JP2016062636A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】トラッキングエラー信号のオフセットをリアルタイムに抑制する光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ディスクで反射された光ビームの光束を受光する受光部の第１領域ｄ１を光束の０次成分と光束の＋１次成分とが重なり合う領域とし、第２領域ｄ２を光束の０次成分と光束の−１次成分とが重なり合う領域としたとき、第１領域に入射した光量に応じた第１検出信号と、第２領域に入射した光量に応じた第２検出信号とを減算して差信号を形成し、差信号の低域成分をオフセット補正指標信号としてトラッキングエラー信号のオフセットを補正する。
【選択図】図３

Description

本開示は、光ディスクに対してデータの記録および再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置に関する。

光ディスク装置において、１ビームを使用するトラッキングエラー検出方法として、プッシュプル法（ＰＰ法と適宜略す）、アドバンスドプッシュプル法（ＡＰＰ法と適宜略す）等が知られている。１ビーム方式のＰＰ法の場合、既に記録がされている領域（記録領域と称する）と、未だ記録がされてない領域（未記録領域と称する）との境界部でトラッキングエラー信号のオフセットが発生する。記録境界でのオフセットは、記録境界の反射率分布がトラックに対して非対称で、しかもトラックの周期よりも粗い周期の振幅格子となって、光ディスクに集光された光ビームを回折させることで生じる。

オフセットの発生によって、記録特性、再生特性が悪くなり、最悪の場合には、トラッキングサーボがかからなくなるという事態が生じる。このようなオフセットを抑制するために、特許文献１には、トラックジャンプ状態でのトラッキングエラー信号のレベルがピークレベルとボトムレベルの中間のレベルとなるようにフォーカス制御を行って、トラッキングエラー信号のオフセット量を調整することが記載されている。

特開２００５−８５３５２号公報

特許文献１に記載の方法は、内外周の記録／記録済の状態が一定でない場合に、トラッキングエラー信号のオフセットの抑制が十分に行われないおそれがあった。

したがって、本開示の目的は、光ディスクを走査中にリアルタイムにオフセット補正指標を取得し、生成されたトラッキングエラー信号に対してオフセット補正指標による補正を行うことによって、オフセットを抑制することができる光ディスク装置を提供することにある。

本開示は、光源と、光源から照射された光ビームを光ディスク上に集光させる対物レンズと、光ディスクで反射された光ビームの光束を受光する受光部とを有し、
受光部の光束入射領域は、分離された第１領域ｄ１および第２領域ｄ２を有し、
第１領域ｄ１は、光束の０次成分と光束の＋１次成分とが重なり合う領域を通り、光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第１分割線と、対物レンズの光軸を通り、光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第２分割線と、光束の直径より小さい間隔で互いに平行してラジアル方向に延長する第３および第４分割線とによって区画され、
第２領域ｄ２は、光束の０次成分と光束の−１次成分とが重なり合う領域を通り、光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第５分割線と、第２分割線と、第３および第４分割線とによって区画され、
第１領域に入射した光量に応じた第１検出信号と、第２領域に入射した光量に応じた第２検出信号とを減算して差信号を形成し、差信号の低域成分をオフセット補正指標信号としてトラッキングエラー信号のオフセットを補正する光ディスク装置である。

少なくとも一つの実施形態によれば、リアルタイムでオフセット補正指標信号を形成することができる。オフセット補正指標信号は、デトラック量が０％でほぼ０となり、デトラック量の大きさと方向とに応じたレベルと極性を有する信号となる。このオフセット補正指標信号がトラッキングエラー信号から減算されることによって、オフセットが低減される。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であっても良い。

本開示の一実施の形態のブロック図である。 本開示の一実施の形態における光ピックアップの一例を示す斜視図である。 オフセット補正指標信号を形成するために使用する分光素子の一例を示す略線図である。 光ディスク上のトラックパターンの一部拡大平面図である。 デトラック量が０％の場合のシミュレーション結果を示すグラフである。 デトラック量が３％、６％、９％のそれぞれの場合のシミュレーション結果を示すグラフである。 デトラック量が−３％、−６％、−９％のそれぞれの場合のシミュレーション結果を示すグラフである。 検出信号の差のローパスフィルタを通した後の値のデトラック量に対する変化を示すグラフである。 未記録／記録済の複数のパターンを示す略線図である。

以下に説明する実施の形態は、本開示の好適な具体例であり、技術的に好ましい種々の限定が付されている。しかしながら、本開示の範囲は、以下の説明において、特に本開示を限定する旨の記載がない限り、これらの実施の形態に限定されないものとする。
なお、本開示の説明は、下記の順序にしたがってなされる。
＜１．一実施の形態＞
＜２．変形例＞

＜一実施の形態＞
「光ディスク装置の構成」
図１は、本開示の一実施の形態の概略的構成を示す。光ディスク１は、図示しないスピンドルモータによって回転され、光ピックアップ２によって、光ディスク１に対して情報が記録され、また、光ディスク１から情報が読み取られる。光ピックアップ２には、従来の光ディスク装置と同様に、レーザ光源、各種の光学素子が含まれている。光ディスク１として、ＢＤ（Blu-ray Disc（登録商標））、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等、種々の光ディスクを適用することが可能である。

例えばＢＤは、片面単層で約２５Ｇバイト、片面２層で約５０Ｇバイトの記録容量を有する高密度光ディスクである。ＢＤ規格では、ビームスポット径を小とするために、光源波長を４０５ｎｍとし、対物レンズの開口数ＮＡ(Numerical Aperture)を０．８５と大きくしている。ＣＤ規格では、光源波長：７８０ｎｍ、ＮＡ：０．４５、スポット径：２．１１μｍであり、ＤＶＤ規格では、光源波長：６５０ｎｍ、ＮＡ：０．６、スポット径：１．３２μｍである。ＢＤ規格では、スポット径を０．５８μｍまで絞ることができる。

さらに、近年、ＢＤ（Blu-ray Disc（登録商標））に対し、チャンネルビット長すなわちマーク長 を短くし、線密度方向に高密度化をはかり、３層で１００GBおよび４層で１
２８GBの大容量化を実現したＢＤＸＬ（登録商標）が実用化されている。

これに加え、さらなる記録容量の増大のためには、グルーブトラックおよびランドトラックの両方にデータを記録する方法（ランド／グルーブ記録方式と適宜称する）を採用する光ディスクが望ましい。なお、溝のことをグルーブと称し、グルーブにより形成されるトラックをグルーブトラックと称する。グルーブは、光ディスクを製造する時に、レーザ光によって照射される部分と定義され、隣接するグルーブ間に挟まれるエリアをランドと称し、ランドにより形成されるトラックをランドトラックと称する。さらに、複数の情報記録層が積層された多層光ディスクであれば、より記録容量を増加できる。

このような高密度記録可能な光ディスク１が光ディスク装置に装填されると、記録／再生時においてスピンドルモータによって一定線速度（ＣＬＶ）または一定角速度（ＣＡＶ）で回転駆動される。再生時には、光ピックアップ（光学ヘッド）２によって光ディスク１上のトラックに記録されたマーク情報の読出が行われる。光ディスク１に対してのデータ記録時には、光ピックアップ２によって光ディスク１上のトラックに、ユーザーデータがフェイズチェンジマークもしくは色素変化マークとして記録される。

記録可能型ディスクの場合、ウォブリンググルーブによって形成されるトラック上にはフェイズチェンジマークによるレコーディングマークが記録されるが、フェイズチェンジマークはＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調方式（ＲＬＬ；Run Length Limited、ＰＰ：Parity preserve/Prohibit rmtr(repeated minimum transition runlength)）等により、１層あたり２３．３GBのＢＤの場合で線密度0.12μｍ/bit、0.08μｍ/channel bitで記録される。同様に、２５GB／層のＢＤの場合、0.0745μｍ/channel bit、３２GB／層のＢＤＸＬ（登録商標）の場合、0.05826μｍ/channel bit、３３．４GB／層のＢＤＸＬ（登録商標）の
場合、0.05587μｍ/channel bitというように、ディスク種別に応じてチャンネルビット
長に対応した密度での記録が行われる。チャネルクロック周期を「Ｔ」とすると、マーク長は２Ｔから８Ｔとなる。再生専用ディスクの場合、グルーブは形成されないが、同様にＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調方式で変調されたデータがエンボスピット列として記録されている。

光学素子の一つである対物レンズ３がレンズ駆動装置としてのアクチュエータ４によって光ディスク１の径方向に移動可能とされると共に、光ディスク１に対して接近／離間する方向に移動可能とされている。なお、レンズ駆動装置としては、トラッキング方向およびフォーカス方向に変位可能な２軸アクチュエータに限らず、さらに光ディスク１のチルト方向に変位可能な３軸アクチュエータを使用しても良い。さらに、光ディスク１からの反射ビームを受光する光検出器５が光ピックアップ２に設けられている。光ピックアップ２は、スレッドモータによって光ディスクの半径方向に移動される。

光検出器５は、複数の光検出器を有しており、それぞれが受光した光の強度に対応するレベルの複数の検出信号が発生する。検出信号がサーボ信号形成部としての演算装置６に供給される。演算装置６は、トラッキングエラー信号ＴＥとフォーカスエラー信号ＦＥと後述する二つの検出信号の差信号ＳＤを形成する。トラッキングエラー信号ＴＥおよびフォーカスエラー信号ＦＥは、従来の方法によって生成される。例えばトラッキングエラー信号ＴＥは、ＡＰＰ法等の１ビームを使用したＰＰ法によって生成される。

フォーカスエラー信号ＦＥがサーボフィルタ７を介してアクチュエータ４に供給される。アクチュエータ４によって、光ビームが光ディスク１の記録面上にフォーカスするように、対物レンズ３の高さ方向の位置が制御される。トラッキングエラー信号ＴＥが減算器１０に供給される。減算器１０において、オフセット補正指標信号ＯＣがトラッキングエラー信号ＴＥから減算される。

減算器１０の出力信号がサーボフィルタ１１を介してアクチュエータ４に供給される。アクチュエータ４によって、光ディスク１のトラック方向で光ビームがトラック上に位置するように、対物レンズ３のトラック方向の位置が制御される。

演算装置６からの差信号ＳＤがローパスフィルタ８を介して係数乗算器９に供給される。係数乗算器９は、係数Ｋ（＞１）をローパスフィルタ８の出力に対して乗算するものである。ローパスフィルタ８によって不要な信号成分が除去される。係数乗算器９の出力にオフセット補正指標信号ＯＣが得られる。オフセット補正指標信号ＯＣが減算器１０に供給され、トラッキングエラー信号ＴＥからオフセット補正指標信号ＯＣが減算される。

「光ピックアップの一例」
図２を参照して本開示を適用できる光ピックアップ２の一例について説明する。光ピックアップ２は、光ビームを出射するレーザダイオード２１を有する。出射された光ビームがコリメータレンズ２２によって発散光から平行光に変換される。

コリメータレンズ２２からの光ビームが偏光ビームスプリッタ２３に供給され、一部の光ビームがコリメータレンズ２４を通じてモニタ用光検出器２５に入射される。モニタ用光検出器２５の検出信号を使用して光ビームの強度が所定のものになるように制御される。

偏光ビームスプリッタ２３を通った光ビームが１／４波長板２６を通って立ち上げミラー２７によって反射される。１／４波長板２６により直線偏光から円偏光に変換される。立ち上げミラー２７によって反射された光ビームがビームエキスパンダ２８および対物レンズ２９を通って光ディスクの記録面の所望のトラックに対して入射される。ビームエキスパンダ２８によって、球面収差が補正される。

光ディスクの信号記録面において反射せされた反射光ビームが対物レンズ２９、ビームエキスパンダ２８、立ち上げミラー２７を通って１／４波長板２６に入射され、１／４波長板２６により円偏光から直線偏光に変換される。１／４波長板２６から偏光ビームスプリッタ２３に入射された光ビームが反射され、回折素子としてのホログラム素子３０に入射される。

ホログラム素子３０によって、反射光ビームが複数の光ビームに分割され、分割された複数の光ビームがマルチレンズ３１を通じて光電集積回路（ＯＥＩＣ:Opto Electronic Integrated Circuit)３２に入射される。光電集積回路３２は、電子素子の機能と光素子の機能とを１枚の基板上に集積したものである。光電集積回路３２は、複数の光ビームをそれぞれ受光し、受光された光の強度に応じたレベルの電気信号に変換するフォトディテクタを有する。すなわち、光電集積回路３２は、図１における光検出器５および演算装置６の機能を有している。光電集積回路３２からＲＦ信号と、差信号ＳＤと、トラッキングエラー信号ＴＥと、フォーカスエラー信号ＦＥとが得られる。なお、図２に示す光ピックアップは、一例であって、他の光学的構成が可能である。

「ホログラム素子」
ホログラム素子３０は、光ディスク１で反射されたレーザビームの光束が入射され、この光束を複数の光束に分光する分光素子例えば回折素子としての機能を有する。ホログラム素子３０で分光された各光束が光電集積回路３２の受光素子によって別々に受光される。なお、分光素子を設けるのに代えて、光ディスク１で反射されたレーザビームの光束が入射される、受光素子の光束入射領域を複数の領域に分割しても良い。

図３を参照してオフセット補正指標信号ＯＣを形成するためのホログラム素子の一例について説明する。このホログラム素子は、上述したホログラム素子３０によって構成される。なお、オフセット補正指標信号ＯＣを形成するためのホログラム素子とＲＦ信号を分割して信号処理を行う素子とが共用されている。したがって、ＲＦ信号用とトラッキングエラー信号形成用のホログラム素子とは別パターンのものを有している。これと異なり、トラッキングエラー信号用のホログラム素子内にオフセット補正指標信号用ホログラム素子を合成することも可能である。信号は、同一ＰＤＩＣの異なるＰＤパターン部で受光して演算することになる。図３は、ホログラム素子の光束入射領域を示している。横方向が光ディスク１のラジアル方向であり、縦方向が光ディスク１のタンジェンシャル方向である。光ディスク１から反射された光束４０の０次成分は、光ディスク１の正しい位置に光ビームが合焦している場合、光束入射領域の中央で受光される。光束４０の±１次成分は、０次成分に対して光ディスク１のラジアル方向にずれた箇所に入射される。したがって、±１次成分は、その一部が０次成分と重なって光束入射領域に入射される。

光束４０の中心に対して左右対称な位置にタンジェンシャル方向に延長する第１分割線４１および第５分割線４２によって、光束入射領域が領域ａ、領域ｂおよび領域ｃに３分割される。第１分割線４１および第５分割線４２の間隔は、光束４０（瞳または開口）の直径より小とされる。例えば０次成分と＋１次成分の重なって入射される領域のほぼ中央を通るように、第１分割線４１の位置が設定され、０次成分と−１次成分の重なって入射される領域のほぼ中央を通るように、第５分割線４２の位置が設定される。

分割線４１および４２の間の中央の領域ｂが光束４０の直径より小さい間隔で互いに平行してラジアル方向に延長する第３分割線４３および第４分割線４４によって、領域ｂ、第１領域ｄ１，第２領域ｄ２および領域ｅに分割される。第１領域ｄ１および第２領域ｄ２は、第３分割線４３および第４分割線４４によって挟まれる領域を、対物レンズの光軸を通り、光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第２分割線４５によって、２等分して形成される。結局、領域ａ，ｂ，ｃ，ｄ１，ｄ２，ｅの６個の領域が形成される。

６個の領域によって６個の光ビームを得ることが可能である。オフセット補正指標信号ＯＣを形成するためには、第１分割線４１、第３分割線４３、第４分割線４４、第２分割線４５によって区画される第１領域ｄ１に入射した光量に応じた第１検出信号Ｓｄ１と、第５分割線４２、第３分割線４３、第４分割線４４、第２分割線４５によって区画される第２領域ｄ２に入射した光量に応じた第２検出信号Ｓｄ２とが使用される。すなわち、これらの検出信号から差信号ＳＤ（＝Ｓｄ１−Ｓｄ２）が演算される。

第１領域ｄ１は、上述したように、光束４０の０次成分と＋１次成分の重なり合う領域のほぼ中央位置において、重なり合う領域をタンジェンシャル方向に分割した場合に、中心の第２分割線４５に近い側の領域である。領域ｄ２は、光束４０の０次成分と−１次成分の重なり合う領域のほぼ中央位置において、重なり合う領域をタンジェンシャル方向に分割した場合に、中心の第２分割線４５に近い側の領域である。

光ディスク１には、一例としてＲＵＢ(Recording Unit Block)単位で、ＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調方式でマークが形成される。すなわち、記録ＲＵＢトラックの反射率と位相に変化が与えられる。例えば記録ＲＵＢは、記録マークの影響で、その反射率が下がり、記録領域と未記録領域との境界では、集光されたスポットの左右で反射率が変化する。なお、光ディスク１は、高密度ランド／グルーブ記録を行う多層ディスクとされている。

「シミュレーションの一例」
図４に示すように、グルーブＧ１、Ｇ２、Ｇ３、−−−およびランドＬ１、Ｌ２、Ｌ３、−−−が交互に形成され、例えばグルーブＧ１上にビームスポットが位置している場合を想定する。すなわち、図に向かって右側に記録領域であり、走査中のトラックが記録済トラックの場合を考える。光ディスク１は、上述したＢＤと同様の高密度光ディスクであり、光ピックアップ２が図２に示す構成のものである。

デトラック量（ラジアル方向のトラッキングずれ）が０％の場合、図５に示すように、検出信号Ｓｄ１およびＳｄ２のレベルがほぼ等しいものとなり、差信号ＳＤ（＝Ｓｄ１−Ｓｄ２）がローパスフィルタ８を通った後でのレベルがほぼ０となる。図５の横軸は、時間であり、縦軸がレベルである。時間およびレベルに関する数値は、シミュレーションで使用した値であり、相対的な値を示している。以下の図６、図７、図９に関しても、同様である。

図６Ａ、図６Ｂ、図６Ｃは、デトラック量が３％、６％、９％の場合の検出信号Ｓｄ１およびＳｄ２を示している。図６から分かるように、検出信号Ｓｄ２に比して検出信号Ｓｄ１が大きく、デトラック量が大きくなるほど、検出信号Ｓｄ２が低下し、検出信号Ｓｄ１とＳｄ２との差が大きくなる。なお、正のデトラックは、スポット中心が図４に向かって右側にずれることを意味している。したがって、これらの検出信号Ｓｄ１およびＳｄ２から形成される差信号ＳＤが正の極性を有し、そのレベルがデトラックの量に対応して大きくなる。

図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃは、デトラック量が−３％、−６％、−９％の場合の検出信号Ｓｄ１およびＳｄ２を示している。図７から分かるように、デトラック量が大きくなるほど、検出信号Ｓｄ１が低下し、検出信号Ｓｄ２とＳｄ１との差が大きくなる。なお、負のデトラックは、スポット中心が図４に向かって左側にずれることを意味している。したがって、差信号ＳＤが負の極性を有し、そのレベルがデトラックの量に対応して大きくなる。

上述したシミュレーションの結果、右側記録済の場合では、図８において、曲線５１で示すように、負のデトラックの場合に負となり、デトラックが０の場合に０となり、正のデトラックの場合に正となるオフセット補正指標信号ＯＣが得られる。トラッキングエラー信号ＴＥに含まれるオフセットも例えば同様の変化を有するので、トラッキングエラー信号ＴＥに対してオフセット補正指標信号ＯＣを減算することによって、トラッキングエラー信号のオフセットを低減することができる。オフセット補正指標信号ＯＣは、リアルタイムでオフセットの量を示しているので、リアルタイムのオフセット低減動作を行うことができる。オフセット補正指標信号ＯＣは、現在の光ディスクの走査状態、すなわち、未記録／記録済の状態、フォーカス状態、チルト状態等を反映したものであり、走査状態によらず、オフセットを低減することが可能となる。さらに、本開示の制御は、オープンループであり、フィードバック制御のように、系が不安定となることを回避する対策を行う必要がなく、設計および構成を簡略化することができる。

図９は、未記録／記録済の状態のいくつかの例を示すものである。図９Ａは、上述したシミュレーションを行った場合、すなわち、右側記録済の場合を示す。グルーブＧ２をスポットＳＰが走査しており、左側のランドＬ１が未記録で、右側のランドＬ２が記録済である。右側記録の例としては、図９Ｂに示すように、ランドＬ２を走査しており、左側のグルーブＧ２が未記録で、右側のグルーブＧ３が記録済のパターンもある。何れの場合でも、図８において、カーブ５１で示すのと同様の変化を行うオフセット補正指標信号ＯＣが得られる。

右側記録済のパターン以外に、図９Ｃおよび図９Ｄに示すように、左側記録済のパターンがある。図９Ｃに示すように、グルーブＧ２をスポットＳＰが走査しており、左側のランドＬ２が記録済で、右側のランドＬ３が未記録である。左側記録の例としては、図９Ｄに示すように、ランドＬ２を走査しており、左側のグルーブＧ２が記録済で、右側のグルーブＧ３が未記録のパターンもある。

シミュレーションの結果、何れの左側記録済の場合でも、図８において、カーブ５２で示すように、デトラック量が負の場合に正となり、デトラック量が０の場合に０となり、デトラック量が正の場合に負となようなオフセット補正指標信号ＯＣが得られる。このオフセット補正指標信号ＯＣをトラッキングエラー信号ＴＥから減算することによって、トラッキングエラー信号ＴＥのオフセットを低減することができる。

なお、走査状態としては、右側記録済パターン、左側記録済パターン以外のパターンも存在する。例えば隣接するトラックおよび走査しているトラックが全て未記録の場合のパターン、逆に、隣接するトラックおよび走査しているトラックが全て記録済の場合のパターンがある。これらの場合には、記録境界でのオフセットが殆ど発生せず、然も、オフセット補正指標信号ＯＣもほぼ０となる。さらに、他の走査状態のパターンの場合もオフセット補正指標信号ＯＣによってオフセットを低減することができる。

＜２．変形例＞
以上、本開示の実施形態について具体的に説明したが、上述の各実施形態に限定されるものではなく、本開示の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、上述の実施形態において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値などを用いてもよい。例えばオフセット補正指標信号ＯＣとの位相合わせのための回路をトラッキングエラー信号ＴＥの経路に設けても良い。

なお、本開示は、以下のような構成も取ることができる。
（１）
光源と、前記光源から照射された光ビームを光ディスク上に集光させる対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームの光束を受光する受光部とを有し、
前記受光部の光束入射領域は、分離された第１領域ｄ１および第２領域ｄ２を有し、
前記第１領域ｄ１は、前記光束の０次成分と前記光束の＋１次成分とが重なり合う領域を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第１分割線と、前記対物レンズの光軸を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第２分割線と、前記光束の直径より小さい間隔で互いに平行してラジアル方向に延長する第３および第４分割線とによって区画され、
前記第２領域ｄ２は、前記光束の０次成分と前記光束の−１次成分とが重なり合う領域を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第５分割線と、前記第２分割線と、前記第３および第４分割線とによって区画され、
前記第１領域に入射した光量に応じた第１検出信号と、前記第２領域に入射した光量に応じた第２検出信号とを減算して差信号を形成し、前記差信号の低域成分をオフセット補正指標信号としてトラッキングエラー信号のオフセットを補正する
光ディスク装置。
（２）
前記第１分割線が前記光束の０次成分と前記光束の＋１次成分とが重なり合う領域の中央位置付近を通り、
前記第５分割線が前記光束の０次成分と前記光束の−１次成分とが重なり合う領域の中央位置付近を通る（１）に記載の光ディスク装置。
（３）
前記光ディスクがランドおよびグルーブの両方に情報を記録するランド／グルーブ方式を採用する（１）に記載の光ディスク装置。
（４）
前記トラッキングエラー信号は、１ビームプッシュプル方式で得られるものである（１）に記載の光ディスク装置。
（５）
前記受光部は、前記光束を前記第１領域の光束と、前記第２領域の光束とに分光する分光素子と、前記複数の光束を個々に受光する受光素子とを有する（１）に記載の光ディスク装置。
（６）
前記受光部は、受光素子によって構成され、前記受光素子が前記光束入射領域を有する（１）に記載の光ディスク装置。

１ 光ディスク
２ 光ピックアップ
３ 対物レンズ
４ アクチュエータ
５ 光検出器
６ 演算装置
８ ローパスフィルタ
１０ 減算器

Claims (6)

1. 光源と、前記光源から照射された光ビームを光ディスク上に集光させる対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームの光束を受光する受光部とを有し、
   前記受光部の光束入射領域は、分離された第１領域ｄ１および第２領域ｄ２を有し、
   前記第１領域ｄ１は、前記光束の０次成分と前記光束の＋１次成分とが重なり合う領域を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第１分割線と、前記対物レンズの光軸を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第２分割線と、前記光束の直径より小さい間隔で互いに平行してラジアル方向に延長する第３および第４分割線とによって区画され、
   前記第２領域ｄ２は、前記光束の０次成分と前記光束の−１次成分とが重なり合う領域を通り、前記光ディスクのタンジェンシャル方向に延長する第５分割線と、前記第２分割線と、前記第３および第４分割線とによって区画され、
   前記第１領域に入射した光量に応じた第１検出信号と、前記第２領域に入射した光量に応じた第２検出信号とを減算して差信号を形成し、前記差信号の低域成分をオフセット補正指標信号としてトラッキングエラー信号のオフセットを補正する
   光ディスク装置。
2. 前記第１分割線が前記光束の０次成分と前記光束の＋１次成分とが重なり合う領域の中央位置付近を通り、
   前記第５分割線が前記光束の０次成分と前記光束の−１次成分とが重なり合う領域の中央位置付近を通る請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記光ディスクがランドおよびグルーブの両方に情報を記録するランド／グルーブ方式を採用する請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 前記トラッキングエラー信号は、１ビームプッシュプル方式で得られるものである請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 前記受光部は、前記光束を前記第１領域の光束と、前記第２領域の光束とに分光する分光素子と、前記複数の光束を個々に受光する受光素子とを有する請求項１に記載の光ディスク装置。
6. 前記受光部は、受光素子によって構成され、前記受光素子が前記光束入射領域を有する請求項１に記載の光ディスク装置。

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