JP2015520398A5

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Publication number: JP2015520398A5
Application number: JP2015518358A
Authority: JP
Filing date: 2013-06-19
Publication date: 2016-08-12
Anticipated expiration: 2033-06-19

Claims

試料を識別又は検証するか又は他に特徴付けるための分析器であって、
少なくとも２つの異なる波長を含む電磁放射線を少なくとも１つのビームで試料に放出するための電磁放射線源と、
前記試料によって影響を受けた前記放出電磁放射線からもたらされる被影響電磁放射線を検出し、かつ該検出された被影響放射線を表す出力を与える試料検出器と、
前記出力から試料係数を決定し、かつ該試料係数と訓練試料から決定される訓練係数とを用いて前記試料を識別又は検証するか又は他に特徴付けるためのプロセッサと、
を含むことを特徴とする分析器。
前記試料及び／又は訓練試料は、ある濃度を有する希釈剤中の物質を含み、前記試料係数及び／又は訓練係数は、該濃度に依存しないことを特徴とする請求項１に記載の分析器。
各試料係数が、
によって決定され、ここで、
（好ましくは、無希釈物質と希釈剤の間の勾配又は差である）であり、Ｘは、該希釈剤中の該物質の濃度であり、Ｂは、盲検試験試料を表し、ｇ^B _m（ｘ）は、未知濃度を有する前記試料のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項２に記載の分析器。
各訓練係数が、
によって決定され、ここで、
（好ましくは、無希釈物質と希釈剤の間の勾配又は差である）であり、
は、無希釈試料（該無希釈物質である）のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の分析器。
前記試料の前記濃度を決定するために、前記プロセッサは、
を使用し、ここで、ｘは、該濃度であり、
であり、Ｘは、前記希釈剤中の前記物質の濃度であり、Ｂは、盲検試験試料を表し、ｇ^B _m（ｘ）は、未知濃度を有する前記試料のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であり、
であり、
は、無希釈試料（無希釈物質である）のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の分析器。
前記試料検出器出力は、前記少なくとも２つの波長で前記検出器によって検出された強度を表し、
前記試料係数を決定することは、各波長でのスペクトル強度分率を決定して使用することを含む、
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の分析器。
前記強度分率は、全ての前記少なくとも２つの波長にわたる強度の和を基準としたある波長で測定された透過光の比率として定義されることを特徴とする請求項６に記載の分析器。
各波長での前記正規化スペクトル強度は、
を用いて前記プロセッサ内で決定され、ここで、ｆ_mは、ｍ番目の波長で検出された電磁放射線強度（又はそれに関連する処理又は未処理の何らかのパラメータ）であり、好ましくは、該強度ｆ_mは、適切な場合に、基準強度（任意的にその平均）に対する試料強度（任意的にその平均）の比、又は基準強度（任意的にその平均）に対する訓練強度（任意的にその平均）の比であり、Σｆ_mは、前記少なくとも２つの波長の全てにわたる強度の和であることを特徴とする請求項２から請求項５のいずれか１項に記載の分析器。
試料を識別又は検証するか又は他に特徴付ける方法であって、
少なくとも２つの異なる波長を含む電磁放射線を試料に向けて少なくとも１つのビームで放出する段階と、
前記試料によって影響を受けた前記放出電磁放射線からもたらされる被影響電磁放射線を検出し、かつ該検出された被影響放射線を表す検出出力を与える段階と、
前記出力から試料係数を決定する段階と、
前記試料係数と訓練試料から決定された訓練係数とを用いて前記試料を識別又は検証するか又は他に特徴付ける段階と、
を含むことを特徴とする方法。
前記試料及び／又は訓練試料は、ある濃度を有する希釈剤中の物質を含み、前記試料係数及び／又は訓練係数は、該濃度に依存しないことを特徴とする請求項９に記載の方法。
各試料係数が、
によって決定され、ここで、
（好ましくは、無希釈物質と希釈剤の間の勾配又は差である）であり、Ｘは、該希釈剤中の該物質の濃度であり、Ｂは、盲検試験試料を表し、ｇ^B _m（ｘ）は、未知濃度を有する前記試料のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
各訓練係数が、
によって決定され、ここで、
（好ましくは、無希釈物質と希釈剤の間の勾配又は差である）であり、
は、無希釈試料（該無希釈物質である）のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項１０又は請求項１１に記載の方法。
前記試料の前記濃度を決定するのに、前記プロセッサは、
を使用し、ここで、ｘは、該濃度であり、かつここで、
であり、Ｘは、前記希釈剤中の前記物質の濃度であり、Ｂは、盲検試験試料を表し、ｇ^B _m（ｘ）は、未知濃度を有する前記試料のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であり、
であり、
は、無希釈試料（無希釈物質である）のスペクトル強度分率であり、
は、該希釈剤のスペクトル強度分率であることを特徴とする請求項１２に記載の方法。
前記検出出力は、前記少なくとも２つの波長で検出された強度を表し、
前記試料係数を決定する段階は、各波長でのスペクトル強度分率を決定して使用する段階を含む、
ことを特徴とする請求項９から１３のいずれか１項に記載の方法。
前記強度分率は、全ての前記少なくとも２つの波長にわたる強度の和を基準としてある波長で測定された透過光の比率として定義されることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
各波長での前記正規化スペクトル強度は、
によって決定され、ここで、ｆ_mは、ｍ番目の波長で検出された電磁放射線強度（又はそれに関連する処理又は未処理の何らかのパラメータ）であり、好ましくは、該強度ｆ_mは、適切な場合に、基準強度（任意的にその平均）に対する試料強度（任意的にその平均）の比、又は基準強度（任意的にその平均）に対する訓練強度（任意的にその平均）の比であり、Σｆ_mは、前記少なくとも２つの波長の全てにわたる強度の和であることを特徴とする請求項１４または請求項１５に記載の方法。