JP2015139224A - 電圧電流供給回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】性能を低下させることなく、SMUにアクティブ・シャントを組み入れる。
【解決手段】アクティブ・シャントSMU回路400は、アクティブ・シャント回路を有するSMU回路であり、このアクティブ・シャント回路がSMU回路の電流測定サブ回路に組み込まれる。このアクティブ・シャント回路は、SMU回路が電圧供給モード時にはアクティブとなって、電流検出抵抗Rを見かけ上小さくする一方、電流供給モード時には非アクティブとなる。
【選択図】図4

Description

本発明は、大まかに言えば、ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路に関し、特に、SMU回路にアクティブ・シャント回路の機能を組み入れることに関する。
典型的なアクティブ・シャント回路は、通常、利得及びキャパシタンスを使って、実際の抵抗値を利得によって小さくしたバーチャル・インピーダンスを生成する。図1は、従来のアクティブ・シャント回路100の例の回路ブロック図である。この例において、アクティブ・シャント回路100は、利得G(s)と容量Cを使って、実際の抵抗Rを利得(α)で小さくしたバーチャル・インピーダンスZIN(=R/α)を生成している(特許文献1参照)。
図2は、従来の一例である2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路200を示した回路ブロック図である。SMUには、被試験デバイス(DUT)に印加する電圧を所望値に制御(regulate:調整)して、そのときにDUTを流れる電流を測定する電圧供給モードと、DUTに供給する電流を所望値に制御して、そのときにDUTに生じる電圧を測定する電流供給モードとがある。SMU回路200には、電圧供給モード用DACであるV−DACと、電流供給モード用DACであるI−DACと、被試験デバイス(DUT)に電気的に結合された第1増幅器206とがある。これらDAC(デジタル・アナログ・コンバータ)は、出力電圧を表すデジタル・データを受けて、それぞれの対応するモード時に、必要とされるアナログ電圧を出力する。SMU回路200は、CPUなどから構成される制御回路(図示せず)によって、動作が制御される。
SMU回路200には、第1スイッチSの現在の位置に応じてV−DAC又はバッファ210のどちらかと、DUTとの間に電気的に結合される第2増幅器208もある。第1及び第2利得段増幅器212及び214は、第2スイッチSの現在の位置に応じてI−DAC又はバッファ210のどちらかと、DUTとの間に電気的に結合される。第1抵抗器Rは、DUTとバッファ210とに電気的に結合される。第2抵抗器Rは、第1抵抗器Rと第2利得段増幅器214との間に電気的に結合される。
この例では、SMU回路200は、図2に示すように、2つのスイッチS及びSが下側の位置にあるときに、所望の電圧(例えば、ユーザが指定した電圧)をDUTに供給する(電圧供給モード)。SMU回路200には、DUTと電流検出抵抗器Rとの間の相互作用を用いた制御ループがあり、これは、次の式によって定めることができる。
Figure 2015139224
ここで、Rは、どのレンジがアクティブであるかに応じて、第1抵抗器Rだけ(R=R)か、又は第1抵抗器R及び第2抵抗器R(R=R+R=kR)である。SMUは、R=Rの(第1レンジ)場合には、VI0の電圧をアナログ・デジタル・コンバータ(ADC、図示せず)によって検出し、第1抵抗器Rの既知の抵抗値を用いて、DUTに流れる電流値を算出する。一方、R=R+Rの(第2レンジ)場合には、VI1の電圧をADC(図示せず)によって検出することによって、DUTに流れる電流値を算出する。なお、電圧供給モード時には、I−DACが、スイッチSを介してVI0又はVI1の電圧を制限するよう制御し、これによって、DUTに制限値以上の電流が流れないよう制限しても良い。
一方、電流供給モード時には、I−DACが、アクティブにするレンジに応じて、スイッチSを介してVI0又はVI1の電圧を制御し、これによって、抵抗値が既知の第1抵抗器R(R=R)又は第1抵抗器R及び第2抵抗器R(R=R+R=kR)に印加される電圧をそれぞれ制御することで、DUTに供給する電流を制御する。そして、DUTと結合されるSMUの端子216間に生じる電圧を第1増幅器206の出力電圧Vとして得て、SMUは、この電圧VをADC(図示せず)を用いて検出することで、DUTで生じる電圧を得る。なお、電流供給モード時では、上述の如く、抵抗Rは、DUTを流れる電流値の検出のためではなく、DUTに供給する電流を規定するために用いていることに注意されたい。
図3は、従来の第2例である2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路300を示した回路ブロック図である。この例では、SMU回路300は、単一の制御ループとスイッチSとを使って、V−DAC(つまり、図示のようなスイッチSが下側位置の場合)と、I−DAC(つまり、スイッチSが上側位置の場合)との間を切り換える。
この第2例では、抵抗器R及びRが並列に配置される。この点で、抵抗器R及びRが直列である第1例のSMU回路200と対照的である。この例では、SMU回路300は、図3に示すように、スイッチSが下側の位置にあるときに、所望の電圧(例えば、ユーザが指定した電圧)をDUTに供給する(電圧供給モード)。複数のスイッチSWの切り換えによって、電流検出抵抗器Rとして抵抗器R及びRの一方だけを用いるか、又は、両方を用いるかが切り換えられ、これによって、DUTに供給する電流のレンジが切り換えられる。SMUは、Vの電圧をADC(図示せず)によって検出し、電流検出抵抗器Rの既知の抵抗値を用いて、DUTに流れる電流値を算出する。
電流供給モード時においてDUTに電流を供給する際は、スイッチSWの切り換えによって、抵抗器R及びRの一方だけを用いるか、又は、両方を用いるかが切り換えられ、これによって、DUTに供給する電流のレンジが切り換えられる。図2の場合と同様に、DUTと結合されるSMUの端子216間の電圧を第1増幅器206の出力電圧Vとして得て、SMUは、この電圧VをADC(図示せず)を用いて検出することで、DUTで生じる電圧を得る。
特開2014−87065号公報 米国特許第5,039,934号明細書 米国特許第5,144,154号明細書
ケースレーによるSMUに関するウェブサイト、[オンライン]、[2015年1月16日検索]、インターネット<http://www.keithley.jp/products/dcac/currentvoltage>
DUTのインピーダンス(ZDUT)がアクティブなレンジの電流検出抵抗Rよりも小さい状況においては、数式1に示すβが1よりも大幅に小さく、制御ループが望ましくないほどに遅くなる。逆に言えば、電流検出抵抗Rを小さくできれば、βが1に近づくので、電圧供給モード時には、安定性状態へ戻るのが速くなり、帯域幅の向上なども見込まれる。しかし、その一方で、抵抗Rが小さいと、電流供給モード時には、供給できる電流値が限られるなど、性能が低下してしまう。
本発明の実施形態は、大まかに言えば、ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路に関し、特に、アクティブ・シャント回路技術の機能をSMU回路に適切に組み入れて、電圧供給モード時には電流検出抵抗器Rを見かけ上小さくし、βを1に近づけることで、上述した課題を解決しようとするものである。ある実施形態では、アクティブ・シャントSMU回路は、SMU回路の電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有するSMU又は電源を含む。このアクティブ・シャント回路は、SMU回路が電圧を供給している間(電圧供給モード時)はアクティブとなる一方で、電流を供給している間(電流供給モード時)又は電流リミット時は非アクティブとなる。
本発明をいくつかの観点から見ると、本発明の概念1は、被試験デバイス(DUT)に電圧及び電流を供給する回路であって、
上記DUTと電気的に結合される出力端子と、
上記出力端子と電気的に結合される電力供給回路とを具え、
上記電力供給回路は、上記出力端子に印加する電圧を制御することで上記出力端子を通して供給される電流が変化する電圧制御機能と、上記出力端子を通して供給する上記電流を制御することで上記出力端子に印加される電圧が変化する電流制御機能とを有し、
上記電力供給処理回路は、上記出力端子と直列で、上記出力端子を通して供給される電流を測定するための、少なくとも1つの検出抵抗器を有し、
上記電力供給処理回路が上記出力端子に印加する上記電圧を制御する場合には、制御フィードバック利得を少なくとも1つの上記検出抵抗器に適用して、上記電圧制御機能における見かけ上の抵抗(apparent resistance)を小さくすることを特徴としている。
本発明の概念2は、上記概念1の回路であって、上記電力供給回路が上記出力端子を通して供給する上記電流を制御する場合には、上記制御フィードバック利得を少なくとも1つの上記検出抵抗器に適用しないことを特徴としている。
本発明の概念3は、上記概念2の回路であって、上記少なくとも1つの検出抵抗器が、上記出力端子に電気的に結合された第1端子を有する第1抵抗器Rを含むことを特徴としている。
本発明の概念4は、上記概念3の回路であって、上記電力供給回路には、上記第1抵抗器Rと電気的に並列に結合される第1コンデンサCがあることを特徴としている。
本発明の概念5は、上記概念4の回路であって、上記電力供給回路が、
上記出力端子と電気的に結合される第1増幅器と、
上記出力端子と第1スイッチとの間に電気的に結合される第2増幅器と、
上記出力端子と第2スイッチとの間に電気的に結合される第1利得段増幅器と、
上記第2スイッチと上記第1利得段増幅器との間に電気的に結合される第2利得段増幅器と、
上記第2利得段増幅器と上記第1抵抗器Rとの間に電気的に結合される第2抵抗器Rと、
上記第2抵抗器Rと電気的に並列に結合される第2コンデンサCとを有している。
本発明の概念6は、上記概念5の回路であって、上記第1及び第2利得段増幅器のフィードバック・ループとして加えられた2つの抵抗器R及びRを更に具えることを特徴としている。
本発明の概念7は、上記概念5の回路であって、上記第2抵抗器の抵抗値Rが、R=(k−1)Rに従って定義されることを特徴としている。
本発明の概念8は、上記概念5の回路であって、上記第2コンデンサの容量Cが、C=C/(k−1)に従って定義されることを特徴としている。
本発明の概念9は、上記概念5の回路であって、上記第1スイッチが、上記出力端子と電気的に結合されるバッファをトグルするよう構成されることを特徴としている。
本発明の概念10は、上記概念9の回路であって、上記第1及び第2スイッチの両方が同時に上記バッファに電気的に結合されることがないことを特徴としている。
本発明の概念11は、上記概念9の回路であって、上記第2スイッチが、上記出力端子と電気的に結合されるバッファをトグルするよう構成されることを特徴としている。
図1は、従来のアクティブ・シャント回路の例の回路ブロック図である。 図2は、従来の2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路の第1例を示した回路ブロック図である。 図3は、従来の2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路の第2例を示した回路ブロック図である。 図4は、電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有する本発明の実施形態による2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路の第1例を示した回路ブロック図である。 図5は、電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有する本発明の実施形態による2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路の第2例を示した回路ブロック図である。
本発明の実施形態は、大まかに言えば、ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路に関する。ある実施形態では、アクティブ・シャントSMU回路として、SMU回路の電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有するSMU又は電源が含まれる。このアクティブ・シャント回路は、SMU回路が電圧を供給している間(電圧供給モード時)はアクティブとなる一方で、電流を供給している間(電流供給モード時)又は電流リミット時は非アクティブとなる。
アクティブ・シャント回路は、比較的新しい技術であり、SMU回路の電流供給性能を向上させるのに利用できる。しかし、アクティブ・シャント回路は、SMU回路が電圧供給から電流供給に切り換えるときに、SMU回路の性能を低下させることがあるので、実施形態では、SMU回路が電流供給時に、アクティブ・シャント回路を非アクティブにする機能を設けても良い。こうした実施形態でもSMU回路が電圧を供給している間は、SMU回路の性能向上の効果が得られ、その一方で、この処理をしなければSMU回路の電流供給中に起こるであろう性能低下は起きない。
本発明では、アクティブ・シャント回路をSMU回路に組み入れて、電圧供給モード時には電流検出抵抗器Rを見かけ上小さくし、βを1に近づけることで、SMU回路は、電圧供給モード時には、より早く安定状態になることができる。また、この組み入れによって、より大きな容量性負荷に電圧を供給しても、安定状態を維持可能になる。
図4は、本発明による実施形態の第1例である2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路400を示した回路ブロック図であり、SMU回路400は、SMU回路400の電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有する。この例では、SMU回路400は、図2に示したSMU回路200とほぼ同じであるので、図2で用いた参照番号を図4でも同様に利用する。しかし、図2に示したSMU回路200と違って、2つの抵抗器R及びRと2つのコンデンサC及びCとを用いると共に、差動増幅器206の基準電位を信号Sからグラウンドへと変更することによって、アクティブ・シャント回路が図4のSMU回路400に組み込まれている。
抵抗器R及びRは、第1及び第2利得段増幅器212及び214(G及びG)へのフィードバック・ループ上にそれぞれ加えられ、それらの利得をαに限定する。どちらのフィードバック・ループを使用されるかは、選択されたアクティブなレンジによる。コンデンサC及びCは、第1及び第2抵抗器R及びRに跨がって加えられ、これらを組み合わせたインピーダンスは、利得αがロール・オフする周波数と同じ周波数でロール・オフするように選択される。
図2に示すSMU回路200中の被試験デバイス(DUT)と電流検出抵抗器Rとの間の相互作用は、次の式で定められる。
Figure 2015139224
アクティブ・シャントをRに組み入れると、次のようになる。
Figure 2015139224
ここで、αは、アクティブ・シャントを組み入れることによって得られる利得である。
α=100の場合の例を考える。この例では、数2の場合と比較し、DUTのインピーダンス(ZDUT)が少なくとも100倍小さくならなければ、βが1よりも大幅に小さくなることがない。即ち、βが1に近い値になるケースが、それだけ多くなるということである。
図4に示す例では、SMU回路400は、図4において、スイッチS及びSの両方が上の位置になった場合に、使用するレンジに応じて抵抗器R又はR+Rのどちらかに既知の電圧を印加することによって、電流を供給する。このレンジの切り換えは、Sのレンジ切り換えスイッチによって行われる。追加の抵抗器(R及びR)は、これら抵抗器に印加される電圧を制御するのに利用され、利得を制限するように機能する。結果として、利得αがこれら抵抗値の比率で定まるために、印加される電圧は、I−DACの電圧の正確な逆電圧ではなくなるが、所望電流を生成するようにI−DACの電圧を予め正しく調整できるので、印加電圧を正確なものにできる。
当業者であれば、同じフィードバック構造を1レンジSMU回路又はマルチ・レンジSMU回路にも利用できることが容易に理解できるであろう。
図5は、本発明による実施形態の第2例である2レンジ自動レンジ変更型ソース・メジャー・ユニット(SMU)回路500を示した回路ブロック図であり、SMU回路500は、SMU回路500の電流測定サブ回路に組み込まれたアクティブ・シャント回路を有する。この例では、SMU回路500は、図3に示したSMU回路300とほとんど同じであるが、2つの抵抗器R及びR、2つのコンデンサC及びC、制限利得段及び第2スイッチSによるアクティブ・シャント回路を加えた点が異なる。第2スイッチSは、SMU回路500が電流供給時に、アクティブ・シャント回路を効果的に外す(非アクティブにする)ために利用できる。
図示した実施形態を参照しながら本発明の原理を説明してきたが、こうした原理から離れることなく、図示した実施形態の構成や詳細を変更したり、望ましい形態に組み合わせても良いことが理解できよう。先の説明では、特定の実施形態に絞って説明しているが、別の構成も考えられる。特に、「本発明の実施形態によると」といった表現を本願では用いているが、こうした言い回しは、大まかに言って実施形態として可能であること述べているに過ぎず、特定の実施形態の構成に限定することを意味するものではない。本願で用いているように、こうした用語は、別の実施形態に組み合わせ可能な同じ又は異なる実施形態を言及していると考えても良い。
従って、本願で説明した実施形態は、幅広く種々に組み合え可能であるとの観点から、詳細な説明や図面等は、単に説明の都合によるものに過ぎず、本発明の範囲を限定するものと考えるべきではない。
206 第1増幅器
208 第2増幅器
210 バッファ
212 第1利得段増幅器
214 第2利得段増幅器
216 SMUの出力端子
第1コンデンサ
第2コンデンサ
DUT 被試験デバイス
第1スイッチ
第2スイッチ
第3スイッチ
SW スイッチ

Claims (2)

  1. 被試験デバイス(DUT)に電圧及び電流を供給する回路であって、
    上記DUTと電気的に結合される出力端子と、
    上記出力端子と電気的に結合される電力供給回路とを具え、
    上記電力供給回路は、上記出力端子に印加する電圧を制御することで上記出力端子を通して供給される電流が変化する電圧制御機能と、上記出力端子を通して供給する上記電流を制御することで上記出力端子に印加される電圧が変化する電流制御機能とを有し、
    上記電力供給処理回路は、上記出力端子と直列で、上記出力端子を通して供給される電流を測定するための、少なくとも1つの検出抵抗器を有し、
    上記電力供給処理回路が上記出力端子に印加する上記電圧を制御する場合には、制御フィードバック利得を少なくとも1つの上記検出抵抗器に適用して、上記電圧制御機能における見かけ上の抵抗を小さくすることを特徴とする電圧電流供給回路。
  2. 上記電力供給回路が上記出力端子を通して供給する上記電流を制御する場合には、上記制御フィードバック利得を少なくとも1つの上記検出抵抗器に適用しないことを特徴とする請求項1記載の電圧電流供給回路。
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