JP2016072450A - 貼り合わせ基板とその製造方法、および貼り合わせ用支持基板 - Google Patents
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Abstract
Description
また、本発明の他の形態によれば、焼結体基板と、前記焼結体基板の全ての面に備えられた少なくとも1層のアモルファス膜とを備えた貼り合わせ用支持基板であって、前記アモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ用支持基板を提供することができる。
さらに、本発明の他の形態によれば、焼結体基板と、前記焼結体基板の全ての面に備えられた少なくとも1層のアモルファス膜と、前記アモルファス膜の上に配置した単結晶半導体層とを備えた貼り合わせ基板であって、前記単結晶半導体層を配置する前記アモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ基板を提供することができる。
また、本発明の別の実施形態によれば、支持基板の表面にアモルファス膜を備えた貼り合わせ用支持基板に関する。すなわち、本発明の別の一態様は、焼結体基板と、焼結体基板の全ての面に備えられた少なくとも1層のアモルファス膜とを備えた貼り合わせ用支持基板であって、アモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ用支持基板である。
焼結体基板としては、好ましくは絶縁性の無機焼結体(セラミックス)の基板が挙げられる。焼結体は、無機物の粉体の集合体を、集合体を構成する無機物の融点よりも低い温度で加熱して固めたものである。例えば、平均粒径0.1〜50μmの原料粉体(例えば窒化珪素や窒化アルミニウム等)を、例えば金型成形、冷間静水圧成形、あるいはドクターブレード法等を用いてプレート形状に成形した後に、大気条件下または窒素雰囲気下で、例えば窒化珪素の場合は1400〜2000℃で加熱することで、焼結体基板を作製することができる。金型成形や冷間静水圧成形等の成形時に圧力を要する場合、その圧力は100MPa以上が好ましい。場合によって、焼結の促進および形状の安定化のために、アルミナ、マグネシア、イットリア等の焼結助剤を添加してもよい。焼結体基板の寸法については、特に限定されるものではないが、外径150〜300mm、厚さ500〜1000μmとすることが好ましい。焼結体基板は、可視光に対して不透明であるため、デバイスの製造プロセスにおいて、支持基板の存在確認やウェハの位置決めに使用する光センサで認識することができる。また、焼結体基板は、熱伝導性が良く、サファイアと比べてシリコンとの熱膨張率の差は小さいため、貼り合わせ基板とした際に反りが発生しにくく、反りが生じた場合でも反りが小さいので、大口径化しやすい。絶縁性の焼結体基板としては、窒化珪素(Si3N4)、窒化アルミニウム(AlN)またはサイアロン(SIALON、シリコン・アルミナ窒化物、Si6−xAlxOxN8−x(Xは0を超え、4以下の数である。)等が挙げられる。サイアロンは、窒化珪素(Si3N4)にアルミナ(Al2O3)を固溶させて作製する、Si3N4系のエンジニアリング・セラミックスである。焼結体基板の材料は、デバイス製造プロセス中に使用される薬液への耐性が高く、また、コストが安いという点で、窒化珪素を主材としたものが最も好ましい。
焼結体基板表面の金属濃度は、一般的に、基板表面上の評価対象の成分を回収して、ICP−MS法(誘導結合プラズマ質量分析、Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry)を用いて評価する方法が用いられている。評価する金属成分の回収は、例えば、HF水溶液(50質量%)を用いて、溶液中に焼結体基板を浸す、または、例えばミスト法を用いて焼結体基板表面全体に一定量の溶液をかけることで、基板表面の金属成分をHF水溶液に溶解させて回収することができる。許容される金属濃度は,プロセスに依存するが、例えば、半導体デバイスを接合および転写するプロセスでは、5.0×1011atoms/cm2未満が好ましく、1.0×1011atoms/cm2未満がさらに好ましい。また、貼り合わせ基板とした後にデバイスを形成するプロセスでは、2.0×1010atoms/cm2未満が好ましく、1.0×1010atoms/cm2未満がさらに好ましい。窒化珪素焼結体基板の場合、使用する窒化珪素粉末種、バインダー種等に依存するが、主たる金属不純物はアルミニウム、鉄およびカルシウムであり、金属不純物の濃度は通常1.0×1013atoms/cm2以上である。
焼結体基板のアモルファス膜を備えた表面に対して垂直方向、つまりアモルファス膜の厚さ方向の熱伝導性は、総括伝熱係数U(W/m2・K)を用いて表すことができる。総括伝熱係数Uは、数値が大きいほど熱伝導性が良好となる。例えば、M層からなるアモルファス膜を備えた支持基板の厚さ方向の総括伝熱係数Uの逆数は、i番目(i=1,…,M)の層の厚さをLi(m)、i番目の層の熱伝導率をλi(W/m・K)とすると、
1/U=ΣLi/λi (i=1,…,M) (I)
と表すことができる。上記の式(I)において、熱伝導は評価する表面に直接伝熱対を接触させて評価しているため、一般的な式に含まれる支持基板自体のL/λ、基板周辺の熱伝達係数および汚れ係数については、アモルファス膜の厚さ方向の伝達係数よりも2桁ほど小さくなることから含めないものとした。総括伝熱係数Uの逆数は、アモルファス膜が厚くなるほど大きくなるので、アモルファス膜の厚さ方向の総括伝達係数の逆数を、例えば、アモルファス膜を備える前の焼結体基板の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数の50〜98%とするような、小さな変動とするためには、アモルファス膜をより薄くすることが望ましい。なお、アモルファス膜の熱伝導率は、例えば、指標とする基板(例えば単結晶SiやSiO2等)に、焼結体基板上に形成した膜種および膜厚と同じアモルファス膜を同様に形成し、この指標基板を熱物性顕微鏡(例えば、ベテル社製 TM3)などで、アモルファス膜を備えた表面に対して垂直方向に測定することで評価することが可能である。また、アモルファス膜を備える前の焼結体基板の総括伝達係数は、例えばレーザーフラッシュ法、およびASTM5470に準拠した手法等により測定した熱伝導率と基板の厚みから算出することができる。
本発明によれば、例えば、窒化珪素焼結体(熱伝導率 100W/m・K)の表面に、厚さ0.1μmを超えて10μm未満のSi3N4のアモルファス膜を備えた場合、窒化珪素焼結体基板上のSi3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数(1/総括伝熱係数)がSi3N4膜を備える前の窒化珪素焼結体基板の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数の50〜98%に抑えられ、サファイア基板よりも高い熱伝導性を得ることが可能となる。
<実施例1>
焼結体基板として、外径200mm、厚さ725μmの窒化珪素(Si3N4)焼結体基板を用いた。用いた焼結体基板の体積抵抗率は、2端針法で測定したところ、1.0×1014Ω・cmであった。熱伝導率は、25℃、大気圧下で、レーザーフラッシュ法を用いて測定したところ、100W/m・Kであった。焼結体基板表面の金属濃度は、焼結体基板に50質量%のHF水溶液のミストを基板表面に噴霧し、表面のHF水溶液を回収後、ICP−MS分析装置3300DV(Perkin Elmer社製)で測定したところ、Al、FeおよびCaの金属種が、1.0×1013atoms/cm2以上の濃度を呈しており、Al、FeおよびCaの濃度はそれぞれ、5.0×1013、2.0×1014、3.0×1014atoms/cm2であった。また、用いた焼結体基板の総括伝熱係数は、式(I)に熱伝導率の測定結果および厚みを導入して算出したところ、1.38×105m2・K/Wであった。
このようにして得られた貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面粗さRmsは、AFM(ブルカー・エイエックスエス社製、型番:NanoScope V/Dimension Icon)で測定したところ、0.18nmであり、また、表面状態は、凹部の穴埋めが不十分である欠陥部分(ピットなど)は見られず、平滑であった。貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面の金属濃度は、貼り合わせ用支持基板に50質量%のHF水溶液のミストを基板表面に噴霧し、表面のHF水溶液を回収後、ICP−MS分析装置3300DV(Perkin Elmer社製)で測定したところ、Al、Fe、Caの濃度はそれぞれ、1.0×1010、2.0×1011、1.0×1010atoms/cm2であった。いずれの金属濃度も5.0×1011atoms/cm2未満であることから、半導体製造プロセスにおいて好適な基板を作製することができた。
Si3N4膜の熱伝導率は、モニターとしてSiウェハを用い、焼結体基板上にSi3N4膜を成膜する際に同時に成膜し、このSiウェハを熱物性顕微鏡(ベテル社製 TM3)で測定したところ、4.0W/m・Kであった。焼結体基板のSi3N4膜を形成した表面に対して垂直方向、つまり、Si3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、Si3N4膜の熱伝導率4.0W/m・Kおよび膜の厚さ0.3μmから算出したところ、1.37×105m2・K/Wとなった。このことから、貼り合わせ用支持基板のSi3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、Si3N4膜を形成する前の焼結体基板の厚さ方向の総括伝熱係数の99.0%となった。
Si3N4膜の厚さを3μmとした以外は、実施例1と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面粗さRmsは、0.13nmであり、また、表面状態は、凹部の穴埋めが不十分である欠陥部分(ピットなど)は見られず、平滑であった。貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、本手法の検出下限である3.0×109atoms/cm2以下であったことから、半導体製造プロセスにおいて好適な基板を作製することができた。貼り合わせ用支持基板のSi3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、1.14×105m2・K/Wであり、Si3N4膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の82.6%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドは見られず、焼結体基板の表面の凹部がSi3N4膜によって埋められ、貼り合わせ界面に空隙が生じていないことが確認できた。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、39.8W/m・Kであった。
焼結体基板として、体積抵抗率1.0×1014Ω・cm、熱伝導率50W/m・Kの外径200mm、厚さ725μmの窒化珪素(Si3N4)焼結体基板を用いた以外は、実施例1と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。なお、窒化珪素焼結体基板の体積抵抗率、熱伝導率および金属濃度は、実施例1と同じ方法で測定した。用いた焼結体基板表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、5.0×1014、3.0×1012、1.0×1013atoms/cm2であった。得られた貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面粗さRmsは、0.15nmであり、また、表面状態は、凹部の穴埋めが不十分である欠陥部分(ピットなど)は見られず、平滑であった。貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、2.0×1011、1.0×1010、3.0×109atoms/cm2以下であったことから、半導体製造プロセスにおいて好適な基板を作製することができた。貼り合わせ用支持基板のSi3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、0.69×105m2・K/Wであり、Si3N4膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の99.5%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドは見られず、焼結体基板の表面の凹部がSi3N4膜によって埋められ、貼り合わせ界面に空隙が生じていないことが確認できた。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、20.0W/m・Kであった。
CVD法を用いて、大気圧下、600℃、SiH4とO2の混合ガス雰囲気中(体積比で、SiH4:O2=1:3)で、焼結体基板の全ての面、つまり、単結晶半導体基板と貼り合わせる面、その裏面、および側面にSiO2膜を形成し、研磨機を用いてCMPを行い、SiO2膜の厚さを0.3μmとした以外は、実施例1と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。得られたSiO2膜を形成した貼り合わせ用支持基板の表面粗さRmsは、0.15nmであり、また、表面状態は、凹部の穴埋めが不十分である欠陥部分(ピットなど)は見られず、平滑であった。得られた貼り合わせ用支持基板上のSiO2膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、1.0×1011、3.0×1011、6.0×1010atoms/cm2であったことから、半導体製造プロセスにおいて好適な基板を作製することができた。貼り合わせ用支持基板のSiO2膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、1.34×105m2・K/Wであり、SiO2膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の97.3%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドは見られず、焼結体基板の表面の凹部がSiO2膜によって埋められ、貼り合わせ界面に空隙が生じていないことが確認できた。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、32.5W/m・Kであった。
CVD法を用いて焼結体基板の全ての面にSiO2膜を実施例4と同様の手法を用いて3μm形成し、さらに、SiO2膜上にSi3N4膜を0.5μm形成し、研磨機を用いてCMPを行い、Si3N4膜の厚さを0.3μmとした以外は、実施例1と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。得られた貼り合わせ用支持基板上のアモルファス膜の表面粗さRmsは、0.14nmであり、また、表面状態は、凹部の穴埋めが不十分である欠陥部分(ピットなど)は見られず、平滑であった。貼り合わせ用支持基板上のアモルファス膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、本手法の検出下限である3.0×109atoms/cm2以下であったことから、半導体製造プロセスにおいて好適な基板を作製することができた。貼り合わせ用支持基板のSiO2膜およびSi3N4膜の厚さ方向の総括伝熱係数は、0.88×105m2・K/Wであり、SiO2膜およびSi3N4膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の63.8%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドは見られず、焼結体基板の表面の凹部がSiO2膜およびSi3N4膜によって埋められ、貼り合わせ界面に空隙が生じていないことが確認できた。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、33.6W/m・Kであった。
CVD法を用いて焼結体基板の全ての面にSi3N4膜を0.15μm形成し、研磨機を用いてCMPを行い、Si3N4膜の厚さを0.10μmとした以外は、実施例1と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。得られたSi3N4膜を形成した貼り合わせ用支持基板の表面粗さRmsは、1.20nmであり、表面には凹部の欠陥部分(ピットなど)が多数観察された。得られた貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、4.0×1013、2.0×1014、2.0×1014atoms/cm2であった。貼り合わせ用支持基板の厚さ方向の総括伝熱係数は、1.37×105m2・K/Wであり、Si3N4膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の99.3%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドが多数みられ、焼結体基板の表面の凹部がSi3N4膜によって十分に埋められておらず、単結晶シリコン層との間に空隙が生じていることを確認した。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、51.3W/m・Kであった。
CVD法を用いて焼結体基板の全ての面にSiO2膜を0.15μm形成し、研磨機を用いてCMPを行い、SiO2膜の厚さを0.1μmとした以外は、実施例4と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。得られた貼り合わせ用支持基板上のSiO2膜の表面粗さRmsは、1.10nmであり、表面には凹部の欠陥(ピットなど)が多数観察された。得られた貼り合わせ用支持基板上のSiO2膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、4.2×1013、2.1×1014、2.6×1014atoms/cm2であった。貼り合わせ用支持基板の厚さ方向の総括伝熱係数は、1.35×105m2・K/Wであり、SiO2膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の97.8%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドが多数みられ、焼結体基板の表面の凹部がSiO2膜によって十分に埋められておらず、単結晶シリコン層との間に空隙が生じていることを確認した。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、50.5W/m・Kであった。
CVD法を用いて焼結体基板の全ての面にSi3N4膜を0.15μm形成し、研磨機を用いてCMPを行い、Si3N4膜の厚さを0.10μmとした以外は、実施例3と同様にして貼り合わせ用支持基板および貼り合わせ基板を作製し、評価した。得られた貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面粗さRmsは、1.20nmであり、表面には凹部の欠陥部分(ピットなど)が多数観察された。得られた貼り合わせ用支持基板上のSi3N4膜の表面のAl、Fe、Caの濃度はそれぞれ、4.0×1014、3.0×1012、7.5×1012atoms/cm2であった。貼り合わせ用支持基板の厚さ方向の総括伝熱係数は、1.37×105m2・K/Wであり、Si3N4膜を形成する前の焼結体基板の総括伝熱係数の逆数の99.7%となった。表1に貼り合わせ基板の評価結果を示す。貼り合わせ基板の単結晶シリコン層には、ボイドが多数みられ、焼結体基板の表面の凹部がSi3N4膜によって十分に埋められておらず、単結晶シリコン層との間に空隙が生じていることを確認した。また、貼り合わせ基板の熱伝導率は、28.1W/m・Kであった。
2: アモルファス膜
3: 貼り合わせ用支持基板
4: 単結晶半導体基板
4a: 単結晶半導体層
4b: 剥離した単結晶半導体基板
5: イオン注入層
6: イオン注入
7: プラズマ処理
8: 接合体
9: 単結晶半導体層を備えた貼り合わせ基板
Claims (17)
- 焼結体基板の全ての面にコーティング処理を施して、少なくとも1層のアモルファス膜を備える支持基板を得る工程と、
前記アモルファス膜を介して前記支持基板と単結晶半導体基板を貼り合わせる工程とを少なくとも含み、
前記単結晶半導体基板と貼り合わせる支持基板上のアモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ基板の製造方法。 - 前記アモルファス膜の種類と厚さが、前記アモルファス膜の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数(1/総括伝熱係数)を、前記アモルファス膜を備える前の焼結体基板の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数の50〜98%とするように選択される、請求項1に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記コーティング処理を施して、少なくとも1層のアモルファス膜を備える支持基板を得る工程の後で、前記貼り合わせる工程の前に、少なくとも前記単結晶半導体基板と貼り合わせる支持基板上のアモルファス膜の表面に、研磨を施す工程を含む、請求項1または2に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記焼結体基板が、5.0W/m・K以上の熱伝導率、1.0×108Ω・cm以上の体積抵抗率、および5.0×10−6/℃以下の線膨張係数を有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記アモルファス膜が、SiO2、Si3N4、SiOxNy(式中、xおよびyは、0<x<2.0、0<y<1.3を満たす数である。)、アモルファスシリコンおよびアモルファスポリシリコンから選ばれる、請求項1〜4のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記アモルファス膜の厚さが、0.1μmを超えて10μm未満である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記アモルファス膜がSi3N4であり、膜厚が0.1μmを超えて1μm以下である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記焼結体基板が、窒化珪素、窒化アルミニウムまたはサイアロンである、請求項1〜7のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 前記単結晶半導体基板が、単結晶シリコンである、請求項1〜8のいずれか1項に記載の貼り合わせ基板の製造方法。
- 焼結体基板と、前記焼結体基板の全ての面に備えられた少なくとも1層のアモルファス膜とを備えた貼り合わせ用支持基板であって、
前記アモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ用支持基板。 - 前記アモルファス膜の種類と厚さが、前記アモルファス膜の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数(1/総括伝熱係数)を、前記アモルファス膜を備える前の焼結体基板の厚さ方向の総括伝熱係数の逆数の50〜98%とするように選択される、請求項10に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 前記焼結体基板が、5.0W/m・K以上の熱伝導率、1.0×108Ω・cm以上の体積抵抗率、および5.0×10−6/℃以下の線膨張係数を有する、請求項10または11に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 前記アモルファス膜が、SiO2、Si3N4、SiOxNy(式中、xおよびyは、0<x<2.0、0<y<1.3を満たす数である。)、アモルファスシリコンおよびアモルファスポリシリコンから選ばれる、請求項10〜12のいずれか1項に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 前記アモルファス膜の厚さが、0.1μmを超えて10μm未満である、請求項10〜13のいずれか1項に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 前記アモルファス膜がSi3N4であり、膜厚が0.1μmを超えて1μm以下である、請求項10〜12のいずれか1項に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 前記焼結体基板が、窒化珪素、窒化アルミニウムまたはサイアロンである、請求項10〜15のいずれか1項に記載の貼り合わせ用支持基板。
- 焼結体基板と、前記焼結体基板の全ての面に備えられた少なくとも1層のアモルファス膜と、前記アモルファス膜の上に配置した単結晶半導体層とを備えた貼り合わせ基板であって、
前記単結晶半導体層を配置する前記アモルファス膜の表面が、ICP−MS法において、Al、Fe、Caの各濃度が5.0×1011atoms/cm2未満であり、表面粗さRmsが0.2nm以下である、貼り合わせ基板。
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