JP2016006856A - 基板研磨装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基板研磨装置は、回転する研磨テーブル30と、ウェハWを保持しウェハWを研磨テーブル30に押し付けて研磨するトップリング31と、トップリング31の近傍に吸気ヘッド36が配置される局所排気機構35を備える。吸気ヘッド36は、トップリング31に対して研磨テーブル30の回転方向の下流側に配置される。
【選択図】 図4
Description
図1は、本実施の第1の形態における基板処理装置の全体構成を示す平面図である。図1に示すように、この基板処理装置は、略矩形状のハウジング1を備えており、ハウジング1の内部は隔壁1a,1bによってロード/アンロード部2と研磨部3と洗浄部4とに区画されている。これらのロード/アンロード部2、研磨部3、および洗浄部4は、それぞれ独立に組み立てられる。また、基板処理装置は、基板処理動作を制御する制御部5を有している。
、FOUPは、内部にウェハカセットを収納し、隔壁で覆うことにより、外部空間とは独立した環境を保つことができる密閉容器である。
研磨ユニット3Dは、互いに同一の構成を有しているので、以下、第1研磨ユニット31Aについて説明する。
び研磨テーブル30Aは、矢印で示すように、その軸心周りに回転するように構成されている。ウェハWは、トップリング31Aの下面に真空吸着により保持される。研磨時には、研磨液供給ノズル32Aから研磨パッド10の研磨面に研磨液が供給され、研磨対象であるウェハWがトップリング31Aにより研磨面に押圧されて研磨される。
本実施の形態は、CMP装置のウェーハ研磨室の排気量と研磨パット温度に関する。研磨パット面およびパット面に広がる研磨液(以下、スラリー)の温度は、研磨負荷により熱エネルギーが入熱し上昇する。本実施の形態は、この温度を下げるあるいは管理、制御する機構・装置に関する。
2 ロード/アンロード部
3 研磨部
3A 第1研磨ユニット
3B 第2研磨ユニット
3C 第3研磨ユニット
3D 第4研磨ユニット
4 洗浄部
5 制御部
6 第1リニアトランスポータ
7 第2リニアトランスポータ
8 センサ
9 センサ
10 研磨パッド(研磨面)
11 リフタ
12 スイングトランスポータ
20 フロントロード部
21 走行機構
22 搬送ロボット(ローダー)
30(30A〜30D) 研磨テーブル
31(31A〜31D) トップリング(基板保持部)
32A〜32D 研磨液供給ノズル
33A〜33D ドレッサ
34A〜34D アトマイザ
35 局所排気機構
36 吸気ヘッド
37 吸気口
38 エジェクタ
39 排気機構
40 配管
41 気液分離機構
TP1 第1搬送位置
TP2 第2搬送位置
TP3 第3搬送位置
TP4 第4搬送位置
TP5 第5搬送位置
TP6 第6搬送位置
TP7 第7搬送位置
180 仮置き台
190 第1洗浄室
191 第2洗浄室
192 第3洗浄室
193 第4洗浄室
W ウェハ(基板)
Claims (5)
- 回転する研磨テーブルと、
基板を保持し、前記基板を前記研磨テーブルに押し付けて研磨する基板保持部と、
前記基板保持部の近傍に吸気ヘッドが配置される局所排気機構と、
を備え、
前記吸気ヘッドは、前記基板保持部に対して前記研磨テーブルの回転方向の下流側に配置されることを特徴とする基板研磨装置。 - 前記吸気ヘッドの吸気速度が、前記研磨テーブルの回転速度より高く設定されている、請求項1に記載の基板研磨装置。
- 前記吸気ヘッドは、前記研磨テーブルの径方向に並んだ複数の吸気口を備え、
前記複数の吸気口のうち、径方向の外側の吸気口の吸気速度が、径方向の内側の吸気口の吸気速度より高く設定されている、請求項2に記載の基板研磨装置。 - 基板を保持し、前記基板を前記研磨テーブルに押し付けて研磨する基板保持部と、
前記基板を研磨する研磨パッドを冷却するためのパッド冷却ノズルと、
前記パッド冷却ノズルの近傍に吸気ヘッドが配置される局所排気機構と、
を備え、
前記吸気ヘッドは、前記パッド冷却ノズルに対して前記研磨テーブルの回転方向の下流側に配置されることを特徴とする基板研磨装置。 - 前記基板保持部の近傍に第2の吸気ヘッドが配置される第2の局所排気機構を備え、
前記第2の吸気ヘッドは、前記基板保持部に対して前記研磨テーブルの回転方向の下流側に配置される、請求項4に記載の基板研磨装置。
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