WO2012103897A1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen Download PDFInfo
- Publication number
- WO2012103897A1 WO2012103897A1 PCT/EP2011/000419 EP2011000419W WO2012103897A1 WO 2012103897 A1 WO2012103897 A1 WO 2012103897A1 EP 2011000419 W EP2011000419 W EP 2011000419W WO 2012103897 A1 WO2012103897 A1 WO 2012103897A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- light
- thin layer
- optical properties
- intensities
- determining optical
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02024—Measuring in transmission, i.e. light traverses the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2011/000419 WO2012103897A1 (de) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen |
EP11706152.3A EP2671044A1 (de) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen |
JP2013550759A JP2014508921A (ja) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | 複数の波長の光を用いて薄膜層における強度を同時に測定することによって光学特性を決定する方法及び装置 |
US13/982,896 US9733063B2 (en) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | Method and device for determining optical properties by simultaneous measurement of intensities at thin layers using light of several wavelengths |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2011/000419 WO2012103897A1 (de) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2012103897A1 true WO2012103897A1 (de) | 2012-08-09 |
Family
ID=44625266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/EP2011/000419 WO2012103897A1 (de) | 2011-01-31 | 2011-01-31 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9733063B2 (de) |
EP (1) | EP2671044A1 (de) |
JP (1) | JP2014508921A (de) |
WO (1) | WO2012103897A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9987604B2 (en) | 2013-03-27 | 2018-06-05 | Nanotemper Technologies Gmbh | Method and apparatus for contactless mixing of liquids |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10914037B2 (en) | 2012-10-09 | 2021-02-09 | Michael Gorden | Yankee dryer profiler and control |
KR102287272B1 (ko) | 2014-12-04 | 2021-08-06 | 삼성전자주식회사 | 검사장치 및 그 제어 방법 |
EP3139147B1 (de) * | 2015-09-02 | 2020-11-25 | Trioptics GmbH | Vorrichtung und verfahren zur messung einer wellenlängenabhängigen optischen kenngrösse eines optischen systems |
EP3299799A1 (de) * | 2016-09-27 | 2018-03-28 | Berthold Technologies GmbH & Co. KG | Verfahren und messsystem zur messung molekularer interaktionen an einer dünnen schicht |
JP6766995B2 (ja) * | 2016-11-09 | 2020-10-14 | 株式会社ミツトヨ | 位相シフト干渉計 |
KR102515833B1 (ko) * | 2018-08-01 | 2023-03-29 | 삼성전자주식회사 | 대상체의 성분 분석 장치 및 방법과, 이미지 센서 |
CN113534129B (zh) * | 2021-06-29 | 2022-07-08 | 中国人民解放军93209部队 | 评估地基宽带雷达的高速目标探测性能的方法和系统 |
CN114487046A (zh) * | 2022-01-29 | 2022-05-13 | 中国科学技术大学 | 测定二维材料表面电荷密度分布的成像方法 |
CN115046921B (zh) * | 2022-08-11 | 2022-12-02 | 四川至臻光电有限公司 | 一种表征塑料光学元件膜层附着力的测试方法及测试装置 |
DE102022134504A1 (de) | 2022-12-22 | 2024-06-27 | Technische Universität Dresden, Körperschaft des öffentlichen Rechts | Verfahren und gerät zur schichtdickenbestimmung histologischer schnittpräparate und konzentrationsbestimmung von biologischen substanzen in histologischen präparaten |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0598341A1 (de) | 1992-11-17 | 1994-05-25 | Hoechst Aktiengesellschaft | Optischer Sensor zur Detektion von chemischen Spezien |
WO1997040366A1 (de) | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und einrichtung zum nachweis physikalischer, chemischer, biologischer oder biochemischer reaktionen und wechselwirkungen |
US6248988B1 (en) * | 1998-05-05 | 2001-06-19 | Kla-Tencor Corporation | Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope |
WO2006131225A1 (de) | 2005-06-10 | 2006-12-14 | Universität Tübingen | Verfahren und vorrichtung zur quantitativen bestimmung von analyten in flüssigen proben |
WO2008067528A2 (en) | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Purdue Research Foundation | Molecular interferometric imaging process and apparatus |
WO2010127843A2 (de) * | 2009-05-05 | 2010-11-11 | Biametrics Marken Und Rechte Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von reflexionskoeffizienten an filteranordnungen mit dünnen schichten |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01132935A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Kawasaki Steel Corp | 被膜の分析方法及び装置 |
JPH01132936A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Kawasaki Steel Corp | 被膜の分析方法及び装置 |
US5220403A (en) * | 1991-03-11 | 1993-06-15 | International Business Machines Corporation | Apparatus and a method for high numerical aperture microscopic examination of materials |
JP3001357B2 (ja) * | 1992-11-17 | 2000-01-24 | アヴェンティス・リサーチ・ウント・テクノロジーズ・ゲーエムベーハー・ウント・コー・カーゲー | 化学物質検知用光学センサ |
DE4410603C1 (de) * | 1994-03-26 | 1995-06-14 | Jenoptik Technologie Gmbh | Verfahren zur Erkennung von Fehlern bei der Inspektion von strukturierten Oberflächen |
JPH09189525A (ja) * | 1996-01-09 | 1997-07-22 | Olympus Optical Co Ltd | 偏光解析装置 |
JPH09269296A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-10-14 | Ishizuka Glass Co Ltd | シートのコーティング欠陥検査装置 |
JPH1047926A (ja) * | 1996-08-07 | 1998-02-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 |
US6236459B1 (en) * | 1998-11-05 | 2001-05-22 | University Of Miami | Thin film measuring device and method |
US6049506A (en) * | 1999-01-29 | 2000-04-11 | Lucent Technology Inc. | Optical fiber Sagnac interferometer which identifies harmonically related nulls in the detected spectrum |
EP1176431B1 (de) * | 1999-03-09 | 2008-01-02 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | Messverfahren und -gerät zur radioaktivität, radioaktive konzentration und radioaktivität an oberflächen |
US7324214B2 (en) * | 2003-03-06 | 2008-01-29 | Zygo Corporation | Interferometer and method for measuring characteristics of optically unresolved surface features |
WO2006093800A1 (en) * | 2005-02-25 | 2006-09-08 | Nanometrics Incorporated | Apparatus and method for enhanced critical dimension scatterometry |
US7391520B2 (en) * | 2005-07-01 | 2008-06-24 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Fourier domain optical coherence tomography employing a swept multi-wavelength laser and a multi-channel receiver |
JP2008139065A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Nikon Corp | 膜評価装置及び膜評価方法 |
JP2009075044A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-09 | Toppan Printing Co Ltd | 有機elパネル基板の導電性ポリマー層の膜厚不良検査装置及びそれを用いた膜厚不良検査方法 |
US8989890B2 (en) * | 2008-11-07 | 2015-03-24 | Applied Materials, Inc. | GST film thickness monitoring |
DE102009019476A1 (de) | 2009-05-04 | 2010-11-11 | Biametrics Marken Und Rechte Gmbh | Wiedererkennbarer Träger für optische Meßverfahren |
WO2012040554A2 (en) * | 2010-09-23 | 2012-03-29 | Stryker Corporation | Video monitoring system |
-
2011
- 2011-01-31 JP JP2013550759A patent/JP2014508921A/ja active Pending
- 2011-01-31 WO PCT/EP2011/000419 patent/WO2012103897A1/de active Application Filing
- 2011-01-31 EP EP11706152.3A patent/EP2671044A1/de not_active Ceased
- 2011-01-31 US US13/982,896 patent/US9733063B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0598341A1 (de) | 1992-11-17 | 1994-05-25 | Hoechst Aktiengesellschaft | Optischer Sensor zur Detektion von chemischen Spezien |
WO1997040366A1 (de) | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und einrichtung zum nachweis physikalischer, chemischer, biologischer oder biochemischer reaktionen und wechselwirkungen |
US6248988B1 (en) * | 1998-05-05 | 2001-06-19 | Kla-Tencor Corporation | Conventional and confocal multi-spot scanning optical microscope |
WO2006131225A1 (de) | 2005-06-10 | 2006-12-14 | Universität Tübingen | Verfahren und vorrichtung zur quantitativen bestimmung von analyten in flüssigen proben |
WO2008067528A2 (en) | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Purdue Research Foundation | Molecular interferometric imaging process and apparatus |
WO2010127843A2 (de) * | 2009-05-05 | 2010-11-11 | Biametrics Marken Und Rechte Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von reflexionskoeffizienten an filteranordnungen mit dünnen schichten |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
See also references of EP2671044A1 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9987604B2 (en) | 2013-03-27 | 2018-06-05 | Nanotemper Technologies Gmbh | Method and apparatus for contactless mixing of liquids |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130314712A1 (en) | 2013-11-28 |
US9733063B2 (en) | 2017-08-15 |
EP2671044A1 (de) | 2013-12-11 |
JP2014508921A (ja) | 2014-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2012103897A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung optischer eigenschaften durch gleichzeitiges messen von intensitäten an dünnen schichten mit licht von mehreren wellenlängen | |
EP4325205A3 (de) | Verfahren und system zur messung der beschichtungsdicke | |
WO2010135453A3 (en) | Quantum efficiency measurement system and methods of use | |
GB2460573A (en) | A method and apparatus for estimating a property of a fluid downhole | |
TW200730796A (en) | Interferometer and method for measuring characteristics of optically unresolved surface features | |
TW200722712A (en) | Sensor and external turbulence measuring method using the same | |
WO2010069509A8 (de) | Verfahren und vorrichtung zur prüfung von bei der herstellung und/oder verpackung von zigaretten zu prüfenden objekten | |
WO2010011578A3 (en) | Computer-implemented methods for inspecting and/or classifying a wafer | |
JP2012063321A5 (de) | ||
JP2010002327A5 (de) | ||
WO2009016551A3 (en) | Vehicle positioning measurement system and method | |
TW200951396A (en) | Position measurement apparatus, position measurement method, and exposure apparatus | |
WO2007005519A3 (en) | System and methods for improving signal/noise ratio for signal detectors | |
WO2007120996A3 (en) | Method and apparatus for compact spectrometer for detecting hazardous agents | |
WO2008129073A3 (de) | Messanordnung sowie verfahren zum dreidimensionalen messen eines objekts | |
TW200707088A (en) | Metrology apparatus, lithographic apparatus, process apparatus metrology method and device manufacturing method | |
WO2009049834A3 (en) | Optical sensor device | |
EP2228621A3 (de) | Optische Interferenzmessvorrichtung | |
WO2010014867A3 (en) | Time domain spectroscopy (tds)-based method and system for obtaining coincident sheet material parameters | |
KR20140064989A (ko) | 막두께 측정방법 | |
JP2010169496A5 (de) | ||
IN2014KN02807A (de) | ||
TWI266870B (en) | A method of determining physical properties of an optical layer or layer system | |
WO2007101279A3 (en) | Method and apparatus for compact spectrometer with fiber array spectral translator | |
WO2007056772A3 (en) | Modulation cancellation method in laser spectroscopy |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 11706152 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2013550759 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 13982896 Country of ref document: US |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 2011706152 Country of ref document: EP |