JP2015059080A - 接合体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
上記セラミックス体と上記金属体とを当接させる当接工程と、
上記セラミックス体と上記金属体との当接面に電圧を印加して電流を流し、通電発熱により上記当接面を加熱し、上記セラミックス体と上記金属体とを接合させる接合工程とを有し、
上記接合工程においては、上記通電発熱により上記当接面の加熱を開始し、該当接面をTr−220℃以上かつTr−50℃以下の温度範囲にある所定温度T1まで10秒以上かけて昇温させる第1通電発熱工程と、上記通電発熱により上記所定温度T1℃よりも上記当接面をさらに昇温させると共に、該当接面をTm×0.3℃以上かつTm×0.45℃以下の温度範囲にある所定温度T2℃で5秒以上加熱する第2通電発熱工程と、上記通電発熱により上記所定温度T2℃よりも上記当接面をさらに昇温させると共に、該当接面をTm×0.48℃以上かつTm×0.6℃以下の温度で3秒以上加熱する第3通電発熱工程とを順次行う(但し、Tmは金属体の融点(℃)であり、Trは金属体の再結晶温度(℃)である)ことを特徴とする接合体の製造方法にある。
上記製造方法は、様々なセラミックス体と金属体の組み合わせの接合に適用することができる。ただし、上述のごとく通電発熱による加熱を行うため、金属体及びセラミックス体としては、導電性を有するものを選択する。上記製造方法は、例えば金属電極とセラミックス電極との接合や、固体電解質体と金属との接合などのように、様々な接合体の製造に適用することができる。
これらの通電発熱工程のうち第2通電発熱工程においては、第1通電発熱工程における目標温度である温度T1℃よりも当接面をさらに昇温させる。そして、当接面をTm×0.3℃以上かつTm×0.45℃以下の温度範囲にある所定温度T2℃で5秒以上加熱する。所定温度T2℃での少なくとも5秒間の加熱は、通電発熱における接合部の設定温度であり、通電発熱による温度制御上生じうる多少の温度幅を許容するものである。具体的にはT2±10℃程度の温度変化内であればこれを所定温度(T2℃)での加熱であるとする。
次に、接合体の製造方法の実施例について図1〜図6を参照して説明する。
本例においては、図1及び図2に示すごとく、セラミックス体2と金属体3との接合体1を製造する。具体的には、セラミックス体2は、SiCにSiを含浸させたSiC−Si複合材からなり、導電性を有している。また、金属体3は、Tiからなり、導電性を有している。本例においてセラミックス体2及び金属体3は円柱状であり、セラミックス体2は金属体3よりも大きくなっている。これらの形状及び大きさは適宜変更可能である。
このようにして、セラミックス体2と金属体3とを当接面11において接合させて接合体1を得た(図1〜図3参照)。なお、各通電発熱工程における当接面11の温度は、放射温度計を用いて測定した。実際には、当接面11ではなく当接面11付近のセラミックス体2の温度を測定したが、この温度は当接面11の温度とほとんど差がないことを別途確認している。
具体的には、第2通電発熱工程における所定の加熱温度T2(℃)をそれぞれ550℃、650℃、750℃に設定してセラミックス体2と金属体3との接合体1をそれぞれ作製した(図1及び図2参照)。温度T2での加熱時間は5秒間とした。当接工程、及び第1通電発熱工程については、上述の方法から変更点はない。また、第3通電発熱工程における加熱温度は925℃として、その加熱時間は4秒とした。そして、加熱温度T2を変更して作製した複数の接合体1について、そのせん断強度を測定した。せん断強度の測定方法は上述の通りである。その結果を図6に示す。なお、同図におけるせん断強度は、同条件で作製した3つの接合体のせん断強度の平均値を示す。
具体的には、第1通電発熱工程における昇温の目標温度T1℃を300℃、350℃、400℃、450℃に変更して複数の接合体1をそれぞれ製造した。第2通電発熱工程においては、当接面11を所定温度T2℃(T2:650℃)で5〜8秒間加熱した。また、第3通電発熱工程における当接面11の加熱温度は925℃とし、その加熱時間は4秒とした。その他は上述の方法と同様にして複数の接合体を作製した。そしてこれらの接合体のせん断強度を測定した。その結果、第1通電発熱工程における目標温度T1を変更してもせん断強度に大きな変化はなく、図4に示す第3加熱温度(設定値)が925℃の場合とほとんど同じせん断強度(390N前後)を示した。また、これらの接合体1について、セラミックス体2のクラックの発生の有無を目視にて確認したが、クラックの発生はなかった。なお、本例において、金属体3はTiからなり、その再結晶温度Trは約500℃である。したがって、上記第1通電発熱工程においては、いずれもTr−220〜Tr−50(℃)以下の温度範囲にあるT1℃まで加熱を行っている。即ち、この温度範囲内において第1通電発熱工程の温度T1を(℃)を設定することにより、クラックを発生させることなく、十分な接合強度の接合体を得ることが確認できた。
本例は、金属体におけるセラミックス体との当接面との反対面に他部材を接合させる例について説明する。
図7に示すごとく、本例においても、セラミックス体2と金属体3とを当接させ、その当接面11において両者を通電発熱により接合させる。本例においては、金属体3の当接面11とは反対面31に、他部材5を配置させて通電発熱を行う。
本例は、実施例1において作製した接合体を車載用部品に適用する例である。具体的には、排ガス経路内に搭載される電気加熱式触媒装置(EHC)の電極端子に適用する例である。図8に示すごとく、本例のEHC6は、円柱状のハニカム構造体60と、その側面を形成する外周壁601に設けられた一対の電極61と、各電極61にそれぞれ接合された電極端子62(1)とを有する。以下、詳細に説明する。
また、一対の電極61には、電極端子62がそれぞれ設けられている。これら電極端子62としては、実施例1で作製したセラミックス体2と金属体3との接合体1が用いられている(図1及び図2参照)。
本例のEHC6は、例えば金属製のケース(図示略)内に収容して、排ガス経路内に搭載して用いられる。
11 当接面
2 セラミックス体
3 金属体
Claims (7)
- 導電性を有するセラミックス体(2)と、導電性を有する金属体(3)との接合体(1)を製造する方法であって、
上記セラミックス体(2)と上記金属体(3)とを当接させる当接工程と、
上記セラミックス体(2)と上記金属体(3)との当接面(11)に電圧を印加して電流を流し、通電発熱により上記当接面(11)を加熱し、上記セラミックス体(2)と上記金属体(3)とを接合させる接合工程とを有し、
上記接合工程においては、上記通電発熱により上記当接面(11)の加熱を開始し、該当接面をTr−220℃以上かつTr−50℃以下の温度範囲にある所定温度T1まで10秒以上かけて昇温させる第1通電発熱工程と、上記通電発熱により上記所定温度T1℃よりも上記当接面(11)をさらに昇温させると共に、該当接面(11)をTm×0.3℃以上かつTm×0.45℃以下の温度範囲にある所定温度T2℃で5秒以上加熱する第2通電発熱工程と、上記通電発熱により上記所定温度T2℃よりも上記当接面(11)をさらに昇温させると共に、該当接面(11)をTm×0.48℃以上かつTm×0.6℃以下の温度で3秒以上加熱する第3通電発熱工程とを順次行う(但し、Tmは金属体(3)の融点(℃)であり、Trは金属体(3)の再結晶温度(℃)である)ことを特徴とする接合体(1)の製造方法。 - 上記第1通電発熱工程、上記第2通電発熱工程、及び上記第3通電発熱工程における温度制御を上記当接面(11)に流す電流値の制御により行うことを特徴とする請求項1に記載の接合体(1)の製造方法。
- 上記セラミックス体(2)はSiC又はSiC−Si複合材を主成分とし、上記金属体(3)はTi又はTi合金を主成分とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の接合体(1)の製造方法。
- 上記第1通電発熱工程における上記所定温度T1は280〜450℃の範囲内の温度であり、上記第2通電発熱工程にける上記所定温度T2は550〜750℃の範囲内の温度であり、上記第3通電発熱工程においては上記当接面(11)を温度820〜950℃で加熱することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の接合体(1)の製造方法。
- 上記第3通電発熱工程においては、上記当接面(11)を875〜950℃の温度で加熱することを特徴とする請求項4に記載の接合体(1)の製造方法。
- 上記金属体(3)における上記セラミックス体(2)との上記当接面(11)との反対面(31)には、導電性材料からなる他部材(5)が接合又は当接されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の接合体(1)の製造方法。
- 上記接合体(1)は、車載用部品であり、該車載用部品は排ガス経路内に搭載されるものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の接合体(1)の製造方法。
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