JP2015128276A - 表面実装水晶振動子及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】セラミックシートと金属リッドとが金属材料により封着する構成の場合に、金属リッドの外側から金属リッド内部の水晶振動素子に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる表面実装水晶振動子及びその製造方法を提供する。【解決手段】セラミック基板1の表面で水晶片を保持する保持端子2と基板1の裏面に形成された信号線端子6bとが基板1内に形成された信号線用貫通ビア8bで接続され、金属カバー5が接触する部分に形成された金属層7と基板1の裏面に形成されたグランド端子6aとが基板1内に形成されたグランド用貫通ビア8aで接続される。【選択図】図6
Description
本発明は、表面実装水晶振動子に係り、特に、金属カバー内部の水晶振動子に対して外部からのノイズを除去できる表面実装水晶振動子及びその製造方法に関する。
[従来の技術]
従来の水晶振動子は、売価の低下が著しく、原価低減として単層のセラミックシートを用いた水晶振動子などが量産されている。
しかしながら、金属カバー(リッド)とセラミック基板(ベース)との封着には樹脂が使用されているため、エージングによる電気的特性の劣化が見られる。
従来の水晶振動子は、売価の低下が著しく、原価低減として単層のセラミックシートを用いた水晶振動子などが量産されている。
しかしながら、金属カバー(リッド)とセラミック基板(ベース)との封着には樹脂が使用されているため、エージングによる電気的特性の劣化が見られる。
高気密の封着には、ガラス若しくは金属が用いられるが、セラミックシートの場合、リッドの位置決めとブレイク時の応力を考慮すると、ガラスを使用するのは適正ではない。
そこで、セラミックシートと金属リッドを金属材料にて封着する構成を採用することが適正と考えられる。
そこで、セラミックシートと金属リッドを金属材料にて封着する構成を採用することが適正と考えられる。
[関連技術]
尚、関連する先行技術として、特開2011−155172号公報「電子装置、および、電子装置の製造方法」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献1]、特開2013−140876号公報「電子デバイスの製造方法、電子デバイス、圧電発振器、及び電子機器」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献2]、特許第3541682号公報「圧電振動子」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献3]がある。
尚、関連する先行技術として、特開2011−155172号公報「電子装置、および、電子装置の製造方法」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献1]、特開2013−140876号公報「電子デバイスの製造方法、電子デバイス、圧電発振器、及び電子機器」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献2]、特許第3541682号公報「圧電振動子」(セイコーエプソン株式会社)[特許文献3]がある。
特許文献1には、電子デバイスにおいて、セラミックベースと金属リッドの接合を、金属を用いてろう付けすることが示されている。
特許文献2には、電子装置において、セラミックベースと金属リッドの接合を、金属を用いてレーザで溶接することが示されている。
特許文献3には、圧電素子において、セラミックベースと金属リッドの接合を、金属を用いてレーザ又は電子ビームで金又は銀の封止材を溶かすことが示されている。
特許文献2には、電子装置において、セラミックベースと金属リッドの接合を、金属を用いてレーザで溶接することが示されている。
特許文献3には、圧電素子において、セラミックベースと金属リッドの接合を、金属を用いてレーザ又は電子ビームで金又は銀の封止材を溶かすことが示されている。
しかしながら、上記従来の水晶振動子では、セラミックシートと金属リッドを金属材料で封着する場合に、金属リッドの外部からのノイズが内部の水晶振動素子に影響を及ぼさないようにすることが十分配慮されていないという問題点があった。
また、特許文献1〜3には、金属カバーの外部からのノイズを内部の水晶振動素子に影響しないようにする配慮は記載されていない。
本発明は上記実情に鑑みて為されたもので、セラミックシートと金属リッドとが金属材料により封着する構成の場合に、金属リッドの外側から金属リッド内部の水晶振動素子に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる表面実装水晶振動子及びその製造方法を提供することを目的とする。
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、セラミック基板と、基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、基板の表面で、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層が形成され、保持端子と信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属層とグランド端子とが基板内に形成された第2の貫通ビアで接続されていることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、第2の貫通ビアの基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で金属層の下に形成されることを特徴とする。
本発明は、セラミック基板と、基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、基板の表面で、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層が形成され、保持端子と信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属層とグランド端子とが基板の角部で側面に形成されたスルー端子により接続されていることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、スルー端子の基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で金属層に接続するよう形成されることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、水晶振動素子の対向する2辺を保持する両持ちタイプとしたことを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、保持端子は、水晶振動素子の一辺の2箇所を保持する片持ちタイプとしたことを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、水晶振動素子が、矩形型であることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、水晶振動素子が、音叉型であることを特徴とする。
本発明は、セラミック基板と、基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、基板の表面で、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層が形成され、保持端子と信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属層とグランド端子とが基板内に形成された第2の貫通ビアで接続され、金属カバーは、金属層との接触面で、仮止め用の溶剤層が形成されていることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、溶剤層が、金属カバーの金属層の接着面に対して、部分的に形成されていることを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、金属カバーがセラミック基板に搭載され、金属層によって基板に接合された状態で表面全体を覆うように耐熱性樹脂層を形成したことを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、金属カバーがセラミック基板に搭載され、金属層によって基板に接合された状態で金属カバーの表面と側面、金属層の側面を覆うようにメッキ層を形成したことを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、金属カバーがフランジを有する構造としたことを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子において、金属カバーがフランジを有さないコの字型の構造としたことを特徴とする。
本発明は、表面実装水晶振動子の製造方法であって、セラミック基板の表面と裏面を貫通し、基板の表面と裏面とを電気的に接続する第1の貫通ビアと第2の貫通ビアを形成し、基板の裏面に、第1の貫通ビアに接続する信号線端子と、第2の貫通ビアに接続するグランド端子とを形成し、基板の表面に、第1の貫通ビアに接続する保持端子を形成し、基板の表面に、第2の貫通ビアに接続し、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層を形成することを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子の製造方法において、第2の貫通ビアの基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で金属層の下に形成されることを特徴とする。
本発明は、表面実装水晶振動子の製造方法であって、セラミック基板の表面と裏面を貫通し、基板の表面と裏面とを電気的に接続する第1の貫通ビアと第2の貫通ビアを形成し、基板の裏面に、第1の貫通ビアに接続する信号線端子と、第2の貫通ビアに接続するグランド端子とを形成し、基板の表面に、第1の貫通ビアに接続する保持端子を形成し、基板の表面に、第2の貫通ビアに接続し、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層を形成し、保持端子に水晶振動素子を搭載し、接触面には溶剤層が形成された金属カバーを、水晶振動素子を覆って金属層に溶剤層が接触するよう設置して、金属カバーを金属層に仮止めし、金属カバーを基板に封止することを特徴とする。
本発明は、上記表面実装水晶振動子の製造方法において、溶剤層が、金属カバーの金属層の接着面に対して、部分的に形成されていることを特徴とする。
本発明によれば、基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、基板の表面で、金属カバーが接触する部分に基板と金属カバーを接合する金属層が形成され、保持端子と信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属層とグランド端子とが基板内に形成された第2の貫通ビアで接続されている表面実装水晶振動子としているので、セラミックシートと金属カバーとが金属層により封着する構成の場合に、金属カバーの外側から金属カバー内部の水晶振動素子に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる効果がある。
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
[実施の形態の概要]
本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子は、セラミック基板の表面で水晶片を保持する保持端子と基板の裏面に形成された信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属カバーが接触する部分に形成された金属層と基板裏面に形成されたグランド端子とが基板内に形成された第2の貫通ビアで接続されるようにしているので、金属カバーがクランド端子に接続された状態になり、金属カバーの外側からのノイズが金属カバー内に及ぶのを防止でき、金属カバーとセラミック基板とを金属層で封着しているので、気密性を向上させることができる。
[実施の形態の概要]
本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子は、セラミック基板の表面で水晶片を保持する保持端子と基板の裏面に形成された信号線端子とが基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、金属カバーが接触する部分に形成された金属層と基板裏面に形成されたグランド端子とが基板内に形成された第2の貫通ビアで接続されるようにしているので、金属カバーがクランド端子に接続された状態になり、金属カバーの外側からのノイズが金属カバー内に及ぶのを防止でき、金属カバーとセラミック基板とを金属層で封着しているので、気密性を向上させることができる。
[本振動子:図1、図2、図3]
本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子(本振動子)について図1、図2、図3を参照しながら説明する。図1は、本振動子の金属カバーを開状態とした斜視図である。図2は、本振動子の断面説明図であり、図3は、本振動子の平面説明図である。尚、図3(a)では、特徴部分を分かり易くするために、金属カバー、水晶片等を取り除き、図3(b)では水晶片を搭載した図を描いている。また、図2では、セラミックシートを2層とした実施例を示している。
本振動子は、図1、図2、図3に示すように、セラミック基板1と、保持端子2と、導電接着剤3と、水晶片4と、金属カバー(金属リッド)5と、グランド端子6aと、信号線端子6b(図5に図示)と、金属層7と、グランド用貫通ビア8aと、信号線用貫通ビア8bとから構成されている。
尚、グランド用貫通ビア8aが請求項での第2の貫通ビアであり、信号線用貫通ビア8bが請求項での第1の貫通ビアである。
本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子(本振動子)について図1、図2、図3を参照しながら説明する。図1は、本振動子の金属カバーを開状態とした斜視図である。図2は、本振動子の断面説明図であり、図3は、本振動子の平面説明図である。尚、図3(a)では、特徴部分を分かり易くするために、金属カバー、水晶片等を取り除き、図3(b)では水晶片を搭載した図を描いている。また、図2では、セラミックシートを2層とした実施例を示している。
本振動子は、図1、図2、図3に示すように、セラミック基板1と、保持端子2と、導電接着剤3と、水晶片4と、金属カバー(金属リッド)5と、グランド端子6aと、信号線端子6b(図5に図示)と、金属層7と、グランド用貫通ビア8aと、信号線用貫通ビア8bとから構成されている。
尚、グランド用貫通ビア8aが請求項での第2の貫通ビアであり、信号線用貫通ビア8bが請求項での第1の貫通ビアである。
[本振動子の各部]
セラミック基板1は、表面に保持端子2、導電性接着剤3を介して水晶片4が搭載され、更に金属カバー5が設けられ、裏面にグランド端子6aと、信号線端子6bが形成され、内部にグランド用貫通ビア8aと、信号線用貫通ビア8bが形成される。
セラミック基板1は、セラミックシートを複数に分割して形成されるもので、シートは、1層、2層、3層のいずれかになる。
セラミック基板1は、表面に保持端子2、導電性接着剤3を介して水晶片4が搭載され、更に金属カバー5が設けられ、裏面にグランド端子6aと、信号線端子6bが形成され、内部にグランド用貫通ビア8aと、信号線用貫通ビア8bが形成される。
セラミック基板1は、セラミックシートを複数に分割して形成されるもので、シートは、1層、2層、3層のいずれかになる。
保持端子2は、基板1上に金属膜で形成され、信号線用貫通ビア8bに接続している。
図3(b)においては、水晶片4を一方の短辺で保持する片持ちタイプを示しており、保持端子2の一方が基板1の短辺で信号用貫通ビア8bに接続し、保持端子2の他方が基板1の長辺に沿って反対側の短辺に引き出され、そこで信号用貫通ビア8bに接続している。また、水晶片4には、その表裏に励振電極4aが形成されている。
後述するが、片持ちタイプに限らず、両持ちタイプの水晶振動子に応用してもよい。
図3(b)においては、水晶片4を一方の短辺で保持する片持ちタイプを示しており、保持端子2の一方が基板1の短辺で信号用貫通ビア8bに接続し、保持端子2の他方が基板1の長辺に沿って反対側の短辺に引き出され、そこで信号用貫通ビア8bに接続している。また、水晶片4には、その表裏に励振電極4aが形成されている。
後述するが、片持ちタイプに限らず、両持ちタイプの水晶振動子に応用してもよい。
導電性接着剤3は、保持端子2に水晶片4を接着するための導電性の接着剤である。
水晶片4は、水晶振動子であって、表面と裏面にそれぞれ電極が形成されており、各電極が異なる保持端子2に導電性接着剤3で接着されている。
水晶片4は、水晶振動子であって、表面と裏面にそれぞれ電極が形成されており、各電極が異なる保持端子2に導電性接着剤3で接着されている。
金属カバー(金属リッド)5は、搭載された水晶片4を覆うように形成されている。尚、金属リッドは、絞り加工でキャビティ(水晶片4を収容する空間)が作成される。本振動子では、金属リッド5は、セラミック基板1に対してL字形状のフランジを有する構造となっている。
リッドも材料は、コバール、洋白、42アロイ、SUS(Special Use Stainless steel)等を用いる。
グランド端子6aは、基板1の裏面に2箇所形成されている。その2箇所のグランド端子6aが、グランド用貫通ビア8aに接続している。
信号線端子6bは、基板1の裏面に2箇所形成されている。その2箇所の信号線端子6bが信号線用貫通ビア8bに接続している。
リッドも材料は、コバール、洋白、42アロイ、SUS(Special Use Stainless steel)等を用いる。
グランド端子6aは、基板1の裏面に2箇所形成されている。その2箇所のグランド端子6aが、グランド用貫通ビア8aに接続している。
信号線端子6bは、基板1の裏面に2箇所形成されている。その2箇所の信号線端子6bが信号線用貫通ビア8bに接続している。
金属層7は、封止材料として、例えば、金錫(Au−Sn)、金ゲルマニウム(Au−Ge)、銀ロー、銀錫(Ag−Sn)等の合金が用いられる。これらの封止材料は、接合する部材よりも融点の低い合金(ろう)を溶かして一種の接着剤として用いるものである。
これら封止材料は、プリフォーム、メッキ、クラッド材、ペーストによって形成される。
封止方法は、レーザ、電子ビームの他に、一括加熱加工、真空リフロー等が用いられる。
また、金属層7をメタライズによって形成してもよい。メタライズとは、セラミック基板1の表面に金属膜を形成して、その後に金属蝋付けして非金属の表面を金属膜化することである。
これら封止材料は、プリフォーム、メッキ、クラッド材、ペーストによって形成される。
封止方法は、レーザ、電子ビームの他に、一括加熱加工、真空リフロー等が用いられる。
また、金属層7をメタライズによって形成してもよい。メタライズとは、セラミック基板1の表面に金属膜を形成して、その後に金属蝋付けして非金属の表面を金属膜化することである。
グランド用貫通ビア8aは、基板1内にビアホールを形成し、その内側に導体をメッキによって形成したものであり、金属層7とグランド端子6aを導電体で接続するものである。
従って、グランド端子6aがグランドレベルに接続するため、グランド端子6a、グランド用貫通ビア8a、金属層7、金属リッド5は、全てグランドレベルになる。
信号線用貫通ビア8bは、基板1内にビアホールを形成し、その内側に導体をメッキによって形成したものであり、保持端子2と信号線端子6bを導電体で接続するものである。
従って、グランド端子6aがグランドレベルに接続するため、グランド端子6a、グランド用貫通ビア8a、金属層7、金属リッド5は、全てグランドレベルになる。
信号線用貫通ビア8bは、基板1内にビアホールを形成し、その内側に導体をメッキによって形成したものであり、保持端子2と信号線端子6bを導電体で接続するものである。
[各種断面:図4〜6]
次に、本振動子の各種断面について図4〜6を参照しながら説明する。図4は、図3(a)におけるA−A´部分の断面説明図であり、図5は、図3(a)におけるB−B´部分の断面説明図であり、図6は、図3(a)におけるC−C´部分の断面説明図である。特に、図4〜6は、セラミックシートを2層とした場合の実施例である。
次に、本振動子の各種断面について図4〜6を参照しながら説明する。図4は、図3(a)におけるA−A´部分の断面説明図であり、図5は、図3(a)におけるB−B´部分の断面説明図であり、図6は、図3(a)におけるC−C´部分の断面説明図である。特に、図4〜6は、セラミックシートを2層とした場合の実施例である。
[A−A´部分の断面説明図:図4]
図4では、金属リッド5に接触する金属層7が、基板1においてその下に形成されたグランド用貫通ビア8aに接続し、グランド用貫通ビア8aがグランド端子6aに接続している状態を示している。
図4では、金属リッド5に接触する金属層7が、基板1においてその下に形成されたグランド用貫通ビア8aに接続し、グランド用貫通ビア8aがグランド端子6aに接続している状態を示している。
[B−B´部分の断面説明図:図5]
図5では、保持端子2が、基板1においてその下に形成された信号線用貫通ビア8bに接続し、信号線用貫通ビア8bが信号線端子6bに接続している状態を示している。
図5では、保持端子2が、基板1においてその下に形成された信号線用貫通ビア8bに接続し、信号線用貫通ビア8bが信号線端子6bに接続している状態を示している。
[C−C´部分の断面説明図:図6]
図6の右側では、金属リッド5に接触する金属層7が、基板1においてその下に形成されたグランド用貫通ビア8aに接続し、グランド用貫通ビア8aがグランド端子6aに接続している状態を示している。
また、図6の左側では、保持端子2が、基板1においてその下に形成された信号線用貫通ビア8bに接続し、信号線用貫通ビア8bが信号線端子6bに接続している状態を示している。
図6の右側では、金属リッド5に接触する金属層7が、基板1においてその下に形成されたグランド用貫通ビア8aに接続し、グランド用貫通ビア8aがグランド端子6aに接続している状態を示している。
また、図6の左側では、保持端子2が、基板1においてその下に形成された信号線用貫通ビア8bに接続し、信号線用貫通ビア8bが信号線端子6bに接続している状態を示している。
[本振動子の製造方法:図7]
次に、本振動子の製造方法について図7を参照しながら説明する。図7は、本振動子の製造方法を示す断面説明図である。尚、図7の製造方法は、図6の断面説明図を参考にして説明するものである。
図7(a)に示すように、基板1内にグランド用貫通ビア8aと信号線用貫通ビア8bが形成される。基板1の裏面に4端子を備える構成であれば、グランド用貫通ビア8aが2本、信号線用貫通ビア8bが2本が形成されることになる。
次に、本振動子の製造方法について図7を参照しながら説明する。図7は、本振動子の製造方法を示す断面説明図である。尚、図7の製造方法は、図6の断面説明図を参考にして説明するものである。
図7(a)に示すように、基板1内にグランド用貫通ビア8aと信号線用貫通ビア8bが形成される。基板1の裏面に4端子を備える構成であれば、グランド用貫通ビア8aが2本、信号線用貫通ビア8bが2本が形成されることになる。
図7(b)に示すように、基板1の裏面にはグランド端子6aと信号線端子6bが形成され、基板1の表面には保持端子2が形成される。
図7(c)に示すように、基板1の表面で金属リッド5が接触する部分に金属層7を形成する。金属層7は、基板1の内周に帯状で形成される。
金属層7を封止材料とした場合に、プリフォーム、メッキ、クラッド材、ペーストによって形成する。
また、金属層7をメタライズによって形成してもよい。
図7(c)に示すように、基板1の表面で金属リッド5が接触する部分に金属層7を形成する。金属層7は、基板1の内周に帯状で形成される。
金属層7を封止材料とした場合に、プリフォーム、メッキ、クラッド材、ペーストによって形成する。
また、金属層7をメタライズによって形成してもよい。
その後、保持端子2に水晶片4を導電性接着材3で接着して搭載し、金属層7の上に金属リッド5の接触面を位置合わせして設定し、レーザ、電子ビームの他に、一括加熱加工、真空リフロー等によって金属リッド5を基板1に封止する。
封止後に、ブレードダイシング、レーザダイシング、セラミックシートに形成されたスクライブライン(ブレイクライン)に沿ってブレイクする等の分割処理を行い、個別の表面実装水晶振動子を得る。
封止後に、ブレードダイシング、レーザダイシング、セラミックシートに形成されたスクライブライン(ブレイクライン)に沿ってブレイクする等の分割処理を行い、個別の表面実装水晶振動子を得る。
[封止工法]
封止工法として、セラミックシートに複数の水晶片4が搭載された状態で、水晶片4が下側に向くように設定し、複数の金属リッド5を整列パレットに整列させ、パレットとセラミックシートとの位置決めを行い、加熱・加圧を行い一括で封止する。
この場合、セラミックシートと金属リッド5との間に隙間を設けることで、封止処理において発生するアウトガスを外部に放出できる。
封止工法として、セラミックシートに複数の水晶片4が搭載された状態で、水晶片4が下側に向くように設定し、複数の金属リッド5を整列パレットに整列させ、パレットとセラミックシートとの位置決めを行い、加熱・加圧を行い一括で封止する。
この場合、セラミックシートと金属リッド5との間に隙間を設けることで、封止処理において発生するアウトガスを外部に放出できる。
[別の封止工法]
また、別の封止工法としては、金属リッド5を1個づつ、水晶片4が搭載されたセラミックシートに仮止めする。仮止めには、超音波、加熱、レーザ等を用いるが、仮止め時に完全に気密されると内部ガスが放出されないことになるので、金属リッド5と金属層7との間に若干の隙間を形成しておく。隙間を形成する方法としては、金属層7の厚みを均一にするのではなく、部分的に変更して意図的に隙間を形成する。
レーザによる仮止めは、レーザによって局所加熱して仮固定する。
また、別の封止工法としては、金属リッド5を1個づつ、水晶片4が搭載されたセラミックシートに仮止めする。仮止めには、超音波、加熱、レーザ等を用いるが、仮止め時に完全に気密されると内部ガスが放出されないことになるので、金属リッド5と金属層7との間に若干の隙間を形成しておく。隙間を形成する方法としては、金属層7の厚みを均一にするのではなく、部分的に変更して意図的に隙間を形成する。
レーザによる仮止めは、レーザによって局所加熱して仮固定する。
仮止めの後に、セラミックシートを真空リフローで加熱し、封止材料の金属層7を溶融させて封止を行う。真空リフローの前に、ギ酸リフローを行うことで、封止材料の漏れ性(気密性)を向上させると共に、セルフアライメント性を増加させることができる。
ギ酸リフローは、150℃から200℃程度で還元が可能であるので、封止材料の軟化前に還元させることができる。
ギ酸リフローは、150℃から200℃程度で還元が可能であるので、封止材料の軟化前に還元させることができる。
[両持ちタイプ:図8]
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子について、両持ちタイプの例を説明する。図8は、両持ちタイプの平面説明図である。図8(a)では、金属カバーと水晶片を取り除き、図8(b)では、水晶片を搭載した図を描いている。
両持ちタイプは、図8に示すように、セラミック基板1内にグランド用貫通ビア8aと信号線用貫通ビア8bが形成され、信号線用貫通ビア8b上に水晶片4の短辺の一方を保持する保持端子2´と水晶片4の短辺の他方を保持する保持端子2´が形成される。そして、水晶片4には、その表裏に励振電極4aが形成されている。
また、グランド用貫通ビア8a上には、金属層7が形成される。
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子について、両持ちタイプの例を説明する。図8は、両持ちタイプの平面説明図である。図8(a)では、金属カバーと水晶片を取り除き、図8(b)では、水晶片を搭載した図を描いている。
両持ちタイプは、図8に示すように、セラミック基板1内にグランド用貫通ビア8aと信号線用貫通ビア8bが形成され、信号線用貫通ビア8b上に水晶片4の短辺の一方を保持する保持端子2´と水晶片4の短辺の他方を保持する保持端子2´が形成される。そして、水晶片4には、その表裏に励振電極4aが形成されている。
また、グランド用貫通ビア8a上には、金属層7が形成される。
金属層7は、図3と同様に基板1の内周に帯状に形成される。
また、保持端子2´は、信号線用貫通ビア8bに接続する側とは反対側の端部が短辺方向に短く形成されている。これは、金属リッド5の搭載位置がずれたとしても、保持端子2´に金属リッド5が接触するのを防止するためである。
また、保持端子2´は、信号線用貫通ビア8bに接続する側とは反対側の端部が短辺方向に短く形成されている。これは、金属リッド5の搭載位置がずれたとしても、保持端子2´に金属リッド5が接触するのを防止するためである。
[別の両持ちタイプの平面説明図:図9]
次に、別の両持ちタイプの表面実装水晶振動子について図9を参照しながら説明する。図9は、別の両持ちタイプの平面説明図である。特に、図9(a)では、その表面を示し、図9(b)では、その裏面を示している。
図9(a)に示すように、別の両持ちタイプは、基板1の四隅にスルーホールが形成され、そのスルーホールの側面(側壁)にスルー端子9が形成されている。
次に、別の両持ちタイプの表面実装水晶振動子について図9を参照しながら説明する。図9は、別の両持ちタイプの平面説明図である。特に、図9(a)では、その表面を示し、図9(b)では、その裏面を示している。
図9(a)に示すように、別の両持ちタイプは、基板1の四隅にスルーホールが形成され、そのスルーホールの側面(側壁)にスルー端子9が形成されている。
特に、基板1の四隅内の2箇所がグランド用接続端子8cに接続し、図9(b)のグランド端子6a´にスルー端子9を介して接続している。但し、保持端子2´は、信号線用貫通ビア8bを介して裏面の信号線端子6bに接続している。
図9の例では、グランド接続を基板1のビアで行うのではなく、基板1の角部のスルー端子9で行うようにしている。この構成が片持ちタイプの表面実装水晶振動子にも適用できる。
図9の例では、グランド接続を基板1のビアで行うのではなく、基板1の角部のスルー端子9で行うようにしている。この構成が片持ちタイプの表面実装水晶振動子にも適用できる。
[応用例1:図10]
次に、金属リッドの形状がコの字型のものであっても適用可能である。図10は、コの字型の金属リッドを用いた場合の断面説明図である。
図10の場合、金属リッド5´をフランジを有さないコの字型とすることで、図1、図2の金属リッド5がフランジの開口端面を備えた構造と比較して内部空間を広くとることができるので、表面実装水晶振動子の更なる小型化を実現できる効果がある。
尚、金属リッド5´の金属層7に対する接触面を広くするために、水平方向の天板部分の厚みに比べて垂直方向の側壁の厚みを厚くしている。
次に、金属リッドの形状がコの字型のものであっても適用可能である。図10は、コの字型の金属リッドを用いた場合の断面説明図である。
図10の場合、金属リッド5´をフランジを有さないコの字型とすることで、図1、図2の金属リッド5がフランジの開口端面を備えた構造と比較して内部空間を広くとることができるので、表面実装水晶振動子の更なる小型化を実現できる効果がある。
尚、金属リッド5´の金属層7に対する接触面を広くするために、水平方向の天板部分の厚みに比べて垂直方向の側壁の厚みを厚くしている。
[音叉型水晶振動子:図11]
以上、表面実装水晶振動子について説明したが、図11に示すように、音叉型水晶振動子に適用してもよい。図11は、音叉型水晶振動子の金属カバーを開状態とした斜視図である。
図11に示すように、音叉型水晶振動子は、セラミック基板1上に金属層7が形成されると共に保持端子2が形成され、保持端子2上に導電接着剤3を介して音叉型の水晶片(水晶振動素子)4´が搭載されている。
尚、保持端子2は、セラミック基板1の長辺に沿って引き出され、端部で信号線用貫通ビア8bに接続し、セラミック基板1の裏面に形成された信号線端子に接続している。
以上、表面実装水晶振動子について説明したが、図11に示すように、音叉型水晶振動子に適用してもよい。図11は、音叉型水晶振動子の金属カバーを開状態とした斜視図である。
図11に示すように、音叉型水晶振動子は、セラミック基板1上に金属層7が形成されると共に保持端子2が形成され、保持端子2上に導電接着剤3を介して音叉型の水晶片(水晶振動素子)4´が搭載されている。
尚、保持端子2は、セラミック基板1の長辺に沿って引き出され、端部で信号線用貫通ビア8bに接続し、セラミック基板1の裏面に形成された信号線端子に接続している。
[応用例2(溶剤層):図12〜15]
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例2について図12〜14を参照しながら説明する。図12は、仮止め前における応用例2の振動子の断面説明図であり、図13は、仮止め後における応用例2の振動子の断面説明図であり、図14は、封止処理後における応用例2の振動子の断面説明図であり、図15は、応用例2における金属カバーの平面説明図である。
応用例2の振動子は、図12〜14に示すように、本振動子と基本的に同様であり、相違する点は、金属カバー(金属リッド)5において金属層7との接着面に溶剤層11が形成されている点である。
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例2について図12〜14を参照しながら説明する。図12は、仮止め前における応用例2の振動子の断面説明図であり、図13は、仮止め後における応用例2の振動子の断面説明図であり、図14は、封止処理後における応用例2の振動子の断面説明図であり、図15は、応用例2における金属カバーの平面説明図である。
応用例2の振動子は、図12〜14に示すように、本振動子と基本的に同様であり、相違する点は、金属カバー(金属リッド)5において金属層7との接着面に溶剤層11が形成されている点である。
応用例2の振動子において、溶剤層11について説明する。応用例2の振動子における、その他の構成は、本振動子と同様であるため、説明を省略する。
溶剤層11は、粘度の高い有機溶剤を用い、金属リッド5の金属層7との接触面に塗布しておく。
溶剤層11は、粘度の高い有機溶剤を用い、金属リッド5の金属層7との接触面に塗布しておく。
尚、図15(a)に示すように、金属リッド5の金属層7との接触面全体に溶剤層11を形成してもよいが、図15(b)に示すように、金属リッド5の金属層7との接触面において部分的に溶剤層11を形成するようにしてもよい。
応用例2の振動子では、図12に示すように、金属層7上に、溶剤層11が接触面に塗布された金属リッド5が搭載されると、図13に示すように、溶剤層11が金属層7に仮止めされ、金属リッド5が金属層7に仮固定される。
応用例2の振動子では、真空リフロー等の封止処理により、図14に示すように、溶剤層11は揮発し、金属リッド5が金属層7に密着して封止される。
応用例2の振動子では、真空リフロー等の封止処理により、図14に示すように、溶剤層11は揮発し、金属リッド5が金属層7に密着して封止される。
応用例2の振動子において、金属リッド5を金属層7に搭載した状態では、金属リッド5が金属層7に接着していないため、封止処理の際に発生するアウトガスを金属リッド5の外部に放出することができる。
尚、溶剤層11は、封止処理で揮発するものの、残渣が周辺に少しは残る。
尚、溶剤層11は、封止処理で揮発するものの、残渣が周辺に少しは残る。
[応用例2の振動子の効果]
応用例2の振動子によれば、セラミック基板1の表面で、金属リッド5が接触する部分に、セラミック基板1と金属リッド5とを接合するための金属層7を形成し、金属リッド5には金属層7との接触面で溶剤層11が形成され、金属層7に溶剤層11が接触するよう設置して、金属リッド5を金属層7に仮止めし、金属リッド5をセラミック基板1に金属層7により封止するようにしているので、セラミック基板1と金属リッド5を金属材料で封止する場合に、金属リッド5をセラミック基板1に溶剤層11で仮固定でき、更に、封止処理によって発生するアウトガスを効果的に完全に放出できる効果がある。
それにより、応用例2の振動子では、金属封止により気密性を実現しつつ、高品質の振動子を実現できる効果がある。
応用例2の振動子によれば、セラミック基板1の表面で、金属リッド5が接触する部分に、セラミック基板1と金属リッド5とを接合するための金属層7を形成し、金属リッド5には金属層7との接触面で溶剤層11が形成され、金属層7に溶剤層11が接触するよう設置して、金属リッド5を金属層7に仮止めし、金属リッド5をセラミック基板1に金属層7により封止するようにしているので、セラミック基板1と金属リッド5を金属材料で封止する場合に、金属リッド5をセラミック基板1に溶剤層11で仮固定でき、更に、封止処理によって発生するアウトガスを効果的に完全に放出できる効果がある。
それにより、応用例2の振動子では、金属封止により気密性を実現しつつ、高品質の振動子を実現できる効果がある。
[応用例3:図16]
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例3について図16を参照しながら説明する。図16は、応用例3の振動子の断面説明図である。
応用例3の振動子は、図16に示すように、本振動子の金属封止後に、表面側全面に耐熱性樹脂をコーティングして耐熱性樹脂層12を形成したものである。
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例3について図16を参照しながら説明する。図16は、応用例3の振動子の断面説明図である。
応用例3の振動子は、図16に示すように、本振動子の金属封止後に、表面側全面に耐熱性樹脂をコーティングして耐熱性樹脂層12を形成したものである。
耐熱性樹脂層12としては、350℃程度まで耐熱性があるポリイミド等を用い、スプレーで塗布する。
スプレーの塗布により、セラミック基板1の表面全体にコンフォーマル(形状適用的)に耐熱性樹脂の樹脂膜(耐熱性樹脂層12)を形成できる。
耐熱性樹脂層12の形成は、セラミックシートに保持端子2の金属パターンが形成され、水晶片4等の振動素子が形成されて金属リッド5が搭載され、金属封止が為された後に行われるものである。
耐熱性樹脂層12の形成後に、セラミックシートをブレイクラインで分離して、個別の振動子に分割される。
スプレーの塗布により、セラミック基板1の表面全体にコンフォーマル(形状適用的)に耐熱性樹脂の樹脂膜(耐熱性樹脂層12)を形成できる。
耐熱性樹脂層12の形成は、セラミックシートに保持端子2の金属パターンが形成され、水晶片4等の振動素子が形成されて金属リッド5が搭載され、金属封止が為された後に行われるものである。
耐熱性樹脂層12の形成後に、セラミックシートをブレイクラインで分離して、個別の振動子に分割される。
本振動子において、金属層7の封止金属(封止材)はは金合金が理想であるが、原価低減のために銀錫等の金以外の材料を使用することがある。この場合、金以外の封止金属の融点が300℃以下になるので、お客様先でのリフローで封止材の再溶融が懸念される。
例えば、金錫は300℃では溶融しないが、ハンダ、銀錫は280℃程度で溶融する。
これに対してポリイミド等の耐熱性樹脂では、350℃までは転移しない。ただし、ガスが発生するが、金属リッド5はセラミック基板1に金属封止されているため、金属リッド5内にガスが入り込むことはない。
例えば、金錫は300℃では溶融しないが、ハンダ、銀錫は280℃程度で溶融する。
これに対してポリイミド等の耐熱性樹脂では、350℃までは転移しない。ただし、ガスが発生するが、金属リッド5はセラミック基板1に金属封止されているため、金属リッド5内にガスが入り込むことはない。
[応用例3の効果]
応用例3の振動子によれば、金属リッド5を金属層7で金属封止して、表面全体を耐熱性樹脂層でコーティングして耐熱性樹脂層12を形成したものとしているので、お客様先でのリフローで封止材の再溶融を防止できる効果がある。
応用例3の振動子によれば、金属リッド5を金属層7で金属封止して、表面全体を耐熱性樹脂層でコーティングして耐熱性樹脂層12を形成したものとしているので、お客様先でのリフローで封止材の再溶融を防止できる効果がある。
[応用例4:図17]
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例4について図17を参照しながら説明する。図17は、応用例4の振動子の断面説明図である。
応用例4の振動子は、図17に示すように、本振動子の金属封止後に、金属リッド5と金属層(金属接合部)7を覆うようにメッキしてメッキ層13を形成したものである。
次に、本発明の実施の形態に係る表面実装水晶振動子の応用例4について図17を参照しながら説明する。図17は、応用例4の振動子の断面説明図である。
応用例4の振動子は、図17に示すように、本振動子の金属封止後に、金属リッド5と金属層(金属接合部)7を覆うようにメッキしてメッキ層13を形成したものである。
メッキ層13は、ニッケル、銅等を使用して、例えば、電解メッキで金属リッド5の表面と側面、金属層7の側面を覆うように形成する。
金以外の材料を金属封止に用いると、お客様先でのリフローで封止材の再溶融が懸念されるが、金属カバー5と金属層7を覆うメッキ層13を形成することで、封止材が再溶融することがない。
金以外の材料を金属封止に用いると、お客様先でのリフローで封止材の再溶融が懸念されるが、金属カバー5と金属層7を覆うメッキ層13を形成することで、封止材が再溶融することがない。
メッキ層13の形成は、セラミックシートに保持端子2の金属パターンが形成され、水晶片4等の振動素子が形成されて金属リッド5が搭載され、金属封止が為された後に行われるものである。
メッキ層13の形成後に、セラミックシートをブレイクラインで分離して、個別の振動子に分割される。
メッキ層13の形成後に、セラミックシートをブレイクラインで分離して、個別の振動子に分割される。
[応用例4の効果]
応用例4の振動子によれば、金属リッド5を金属層7で金属封止して、金属リッド5の表面と側面、金属層7の側面を覆うようにメッキ層13を形成したものとしているので、お客様先でのリフローで封止材の再溶融を防止できる効果がある。
応用例4の振動子によれば、金属リッド5を金属層7で金属封止して、金属リッド5の表面と側面、金属層7の側面を覆うようにメッキ層13を形成したものとしているので、お客様先でのリフローで封止材の再溶融を防止できる効果がある。
[組合せ]
本振動子及び応用例1〜4について説明したが、これらの実施例を可能な限り任意に組み合わせて表面実装水晶振動子を構成することが可能である。
本振動子及び応用例1〜4について説明したが、これらの実施例を可能な限り任意に組み合わせて表面実装水晶振動子を構成することが可能である。
[実施の形態の効果]
以上説明した表面実装水晶振動子及び音叉型水晶振動子によれば、セラミックシートと金属リッド5,5´とが金属層7により封着する構成の場合に、金属リッド5,5´の外側から金属リッド5,5´の内部の水晶片4に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる効果がある。
以上説明した表面実装水晶振動子及び音叉型水晶振動子によれば、セラミックシートと金属リッド5,5´とが金属層7により封着する構成の場合に、金属リッド5,5´の外側から金属リッド5,5´の内部の水晶片4に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる効果がある。
本発明は、セラミックシートと金属リッドとが金属層により封着する構成の場合に、金属リッドの外側から金属リッド内部の水晶振動素子に対するノイズを除去し、気密性を向上させて電気的特性を向上させることができる表面実装水晶振動子及びその製造方法に好適である。
1...セラミック基板、 2...保持端子、 3...導電接着剤、 4...水晶片、 5...金属カバー(金属リッド)、 6a...グランド端子、 6b...信号線端子、 7...金属層、 8a...グランド用貫通ビア、 8b...信号線用貫通ビア、 9...スルー端子、 11...溶剤層、 12...耐熱性樹脂層、 13...メッキ層、
Claims (18)
- セラミック基板と、前記基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、前記水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、
前記基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、
前記基板の表面で、前記金属カバーが接触する部分に前記基板と前記金属カバーを接合する金属層が形成され、
前記保持端子と前記信号線端子とが前記基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、
前記金属層と前記グランド端子とが前記基板内に形成された第2の貫通ビアで接続されていることを特徴とする表面実装水晶振動子。 - 第2の貫通ビアの基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で前記金属層の下に形成されることを特徴とする請求項1記載の表面実装水晶振動子。
- セラミック基板と、前記基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、前記水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、
前記基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、
前記基板の表面で、前記金属カバーが接触する部分に前記基板と前記金属カバーを接合する金属層が形成され、
前記保持端子と前記信号線端子とが前記基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、
前記金属層と前記グランド端子とが前記基板の角部で側面に形成されたスルー端子により接続されていることを特徴とする表面実装水晶振動子。 - スルー端子の基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で前記金属層に接続するよう形成されることを特徴とする請求項3記載の表面実装水晶振動子。
- 保持端子は、水晶振動素子の対向する2辺を保持する両持ちタイプとしたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 保持端子は、水晶振動素子の一辺の2箇所を保持する片持ちタイプとしたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 水晶振動素子が、矩形型であることを特徴とする請求項5又は6記載の表面実装水晶振動子。
- 水晶振動素子が、音叉型であることを特徴とする請求項6記載の表面実装水晶振動子。
- セラミック基板と、前記基板上で水晶振動素子を保持する保持端子と、前記水晶振動素子を覆うように形成される金属カバーとを有する表面実装水晶振動子であって、
前記基板の裏面には、信号線端子と、グランド端子とが形成され、
前記基板の表面で、前記金属カバーが接触する部分に前記基板と前記金属カバーを接合する金属層が形成され、
前記保持端子と前記信号線端子とが前記基板内に形成された第1の貫通ビアで接続され、
前記金属層と前記グランド端子とが前記基板内に形成された第2の貫通ビアで接続され、
前記金属カバーは、前記金属層との接触面で、仮止め用の溶剤層が形成されていることを特徴とする表面実装水晶振動子。 - 溶剤層は、金属カバーの金属層の接着面に対して、部分的に形成されていることを特徴とする請求項9記載の表面実装水晶振動子。
- 金属カバーがセラミック基板に搭載され、金属層によって前記基板に接合された状態で表面全体を覆うように耐熱性樹脂層を形成したことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 金属カバーがセラミック基板に搭載され、金属層によって前記基板に接合された状態で前記金属カバーの表面と側面、前記金属層の側面を覆うようにメッキ層を形成したことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 金属カバーがフランジを有する構造としたことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 金属カバーがフランジを有さないコの字型の構造としたことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか記載の表面実装水晶振動子。
- 表面実装水晶振動子の製造方法であって、
セラミック基板の表面と裏面を貫通し、前記基板の表面と裏面とを電気的に接続する第1の貫通ビアと第2の貫通ビアを形成し、
前記基板の裏面に、前記第1の貫通ビアに接続する信号線端子と、前記第2の貫通ビアに接続するグランド端子とを形成し、
前記基板の表面に、前記第1の貫通ビアに接続する保持端子を形成し、
前記基板の表面に、前記第2の貫通ビアに接続し、金属カバーが接触する部分に前記基板と前記金属カバーを接合する金属層を形成することを特徴とする表面実装水晶振動子の製造方法。 - 第2の貫通ビアの基板表面における接続部は、金属層の角部又は当該角部近辺で前記金属層の下に形成されることを特徴とする請求項15記載の表面実装水晶振動子の製造方法。
- 表面実装水晶振動子の製造方法であって、
セラミック基板の表面と裏面を貫通し、前記基板の表面と裏面とを電気的に接続する第1の貫通ビアと第2の貫通ビアを形成し、
前記基板の裏面に、前記第1の貫通ビアに接続する信号線端子と、前記第2の貫通ビアに接続するグランド端子とを形成し、
前記基板の表面に、前記第1の貫通ビアに接続する保持端子を形成し、
前記基板の表面に、前記第2の貫通ビアに接続し、金属カバーが接触する部分に前記基板と前記金属カバーを接合する金属層を形成し、
前記保持端子に水晶振動素子を搭載し、
接触面には溶剤層が形成された金属カバーを、前記水晶振動素子を覆って前記金属層に前記溶剤層が接触するよう設置して、前記金属カバーを前記金属層に仮止めし、
前記金属カバーを前記基板に封止することを特徴とする表面実装水晶振動子の製造方法。 - 溶剤層は、金属カバーの金属層の接着面に対して、部分的に形成されていることを特徴とする請求項17記載の水晶振動子の製造方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018098599A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 株式会社村田製作所 | 圧電振動子、モジュール部品及びそれらの製造方法 |
JPWO2017068809A1 (ja) * | 2015-10-21 | 2018-08-09 | 株式会社村田製作所 | 圧電振動子 |
WO2023126994A1 (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-06 | 古野電気株式会社 | 高周波回路 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013172442A1 (ja) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | 株式会社村田製作所 | 水晶振動子 |
USD760230S1 (en) | 2014-09-16 | 2016-06-28 | Daishinku Corporation | Piezoelectric vibration device |
US10014189B2 (en) * | 2015-06-02 | 2018-07-03 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Ceramic package with brazing material near seal member |
USD842826S1 (en) | 2017-03-23 | 2019-03-12 | Eaton Intelligent Power Limited | External plug for an electrical apparatus enclosure |
USD842825S1 (en) * | 2017-03-23 | 2019-03-12 | Eaton Intelligent Power Limited | Internal cover for an electrical apparatus enclosure |
USD842827S1 (en) * | 2017-03-23 | 2019-03-12 | Eaton Intelligent Power Limited | External plug for an electrical apparatus enclosure |
US10141723B2 (en) | 2017-03-23 | 2018-11-27 | Eaton Intelligent Power Limited | Loadcenters with improved backpan to back wall assembly fasteners allowing one direction assembly and related enclosures and methods |
CN107517044B (zh) * | 2017-08-10 | 2024-04-09 | 四川明德亨电子科技有限公司 | 一种整板smd石英晶体谐振器基板结构及其加工方法 |
CN107332537A (zh) * | 2017-08-18 | 2017-11-07 | 杨小木 | 新型结构smd石英晶体谐振器 |
USD951216S1 (en) * | 2018-10-01 | 2022-05-10 | Eaton Intelligent Power Limited | Internal cover for an electrical apparatus enclosure |
JP2022183738A (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-13 | セイコーエプソン株式会社 | 振動デバイス |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000151331A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-30 | Seiko Epson Corp | 圧電振動子及び圧電振動素子の封止方法 |
JP2002057545A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-22 | Daishinku Corp | 表面実装型圧電振動子用パッケージおよび表面実装型圧電振動子用パッケージの製造方法 |
JP2007043340A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Epson Toyocom Corp | 表面実装型圧電デバイス及びその製造方法 |
JP2008301297A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Kyocera Kinseki Corp | 水晶デバイス |
JP2011009808A (ja) * | 2009-06-23 | 2011-01-13 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子 |
JP2013034166A (ja) * | 2010-12-28 | 2013-02-14 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 表面実装水晶振動子及び基板シート |
JP2013046167A (ja) * | 2011-08-23 | 2013-03-04 | Seiko Epson Corp | 振動デバイス、及び振動デバイスの製造方法 |
JP2013070224A (ja) * | 2011-09-22 | 2013-04-18 | Seiko Epson Corp | 容器、振動デバイス及び電子機器 |
JP2013120867A (ja) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Seiko Epson Corp | パッケージ、電子デバイス及び電子機器 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4191905A (en) * | 1977-06-17 | 1980-03-04 | Citizen Watch Company Limited | Sealed housings for a subminiature piezoelectric vibrator |
US5265316A (en) * | 1987-02-27 | 1993-11-30 | Seiko Epson Corporation | Method of manufacturing a pressure seal type piezoelectric oscillator |
JP3183169B2 (ja) * | 1996-05-09 | 2001-07-03 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の製造方法 |
JP4180985B2 (ja) * | 2003-07-07 | 2008-11-12 | 富士通メディアデバイス株式会社 | 弾性表面波デバイス及びその製造方法 |
CN101401206B (zh) * | 2006-03-29 | 2011-04-13 | 京瓷株式会社 | 电路组件和无线通信设备、以及电路组件的制造方法 |
WO2009025320A1 (ja) * | 2007-08-23 | 2009-02-26 | Daishinku Corporation | 電子部品用パッケージ、電子部品用パッケージのベース、および電子部品用パッケージと回路基板との接合構造 |
TWI466437B (zh) * | 2010-03-29 | 2014-12-21 | Kyocera Kinseki Corp | Piezoelectric vibrator |
JP2014086522A (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-12 | Seiko Epson Corp | 電子デバイスの製造方法、電子部品用容器の接合装置、電子機器、及び移動体機器 |
TW201511469A (zh) * | 2013-09-13 | 2015-03-16 | Txc Corp | 具有嵌入式熱敏電阻之晶體振盪器封裝結構 |
JP6183156B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2017-08-23 | セイコーエプソン株式会社 | パッケージ、振動デバイス、発振器、電子機器及び移動体 |
JP2016010099A (ja) * | 2014-06-26 | 2016-01-18 | セイコーエプソン株式会社 | 複合電子部品、発振器、電子機器及び移動体 |
-
2014
- 2014-03-11 JP JP2014047445A patent/JP2015128276A/ja active Pending
- 2014-10-14 US US14/513,221 patent/US20150155849A1/en not_active Abandoned
- 2014-10-27 CN CN201410582497.2A patent/CN104682911A/zh active Pending
- 2014-11-06 TW TW103138461A patent/TW201521359A/zh unknown
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000151331A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-30 | Seiko Epson Corp | 圧電振動子及び圧電振動素子の封止方法 |
JP2002057545A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-22 | Daishinku Corp | 表面実装型圧電振動子用パッケージおよび表面実装型圧電振動子用パッケージの製造方法 |
JP2007043340A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Epson Toyocom Corp | 表面実装型圧電デバイス及びその製造方法 |
JP2008301297A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Kyocera Kinseki Corp | 水晶デバイス |
JP2011009808A (ja) * | 2009-06-23 | 2011-01-13 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子 |
JP2013034166A (ja) * | 2010-12-28 | 2013-02-14 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 表面実装水晶振動子及び基板シート |
JP2013046167A (ja) * | 2011-08-23 | 2013-03-04 | Seiko Epson Corp | 振動デバイス、及び振動デバイスの製造方法 |
JP2013070224A (ja) * | 2011-09-22 | 2013-04-18 | Seiko Epson Corp | 容器、振動デバイス及び電子機器 |
JP2013120867A (ja) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Seiko Epson Corp | パッケージ、電子デバイス及び電子機器 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2017068809A1 (ja) * | 2015-10-21 | 2018-08-09 | 株式会社村田製作所 | 圧電振動子 |
US10985727B2 (en) | 2015-10-21 | 2021-04-20 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric vibrator |
JP2018098599A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 株式会社村田製作所 | 圧電振動子、モジュール部品及びそれらの製造方法 |
US10938370B2 (en) | 2016-12-12 | 2021-03-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric resonator unit, module component, and manufacturing method for same |
WO2023126994A1 (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-06 | 古野電気株式会社 | 高周波回路 |
Also Published As
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