JP2016001274A - レーザ顕微鏡及びスキャナー - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のレーザ顕微鏡は、レーザ光源(1)と、レーザ光源から出射した光ビームを第1の方向に周期的に偏向する音響光学素子(3)と、音響光学素子から出射した光ビームを、第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数のサブビームに変換する回折格子(8)と、音響光学素子と回折格子との間に配置され、音響光学素子の瞳を回折格子上に拡大してリレーする第1のリレー光学系(4,6)と、ビーム偏向手段から出射した複数のサブビームを試料に向けて投射し、前記第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数の光スポットを形成する対物レンズ(16)と、試料から出射した反射光を、対物レンズを介して受光する光検出手段(21)とを有する。
【選択図】図1
Description
また、本発明は、レーザ顕微鏡や検査装置に用いられるスキャナーに関するものである。
また、本発明の別の目的は、高速で撮像できるレーザ顕微鏡や検査装置に好適なスキャナーを提供することにある。
レーザ光源から出射した光ビームを第1の方向に周期的に偏向する音響光学素子と、
前記音響光学素子から出射した光ビームを、前記第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数のサブビームに変換する回折格子と、
前記音響光学素子と回折格子との間に配置され、音響光学素子から出射した光ビームを、そのビーム径を拡大して回折格子にリレーするリレー光学系と、
前記複数のサブビームを試料に向けて投射し、試料上において前記第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数の光スポットを形成する対物レンズと、
前記試料から出射した反射光を、前記対物レンズを介して受光する光検出手段とを有し、
前記試料上に形成された光スポットは、前記音響光学素子の偏向作用により、前記第1の方向と対応する方向に少なくとも隣接する光スポット間の離間距離だけスキャンされることを特徴とする。
D=2×f×(NA)
上記式に基づけば、長い焦点距離と大きな開口数を有する対物レンズを用いる場合、その瞳径Dは相当大きくなる。本発明では、大きな瞳径を有する対物レンズを用い、前段に配置したスキャナーにより対物レンズの大きな瞳径を十分に満たす照明光束を形成する。
(1) レーザ光源と隣接するように音響光学素子を配置する。
(2) 音響光学素子と対物レンズとの間の光路中に、入射ビームを主走査方向に整列した複数のサブビームに変換する回折格子を配置する。
(3) 音響光学素子と回折格子との間にリレー光学系を配置し、音響光学素子から出射した照明光束の径を拡大して回折格子にリレーする。
これら3つの技術的特徴全体が相互に密接に関連し、その相乗効果として一層広い視野の画像を高速で撮像することが可能になる。
光源から出射した光ビームを第1の方向に周期的に偏向する音響光学素子と、
音響光学素子から出射し、第1の方向に周期的に偏向した光ビームを前記第1の方向にライン状に整列した複数のサブビームに変換する回折格子と、
前記音響光学素子と回折格子との間の光路中に配置され、音響光学素子の瞳径を拡大して回折格子上にリレーするリレー光学系とを有し、
前記回折格子から出射するサブビームは、前記音響光学素子の偏向作用により、前記第1の方向に少なくとも隣接するサブビーム間の離間距離だけ偏向されることを特徴とする。
2 コリメータレンズ
3 音響光学素子
4 第1のリレーレンズ
5,7 全反射ミラー
6 第2のリレーレンズ
8 回折格子
9,11 リレーレンズ
10 偏光ビームスプリッタ
12 ガルバノミラー
13 第3のリレーレンズ
14 第4のリレーレンズ
15 1/4波長板
16 対物レンズ
17 ステージ
18 試料
19 モータ
20 光スポット
21 ラインセンサ
Claims (6)
- 光ビームを発生するレーザ光源と、
レーザ光源から出射した光ビームを第1の方向に周期的に偏向する音響光学素子と、
前記音響光学素子から出射した光ビームを、前記第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数のサブビームに変換する回折格子と、
前記音響光学素子と回折格子との間に配置され、音響光学素子から出射した光ビームを、そのビーム径を拡大して回折格子にリレーするリレー光学系と、
前記複数のサブビームを試料に向けて投射し、試料上において前記第1の方向と対応する方向にライン状に整列した複数の光スポットを形成する対物レンズと、
前記試料から出射した反射光を、前記対物レンズを介して受光する光検出手段とを有し、
前記試料上に形成された光スポットは、前記音響光学素子の偏向作用により、前記第1の方向と対応する方向に少なくとも隣接する光スポット間の離間距離だけスキャンされることを特徴とするレーザ顕微鏡。 - 請求項1に記載のレーザ顕微鏡において、さらに、試料上に形成された複数の光スポットと試料とを前記第1の方向と直交する第2の方向に相対移動させる副走査手段を有し、
前記副走査手段は、前記回折格子と対物レンズとの間の光路中に配置したビーム偏向手段又は前記試料を支持するステージの第2の方向に移動する移動機構により構成したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - 請求項1又は2に記載のレーザ顕微鏡において、前記光検出手段は、前記第1の方向と対応する方向に配列された複数の受光素子を有するラインセンサにより構成され、当該レーザ顕微鏡は、共焦点顕微鏡を構成することを特徴とするレーザ顕微鏡。
- 光源から出射した光ビームを、第1の方向にライン状に整列し、第1の方向に周期的に偏向される複数のサブビームに変換するスキャナーであって、
光源から出射した光ビームを第1の方向に周期的に偏向する音響光学素子と、
音響光学素子から出射し、第1の方向に周期的に偏向した光ビームを前記第1の方向にライン状に整列した複数のサブビームに変換する回折格子と、
前記音響光学素子と回折格子との間に配置され、音響光学素子から出射した光ビームを、ビーム径を拡大して回折格子にリレーするリレー光学系とを有することを特徴とするスキャナー。 - 請求項4に記載のスキャナーにおいて、前記リレー光学系は、第1のリレーレンズと、第1のリレーレンズの焦点距離よりも長い焦点距離を有する第2のリレーレンズとを含み、
前記音響光学素子から出射した光ビームは、第1のリレーレンズを通過して第2のリレーレンズに入射し、第2のリレーレンズから前記第1の方向に周期的に偏向した光ビームとして回折格子に入射することを特徴とするスキャナー。 - 請求項4又は5に記載のスキャナーにおいて、前記回折格子から出射するサブビームは、前記音響光学素子の偏向作用により、前記第1の方向に少なくとも隣接するサブビーム間の離間距離だけ偏向されることを特徴とするスキャナー。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106444069A (zh) * | 2016-12-21 | 2017-02-22 | 上海理工大学 | 空心介质微球辅助的远场超分辨成像系统 |
CN106547079A (zh) * | 2017-01-17 | 2017-03-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 实时三维激光荧光显微成像装置 |
WO2018158810A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 株式会社島津製作所 | 細胞観察装置 |
JP2019505856A (ja) * | 2016-02-23 | 2019-02-28 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 光シート顕微鏡および試料を光学顕微鏡で結像する方法 |
JP2022501639A (ja) * | 2018-09-20 | 2022-01-06 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | ライン焦点を生成するように構成された共焦点レーザー走査顕微鏡 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10282010A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Laser Tec Kk | レーザ顕微鏡及びこのレーザ顕微鏡を用いたパターン検査装置 |
JP2002122553A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-04-26 | Lasertec Corp | 撮像装置及びフォトマスクの欠陥検査装置 |
US20030156280A1 (en) * | 2002-02-21 | 2003-08-21 | Applied Materials, Inc. | Multi beam scanning with bright/dark field imaging |
JP2003294651A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-15 | Lasertec Corp | 撮像装置及びフォトマスクの欠陥検査装置 |
JP2004515750A (ja) * | 2000-08-10 | 2004-05-27 | ケーエルエー−テンカー・コーポレーション | 複数ビーム検査装置および方法 |
-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10282010A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Laser Tec Kk | レーザ顕微鏡及びこのレーザ顕微鏡を用いたパターン検査装置 |
JP2004515750A (ja) * | 2000-08-10 | 2004-05-27 | ケーエルエー−テンカー・コーポレーション | 複数ビーム検査装置および方法 |
JP2002122553A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-04-26 | Lasertec Corp | 撮像装置及びフォトマスクの欠陥検査装置 |
US20030156280A1 (en) * | 2002-02-21 | 2003-08-21 | Applied Materials, Inc. | Multi beam scanning with bright/dark field imaging |
JP2003294651A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-15 | Lasertec Corp | 撮像装置及びフォトマスクの欠陥検査装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019505856A (ja) * | 2016-02-23 | 2019-02-28 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 光シート顕微鏡および試料を光学顕微鏡で結像する方法 |
US11067783B2 (en) | 2016-02-23 | 2021-07-20 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Light sheet microscope and method for imaging a sample by light sheet microscopy |
JP7003065B2 (ja) | 2016-02-23 | 2022-01-20 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 光シート顕微鏡および試料を光学顕微鏡で結像する方法 |
CN106444069A (zh) * | 2016-12-21 | 2017-02-22 | 上海理工大学 | 空心介质微球辅助的远场超分辨成像系统 |
CN106444069B (zh) * | 2016-12-21 | 2019-01-11 | 上海理工大学 | 空心介质微球辅助的远场超分辨成像系统 |
CN106547079A (zh) * | 2017-01-17 | 2017-03-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 实时三维激光荧光显微成像装置 |
CN106547079B (zh) * | 2017-01-17 | 2018-11-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 实时三维激光荧光显微成像装置 |
WO2018158810A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 株式会社島津製作所 | 細胞観察装置 |
JPWO2018158810A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2019-12-19 | 株式会社島津製作所 | 細胞観察装置 |
JP2022501639A (ja) * | 2018-09-20 | 2022-01-06 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | ライン焦点を生成するように構成された共焦点レーザー走査顕微鏡 |
JP7420793B2 (ja) | 2018-09-20 | 2024-01-23 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | ライン焦点を生成するように構成された共焦点レーザー走査顕微鏡 |
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