JP2015158439A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015158439A5
JP2015158439A5 JP2014033780A JP2014033780A JP2015158439A5 JP 2015158439 A5 JP2015158439 A5 JP 2015158439A5 JP 2014033780 A JP2014033780 A JP 2014033780A JP 2014033780 A JP2014033780 A JP 2014033780A JP 2015158439 A5 JP2015158439 A5 JP 2015158439A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
component
wavelength range
region
component content
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014033780A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6323060B2 (ja
JP2015158439A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2014033780A priority Critical patent/JP6323060B2/ja
Priority claimed from JP2014033780A external-priority patent/JP6323060B2/ja
Publication of JP2015158439A publication Critical patent/JP2015158439A/ja
Publication of JP2015158439A5 publication Critical patent/JP2015158439A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6323060B2 publication Critical patent/JP6323060B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明の一態様の成分分析装置は、測定光を被測定対象に照射する光源部と、前記被測定対象からの測定対象光を分光する分光素子と、前記分光素子により分光された分光光を受光する受光部と、前記分光光に基づいて前記被測定対象における分析対象成分の成分含有率を分析する分析部と、を含み、前記測定光の波長域は、第1波長域と、第2波長域と、を含み、前記分析部は、前記第1波長域の前記分光光の光量、前記第2波長域の前記分光光の光量、及び相関データに基づいて前記成分含有率を分析し、前記相関データは、前記第1波長域における前記分析対象成分の第1特徴量と、前記第1特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第1データ、及び前記第2波長域における前記分析対象成分の第2特徴量と、前記第2特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第2データと、を含むことを特徴とする。
上記の本発明に係る本発明の成分分析装置は、近赤外波長域における複数の波長域を含む光を被測定対象に照射する光源部と、前記被測定対象で反射された光から所定波長の光を分光し、かつ、前記所定波長を変更可能な波長可変型の分光フィルターと、前記分光フィルターから出射された光を受光する受光部と、所定の分析対象成分に対する吸光スペクトルから抽出された特徴量と、当該特徴量に対する成分含有率との関係が、前記複数の波長域毎に記録された相関データを記録する記憶部と、前記受光部で受光された前記波長域毎の光の光量、及び前記相関データに基づいて、前記被測定対象における前記分析対象成分の成分含有率を分析する分析部と、を備えたことを特徴とする。

Claims (7)

  1. 測定光を被測定対象に照射する光源部と、
    前記被測定対象からの測定対象光を分光する分光素子と
    前記分光素子により分光された分光光を受光する受光部と、
    前記分光光に基づいて前記被測定対象における分析対象成分の成分含有率を分析する分析部と、
    を含み、
    前記測定光の波長域は、第1波長域と、第2波長域と、を含み、
    前記分析部は、前記第1波長域の前記分光光の光量、前記第2波長域の前記分光光の光量、及び相関データに基づいて前記成分含有率を分析し、
    前記相関データは、前記第1波長域における前記分析対象成分の第1特徴量と、前記第1特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第1データ、及び前記第2波長域における前記分析対象成分の第2特徴量と、前記第2特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第2データと、を含むことを特徴とする成分分析装置。
  2. 前記測定光の波長域は、さらに第3波長域を含み、
    前記第1波長域は800nmから1100nm、前記第2波長域は1100nmから1800nm、前記第3波長域は1800nmから2500nmであることを特徴とする請求項1に記載の成分分析装置。
  3. 前記第1波長域の前記測定光が到達する前記被測定対象の領域を第1領域とし、前記第2波長域の前記測定光が到達する前記被測定対象の領域を第2領域としたとき、
    前記第1階層の成分含有率及び前記第2階層の成分含有率は、前記第1波長域において算出される前記成分含有率、前記第2波長域において算出される前記成分含有率、
    前記第1領域の第1定数、及び前記第2領域の第2定数に基づいて算出されることを特徴とする請求項1または2に記載の成分分析装置。
  4. 前記被測定対象の前記成分含有率は、前記第1領域の成分含有率及び前記第2領域の成分含有率に基づくことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の成分分析装置。
  5. 前記受光部は、前記第1波長域の前記分光光を受光する第1受光素子と、前記第2波長域の前記分光光を受光する第2受光素子と、を含むことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の成分分析装置。
  6. 前記光源部は、前記第1波長域の前記測定光に対応した第1光源と、前記第2波長域の前記測定光に対応した第2光源と、を含むことを特徴とする成分分析装置。
  7. 光源部から被測定対象に測定光を照射するステップと、
    前記被測定対象からの測定対象光を分光した分光光を受光するステップと、
    前記分光光に基づいて、前記被測定対象における分析対象成分の成分含有率を分析するステップと、
    を含み、
    前記測定光の波長域は、第1波長域と、第2波長域と、を含み、
    前記分光光に基づいて、前記被測定対象における分析対象成分の成分含有率を分析するステップは、前記第1波長域の前記分光光の光量、前記第2波長域の前記分光光の光量、及び相関データに基づいて前記成分含有率を分析し、
    前記相関データは、前記第1波長域における前記分析対象成分の第1特徴量と、前記第1特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第1データ、及び前記第2波長域における前記分析対象成分の第2特徴量と、前記第2特徴量に対する前記成分含有率との関係を表す第2データと、を含むことを特徴とする成分分析方法。
JP2014033780A 2014-02-25 2014-02-25 成分分析装置、成分分析方法 Active JP6323060B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014033780A JP6323060B2 (ja) 2014-02-25 2014-02-25 成分分析装置、成分分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014033780A JP6323060B2 (ja) 2014-02-25 2014-02-25 成分分析装置、成分分析方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015158439A JP2015158439A (ja) 2015-09-03
JP2015158439A5 true JP2015158439A5 (ja) 2017-03-02
JP6323060B2 JP6323060B2 (ja) 2018-05-16

Family

ID=54182521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014033780A Active JP6323060B2 (ja) 2014-02-25 2014-02-25 成分分析装置、成分分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6323060B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6641883B2 (ja) * 2015-10-28 2020-02-05 セイコーエプソン株式会社 測定装置、電子機器、及び測定方法
JP6806326B2 (ja) * 2016-10-25 2021-01-06 株式会社オリエンテック 危険予知通報システム
KR101743125B1 (ko) * 2017-02-27 2017-06-02 주식회사 쉘파스페이스 가변 파장을 출력하는 발광부를 이용한 영상 기반 성분 측정 시스템 및 그 방법과 이를 이용한 식물 재배 방법
US11218644B2 (en) 2016-11-30 2022-01-04 Sherpa Space Inc. Image-based component measurement system using light emitting device that outputs variable wavelength and method thereof, and method of plant cultivation method using the same
JP6948069B2 (ja) * 2018-06-29 2021-10-13 メディカルフォトニクス株式会社 脂質計測装置及びその方法
JP7436745B2 (ja) 2021-02-26 2024-02-22 株式会社日立製作所 材料検査支援装置、方法およびプログラム

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0827235B2 (ja) * 1987-11-17 1996-03-21 倉敷紡績株式会社 糖類濃度の分光学的測定法
JPH01301147A (ja) * 1988-05-28 1989-12-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 青果物の品質測定法およびその装置
JPH0634531A (ja) * 1992-07-14 1994-02-08 Yokogawa Electric Corp 赤外線水分計
US5747806A (en) * 1996-02-02 1998-05-05 Instrumentation Metrics, Inc Method and apparatus for multi-spectral analysis in noninvasive nir spectroscopy
JP2013181912A (ja) * 2012-03-02 2013-09-12 Seiko Epson Corp 成分分析装置
JP2013253845A (ja) * 2012-06-06 2013-12-19 Jvc Kenwood Corp 食味測定装置および食味測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015158439A5 (ja)
EP2889609A3 (en) Pesticide residue detection method
SG10201909423PA (en) Determination of water treatment parameters based on absorbance and fluorescence
NZ703875A (en) Spectroscopic analysis
JP2014518390A5 (ja)
KR102231784B1 (ko) 시료 분석을 위한 레퍼런스 스펙트럼 측정 장치 및 방법, 시료 분석 장치 및 방법
UA115271C2 (uk) Спосіб визначення вологовмісту шару смоли на несучій плиті
JP2014022621A5 (ja)
JP2014512693A5 (ja)
EP2710353A1 (en) Spectroscopic apparatus and methods for determining components present in a sample
JP2010002327A5 (ja)
CN104062273A (zh) 基于粒子群优化算法的同步荧光光谱特征波长筛选方法
IN2014KN02807A (ja)
TW201614217A (en) Dynamic light scattering measurement device and dynamic light scattering measurement method
WO2012103897A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen
JP2019045514A5 (ja)
JP2017512999A5 (ja)
JP2009168747A (ja) 食品検査方法及び食品検査装置
JP2015508317A5 (ja)
JP2014020809A5 (ja)
JP2013160772A5 (ja) 光スペクトル変換方法、および光スペクトル変換装置
JP6535461B2 (ja) 材料分析センサ及び材料分析装置
JP6748427B2 (ja) コンクリートの計測方法、コンクリートの計測装置
FI20116226A (fi) Menetelmä ja laite kaasukonsentraation määrittämiseksi
WO2018217466A3 (en) MEASURING RADICAL CONCENTRATIONS IN SEMICONDUCTOR PROCESSING