によって前記タッチパネルディスプレイ上でリアルタイムで前記ウエハ画像を移動することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 前記可動子は前記ウエハーチャックテーブルであり、前記スワイプ方向によって前記ウエハーチャックテーブルの平面上における移動方向を決定することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 前記可動子は前記撮像モジュール、前記プローバー及び前記プローバーヘッドのうちのいずれかであり、前記スワイプ方向によって前記可動子の上昇或いは下降を決定することを更に含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 可動子を有する検査装置に適用される検査装置の操作方法であって、
前記可動子が被検査物の載置台及び撮像モジュールのうちの1つであり、
被検査物図をタッチパネルディスプレイに表示することと、
前記タッチパネルディスプレイが生成したタッチ信号を検出することと、
前記タッチ信号生成時の該被検査物図の拡大倍率を検出することと、
前記タッチ信号生成時の前記被検査物図の拡大倍率によって前記可動子の移動速度を決定することと、を含むことを特徴とする、
検査装置の操作方法。 - 前記タッチ信号生成時、前記被検査物図の拡大倍率が高ければ高いほど、前記可動子の移動速度が低くなることを特徴とする請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562104309P | 2015-01-16 | 2015-01-16 | |
US62/104,309 | 2015-01-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016134630A true JP2016134630A (ja) | 2016-07-25 |
Family
ID=56364244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016007164A Pending JP2016134630A (ja) | 2015-01-16 | 2016-01-18 | 検査装置の操作方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10048844B2 (ja) |
JP (1) | JP2016134630A (ja) |
KR (1) | KR101789908B1 (ja) |
DE (1) | DE102016100645B4 (ja) |
TW (2) | TWI583971B (ja) |
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2016
- 2016-01-14 TW TW105101148A patent/TWI583971B/zh active
- 2016-01-15 DE DE102016100645.9A patent/DE102016100645B4/de active Active
- 2016-01-15 US US14/996,282 patent/US10048844B2/en active Active
- 2016-01-15 TW TW105101306A patent/TWI615768B/zh active
- 2016-01-18 KR KR1020160005962A patent/KR101789908B1/ko active IP Right Grant
- 2016-01-18 JP JP2016007164A patent/JP2016134630A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI583971B (zh) | 2017-05-21 |
DE102016100645A1 (de) | 2016-07-28 |
US10048844B2 (en) | 2018-08-14 |
KR20160088831A (ko) | 2016-07-26 |
DE102016100645B4 (de) | 2024-05-23 |
TW201627851A (zh) | 2016-08-01 |
TW201627681A (zh) | 2016-08-01 |
US20160210028A1 (en) | 2016-07-21 |
KR101789908B1 (ko) | 2017-11-20 |
TWI615768B (zh) | 2018-02-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
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