JP2016128811A5 - 分光器及び顕微鏡システム - Google Patents

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本発明は、分光器及び顕微鏡システムに関する。
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、角度依存素子である分光素子に対する蛍光の入射角度を変化させてこの分光素子の波長特性を変化させることにより、分光して検出する光の波長領域を変化させることができる分光器及び顕微鏡システムを提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、本発明に係る分光器は、入射する光の入射角度に関連して、前記光が透過する第1波長領域および反射する第2波長領域が変化する第1光学素子と、第1光学素子で透過した光または反射した光を検出する検出器と、第1光学素子を駆動する第1駆動機構と、第1駆動機構を制御して、前記光が入射する第1光学素子の入射面の向きを変化させる制御部と、を有する。
また、本発明に係る顕微鏡システムは、走査ミラーと、対物レンズと、上述した分光器と、を有する。
また、本発明に係る顕微鏡システムは、走査ミラーと、対物レンズと、分光器とを有し、光源から放射された光を蛍光物質が含まれる標本に照射し、標本からの光を分光する顕微鏡システムであって、分光器は、入射する光の入射角度に関連して、前記光が透過する第1波長領域および反射する第2波長領域が変化する第1光学素子と、第1光学素子で透過した光または反射した光を検出する検出器と、第1光学素子を駆動する第1駆動機構と、第1駆動機構を制御して、前記光が入射する第1光学素子の入射面の向きを変化させる制御部と、を有する。
本発明によれば、角度依存素子である分光素子に対する信号光(蛍光)の入射角度を変化させてこの分光素子の波長特性を変化させることにより、分光して検出する光の波長領域を変化させることができる分光器及び顕微鏡システムを提供することができる。

Claims (15)

  1. 入射する光の入射角度に関連して、前記光が透過する第1波長領域および反射する第2波長領域が変化する第1光学素子と、
    前記第1光学素子で透過した光または反射した光を検出する検出器と、
    前記第1光学素子を駆動する第1駆動機構と、
    前記第1駆動機構を制御して、前記光が入射する前記第1光学素子の入射面の向きを変化させる制御部と、
    を有する分光器。
  2. 前記第1光学素子において透過または反射した光を前記検出器に導く第2光学素子をさらに有する
    請求項1に記載の分光器。
  3. 前記第2光学素子は、ミラーである
    請求項2に記載の分光器。
  4. 前記第2光学素子を駆動する第2駆動機構をさらに有し、
    前記制御部は、前記第2駆動機構を制御して、前記第1光学素子において透過または反射した光が入射する前記第2光学素子の入射面の向きを変化させる
    請求項2又は3に記載の分光器。
  5. 前記制御部は、前記第1駆動機構および第2駆動機構を制御して、前記第1光学素子の入射面を延長した面と前記第2光学素子の入射面を延長した面とのなす角度を所定の値に維持したまま、前記第1光学素子の入射面および第2光学素子の入射面の向きを変化させる
    請求項4に記載の分光器。
  6. 前記制御部は、前記第1駆動機構および第2駆動機構を制御して、前記第1光学素子の入射面を延長した面と前記第2光学素子の入射面を延長した面との交線を軸として前記第1の光学素子及び前記第2の光学素子を回転させることにより、前記第1光学素子の入射面および第2光学素子の入射面の向きを変化させる
    請求項5に記載の分光器。
  7. 前記制御部は、前記第1駆動機構および第2駆動機構を制御して、前記第1光学素子を所定の位置において回転させ、前記第2の光学素子の位置を移動することにより前記第1光学素子の入射面および第2光学素子の入射面の向きを変化させる
    請求項6に記載の分光器。
  8. 前記第2の光学素子において反射した光を前記検出器において集光する集光レンズを有する
    請求項7に記載の分光器。
  9. 前記第1光学素子と前記検出器との間に配置され、入射する光の入射角度に関連して遮断する光の波長帯域が変化するバリアフィルタをさらに有する
    請求項1〜8のいずれか1項に記載の分光器。
  10. 前記検出器を駆動する第3駆動機構を有し、
    前記制御部は、前記第3駆動機構を制御して前記検出器を移動させる
    請求項1に記載の分光器。
  11. 走査ミラーと、
    対物レンズと、
    請求項1〜10のいずれか一項に記載の分光器と、
    を有する顕微鏡システム。
  12. 走査ミラーと、
    対物レンズと、
    分光器と
    を有し、光源から放射された光を蛍光物質が含まれる標本に照射し、前記標本からの光を分光する顕微鏡システムであって、
    前記分光器は、
    入射する光の入射角度に関連して、前記光が透過する第1波長領域および反射する第2波長領域が変化する第1光学素子と、
    前記第1光学素子で透過した光または反射した光を検出する検出器と、
    前記第1光学素子を駆動する第1駆動機構と、
    前記第1駆動機構を制御して、前記光が入射する前記第1光学素子の入射面の向きを変化させる制御部と、
    を有する顕微鏡システム。
  13. 前記制御部は、
    前記蛍光色素の種類、前記標本に照射する光の波長および前記標本からの光の波長の少なくとも1つに対応して、前記第1駆動機構を制御する
    請求項12に記載の顕微鏡システム。
  14. 前記第1光学素子に前記光が入射する入射角度を、前記蛍光色素の種類、前記標本に照射する光の波長および前記標本からの光の波長の少なくとも1つに対応づけて記憶する記憶部を有し、
    前記制御部は、前記記憶部から読み出された情報に基づいて前記第1駆動機構を制御する
    請求項13に記載の顕微鏡システム。
  15. 前記制御部は、前記標本に照射する光の波長の切り替えによって生じる前記入射角度の補正値に基づいて前記第1駆動機構を制御する
    請求項13又は14に記載の顕微鏡システム。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015111702A1 (de) * 2015-07-20 2017-01-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende, spektral selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe
DE102016124004A1 (de) * 2016-12-09 2018-06-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Optisches Gerät mit mindestens einem spektral selektiven Bauelement
US11269122B2 (en) 2016-12-09 2022-03-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical device having at least one spectrally selective component
JP7089719B2 (ja) * 2017-02-07 2022-06-23 ナノフォトン株式会社 分光顕微鏡、及び分光観察方法
EP3601968A4 (en) 2017-03-30 2020-12-16 Agency for Science, Technology and Research OPTICAL PROBE, RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEM, AND ASSOCIATED PROCESS FOR USE
US11092727B2 (en) * 2018-06-29 2021-08-17 Viavi Solutions Inc. High-resolution single photodiode spectrometer using a narrowband optical filter
US11291876B2 (en) 2019-04-19 2022-04-05 Kidde Technologies, Inc. Fire suppression agent composition
US11326998B2 (en) * 2019-04-19 2022-05-10 Kidde Technologies, Inc. System and method for monitoring a fire suppression blend
EP3992614A4 (en) * 2019-06-27 2023-06-28 HORIBA, Ltd. Analysis device
FR3114661B1 (fr) * 2020-09-28 2022-11-11 Horiba France Sas Dispositif optique de déviation d’un faisceau lumineux et spectromètre de diffusion inélastique comprenant un tel dispositif

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55142220A (en) * 1979-04-24 1980-11-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Device for measuring wavelength
US5371624A (en) 1991-11-29 1994-12-06 Olympus Optical Co., Ltd. Reflected fluorescence microscope
JP3142932B2 (ja) * 1992-01-10 2001-03-07 オリンパス光学工業株式会社 落射蛍光顕微鏡
JP3512974B2 (ja) * 1997-03-07 2004-03-31 サンテック株式会社 レーザ光源の波長モニタ装置
US5852498A (en) * 1997-04-04 1998-12-22 Kairos Scientific Inc. Optical instrument having a variable optical filter
JP2000249925A (ja) * 1999-03-04 2000-09-14 Olympus Optical Co Ltd 共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置
JP4812179B2 (ja) 2001-03-13 2011-11-09 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡
DE10324478B3 (de) * 2003-05-30 2004-12-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
JP4804727B2 (ja) 2004-06-24 2011-11-02 オリンパス株式会社 光走査型共焦点顕微鏡
JP5030513B2 (ja) * 2006-09-11 2012-09-19 オリンパス株式会社 生体組織用蛍光観測装置および内視鏡システム
TWI322887B (en) * 2006-12-27 2010-04-01 Ind Tech Res Inst Apparatus and method for detecting surface plasmon resonance
US7709779B2 (en) * 2007-10-11 2010-05-04 The Boeing Company Method and apparatus for detecting an optical reflection indicative of a photodiode

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