JP2015083946A - 磁気センサ回路 - Google Patents
磁気センサ回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015083946A JP2015083946A JP2013222587A JP2013222587A JP2015083946A JP 2015083946 A JP2015083946 A JP 2015083946A JP 2013222587 A JP2013222587 A JP 2013222587A JP 2013222587 A JP2013222587 A JP 2013222587A JP 2015083946 A JP2015083946 A JP 2015083946A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- voltage
- power supply
- magnetic sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 53
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 20
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 11
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 201000005569 Gout Diseases 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000005355 Hall effect Effects 0.000 description 1
- 208000035795 Hypocalcemic vitamin D-dependent rickets Diseases 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 208000033584 type 1 vitamin D-dependent rickets Diseases 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0017—Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
- G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
Description
電源電圧もしくは内部電源電圧の変動を検出する検出回路を備え、検出回路が出力する電源変動検出信号に基づいて、発振回路の出力する制御クロック信号の論理を一定時間保持し、出力端子の出力論理を決定するラッチ回路が比較器の判定出力をラッチしない構成とする磁気センサ回路。
図1は、第1の実施形態の磁気センサ回路を示す回路図である。
第1の実施形態の磁気センサ回路は、磁電変換素子23と、磁電変換素子の電流供給端子及び電圧出力端子を切り替えるためのスイッチ群15〜22と、磁電変換素子23の出力信号を増幅する増幅回路12と、増幅回路12の出力電圧GOUTを保持してオフセットキャンセルするためのサンプリング容量24と、制御クロック信号CLKを生成する発振回路30と、所定の検出/解除磁束密度に対応した基準電圧32、33を生成する基準電圧回路31と、サンプリング容量24に保持されたオフセットキャンセル後のサンプリング信号SOUTと基準電圧回路31で生成された基準電圧32〜33とを比較するための比較回路14と、比較回路14の出力する論理信号を保持するためのラッチ回路27と、ラッチ回路27の出力する論理に基づいて磁気センサ回路の出力信号を出力するための出力ドライバ28と、電源電圧VDDの変動を検出するための電源変動検出回路25と、を備えている。
ラッチ回路27は、制御クロック信号CLKの立ち上がりエッジで比較回路14の出力する論理信号を保持する。
電源電圧VDDが変動しない場合、各スイッチ群15〜22及び34〜35は一定周期でオンオフ動作して、磁気センサ回路は通常の磁気判定の動作を行う。制御クロック信号CLKが“H”の期間では、スイッチ35はオンし、比較回路14はボルテージフォロアとして動作する。そして、比較回路14は、自身のオフセット電圧と磁電変換素子23及び増幅回路12のオフセット電圧を含んだ電圧をサンプリング容量24にサンプリングする。制御クロック信号CLKが“L”の期間では、スイッチ35はオフし、比較回路14はオフセット電圧をキャンセルした後の印加磁束密度に比例した信号電圧と基準電圧32〜33の差分で表される差動基準電圧とを比較する動作を行う。
電源電圧VDDが変動すると、増幅回路12の出力電圧GOUTは、増幅回路12の出力トランジスタの寄生容量を介したカップリングによって変動し、一定期間を経て所定の正常値へと復帰する。ここで、電源変動検出回路25は、電源電圧VDDの変動を検出すると“H”論理の信号DETを出力する。発振回路30は、“H”論理の信号DETを入力されている間、発振動作を停止する。発振回路30が発振動作を停止することによって、増幅回路12の出力電圧GOUTが印加磁束密度に応じた所定の正常値に復帰するまでの間、比較回路14は動作を継続し、ラッチ回路27は入力データの保持動作を行わない。そして、一定時間経過後に発振回路30が発振動作を開始して制御クロック信号CLKが出力されると、正常な比較回路14の出力電圧COUTがラッチ回路27にラッチされ、正しい出力信号VOUTを出力することが出来る。
図2は、第2の実施形態の磁気センサ回路を示す回路図である。
第1の実施形態の磁気センサ回路との違いは、ボルテージレギュレータ40と、その電圧を監視する内部電源変動検出回路26を設けたことである。図示していないが、本構成においてはボルテージレギュレータ40を除く回路の電源端子には内部電源電圧VDDIが入力される。
内部電源変動検出回路26は、入力端子401〜403、比較回路404及び405、ORゲート回路408、出力端子409で構成される。
電源電圧VDDが急激に上昇する場合、端子304の内部電源電圧の上昇に伴い帰還電圧が上昇し、端子307のロー側の帰還電圧が基準電圧を上回ると、比較回路404は“H”論理の信号を出力する。また、電源電圧が急激に低下する場合、内部電源電圧の低下に伴い帰還電圧が低下し、端子306のハイ側の帰還電圧が基準電圧を下回ると、比較回路405は“H”論理の信号を出力する。従って、電源電圧の変動に対して、比較回路404か比較回路405のどちらが“H”論理の信号を、OR回路408を介して、出力端子409に信号DETとして出力する。従って、発振回路30は、第1の実施形態同様の動作を行うことが可能である。
また、ボルテージレギュレータ40と内部電源変動検出回路26は、本実施形態に示した回路構成は一例であり、これに限定されるものではない。ボルテージレギュレータを使用した場合の内部電源電圧の変動を検出することによって誤出力の防止を実現できることを示した。
図3は、第3の実施形態の磁気センサ回路を示す回路図である。
第3の実施形態の磁気センサ回路は、電源変動検出回路25と、ボルテージレギュレータ40と、内部電源変動検出回路26を備えている。
例えば、ボルテージレギュレータ40は、誤差増幅器は多段増幅器であっても、内部電源電圧駆動用ドライバはPMOSドライバであってもよい。
また、比較回路14は、サンプリング期間と比較期間の繰り返しによってオフセットキャンセルを行う信号処理シーケンスに適した構成であれば、この構成に限定されるものではない。
また、電源変動検出回路25及び内部電源変動検出回路26について一構成例を示したが、同様の検出動作を行う別の回路構成としてもよい。
14 比較回路
23 磁電変換素子
25 電源変動検出回路
26 内部電源変動検出回路
27 ラッチ回路
30 発振回路
40 ボルテージレギュレータ
Claims (2)
- 磁電変換素子と、
前記磁電変換素子の電流供給端子対及び電圧出力端子対を切り替えるためのスイッチ群と、
前記スイッチ群を通して得られる前記磁電変換素子の出力する電圧を増幅する増幅回路と、
前記増幅回路の出力電圧を保持してオフセットキャンセル動作を行うための少なくとも1つのサンプリング容量と、
制御クロック信号を生成する発振回路と、
所定の印加磁束密度に応じた磁気判定に用いられる基準電圧を生成するための基準電圧回路と、
前記サンプリング容量に保持されたオフセットキャンセル後の印加磁束密度に比例した電圧と前記基準電圧回路で生成された前記基準電圧との大小関係を比較判定するための比較回路と、
前記比較回路の出力信号を前記制御クロック信号に基づいて保持するためのラッチ回路と、
前記ラッチ回路の出力論理に基づいて磁気センサ回路の出力信号を外部へ出力するための出力端子と、
電源電圧の変動量が所定量を超過したことを検出して、検出信号を出力する電源変動検出回路と、を備え、
前記発振回路は、前記電源変動検出回路が出力する前記検出信号によって発振動作を所定期間停止して、前記制御クロック信号の出力電圧を所定時間維持することで、前記ラッチ回路の出力論理を固定する、
ことを特徴とする磁気センサ回路。 - 磁電変換素子と、
前記磁電変換素子の電流供給端子対及び電圧出力端子対を切り替えるためのスイッチ群と、
前記スイッチ群を通して得られる前記磁電変換素子の出力する電圧を増幅する増幅回路と、
前記増幅回路の出力電圧を保持してオフセットキャンセル動作を行うための少なくとも1つのサンプリング容量と、
制御クロック信号を生成する発振回路と、
所定の印加磁束密度に応じた磁気判定に用いられる基準電圧を生成するための基準電圧回路と、
前記サンプリング容量に保持されたオフセットキャンセル後の印加磁束密度に比例した電圧と前記基準電圧回路で生成された前記基準電圧との大小関係を比較判定するための比較回路と、
前記比較回路の出力信号を前記制御クロック信号に基づいて保持するためのラッチ回路と、
前記ラッチ回路の出力論理に基づいて磁気センサ回路の出力信号を外部へ出力するための出力端子と、
内部電源電圧を供給するボルテージレギュレータと、
前記内部電源電圧の変動量が所定量を超過したことを検出して、検出信号を出力する内部電源変動検出回路と、を備え、
前記発振回路は、前記内部電源変動検出回路が出力する前記検出信号によって発振動作を所定期間停止して、前記制御クロック信号の出力電圧を所定時間維持することで、前記ラッチ回路の出力論理を固定する、
ことを特徴とする磁気センサ回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013222587A JP6158682B2 (ja) | 2013-10-25 | 2013-10-25 | 磁気センサ回路 |
TW103133305A TWI619958B (zh) | 2013-10-25 | 2014-09-25 | 磁性感測器電路 |
US14/518,427 US9638761B2 (en) | 2013-10-25 | 2014-10-20 | Magnetic sensor circuit with power supply fluctuation detection |
KR1020140144255A KR102105034B1 (ko) | 2013-10-25 | 2014-10-23 | 자기 센서 회로 |
CN201410574022.9A CN104567947B (zh) | 2013-10-25 | 2014-10-24 | 磁性传感器电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013222587A JP6158682B2 (ja) | 2013-10-25 | 2013-10-25 | 磁気センサ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015083946A true JP2015083946A (ja) | 2015-04-30 |
JP6158682B2 JP6158682B2 (ja) | 2017-07-05 |
Family
ID=52994691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013222587A Active JP6158682B2 (ja) | 2013-10-25 | 2013-10-25 | 磁気センサ回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9638761B2 (ja) |
JP (1) | JP6158682B2 (ja) |
KR (1) | KR102105034B1 (ja) |
CN (1) | CN104567947B (ja) |
TW (1) | TWI619958B (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6600471B2 (ja) * | 2014-06-26 | 2019-10-30 | エイブリック株式会社 | 磁気センサ装置 |
CN105444787B (zh) * | 2015-11-19 | 2017-07-11 | 国电南瑞科技股份有限公司 | 一种高可靠性直流变送器 |
US10401438B2 (en) * | 2016-03-08 | 2019-09-03 | Ablic Inc. | Magnetic sensor and magnetic sensor device |
KR102113456B1 (ko) * | 2016-10-25 | 2020-06-02 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 증분형 인코더의 펄스화 변환 장치 및 펄스화 변환 방법 |
US20200150195A1 (en) * | 2018-11-14 | 2020-05-14 | Crocus Technology Inc. | Two pin magnetic field detector |
KR102500418B1 (ko) | 2020-09-29 | 2023-02-16 | 삼성전기주식회사 | 홀 센서 오프셋 저감 장치 및 렌즈 모듈 제어 장치 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08129020A (ja) * | 1994-09-07 | 1996-05-21 | Yazaki Corp | 走行センサ |
US6154027A (en) * | 1997-10-20 | 2000-11-28 | Analog Devices, Inc. | Monolithic magnetic sensor having externally adjustable temperature compensation |
JP2011117811A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
JP2013074415A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
JP2013195379A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Seiko Instruments Inc | センサ装置 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5105316A (en) * | 1989-11-20 | 1992-04-14 | Seagate Technology, Inc. | Qualification for pulse detecting in a magnetic media data storage system |
JPH03252526A (ja) * | 1990-03-01 | 1991-11-11 | Fujitsu Ltd | センサー出力回路 |
US5351005A (en) * | 1992-12-31 | 1994-09-27 | Honeywell Inc. | Resetting closed-loop magnetoresistive magnetic sensor |
EP0621460B1 (en) * | 1993-04-15 | 1997-11-26 | Denso Corporation | Sensor signal processing unit |
WO1996004630A1 (en) * | 1994-08-03 | 1996-02-15 | Drexelbrook Controls, Inc. | High reliability instrument system |
JP3141816B2 (ja) * | 1997-06-19 | 2001-03-07 | 日本電気株式会社 | 発振回路 |
JP2000174254A (ja) * | 1998-12-07 | 2000-06-23 | Sharp Corp | 磁気検出用半導体集積回路 |
US6674383B2 (en) * | 2000-11-01 | 2004-01-06 | Onix Microsystems, Inc. | PWM-based measurement interface for a micro-machined electrostatic actuator |
JP4451577B2 (ja) * | 2001-07-26 | 2010-04-14 | パナソニック株式会社 | 磁界センサ |
JP2005127762A (ja) * | 2003-10-22 | 2005-05-19 | Canon Inc | センサ信号処理装置 |
EP1637898A1 (en) * | 2004-09-16 | 2006-03-22 | Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. | Continuously calibrated magnetic field sensor |
CN100409136C (zh) * | 2005-07-21 | 2008-08-06 | 崇贸科技股份有限公司 | 一次侧控制电源供应器的切换式控制装置 |
EP1790988B1 (en) * | 2005-11-29 | 2017-01-18 | STMicroelectronics Srl | Detection circuit using a differential capacitive sensor with input-common-mode control in a sense interface |
GB0620307D0 (en) * | 2006-10-16 | 2006-11-22 | Ami Semiconductor Belgium Bvba | Auto-calibration of magnetic sensor |
JP4902390B2 (ja) * | 2007-02-17 | 2012-03-21 | セイコーインスツル株式会社 | カレント検出回路及び電流モード型スイッチングレギュレータ |
JP4965387B2 (ja) * | 2007-08-21 | 2012-07-04 | セイコーインスツル株式会社 | 磁気センサ回路 |
JP2011043331A (ja) * | 2009-08-19 | 2011-03-03 | Rohm Co Ltd | 磁気センサ装置及びこれを用いた電子機器 |
JP2012063211A (ja) * | 2010-09-15 | 2012-03-29 | Toshiba Corp | 磁気検出装置 |
-
2013
- 2013-10-25 JP JP2013222587A patent/JP6158682B2/ja active Active
-
2014
- 2014-09-25 TW TW103133305A patent/TWI619958B/zh active
- 2014-10-20 US US14/518,427 patent/US9638761B2/en active Active
- 2014-10-23 KR KR1020140144255A patent/KR102105034B1/ko active IP Right Grant
- 2014-10-24 CN CN201410574022.9A patent/CN104567947B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08129020A (ja) * | 1994-09-07 | 1996-05-21 | Yazaki Corp | 走行センサ |
US6154027A (en) * | 1997-10-20 | 2000-11-28 | Analog Devices, Inc. | Monolithic magnetic sensor having externally adjustable temperature compensation |
JP2011117811A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
JP2013074415A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
JP2013195379A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Seiko Instruments Inc | センサ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102105034B1 (ko) | 2020-04-27 |
CN104567947A (zh) | 2015-04-29 |
US9638761B2 (en) | 2017-05-02 |
JP6158682B2 (ja) | 2017-07-05 |
KR20150048059A (ko) | 2015-05-06 |
US20150115942A1 (en) | 2015-04-30 |
TWI619958B (zh) | 2018-04-01 |
CN104567947B (zh) | 2018-01-23 |
TW201530175A (zh) | 2015-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6158682B2 (ja) | 磁気センサ回路 | |
US9128127B2 (en) | Sensor device | |
JP6180752B2 (ja) | センサ装置 | |
US8866474B2 (en) | Magnetic sensor device | |
TWI504915B (zh) | 磁性感測裝置 | |
US9453888B2 (en) | Sensor device | |
KR20100083729A (ko) | 검출 회로 및 센서 장치 | |
US20180006018A1 (en) | Power converter and semiconductor device | |
TWI586986B (zh) | 磁性感測器裝置 | |
JP5281556B2 (ja) | 物理量センサ | |
CN112781752A (zh) | 温度检测电路及芯片 | |
TWI668964B (zh) | 比較電路以及感測裝置 | |
CN107228967B (zh) | 电流检测电路 | |
JP2015211345A (ja) | 電源電圧監視回路、および該電源電圧監視回路を備える電子回路 | |
JP4862760B2 (ja) | 検出信号処理回路 | |
KR102153872B1 (ko) | 비교 회로 | |
JP2012169712A (ja) | チャージアンプ | |
CN114200190B (zh) | 电压差值检测电路 | |
TW201934965A (zh) | 訊號檢測電路以及訊號檢測方法 | |
JP2003254992A (ja) | 物理量検出回路 | |
JP2014102095A (ja) | センサ閾値決定回路 | |
JP2005117459A (ja) | 入力回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20160112 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160818 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170522 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170530 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170608 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6158682 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |