JP2015212648A - 光学式エンコーダおよびこれを備えた装置 - Google Patents
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Description
sqrt(L12+M2)≦(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)]
なる条件を満足する領域に配置され、
第2の受光部が、
sqrt(L22+M2)≦(D1+2×D2+D3)×tan[Asin(n0/n1)]
L2−H≧(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)]
なる条件を満足する領域に配置されていることを特徴とする。ただし、MおよびL1はそれぞれ、第1の受光部のうち光源から最も遠い端部のX方向の座標の絶対値およびY方向の座標であり、L2は、第2の受光部のうち光源から最も遠い端部のY方向の座標であり、Hは第2の受光部のY方向での受光領域幅であり、n1は透光性部材の屈折率であり、D1は、光源の発光面から透光性部材の表面までのXおよびY方向に直交する方向での距離であり、D2は、第1の受光部の受光面から透光性部材の表面までのXおよびY方向に直交する方向での距離であり、D3は、第2の受光部の受光面から透光性部材の表面までのXおよびY方向に直交する方向での距離であり、n0はセンサユニットとスケールとの間の媒質の屈折率である。
−2×M≦X≦2×M
2×(L1−H)≦Y≦2×L1
なる条件を満足する領域に配置されていることを特徴とする。ただし、MおよびL1はそれぞれ、第1の受光部のうち光源から最も遠い端部のX方向の座標の絶対値およびY方向の座標であり、Hは第1の受光部のY方向での受光領域幅である。
図1(a),(b)に示すセンサユニット7は、スケール2のトラック面に対向する面(同一面または同一の基板面)に配置された1つの光源1と複数(本実施例では2つ)の受光部としての受光素子アレイ9,13とを備えている。受光素子アレイ9はスケール2のトラック8に設けられた反射パターンを読み取るために設けられており、受光素子アレイ13はトラック11に設けられた反射パターンを読み取るために設けられている。以下、受光素子アレイ9をトラック8に対応する受光素子アレイともいい、受光素子アレイ13をトラック11に対応する受光素子アレイともいう。
−2×M≦X≦2×M (1)
2×(L1−H)≦Y≦2×L1 (2)
なる条件を満足する領域内に配置する必要がある。
S(A)=S(A+)−S(A−) (3)
S(B)=S(B+)−S(B−) (4)
なる合成(演算)が行われることで、直流成分が除去された2相周期信号S(A),S(B)が生成される。
Φ1=ATAN2[S(A),S(B)] (5)
を演算する。ここで、ATAN2[Y,X]は、象限を判別して0〜2πの位相に変換する逆正接演算関数である。Φ1とスケール2上での位置との関係は図5の下側の図に示すようになり、インクリメント信号としてX方向の相対位置変化の検出に用いられる。
S(A)′=cos(θ+e/2) (6)
S(B)′=sin(θ−e/2) (7)
そして、これらの式(6),(7)より、2相周期信号S(A)′,S(B)′の和と差を計算すると、以下の式(8),(9)で示すように、相対位相差誤差eを分離することができる。
S(A)′+S(B)′=2×cos(θ―π/4)sin(e/2−π/4) (8)
−S(A)′+S(B)′=2×sin(θ−π/4)cos(e/2−π/4) (9)
相対位相差誤差eは、設計値より、e=(1−19/20)×πと表せる。このため、式(8),(9)に対して、それぞれの振幅成分2×sin(e/2−π/4),2×cos(e/2−π/4)の逆数を乗じる。これにより、以下の式(10),(11)に示すように、相対位相差誤差が補正された2相周期信号S(A),S(B)が算出される。
S(A)=[S(A)′+S(B)′]/[2×sin(e/2−π/4)]=cosφ (10)
S(B)=[−S(A)′+S(B)′]/[2×cos(e/2−π/4)]=sinφ (11)
ただし、φ=θ−π/4である。
Φ3=ATAN2[S(A),S(B)] (12)
さらに、バーニア信号Sv12を、以下の演算によって取得する。
Sv12=Φ1−Φ2 (13)
ここで、Sv12<0のときはSv12=Sv12+2πの演算を行って、0〜2πの位相としての出力範囲に変換する。このようにして得られたバーニア信号Sv12とスケール2の位置との関係は、図5の上側の図に示すようになる。同図に示すように、バーニア信号Sv12の位相に対するスケール2上での位置が一意に決定されるため、絶対位置を特定することができる。
ABS=[ROUND({[Sv12/(2π)]×[FS/P1]−Φ1}×{2π})+Φ1/(2π)]×P1(μm) (14)
ただし、ROUND(X)は、Xに最も近い整数に変換する関数である。また、FSはX方向のトラック全長であり、本数値例では、前述したようにFS=2000μmである。
θc=Asin(n0/n1) (15)
ただし、Asin(X)は、Xの逆正弦関数である。
(D1+D2)×tanθc (16)
また、全反射光2002が到達する領域に反射率が高い部分(例えば、受光素子3の表面や金属配線)があると、全反射光2002は該高反射率部分で再度反射されて透光性部材5と外部媒質との界面で再び全反射される。そして、光源1から以下の式(17)で示す距離以上離れた領域にも全反射光2002が到達する。
(D1+2×D2+D3)×tanθc (17)
パッケージ内での全反射光は、位置検出においては不要な光であり、該全反射光が受光素子アレイ9,13に入射すると、位置検出精度が低下する。このため、全反射光をできるだけ受光素子アレイ9,13に入射させないように、図7(b)に示すように受光素子アレイ9を以下の条件(18)を満足する領域内に配置し、受光素子アレイ13を以下の条件(19),(20)を満足する領域内に配置する必要がある。
sqrt(L12+M2)≦(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)] (18)
で表される。
sqrt(L22+M2)≦(D1+2×D2+D3)×tan[Asin(n0/n1)] (19)
L2−H≧(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)] (20)
ただし、MおよびL1はそれぞれ、受光素子アレイ9のうち光源1から最も遠い端部のX方向の座標の絶対値およびY方向の座標である。また、L2は、受光素子アレイ13のうち光源1から最も遠い端部のY方向の座標であり、Hは受光素子アレイ13のY方向での受光領域幅である。なお、本実施例では受光素子アレイ9のY方向での受光領域幅もHであるが、必ずしもHでなくてもよい。
Φ4=ATAN2[S(A),S(B)] (21)
一方、第2の検出周期で読み取りを行う場合には、該第2の検出周期が対応する反射パターンの周期P5に対してわずかにずれている。このため、実施例1の周期P2の反射パターンの読み取り時と同様に、相対位相差誤差の補正処理を行って2相周期信号S(A),S(B)を取得する。そして、得られた2相周期信号S(A),S(B)を用いて以下の演算を行う。
Φ5=ATAN2[S(A),S(B)] (22)
Φ5とスケール2B上での位置との関係は、図12の中段の図に示すようになる。次に、バーニア信号Sv45を、以下の式(23)を用いた演算によって取得する。
Sv45=4×Φ4−Φ5 (23)
ここで、Sv45<0のときはSv45=Sv45+2πの演算を行って、0〜2πの位相としての出力範囲に変換する。このようにして得られたバーニア信号Sv45とスケール2B上での位置との関係は、図12の上側の図に示すようになる。同図に示すように、バーニア信号Sv45の位相に対するスケール2B上での位置が一意に決定されるため、絶対位置を特定することができる。
Φ6=ATAN2[S(A),S(B)] (24)
そして、このようにして得られたΦ6とバーニア信号Sv45との同期処理を行い、絶対位置信号ABSを以下のように生成する。
ABS=[ROUND({[Sv45/(2π)]×[FS/P6]−Φ6}×{2π})+Φ6/(2π)]×P6(μm) (25)
実施例1でも説明したが、ROUND(X)は、Xに最も近い整数に変換する関数である。また、FSはX方向のトラック全長であり、本数値例では、前述したようにFS=5000μmである。
2,2A,2B,2C スケール
5 透光性部材
7,7A,7B,7C センサユニット
8,8A,8B,8C,11,61 トラック
9,9A,9B,9C,13,63 受光素子アレイ
Claims (8)
- 周期的に配置された反射部により構成される反射パターンをそれぞれ含む複数のトラックが設けられたスケールと、
該スケールとの相対移動が可能であり、1つの光源および該光源から発して前記複数のトラックの前記反射パターンで反射した光をそれぞれ受光する複数の受光部が設けられたセンサユニットとを有する光学式エンコーダであって、
前記センサユニットにおいて、前記1つの光源と前記複数の受光部とが透光性部材により覆われており、
前記複数の受光部のうち少なくとも第1の受光部と第2の受光部とが、前記スケールと前記センサユニットとが相対移動するX方向に対して直交するY方向において前記光源に対して同じ側に配置されており、
前記光源の発光位置を前記X方向および前記Y方向の座標の原点とするとき、
前記第1の受光部が、
sqrt(L12+M2)≦(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)]
なる条件を満足する領域に配置され、
前記第2の受光部が、
sqrt(L22+M2)≦(D1+2×D2+D3)×tan[Asin(n0/n1)]
L2−H≧(D1+D2)×tan[Asin(n0/n1)]
なる条件を満足する領域に配置されていることを特徴とする光学式エンコーダ。
ただし、MおよびL1はそれぞれ、前記第1の受光部のうち前記光源から最も遠い端部の前記X方向の座標の絶対値および前記Y方向の座標であり、
L2は、前記第2の受光部のうち前記光源から最も遠い端部の前記Y方向の座標であり、Hは前記第2の受光部の前記Y方向での受光領域幅であり、
n1は前記透光性部材の屈折率であり、
D1は、前記光源の発光面から前記透光性部材の表面までの前記XおよびY方向に直交する方向での距離であり、
D2は、前記第1の受光部の受光面から前記透光性部材の表面までの前記XおよびY方向に直交する方向での距離であり、
D3は、前記第2の受光部の受光面から前記透光性部材の表面までの前記XおよびY方向に直交する方向での距離であり、
n0は前記センサユニットと前記スケールとの間の媒質の屈折率である。 - 前記センサユニットにおいて、前記複数の受光部のうち少なくとも1つの受光部は、前記複数のトラックのうち少なくとも1つのトラックに含まれる互いに異なる周期を有する複数の前記反射パターンで反射した光を受光し、
該少なくとも1つの受光部は、その検出周期を、前記複数の反射パターンの周期に対応するように切り替え可能な構成を有することを特徴とする請求項1に記載のエンコーダ。 - 前記スケールにおいて、前記複数のトラックは、単一の前記反射パターンのみを含む単一パターントラックと、前記Y方向に配置された互いに周期が異なる複数の前記反射パターンを含む多重パターントラックとを有し、
前記多重パターントラックを前記単一パターントラックよりも前記光源に近い位置に配置したことを特徴とする請求項1または2に記載の光学式エンコーダ。 - 前記スケールにおいて、前記単一パターントラックに含まれる前記反射パターンの周期は、前記多重パターントラックに含まれる前記複数の反射パターンの周期のうち最も短い周期と同じまたはそれ以下であることを特徴とする請求項3に記載の光学式エンコーダ。
- 前記スケールにおいて、前記複数のトラックは、前記第1および第2の受光部に対応する第1および第2のトラックと、少なくとも1つの第3のトラックとを有し、
前記センサユニットにおいて、前記複数の受光部は、前記少なくとも1つの第3のトラックに対応する少なくとも1つの第3の受光部を含んでおり、
前記第3の受光部は、前記Y方向において、前記光源に対して前記第1および第2の受光部とは反対側に配置されていることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の光学式エンコーダ。 - 周期的に配置された反射部により構成される反射パターンをそれぞれ含む複数のトラックが設けられたスケールと、
該スケールとの相対移動が可能であり、1つの光源および該光源から発して前記複数のトラックの前記反射パターンで反射した光をそれぞれ受光する複数の受光部が設けられたセンサユニットとを有する光学式エンコーダであって、
前記複数の受光部のうち少なくとも第1の受光部と第2の受光部とが、前記スケールと前記センサユニットとが相対移動するX方向に対して直交するY方向において前記光源に対して同じ側に配置されており、
前記光源の発光位置を前記X方向および前記Y方向の座標の原点とするとき、
前記第2の受光部の位置(X,Y)は、
−2×M≦X≦2×M
2×(L1−H)≦Y≦2×L1
なる条件を満足する領域に配置されていることを特徴とする光学式エンコーダ。
ただし、MおよびL1はそれぞれ、前記第1の受光部のうち前記光源から最も遠い端部の前記X方向の座標の絶対値および前記Y方向の座標であり、
Hは前記第1の受光部の前記Y方向での受光領域幅であることを特徴とする光学式エンコーダ。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載のエンコーダと、
前記スケールまたは前記センサとともに移動が可能な可動部材と、
前記エンコーダから出力される位置の情報を用いて前記可動部材の位置または移動を制御する制御手段とを有することを特徴とする装置。 - 前記可動部材として光学素子を有する光学機器であることを特徴とする請求項7に記載の装置。
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