JP2015138032A - 試験測定システム及び等化フィルタ計算方法 - Google Patents
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Abstract
Description
試験測定装置のプローブの特性を表すパラメータをプロセッサが受ける処理と、
被試験デバイスの公称信号源インピーダンスをユーザ・インタフェースを介してプロセッサが受ける処理と、
プローブの特性を表すパラメータと、被試験デバイスの公称信号源インピーダンスとに基いて、被試験デバイスの測定が原因で生じる被試験デバイスの負荷を補償(相殺:compensate)するのに適した等化フィルタを算出する処理と
を含んでいる。
試験測定装置と、
該試験測定装置に接続されたプローブと、
該プローブと接続された被試験デバイスと、
上記プローブの特性を表すパラメータを記憶するよう構成された少なくとも1つのメモリと、
上記被試験デバイスの公称信号源インピーダンスを受けるよう構成されたユーザ・インタフェースと、
上記メモリからの上記プローブの特性を表すパラメータと、上記ユーザ・インタフェースからの上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとを受けると共に、上記メモリからの上記プローブの特性を表すパラメータと、上記ユーザ・インタフェースからの上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとを用いて等化フィルタを計算するよう構成されるプロセッサと
を具えている。
上記プロセッサが、上記試験測定装置の特性を表す上記パラメータを受けて、上記試験測定装置の特性を表す上記パラメータを用いて上記等化フィルタを計算するよう構成されている。
上記ユーザ・インタフェースが、上記被試験デバイスの試験ポイントの特性を表すパラメータを受けるよう更に構成され、
上記プロセッサが、上記被試験デバイスの上記試験ポイントの特性を表す上記パラメータを受けて、上記被試験デバイスの上記試験ポイントの特性を表す上記パラメータを用いて上記等化フィルタを計算するよう更に構成されることを特徴としている。
上記等化フィルタで変更された、上記被試験デバイスから受けた信号を表す波形を表示するよう構成された表示装置を更に具えることを特徴としている。
試験測定装置のプローブの特性を表すパラメータをプロセッサが受ける処理と、
被試験デバイスの公称信号源インピーダンスをユーザ・インタフェースを介して上記プロセッサが受ける処理と、
上記プローブの特性を表す上記パラメータと、上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとに基いて、上記被試験デバイスの測定が原因で生じる上記被試験デバイスの負荷を補償(相殺:compensate)するのに適した等化フィルタを算出する処理と
を具えている。
302 プローブ
304 被測定デバイス
306 プローブのメモリ
308 試験測定装置のメモリ
310 プロセッサ
312 表示装置
400 ユーザ・メニュー
402 DUT公称信号源インピーダンス入力フィールド
404 等化フィルタのオン・オフ選択オプション
406 公称等化処理表示選択オプション
408 プローブをロードした状態の表示選択オプション
500 DUT試験ポイントSパラメータ・ファイル指定用フィールド
Claims (2)
- 試験測定装置と、
該試験測定装置に接続されたプローブと、
該プローブと接続された被試験デバイスと、
上記プローブの特性を表すパラメータを記憶するよう構成された少なくとも1つのメモリと、
上記被試験デバイスの公称信号源インピーダンスを受けるよう構成されたユーザ・インタフェースと、
上記メモリからの上記プローブの特性を表すパラメータと、上記ユーザ・インタフェースからの上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとを受けると共に、上記メモリからの上記プローブの特性を表すパラメータと、上記ユーザ・インタフェースからの上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとを用いて等化フィルタを計算するよう構成されるプロセッサと
を具える試験測定システム。 - 試験測定システムで使用する等化フィルタを計算する方法であって、
試験測定装置のプローブの特性を表すパラメータをプロセッサが受ける処理と、
被試験デバイスの公称信号源インピーダンスをユーザ・インタフェースを介して上記プロセッサが受ける処理と、
上記プローブの特性を表す上記パラメータと、上記被試験デバイスの上記公称信号源インピーダンスとに基いて、上記被試験デバイスの測定が原因で生じる上記被試験デバイスの負荷を補償するのに適した等化フィルタを算出する処理と
を具える等化フィルタ計算方法。
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---|---|---|---|---|
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US10436827B2 (en) * | 2016-11-15 | 2019-10-08 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement device and method for measuring the impedance of a device under test |
JP7402597B2 (ja) * | 2018-06-11 | 2023-12-21 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | タッチスクリーンを有する試験測定プローブ |
US11598805B2 (en) * | 2019-06-06 | 2023-03-07 | Tektronix, Inc. | Low frequency S-parameter measurement |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1138097A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-12 | Nec Corp | 集積回路試験装置 |
JP2001318118A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-16 | Trw Inc | Fet等価回路モデル・パラメータの決定方法 |
WO2005093437A1 (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Nec Corporation | 電気特性測定方法及び電気特性測定装置 |
US20080048677A1 (en) * | 2006-08-23 | 2008-02-28 | Kan Tan | Signal analysis system and calibration method for measuring the impedance of a device under test |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0429561Y2 (ja) * | 1987-08-18 | 1992-07-17 | ||
US4998026A (en) * | 1989-04-19 | 1991-03-05 | Hewlett-Packard Company | Driver circuit for in-circuit overdrive/functional tester |
US5213876A (en) * | 1990-01-11 | 1993-05-25 | Hewlett-Packard Company | Flexible circuit card with laser-contoured VIAs and machined capacitors |
US5012186A (en) * | 1990-06-08 | 1991-04-30 | Cascade Microtech, Inc. | Electrical probe with contact force protection |
US5264788A (en) * | 1992-06-12 | 1993-11-23 | Cascade Microtech, Inc. | Adjustable strap implemented return line for a probe station |
US20050062492A1 (en) * | 2001-08-03 | 2005-03-24 | Beaman Brian Samuel | High density integrated circuit apparatus, test probe and methods of use thereof |
US5519327A (en) * | 1994-06-10 | 1996-05-21 | Vlsi Technology, Inc. | Pulse circuit using a transmission line |
US5804977A (en) * | 1997-04-23 | 1998-09-08 | Consiglio; Rosario J. | Transmission line pulser discharge circuit |
US6087841A (en) * | 1997-10-01 | 2000-07-11 | International Business Machines Corporation | Contact test circuit |
US6725170B1 (en) * | 2000-11-22 | 2004-04-20 | Tektronix, Inc. | Smart probe apparatus and method for automatic self-adjustment of an oscilloscope's bandwidth |
US20050185769A1 (en) * | 2004-02-25 | 2005-08-25 | Pickerd John J. | Calibration method and apparatus |
EP1818672B1 (de) * | 2006-02-14 | 2012-08-29 | Mettler-Toledo AG | Messvorrichtung und Verfahren für den Betrieb der Messvorrichtung |
US7660685B2 (en) | 2006-08-02 | 2010-02-09 | Lecroy Corporation | Virtual probing |
US7865319B1 (en) | 2006-11-30 | 2011-01-04 | Lecroy Corporation | Fixture de-embedding method and system for removing test fixture characteristics when calibrating measurement systems |
US7994801B2 (en) | 2007-05-08 | 2011-08-09 | Tektronix, Inc. | Calibrated S-parameter measurements of a high impedance probe |
CA2640787C (en) * | 2008-10-08 | 2015-12-15 | Sqi Diagnostics Systems Inc. | Array fluorescence equalization method |
US8650010B2 (en) * | 2010-11-02 | 2014-02-11 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for generating a test signal with emulated crosstalk |
-
2014
- 2014-01-24 US US14/164,016 patent/US9772391B2/en active Active
-
2015
- 2015-01-21 EP EP15151992.3A patent/EP2905625B1/en active Active
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1138097A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-12 | Nec Corp | 集積回路試験装置 |
JP2001318118A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-16 | Trw Inc | Fet等価回路モデル・パラメータの決定方法 |
WO2005093437A1 (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Nec Corporation | 電気特性測定方法及び電気特性測定装置 |
US20080048677A1 (en) * | 2006-08-23 | 2008-02-28 | Kan Tan | Signal analysis system and calibration method for measuring the impedance of a device under test |
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