JP2016011925A - コンタクトプローブ及びコンタクトプローブユニット - Google Patents

コンタクトプローブ及びコンタクトプローブユニット Download PDF

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小相澤 久
Hisashi Koaizawa
久 小相澤
皆瀬 十三夫
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十三夫 皆瀬
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Abstract

【課題】ガイドプレートの孔開け加工にかかる時間及びコストを削減すること可能であり、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業を簡易にすることができるコンタクトプローブ及びコンタクトプローブユニットを提供する。【解決手段】被測定体51に先端2aを接触させて電気特性を測定するコンタクトプローブ1Aであって、胴体部Aと両端部とを有するピン形状のプローブ本体4と、プローブ本体4の両端部のうち後端部4bの外周に設けられた外装部材5とを有するコンタクトプローブ1Aにより上記課題を解決した。外装部材5の後端側の端面5bに、プローブ本体4に電気的に接続した電極端子6が設けられていてもよいし、プローブ本体4の後端側の端面2bに電線が電気的に接続されていてもよい。また、外装部材5の横断面形状が多角形状であることが好ましい。【選択図】図1

Description

本発明は、主に電子部品や基板等の導通検査に用いる検査用のコンタクトプローブ及びそれを用いたコンタクトプローブユニットに関する。更に詳しくは、先端を被測定体に接触させて電気特性を測定する方式の検査ユニットに用いられ、コンタクトプローブを装着するガイドプレートの加工コストを大幅に削減することができ、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業が簡易なコンタクトプローブ等に関する。
近年、携帯電話等に使用される高密度実装基板、又は、パソコン等に組み込まれるBGA(Ball Grid Array)やCSP(Chip Size Package)等のICパッケージ基板等、様々な回路基板が多く用いられている。このような回路基板は、実装の前後の工程において、例えば直流抵抗値の測定や導通検査等が行われ、その電気特性の良否が検査されている。電気特性の良否の検査は、電気特性を測定する検査装置に接続された検査装置用治具(以下、「プローブユニット」という。)を用いて行われている。例えば、プローブユニットに装着されたピン形状のプローブ(本願では「コンタクトプローブ」という。)の先端を、その回路基板の電極(以下「被測定体」ともいう。)に接触させることにより行われている(例えば特許文献1を参照。)。
図8に、従来のプローブユニットの一例を示す。従来のプローブユニット110は、複数本から数千本の直線状のプローブ101と、プローブ101のリード線側(後端側)を案内するガイド穴付き後端側ガイド板130と、プローブ101の先端が被測定体111の電極112に接するようにプローブ101の電極側(先端側)を案内するガイド穴付き先端側ガイド板120とを少なくとも備えている。ここで、プローブ101は、ばね性を有した直線状の金属導体と、該金属導体の外周面に両端部を除いて被覆された絶縁被膜とから構成されている。
このプローブユニット110による電気特性の検査は、プローブユニット110又は被測定体111を相対的に上下させ、プローブ101の弾性力を利用して被測定体111の電極112にプローブ101を所定の圧力で押し当てることにより行われる。このとき、電極112に押し当てられた力によってたわんだプローブ101の後端102bはリード線150に強く接触し、電極112からの電気信号がそのリード線150を通って検査装置(図示しない。)に送られる。
特開2002−131334号公報
こうしたプローブユニット110では、一般に、プローブ101の外径は0.02mm〜0.3mmであり、各ガイド板120、130のガイド穴の内径は、プローブ101の外径よりも僅かに大径の0.03mm〜0.31mmとされている。従来の構成では、このように微小なガイド穴を有するガイド板120,130を少なくとも2枚用いるため、ガイド板120、130の孔開け加工に時間とコストが掛かっている。また、プローブ101を検査ユニットに組み付ける際、プローブ101の先端102aと後端102bの双方を微小なガイド穴に挿入するため、この組み付け作業に時間がかかり、また、ガイド穴から外れたプローブ101が折れ曲がるといった不具合が生じるおそれがある。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、その先端を被測定体に接触させて電気特性を測定する方式のコンタクトプローブにおいて、ガイドプレートの孔開け加工にかかる時間とコストを削減することが可能であり、また、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業を簡易にすることができるコンタクトプローブ、及び、そのようなコンタクトプローブを備えるコンタクトプローブユニットを提供することにある。
上記課題を解決するための本発明に係るコンタクトプローブは、被測定体に先端を接触させて電気特性を測定するコンタクトプローブであって、胴体部と両端部とを有するピン形状のプローブ本体と、前記プローブ本体の両端部のうち後端部の外周に設けられた外装部材と、を有することを特徴とする。
この発明によれば、プローブ本体とプローブ本体の後端部の外周に設けられた外装部材とを有するので、隣り合うコンタクトプローブは、それぞれの外装部材の側面が互いに接する。外装部材が接することにより、プローブ本体の後端部同士の間に、外装部材の長さ及び幅を反映した間隔が空き、後端部同士の相対位置が定まる。そのため、コンタクトプローブを用いる検査ユニットは、各コンタクトプローブの先端部の側にのみ、位置決め用のガイド穴が設けられたガイドプレートがあれば足り、後端部の側には、ガイドプレートは不要となる。その結果、ガイドプレートの加工にかかる時間及びコストを大幅に削減することができる。また、コンタクトプローブの先端部のみを、ガイド穴に挿入すればよいので、コンタクトプローブの両端部をガイド穴に挿入する従来の構成に比べて、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業が簡易になる。
本発明に係るコンタクトプローブにおいて、前記外装部材の後端側の端面に、前記プローブ本体に電気的に接続した電極端子が設けられているように構成してもよい。
この発明によれば、外装部材の後端側の端面に、プローブ本体に電気的に接続した電極端子が設けられているので、検査装置に接続されたリード電極をその電極端子に接触させることにより検査装置とプローブ本体とを電気的に接続することができる。電極端子は外装部材の後端側の端面に設けられているので、プローブ本体の後端側の端面よりも広い面積にすることができ、リード電極を確実に接触させることができる。その結果、リード電極をプローブ本体に直接接触させる従来の構成に比べて、高い接続信頼性を得ることができる。
本発明に係るコンタクトプローブにおいて、前記外装部材の後端側の端面と、前記電極端子の表面とが実質的に同一面になるように構成してもよい。
この発明によれば、外装部材の後端側の端面と電極端子の表面とが実質的に同一面をなしているので、コンタクトプローブの外装部材及び電極端子の上方に、板状の部材を安定に配置することができる。
本発明に係るコンタクトプローブにおいて、前記プローブ本体の後端側の端面に、電線が電気的に接続されているように構成してもよい。
この発明によれば、プローブ本体の後端側の端面に電線が接続されているので、電線を検査装置の電極端子側にも接続することにより、検査装置に電気的に接続されたリード電極をプローブ本体に押し当てる過程を経ることなく、プローブ本体と検査装置とを電気的に接続することができる。その結果、リード電極がプローブ本体に繰返し接触することによる両者の摩耗が回避され、これらの摩耗に起因した接続不良を抑制することができる。
本発明に係るコンタクトプローブにおいて、前記電線が、前記プローブ本体と一体的に設けられたものであるように構成してもよい。
この発明によれば、電線がプローブ本体と一体的に設けられているので、検査装置とコンタクトプローブとを接続するための電線を別途設ける必要がなく、部品点数を減らすことができる。
本発明に係るコンタクトプローブにおいて、前記外装部材の横断面形状が、多角形状であるように構成してもよい。
この発明によれば、外装部材の横断面形状が多角形状であるので、外装部材は、その側面に3面以上の平坦面を有する。その結果、コンタクトプローブを外装部材の平坦な側面同士が接するように配列することができ、各コンタクトプローブを所定位置に安定に配置することができる。
上記課題を解決するために本発明に係るコンタクトプローブユニットは、胴体部と両端部とを有するピン形状のプローブ本体と、前記プローブ本体の両端部のうち後端部の外周に設けられた外装部材とを有するコンタクトプローブを複数有し、前記各コンタクトプローブが隣り合うコンタクトプローブ同士で外装部材の側面が互いに接するように配列されたプローブ群と、前記プローブ群の前記外装部材全体を囲むように設けられ、前記各コンタクトプローブの外装部材の位置を規制する枠部材と、前記各コンタクトプローブの前記外装部材の先端部の側の面が接触する接触面を有するとともに、前記各コンタクトプローブの中間部が挿入された孔部を複数有し、前記外装部材を前記接触面上に保持する保持部材と、前記各コンタクトプローブの先端部が挿入され、該先端部を測定位置にガイドするガイド穴を複数有するガイドプレートと、を有することを特徴とする。
この発明によれば、上記した本発明に係るコンタクトプローブを用いているので、後端部の側にガイドプレートがなくても、コンタクトプローブの後端部同士の相対位置が定まる。また、このコンタクトプローブユニットでは、先端部の側にのみガイドプレートが設けられ、後端部に側にはガイドプレートが設けられていないので、ユニット毎に1枚のガイドプレートを作製すればよい。そのため、ガイドプレートの加工にかかる時間及びコストを大幅に削減することができる。また、コンタクトプローブの先端部のみをガイド穴に挿入すればよいので、コンタクトプローブの両端部をガイド穴に挿入する従来の構成に比べて、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業が簡易であり、組み付け作業に際する不良品の発生を抑えることができる。
本発明に係るコンタクトプローブユニットにおいて、前記各コンタクトプローブの少なくとも一部は、前記被測定体の表面に対して平行に位置決めされる基準面との直交方向から見た平面視において、後端部の位置が先端部の位置に対してずれており、その軸方向が前記直交方向に対して傾斜しているように構成してもよい。
この発明によれば、コンタクトプローブは、直交方向に対して傾斜しているので、その先端が被測定体に接触した状態で両端に荷重が与えられると、その傾斜の方向に湾曲して撓む。そして、コンタクトプローブの先端部に対する後端部のずれの方向やずれの長さを変化させることにより、コンタクトプローブの湾曲の方向や撓み量を調整することができる。これにより、撓んだ際のコンタクトプローブ同士の接触を回避することができ、コンタクトプローブの先端を被測定体に対して良好な接触状態で接触させることができる。
本発明に係るコンタクトプローブユニットにおいて、前記プローブ群は、複数のコンタクトプローブが、隣り合うコンタクトプローブ同士で外装部材の側面が互いに接するように配列されたプローブ列を複数有し、前記各プローブ列の少なくとも一部は、前記平面視において、後端部の位置が、先端部の位置に対してプローブ列全体で列方向にずれているように構成してもよい。
この発明によれば、コンタクトプローブを、プローブ列毎に任意の傾斜角度で傾斜させることができる。
本発明に係るコンタクトプローブユニットにおいて、前記各コンタクトプローブの少なくとも一部は、前記外装部材の形状、寸法及び外装部材におけるプローブ本体の位置によって規制される後端部間のピッチが先端部間のピッチと異なるように構成してもよい。
この発明によれば、コンタクトプローブを、プローブ毎に任意の傾斜角度で傾斜させることができる。
本発明に係るコンタクトプローブによれば、後端部の側にガイドプレートがなくても、コンタクトプローブの後端部同士の相対位置が定まるので、検査ユニットを構成するとき、各コンタクトプローブの先端部の側にのみ、位置決め用のガイド穴が設けられたガイドプレートがあれば足り、後端部の側には、このようなガイドプレートが不要となる。したがって、ガイドプレートの加工にかかる時間及びコストを大幅に削減することができる。また、コンタクトプローブの先端部のみをガイド穴に挿入すればよいので、コンタクトプローブの両端部をガイド穴に挿入する従来の構成に比べて、コンタクトプローブの検査ユニットへの組み付け作業を簡易にでき、組み付け作業に際する不良品の発生を抑えることができる。
本発明に係るコンタクトプローブユニットは、このような効果を奏するコンタクトプローブを用いるので、不良品の発生を抑えて効率よく製造することができる。
本発明に係るコンタクトプローブユニットの一例を示す構成図である。 図1中のA−A線で切ったコンタクトプローブの断面図であり、(a)は、異なる幅のスリーブ部材を組み合わせてプローブ本体の位置を列方向に微小距離ずらした例であり、(b)は、同じ幅のスリーブ部材とスペーサとを組み合わせてプローブ本体の位置を列方向に微小距離ずらした例である。 図1に示すコンタクトプローブユニットが備えるコンタクトプローブを示す縦断面図である。 本発明に係るコンタクトプローブユニットの変形例の一例を示す構成図である。 本発明に係るコンタクトプローブユニットの変形例の他の一例を示す構成図である。 本発明に係るコンタクトプローブの他の一例を示す構成図である。 本発明に係るコンタクトプローブユニットの変形例の他の一例を示す構成図である。 従来のコンタクトプローブユニットの一例を示す構成図である。
以下、本発明に係るコンタクトプローブ及びコンタクトプローブユニットについて、図面を参照しつつ説明する。なお、本発明は下記の実施形態に限定されるものではない。
[コンタクトプローブユニット]
本発明に係るコンタクトプローブユニット(以下、「プローブユニット10A」と略す。)は、図1及び図2に示すように、複数のコンタクトプローブ(以下、「プローブ1A」と略す。)を有するプローブ群10と、プローブ群10の後端部の側を囲むように設けられた枠部材11と、各プローブ1Aの後端部4bを所定の高さ位置に保持する保持部材12と、各プローブ1Aの先端部4aが挿入されたガイド穴21を有するガイドプレート20と、を少なくとも備えている。このプローブユニット10Aは、リード線50の先端に設けられたリード電極14を電極端子6に接触させて電気的に検査装置(図示しない)に接続するとともに、各プローブ1Aの先端2aを被測定体51に接触させて電気特性を測定する。なお、リード電極14は、押さえ板13に埋め込まれている。
プローブユニット10Aは、図3に示すように、プローブ群10を構成する各プローブ1Aが、それぞれ、プローブ本体4と、プローブ本体4の後端部4bの外周に設けられた外装部材5(以下、「スリーブ部材5」という。)とを有し、隣り合うプローブ1A同士で、スリーブ部材5の側面が互いに接するように配列されている。
以下、本発明の構成について詳しく説明する。なお、本実施形態及び後述する変形例1〜3では、被測定体51が、プリント基板52の電極51である場合を例にする。また、プローブユニット10A〜10Eについて、被測定体51に向かい合う側を先端部の側又は下側といい、リード電極14又はリード線16側を後端部の側又は上側という。
1.プローブ群;
プローブ群10は、複数のプローブ1Aが配列されて構成されている。本実施形態では、プローブ群10は、図2に示すように、12本のプローブ1Aで構成されており、これらプローブ1Aは、横方向に3本、縦方向に4本並んで配列されている。
<コンタクトプローブ>
プローブ1Aは、図3に示すように、プローブ本体4と、プローブ本体4の後端部4bの外周に設けられたスリーブ部材5と、スリーブ部材5の後端側の端面5bに設けられ、プローブ本体4の金属導体2の後端側の端面2bに薄膜形成技術とフォトリソグラフィ技術等により形成された電極端子6とを有している。
(プローブ本体)
プローブ本体4は、胴体部Aと両端部とを有する。胴体部Aは、ピン形状の金属導体2と、金属導体2の外周に設けられた絶縁被膜3を有している。両端部は、金属導体2の両端の絶縁被膜を有しない先端2aと、切断面に絶縁被膜を有しない後端側の端面2bであり、その後端側の端面2bには電極端子6が形成されている。このうち金属導体2の先端2aは、プリント基板52に形成された電極51に接触し、金属導体2の後端側の端面2bは、電極端子6を介してリード電極14に接触する。そして、このプローブ1Aの両端に荷重を与えて撓ませることにより、電極51に対する接触圧力を得て電気特性を測定することができる。
金属導体2は、高い導電性と高い弾性率を有する金属線(「金属ばね線」ともいう。)である。金属導体2に用いられる金属としては、広い弾性域を持つ金属を挙げることができ、例えばベリリウム銅等の銅合金、タングステン、レニウムタングステン、鋼(例えば高速度鋼:SKH)等を好ましく用いることができる。こうした金属導体2は、通常、上記の金属が所定の径の線状導体となるまで冷間又は熱間伸線等の塑性加工を施して得ることができる。
金属導体2の外径は、電極51の大きさや印加電流を考慮して選択され、20μm以上、400μm以下、好ましくは25μm以上、200μm以下の範囲内から選択することができる。
金属導体2の電極51側の先端2aの形状としては、平坦形状、半球形状、円錐形状、釣鐘形状、台形形状等、種々の形態を挙げることができる。本実施形態では、この先端2aは、円錐形状に形成されている。こうした先端2aの形状は、例えばエメリー紙を用いた研削加工や、ダイヤモンドホイールを用いた研削加工等によって形成される。なお、ここでいう半球形状とは、正確な半球や略半球を含むとともに、いわゆるアール端面(所定の曲率半径で形成された端面のこと。)を含む。
また、プローブ1Aがガイドプレート20のガイド穴21に引っかかることなく挿入し易くするという観点からは、金属導体2の真直度が高いことが好ましく、具体的には真直度が曲率半径で1000mm以上であることが好ましい。真直度の高い金属導体2は、絶縁被膜3が設けられる前に予め直線矯正処理してもよいし、後述のように絶縁被膜3が設けられた長尺の金属導体2を直線矯正処理してもよい。直線矯正処理は、例えば回転ダイス式直線矯正装置等によって行われる。
プローブ本体4の金属導体2が露出した先端2aには、その金属導体2と、電極51との接触抵抗の上昇を抑制するために、めっき層が設けられていてもよい。めっき層を形成する金属としては、ニッケル、金、ロジウム等の金属や金合金等の合金を挙げることができる。めっき層は、単層であってもよいし複層であってもよい。複層のめっき層としては、ニッケルめっき層上に金めっき層が形成されたものを好ましく挙げることができる。また、めっき層は、露出した金属導体2のみに設けられていてもよいし、絶縁被膜3の下を含む金属導体2の全体に形成されていてもよい。
絶縁被膜3は、金属導体2上に設けられて、電極51の電気特性を検査する際のプローブ1A同士の接触を防いで短絡を防止するように作用する。この絶縁被膜3は、金属導体2上、すなわち金属導体2の外周上に長手方向に亘って設けられていればよく、直接設けられていてもよいし、他の層を介して設けられていてもよい。
絶縁被膜3は、絶縁性を有する被膜であれば特に限定されないが、ポリウレタン樹脂、ナイロン樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、ポリエステルイミド樹脂、ポリアミド樹脂及びポリアミドイミド樹脂から選ばれるいずれか1種又は2種以上であることが好ましい。なお、通常は1種の樹脂により形成される。これらの樹脂からなる絶縁被膜は耐熱性が異なるので、検査の際に発生する熱を考慮して任意に選択することができる。例えば、より耐熱性が要求される場合には、絶縁被膜3がポリエステルイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂等で形成されることが好ましい。
絶縁被膜3の厚さは、電気絶縁性を確保できる程度の厚さであることを条件として設定される。なお、後述の連続塗布法で絶縁被膜3を形成する場合には、金属導体2の直径にも関係する。そうした厚さとしては、例えば5μm以上、30μm以下の範囲内で適宜設定され、一例として金属導体2の直径が40μm以上、100μm以下の範囲にある場合、その厚さは5μm以上、20μm以下の範囲であることが好ましい。
こうした絶縁被膜3が形成されたプローブ本体4の胴体部Aは、上記直径の金属導体2の外周に上記厚さの絶縁被膜3を形成した後の外径となるが、特にプリント基板12の電極51を被測定体として測定する場合には、その外径が20μm以上、300μm以下であることが好ましい。
絶縁被膜3の形成手段は特に限定されないが、連続塗布法により焼付けエナメル被膜として形成されることが好ましい。焼付けエナメル被膜は、塗料の塗布と焼付けの繰り返しによる連続工程で形成されるので、生産性がよく、金属導体2との間の密着性が高く且つ被膜強度をより高いものとすることができる。
プローブ本体4は、所定の直径に加工した長尺の金属導体2上に、連続焼付法等によって絶縁被膜3を形成した後、所定の長さに切断し、その後、金属導体2の先端2aの絶縁被膜3を剥離処理して得ることができる。先端2aの剥離処理としては、レーザー照射による剥離処理やストリッパー等を用いた機械的な剥離処理を挙げることができる。その後、先端2aを上記端面形状に研削加工することにより、プローブ本体4を作製する。なお、研削加工は、切断工程と剥離工程との間で行ってもよい。また、絶縁被膜3の除去は、先端2aを研削加工する前に行ってもよいし後に行ってもよい。また、絶縁被膜3の除去を端面の研削加工後に行う場合には、その絶縁被膜3の除去はめっき工程の前に行ってもよいし後に行ってもよい。
プローブ本体4の長さは特に限定されないが、通常、10mm以上、40mm以下の範囲である。また、プローブ本体4の先端2aとして露出する金属導体2の長さは、例えば1mm以上、4mm以下程度であることが好ましい。
(スリーブ部材)
スリーブ部材5は、プローブ本体4の後端部4bの外周に設けられている。このスリーブ部材5は、複数のプローブ1Aを、隣り合うプローブ1A同士でスリーブ部材5の側面が互いに接するように配列したとき、プローブ本体4の後端部4b同士の間隔を規制するギャップ材として機能する。すなわち、このように配列されたプローブ1Aは、プローブ本体4の後端部4b同士の間に、スリーブ部材5の長さ(図2における縦方向の長さ)及び幅(図2における横方向の長さ)を反映した間隔g,gが空き、後端部4b同士の相対位置が定まる。
プローブ1Aを用いるプローブユニット10Aは、各プローブ1Aの先端部の側にのみ、位置決め用のガイド穴21が設けられたガイドプレート20があれば足り、後端部の側には、このようなガイドプレートは不要となる。したがって、ガイドプレートの加工にかかる時間及びコストを大幅に削減することができる。また、プローブ1Aの先端部4aのみを、ガイド穴21に挿入すればよいので、プローブの両端部をガイド穴に挿入する従来の構成に比べて、誤って挿入する頻度が減少し、プローブ1Aのプローブユニット10Aへの組み付け作業を簡易にすることができる。
スリーブ部材5の構成材料としては、ギャップ材としての機能が得られる程度の、比較的硬質な絶縁材料を用いることが好ましく、具体的にはガラス(石英)やセラミック等を挙げることができる。これらの材料でスリーブ部材5を構成することにより、プローブ1Aに剛性が付与されるという効果も得られる。また、スリーブ部材5は、全体が絶縁材料で構成されていてもよいし、金属材料よりなる母材(金属管)に絶縁被膜を被覆したもので構成されていてもよい。
スリーブ部材5は、先端面及び後端側の端面5bが平坦面であるとともに、側面の少なくとも2面が平坦面であることが好ましい。スリーブ部材5の先端面及び後端側の端面5bが平坦面であることにより、プローブユニット10Aを構成するとき、スリーブ部材5の先端面や後端側の端面5bに接触させて又は近接させて板状の部材12,13を配することが可能となり、検査ユニットの設計が容易となる。また、側面の少なくとも2面が平坦面であることにより、各プローブ1Aを、スリーブ部材5の平坦な側面同士が接するように配列することができ、プローブ1Aを所定位置に安定に配置することができる。
このような点から、スリーブ部材5の断面形状は、多角形状であることが好ましく、三角形状、四角形状であることがより好ましい。また、断面形状が多角形状のスリーブ部材5は、角部が僅かに曲率を有するアール端面であっても構わない。スリーブ部材5の寸法は、被測定体である電極51の寸法やピッチ(中心点間の距離)、プローブ本体4に付与する撓み方向に応じて適宜選択される。これについては後述する。
こうしたスリーブ部材5を有するプローブ1Aは、例えば、所望のスリーブ部材5の外形形状をなす絶縁体に、プローブ用孔部5aを貫通孔として形成した後、そのプローブ用孔部5a内にプローブ本体4を挿入し、プローブ用孔部5aの内周面とプローブ本体4の外周面とを接合することによって得ることができる。プローブ用孔部5aの内径は、プローブ本体4の外径と、プローブ用孔部5aとプローブ本体4とを接合する接合材17の厚さを考慮して設定される。
接合材17としては、はんだや接着剤等を用いることができる。接合材17として例えばはんだを用いる場合には、プローブ用孔部5aの内周面に金属膜を形成するとともに、プローブ本体4の、プローブ用孔部5a内に収容される部分の絶縁被膜3を剥離することが好ましい。これにより、プローブ用孔部5aの内周面及びプローブ本体4の外周面と、はんだとの密着性が向上し、プローブ用孔部5a内にプローブ本体4を強固に接合することができる。なお、スリーブ部材5が、金属材料よりなる母材(金属管)に絶縁材料を被覆したもので構成されている場合には、プローブ用孔部5aの内周面に金属が露出するため、このような金属膜の形成は不要である。
プローブ用孔部5a内への金属膜の形成は、例えば、プラズマCVD、熱CVD、レーザーCVDのような化学蒸着法(CVD)、真空蒸着、スパッタリング(低温スパッタリング)、イオンプレーティング等の乾式めっき法、電解めっき、浸漬めっき、無電解めっき等の湿式メッキ法等の薄膜形成技術と、フォトリソグラフィ技術を組み合わせることにより行うことができる。
スリーブ部材5をガラスで構成する場合、プローブ本体4の外周にスリーブ部材5を有する構造は、ガラス管の中に金属導線を挿入して母材を作製し、この母材を加熱炉内で線引きすることによって作製することができる。
スリーブ部材5の後端側の端面5bには、本実施形態のように、金属導体2の後端側の端面2bに電極端子6が形成されていることが好ましい。電極端子6は、リード線50の先端に設けられたリード電極14が押し当てられることにより、そのリード電極14と導通する。これにより、金属導体2と検査装置とが、電極端子6、リード電極14、及びリード線50を介して電気的に接続される。
本実施形態では、特に、電極端子6は、その平面視での面積が、プローブ本体4の金属導体2の断面積よりも大きい。そのため、金属導体2の後端側の端面2bに直接リード電極を押し当てる場合に比べて、リード電極14を電極端子6に確実に接触させることができ、高い接続信頼性を得ることができる。
電極端子6の構成材料としては、高い導電性を有するものが用いられ、例えば、アルミニウム、銅、金、銀、白金、ニッケル、タングステン、モリブデンまたはこれらを含む合金等の金属材料を挙げることができる。これら金属材料よりなる電極端子6の形成は、前述の金属膜の形成と同様に、薄膜形成技術と、フォトリソグラフィ技術を組み合わせることにより行うことができる。
電極端子6の平面形状は、特に限定されず、略円形状、楕円形状、多角形状等のいずれでもよい。電極端子6の平面視での面積は、プローブ径よりも大きく且つスリーブ面積より小さくすればよく、電極端子6とリード電極14との間で十分な接続信頼性を得ることができる。
<コンタクトプローブの配列パターン>
プローブ群10は、以上のようなプローブ1Aを複数有し、これらプローブ1Aが配列されて構成されている。プローブ1Aの配列パターンは、被測定体である電極51の配置や寸法、ピッチ(中心点間の距離)に応じて適宜選択される。具体的には、一の電極51に対して一のプローブ1Aを接触させて電気特性を測定する場合には、プローブ本体4の先端2aのピッチが、電極51のピッチと同じ又は略同じ長さになるような配列パターンとされる。
一方、プローブ本体4の後端部4bは、先端2aに対して、平面視での位置が一致していてもよいし、微小距離ずれていてもよい。なお、本明細書中において「平面視」とは、被測定体である電極51の表面に対して、平行に位置決めされる基準面との直交方向から見た平面視をいい、「直交方向y」とは、この基準面に対して直交する方向をいう。本実施形態では、ガイドプレートの欄で説明するように、ガイドプレート20の上側の表面20aを「基準面」とする。
プローブ本体4の後端部4bをプローブ本体4の先端2aに対して平面視での位置をずらすことにより、プローブ本体4は、直交方向yに対して傾斜した状態になる。プローブ本体4が直交方向yに対して傾斜していると、プローブ本体4は、その先端2aが電極51に接触した状態で両端に荷重が与えられたとき、その傾く方向に湾曲して撓む。そして、プローブ本体4の先端2aに対する後端部4bのずれの方向やずれの長さを変化させることで、プローブ本体4の湾曲の方向や撓み量を調整することができる。このような調整により、撓んだ際のプローブ1A同士の接触を回避することができ、各プローブ1Aの先端2aを電極51に対して良好な接触状態で接触させることができる。
仮に、プローブ本体4の後端部4bの位置をガイドプレートによって規制する構成とした場合、各プローブ本体4を任意の角度で傾斜させるには、後端部の側のガイドプレートに、先端部の側のガイドプレートのガイド穴から微妙にずらした位置にガイド穴を開ける必要がある。そのため、精密な孔開け加工が必要となり、孔開け加工に要する時間及びコストが増大してしまう。また、プローブをガイド穴に挿入する際、誤った挿入が生じ易く、プローブユニットへのプローブの組み付け工程に長時間を要してしまう。
これに対して、本実施形態では、プローブ本体4の後端部4b同士の間隔g,gは、異なる幅のスリーブ部材を組み合わせたり、同じ幅のスリーブ部材とスペーサとを組み合わせたりして調整できる。例えば、図2(a)に示すように、異なる幅のスリーブ部材5,5’を組み合わせてプローブ本体4の位置を列方向に微小距離ずらすことができる。また、図2(b)に示すように、同じ幅のスリーブ部材5とスペーサ7とを組み合わせてプローブ本体4の位置を列方向に微小距離ずらすことができる。
プローブ本体4の位置を列方向に微小距離ずらすことにより、プローブ1A毎に傾斜角度が異なるようにプローブ本体4を傾斜させることができる。すなわち、本実施形態では、各プローブ本体4を、簡単な方法でプローブ列毎に任意の傾斜角度で傾斜させることができる。そのため、電気特性の測定に際して、各プローブ本体4を好適な向きに撓ませることができ、プローブ本体4の先端2aを電極51に良好な接触状態で接触させることができる。
なお、この場合、スリーブ列同士又はスリーブ行同士で最外面の位置がずれ、スリーブ列又はスリーブ行の最外面と枠部材11の内側面との間に隙間が空く場合があるが、このような場合には、その隙間が埋まるようにスペーサ7を配設すればよい。
各プローブ本体4の傾斜角度(直交方向yに対する角度θ)は、1°以上、5°以下であることが好ましい。傾斜角度θが前記範囲よりも小さい場合には、プローブ本体4の構成材料等によっては、プローブ本体4が湾曲する向きを十分に規制できないことがある。また、傾斜角度θが前記範囲よりも大きい場合には、各プローブ本体4の先端2aが電極51上で滑り易くなり、電極51表面をキズ付けるおそれがある。
2.プローブ群以外の各部;
(枠部材)
枠部材11は、図1及び図2に示すように、プローブ群10のスリーブ部材5全体を囲むように設けられている。枠部材11は、複数のスリーブ部材5全体を四方から押さえ、各スリーブ部材5を所定の配列位置に保持する機能、すなわち各スリーブ部材5の位置を規制する機能を有する。
枠部材11の構成材料としては、各種樹脂材料、各種ガラス材料、各種セラミック材料等の絶縁性材料を挙げることができる。枠部材11の枠内(スリーブ部材5の収容空間)の形状及び寸法は、プローブ群10のスリーブ部材5全体の外形形状及び寸法に合わせて適宜選択される。本実施形態では、枠部材11の外形及び枠内の形状は、平面視で矩形状をなしている。
(保持部材)
保持部材12は、その上面が各プローブ1Aのスリーブ部材5の先端面に接触するように配設されている。保持部材12は、プレートで構成され、各プローブ本体4の中間部(スリーブ部材5の直下の部分)が挿入された挿入孔12aを複数有している。すなわち、各プローブ1Aは、そのプローブ本体4の中間部が保持プレートの挿入孔12a内に挿入されており、スリーブ部材5の先端面が保持プレートの上面に接触している。このような構成により、保持部材12は、各プローブ1Aを所定の高さ位置に保持し、各プローブ1Aの落下を防止する機能を有する。
保持部材12の構成材料としては、各種樹脂材料、各種ガラス材料、各種セラミック材料等の絶縁性材料を挙げることができる。保持部材12の平面視での形状及び寸法は、保持部材12の面積が、プローブ群10のスリーブ部材5全体の平面視での面積よりも大きければ特に限定されないが、取扱い上の点から、ガイドプレート20や押さえ板13の平面視での形状及び寸法と同じ又は略同じであることが好ましい。
各挿入孔12aの内径は、挿入孔12aからのスリーブ部材5のすり抜けを防止する観点から設定される。具体的には、各スリーブ部材5の断面形状が多角形状である場合、各挿入孔12aの内径は、スリーブ部材5の断面における内接円の直径よりも小さいことが好ましい。これにより、各スリーブ部材5が各挿入孔12aをすり抜けて各プローブ1Aが落下することを確実に回避することができる。例えば、各プローブ1Aが、外径0.2mmのプローブ本体4に、1mm×0.5mm×0.5mm(厚さ×長さ×幅)の断面正方形状のスリーブ部材5を取付けたものである場合、各挿入孔12aの内径は、この正方形の内接円の直径程度にすれば各プローブ1Aは落下しないが、隣り合う挿入孔12a同士が貫通しないように10μmの程度の間隔を空ける必要があり、直径を0.49mmに設定すればよい。
このように各挿入孔12aには、プローブ本体4が挿入されるが、各挿入孔12aは、その内径がガイドプレート20のガイド穴21(内径0.208mm〜0.215mm程度)に比べて遥かに大きい径であるので、孔開け加工やプローブ本体4の挿入作業を容易に行うことができる。そのため、本実施形態によれば、保持部材12の代わりに、ガイド穴を有する後端部の側ガイドプレートを用いる構成に比べて、板材の加工に費やす時間及びコストを大幅に削減することができ、また、プローブ1Aの検査ユニットへの組み付け作業を容易にし、組み付け作業時の不良品の発生を抑えることができる。
(ガイドプレート)
ガイドプレート20は、図1に示すように、プレートで構成され、ガイド穴21を複数有している。ガイドプレート20は、下側の表面が電極51に対向し、且つ、上側の表面と保持プレートの下側の表面とで一定の間隔が空くように固定されている。なお、本実施形態では、ガイドプレート20の上側の表面20aを、電極51表面に平行となるように位置決めされる基準面20aとし、各プローブ1Aの傾斜角度θは、この基準面20aとの直交方向yを基準に設定するものとする。
ガイドプレート20は、プローブ1Aの先端2aを所定の電極51に接触するように導くものである。ガイドプレート20には、複数のガイド穴21が設けられており、各ガイド穴21には、プローブ1Aの先端部4aが挿入される。
各ガイド穴21の径は、プローブ1Aの先端部4aの直径よりも大きい。詳しくは、そのガイド穴21は、プローブ1Aの外径に所定のクリアランスを加えた径で形成されている。そのクリアランスとは、通常10μm前後、例えば8μm以上、15μm以下程度の範囲で設定される。
(支柱部材)
支柱部材15は、一対の立ち上がり壁で構成され、保持部材12の一対の辺縁部と、ガイドプレート20の一対の辺縁部との間に設けられている。支柱部材15は、保持部材12を、ガイドプレート20に対して一定の間隔を空けて支持するものである。支柱部材15の構成材料としては、各種樹脂材料、各種ガラス材料、各種セラミック材料等の絶縁性材料を挙げることができる。
支柱部材15の高さは、保持部材12の下面から突出するプローブ本体4の長さ、ガイドプレート20の厚さを考慮して、ガイドプレート20の下面から所望の突出量で先端2aが突き出るように設定する。
(押さえ板及びリード電極)
押さえ板13は、プローブ群10の電極端子6側に配設されている。押さえ板13は、プレートで構成され、電極用孔部13aを複数有している。
各電極用孔部13aは、各プローブ1Aの電極端子6に対応する位置に設けられており、その内部にリード線50の先端に設けられたリード電極14が埋め込まれている。
各リード電極14は、その先端部が押さえ板13の下面から若干突出し、各プローブ1Aの電極端子6に押し当てられることで、その電極端子6に導通する。また、リード電極14は、リード線50の先端に設けられている。これにより、各プローブ1Aと検査装置とは、電極端子6、リード電極14、及びリード線50を介して電気的に接続されている。
押さえ板13の構成材料としては、各種樹脂材料、各種ガラス材料、各種セラミック材料等の絶縁性材料を挙げることができる。押さえ板13の平面視での形状及び寸法は、その押さえ板13の面積が、プローブ群10のスリーブ部材5全体の平面視での面積よりも大きければ特に限定されないが、取扱い上の点から、ガイドプレート20や保持部材12の平面視での形状及び寸法と同じ又は略同じであることが好ましい。
各リード電極14の構成材料及び形成方法としては、前述の電極端子6の場合と同様の構成材料及び形成方法を挙げることができる。なかでも、各リード電極14の形成方法としては、湿式めっき法を用いることが好ましい。これにより、Cu等よりなる低抵抗なリード電極14を高速で形成することができる。
以上のような押さえ板13は、押さえ板13と保持部材12との間を挟持するクランプやカシメ加工によってプローブ群10の上方に保持されており、リード電極14は、その先端が電極端子6に接触しているか、或いは若干の空間を空けるように配置されている。そして、プローブ本体4の先端2aが電極51に接触され、プローブ本体4の両端に荷重が与えられてプローブ本体4が撓むと、プローブ本体4に生じた弾性力によって、電極端子6がリード電極14の先端部に押し付けられる。これにより、電極端子6とリード電極14とが電気的に確実に接続される。
以上説明したように、本発明のプローブユニット10Aは、コンタクトプローブの欄で説明したような効果を奏するプローブ1Aを用いているので、後端部の側にガイドプレートがなくても、プローブ本体4の後端部4b同士の相対位置が定まる。
また、このプローブユニット10Aは、先端部の側にのみガイドプレート20が設けられ、後端部の側にはガイドプレートが設けられていないので、ユニット毎に1枚のガイドプレート20を作製すればよい。そのため、ガイドプレート20の加工にかかる時間及びコストを大幅に削減することができる。
また、プローブ1Aの先端部4aのみを、ガイド穴21に挿入すればよいので、プローブの両端部をガイド穴に挿入する従来の構成に比べて、誤った挿入の発生頻度が減少し、プローブ1Aのプローブユニット10Aへの組み付け作業を容易にすることができる。したがって、プローブユニット10Aは、不良品の発生を抑えて効率よく製造することができる。
[コンタクトプローブユニットの変形例1]
変形例1のプローブユニット10Bは、図4に示すように、電極端子6の表面6aとスリーブ部材5の後端側の端面5bとが実質的に同一面になっている以外は、前記実施形態のプローブユニット10Aと同様の構成とされている。
具体的には、プローブユニット10Bは、各プローブ本体4の後端側の端面が、各スリーブ部材5の後端側の端面5bから後退しており、各スリーブ部材5の後端側の端面5bの中央に、プローブ用孔部5aより大径の凹部5cが設けられている。そして、スリーブ部材5の凹部5cの内側及び各プローブ本体4の上方に、スリーブ部材5の後端側の端面5bと同一面を形成するように電極端子6が埋めこまれている。
変形例1のプローブユニット10Bにおいても、前記実施形態と同様の作用、効果を得ることができる。
また、この変形例1のプローブユニット10Bは、特に、各プローブ1Bにおいて、電極端子6の表面6aとスリーブ部材5の後端側の端面5bとが同一面になっているので、各リード電極14の先端部を各電極端子6に押し当てた際、押さえ板13bの下面と各スリーブ部材5の後端側の端面5bとの間に隙間がほとんど生じない。そのため、各リード電極14の先端部を、各電極端子6に安定に押し当てることができる。これにより、電極端子6とリード電極14との間で高い接続信頼性を得ることができる。
[コンタクトプローブユニットの変形例2]
変形例2のプローブユニット10Cは、図5に示すように、電極端子6及びリード電極14の代わりにリード線(電線)16を有している。そして、このリード線16が金属導体2に直接接合されている以外は、前記実施形態のプローブユニット10Aと同様の構成とされている。
すなわち、このプローブユニット10Cは、押さえ板13の電極用孔部13aが、リード線16が挿入される孔部として構成され、その孔部13a内にリード線16が挿入されている。
また、各プローブ本体4の後端側の端面が、各スリーブ部材5の後端側の端面5bから後退しており、各スリーブ部材5の後端側の端面5bの中央に、プローブ用孔部5aより大径の凹部5cが設けられている。そして、このスリーブ部材5の凹部5c内に、リード線16の先端部が挿入され、金属導体2の後端側の端面2bに接合されている。
このプローブユニット10Cは、リード線16の後端部が、例えば検査装置の電極端子に電気的に接続される。これにより、金属導体2と検査装置とが、リード線16を介して電気的に接続される。リード線16と金属導体2との接合方法としては、リード線16と金属導体2とを電気的に接続できるものであればよく、例えば、溶接や導電性接合材を用いる方法等を挙げることができる。
導電性接合材としては、ろう材、導電性接着材等を挙げることができる。このうち、ろう材としては、Pb−Sn系はんだ等のPb含有はんだや、Sn−Ag−Cu系はんだ、Sn−Zn系はんだ、Sn−Cu系はんだ、Sn−Bi系はんだ等のような、実質的にPbを含まない鉛フリーはんだ(Pb不含はんだ)、銀ろう、銅ろう、リン銅ろう、黄銅ろう、アルミニウムろう、ニッケルろう等が挙げられ、これらのうちの1種又は2種以上を組み合わせて用いることができる。導電性接着材としては、例えば、Ag、Cu、Ni、Au又はこれらを含む合金等で構成される導電性粒子を、エポキシ系、ウレタン系、アクリル系等の各種樹脂材料(又はその未硬化物)に分散させたものを用いることができる。
この変形例2のプロ−ブユニット10Cにおいても、前記実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
また、この変形例2のプローブユニット10Cは、特に、各プローブ1Cの金属導体2にリード線16が直接接合されているので、リード線50に接続されたリード電極14を金属導体2や電極端子6に押し当てる工程が不要である。そのため、リード電極14が金属導体2等に繰返し接触することによる両者の摩耗が回避され、これらの摩耗に起因した接続不良を抑制することができる。
図6に、変形例2の他の例を示す。図6に示すプローブユニット10Dは、スリーブ部材5が、金属材料よりなる母材(金属管)5dに絶縁被膜5eを被覆したもので構成されている。そして、プローブ本体4の、プローブ用孔部5a内に収容された部分の絶縁被膜3が剥離除去されている以外は、図5に示すプロ−ブユニット10Cと同様の構成とされている。
このプローブユニット10Cにおいても、図5に示すプローブユニット10Bと同様の作用、効果を得ることができる。
[コンタクトプローブユニットの変形例3]
変形例3のプローブユニット10Eは、図7に示すように、リード線16が各プローブ1Eのプローブ本体4と一体的に設けられている以外は、前記変形例2のプローブユニット10Cと同様の構成とされている。
すなわち、この変形例3のプローブユニット10Eは、各プローブ1Eのプローブ本体4が、スリーブ部材5より後端部の側に延長されており、この延長された部分がリード線16として機能する。
このプローブユニット10Eは、プローブ本体(リード線)4の後端部が、例えば検査装置の電極端子に電気的に接続される。これによって金属導体2と検査装置とが、リード線16を介して電気的に接続される。この変形例3のプロ−ブユニット10Eにおいても、前記変形例2と同様の作用、効果を得ることができる。
また、この変形例3のプローブユニット10Eは、特に、リード線16がプローブ本体4と一体的に設けられているので、検査装置に接続するリード線を別途設ける必要がない。そのため、リード線と金属導体2との接合工程を不要にでき、プローブユニットの部品点数を削減できるという効果が得られる。
[コンタクトプローブユニットを用いた電気特性の検査方法]
次に、上述した本発明のプローブユニットを用いた電気特性の検査方法について説明する。なお、本実施形態では、プローブユニット10Aを用いて電気特性を検査する場合を例にする。
プローブユニット10Aは、複数本から数千本のプローブ1Aが組み付けられ、プリント基板52等の電極51の電気特性の良否の検査に利用される。
プローブユニット10Aと電極51は、電気特性を検査する際、各プローブ1Aの先端2aが各電極51に対応するように位置制御される。電気特性の検査は、プローブユニット10Aを上下させ、プローブ本体4の弾性力を利用して電極51にプローブ1Aの先端2aを所定の圧力で押し当てることにより行われる。
すなわち、電極51にプローブ1Aの先端2aが接触され、プローブ本体4の両端に荷重が与えられると、プローブ本体4が撓み、これによってプローブ本体4に弾性力が生じる。この弾性力により、プローブ1Aの先端2aが電極51に接するとともに、電極端子6がリード電極14の先端部に押し付けられ、電極端子6とリード電極14とが電気的に接続される。その結果、電極51からの電気信号がプローブ本体4によって検出され、電極端子6、リード電極14及びリード線50を介して、検査装置(図示しない。)に送信される。
1A〜1E プローブ(コンタクトプローブ)
2 金属導体
2a 先端
2b 後端側の端面
3 絶縁被膜
4 プローブ本体
4a 先端部
4b 後端部
5 スリーブ部材(外装部材)
5’ スリーブ部材(外装部材)
5a プローブ用孔部
5b 後端側の端面
5c 凹部
5d 金属材料よりなる母材
5e 絶縁被膜
6 電極端子
7 スペーサ
10 プローブ群
10A〜10E プローブユニット(コンタクトプローブユニット)
11 枠部材
12 保持部材
13 押さえ板
13a 電極用孔部
14 リード電極
15 支持部材
16 リード線(電線)
17 接合材
20 ガイドプレート
20a 上側の表面(基準面)
21 ガイド穴
50 リード線
51 電極
52 プリント基板
A 胴体部
R プローブ本体の外径
,g プローブ本体の後端部同士の間隔
θ 傾斜角度



Claims (10)

  1. 被測定体に先端を接触させて電気特性を測定するコンタクトプローブであって、
    胴体部と両端部とを有するピン形状のプローブ本体と、
    前記プローブ本体の両端部のうち後端部の外周に設けられた外装部材と、を有することを特徴とするコンタクトプローブ。
  2. 前記外装部材の後端側の端面に、前記プローブ本体に電気的に接続した電極端子が設けられている、請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  3. 前記外装部材の後端側の端面と、前記電極端子の表面とが実質的に同一面になる、請求項2に記載のコンタクトプロ−ブ。
  4. 前記プローブ本体の後端側の端面に、電線が電気的に接続されている、請求項1に記載のコンタクトプローブ。
  5. 前記電線が、前記プローブ本体と一体的に設けられたものである、請求項4に記載のコンタクトプローブ。
  6. 前記外装部材の横断面形状が、多角形状である、請求項1〜5のいずれか1項に記載のコンタクトプローブ。
  7. 胴体部と両端部とを有するピン形状のプローブ本体と、前記プローブ本体の両端部のうち後端部の外周に設けられた外装部材とを有するコンタクトプローブを複数有し、前記各コンタクトプローブが隣り合うコンタクトプローブ同士で外装部材の側面が互いに接するように配列されたプローブ群と、
    前記プローブ群の前記外装部材全体を囲むように設けられ、前記各コンタクトプローブの外装部材の位置を規制する枠部材と、
    前記各コンタクトプローブの前記外装部材の先端部の側の面が接触する接触面を有するとともに、前記各コンタクトプローブの中間部が挿入された孔部を複数有し、前記外装部材を前記接触面上に保持する保持部材と、
    前記各コンタクトプローブの先端部が挿入され、該先端部を測定位置にガイドするガイド穴を複数有するガイドプレートと、を有することを特徴とするコンタクトプローブユニット。
  8. 前記各コンタクトプローブの少なくとも一部は、前記被測定体の表面に対して平行に位置決めされる基準面との直交方向から見た平面視において、後端部の位置が先端部の位置に対してずれており、その軸方向が前記直交方向に対して傾斜している、請求項7に記載のコンタクトプローブユニット。
  9. 前記プローブ群は、複数のコンタクトプローブが、隣り合うコンタクトプローブ同士で外装部材の側面が互いに接するように配列されたプローブ列を複数有し、
    前記各プローブ列の少なくとも一部は、前記平面視において、後端部の位置が、先端部の位置に対してプローブ列全体で列方向にずれている、請求項8に記載のコンタクトプローブユニット。
  10. 前記各コンタクトプローブの少なくとも一部は、前記外装部材の形状、寸法及び外装部材におけるプローブ本体の位置によって規制される後端部間のピッチが先端部間のピッチと異なる、請求項8又は9に記載のコンタクトプローブユニット。
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