JP2015031532A - 渦電流探傷プローブ - Google Patents
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Abstract
Description
2,2A〜2D 励磁コイル
5A〜5C 検査面
6A〜6C ギャップ
9A〜9F 検出コイル
10A〜10I 磁束偏向板
12A〜12H 磁性材
13 シールド板
Claims (7)
- 複数の検査面上にそれぞれ配置される複数のギャップを形成して、前記複数の検査面を介し少なくとも1つのループ状の磁気回路を形成する磁性体と、
前記磁性体に巻き付けられた励磁コイルと、
前記複数のギャップにそれぞれ配置された複数の検出コイルと、
前記複数のギャップにそれぞれ生じる磁束を、対応する検査面側に偏向する少なくとも1つの非磁性かつ導電性の磁束偏向板と、を備えたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項1記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁束偏向板は、前記検出面との間で前記検出コイルが介在するように配置されたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項2記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁束偏向板は、前記ギャップの間隔方向で前記検出コイルを挟むように対で設けられたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項1記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁束偏向板は、前記ギャップの間隔方向で前記検出コイルを挟むように対で設けられたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項1記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、第1の検査面及びこれに対向する第2の検査面上にそれぞれ配置される複数のギャップを形成して、前記第1の検査面及び前記第2の検査面を介し少なくとも1つのループ状の磁気回路を形成することを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項1記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、
第1の検査面上に配置されるギャップを形成して、前記第1の検査面を介し第1のループ状の磁気回路を形成するとともに、第1の励磁コイルが巻き付けられた第1の磁性材と、
前記第1の検査面に対向する第2の検査面上に配置されるギャップを形成して、前記第2の検査面を介し第2のループ状の磁気回路を形成するとともに、第2の励磁コイルが巻き付けられた第2の磁性材と、で構成されており、
前記第1の磁性材と前記第2の磁性材の間に非磁性かつ導電性のシールド板を設けたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。 - 請求項1記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、第1の検査面、これに対向する第2の検査面、及び前記第1の検査面と前記第2の検査面の間で形成された第3の検査面上にそれぞれ配置される複数のギャップを形成して、前記第1の検査面、前記第2の検査面、及び前記第3の検査面を介し少なくとも1つのループ状の磁気回路を形成することを特徴とする渦電流探傷プローブ。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2013
- 2013-07-31 JP JP2013159314A patent/JP6095063B2/ja active Active
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JP7231356B2 (ja) | 2018-08-30 | 2023-03-01 | 矢崎エナジーシステム株式会社 | 導体劣化検出装置 |
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JP6095063B2 (ja) | 2017-03-15 |
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