JP2014515479A - クランプ - Google Patents

クランプ Download PDF

Info

Publication number
JP2014515479A
JP2014515479A JP2014511748A JP2014511748A JP2014515479A JP 2014515479 A JP2014515479 A JP 2014515479A JP 2014511748 A JP2014511748 A JP 2014511748A JP 2014511748 A JP2014511748 A JP 2014511748A JP 2014515479 A JP2014515479 A JP 2014515479A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clamp
finger
fingers
processing
clamped
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014511748A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5781222B2 (ja
Inventor
ミュニ,ダヴィッド
ホイ チョン,セク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ismeca Semiconductor Holding SA
Original Assignee
Ismeca Semiconductor Holding SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ismeca Semiconductor Holding SA filed Critical Ismeca Semiconductor Holding SA
Publication of JP2014515479A publication Critical patent/JP2014515479A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5781222B2 publication Critical patent/JP5781222B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0425Test clips, e.g. for IC's
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/85Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures
    • H01R12/88Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures acting manually by rotating or pivoting connector housing parts
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Clamps And Clips (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Gripping Jigs, Holding Jigs, And Positioning Jigs (AREA)

Abstract

本発明によると、部品が処理される間一定位置に保持されるように部品をクランプ固定するのに適したクランプ固定試験用接触装置であって、そのクランプが、第一の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第一のフィンガ、および第二の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第二のフィンガを備え、したがって、その第一のフィンガおよび第二のフィンガが中央面に向かって各々回転することができる、装置において、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働するのに適した表面を各々備え、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働して各フィンガに対する部品の移動を制限するのに適した停止手段を各々備え、したがって、部品に力をかけることによって、第一および第二のフィンガが、部品をクランプ固定するようになることを特徴とする、クランプ固定試験用接触装置が提供される。さらに、そのようなクランプを備える処理ステーションと、それに対応する部品のクランプ固定方法、および部品の処理方法が提供される。
【選択図】図1

Description

本発明は、複数のフィンガを備える電気試験クランプ、および限定的ではないが特に、クランプ固定される部品に力をかけることによって、部品をクランプ固定するように作動するよう構成されたクランプに関するものである。
部品処理アセンブリは、部品、例えば電子部品を処理し、試験する、多数の処理および試験ステーションを一般的に備えている。通常、部品は、複数の部品操作手段を備える回転タレットによって、処理および試験ステーション間を移送される。部品操作手段は、一般的に、処理または試験ステーションから部品を取り上げ、真空によって部品を保持することのできる、ピックアップヘッドを有する。そのピックアップヘッドは、真空を取り除くことによって、保持した部品を離すように作動する。
ある処理および試験ステーションでは、部品を処理または試験する間、部品を一定位置にしっかりと保持することが求められる。電気式クランプまたは空気圧式クランプが、部品を所要の一定位置にしっかりと保持するために、これら特定の処理および試験ステーションに備えられている。しばしばそれらのクランプにはまた、試験対象部品のリード部分(パッドまたは末端部を含む)との電気接触を確立することが必要とされる。
これらの作動したクランプは、クランプの電気式部品または空気圧式部品に起こり得る電気不良または空気圧不良の影響を受けやすい。部品処理アセンブリで使用されているクランプに不良が生じると、部品処理アセンブリの作業は中断し、クランプを修理しなければならない。これは、部品処理アセンブリの「ダウンタイム」を増加させる。
加えて、電気式クランプまたは空気圧式クランプはしばしば高価であり、複雑な構造を有する。これは特に、クランプが、そのクランプ固定作業を、部品をクランプに供給する部品操作手段と同期させ得ることが必要とされている場合である。
従来のクランプのさらに別の問題は、それらの作業が遅いことである。従来のクランプを使用して部品をクランプ固定するためには、二つの連続した段階が必要とされる。まず第一に、クランプ固定される部品をクランプ内に位置づけなければならず、次に部品がクランプ内に位置づけされた後初めて、部品をクランプ固定し、それから試験することができる。二つの連続した段階が必要とされるので、クランプ固定作業は遅い。
上述した問題点の少なくともいくつかを緩和または解決することを本発明の目的とする。
本発明によると、この目的は、部品が処理される間一定位置に保持されるように部品をクランプ固定するのに適したクランプであって、第一の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第一のフィンガ、および第二の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第二のフィンガを備え、したがって、第一のフィンガおよび第二のフィンガが中央面に向かって各々回転することができるクランプにおいて、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働するのに適した表面を各々備え、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働して各フィンガに対する部品の移動を制限するのに適した停止手段を各々備え、したがって、停止手段と協働する部品に力をかけることによって、第一および第二のフィンガが、部品をクランプ固定するようになることを特徴とするクランプによって達成される。
「処理する」とは、部品に対する本発明者らのあらゆる処理を含んでおり、処理は、限定はしないが、「試験」(特に、ケルビンテスト)、部品の「検査」、および/または「一つまたは複数の製造段階の実施」を含むものである。
本発明のクランプは、有利には、クランプを作動させ、部品のクランプ固定を実施するための、一体型の電子式または空気圧式部品を必要とせず、むしろ、部品に加えられた力がクランプを作動させる。したがって、クランプは電気不良または空気圧不良の影響を受けず、低コストで製造できる単純な構造を有する。さらに、部品操作アセンブリ内で使用されるとき、部品操作手段を使用して部品に必要な力を加えて、クランプを作動させることができる。
さらに、本発明のクランプでは、クランプ固定作業はクランプ内における部品の位置づけ段階と同時に実行されるので、従来のクランプより速く動作することができる。
力は、中央面にほぼ平行な力であり得る。力は、中央面に平行な力であり得る。力は垂直な力であり得る。垂直な力とは、垂直な垂線に沿ってかけられる力であり得る。
力は、部品操作手段によってかけることができる。部品操作手段は、直線的に可動するように構成することができる。好ましくは、部品操作手段は、停止手段と協働する部品にかけることが必要とされる力の方向と同じ方向に可動するように構成され、その結果、第一および第二のフィンガがその部品をクランプ固定する。部品操作手段は、部品操作ヘッドを備えることができる。部品操作ヘッドは、真空によって部品を保持することができる。部品操作手段は、タレット上に備えることができる。
各停止手段は、フィンガ上に突起を備えることができる。その突起は、平坦な表面を提供するように構成され得る。平坦な表面は、部品がクランプ固定されるとき、中央面にほぼ直角であるように配置され得る。
各停止手段は、グリップ手段を備えることができる。グリップ手段は、各フィンガの表面上に備えることができる。その表面は、部品と協働するのに適した表面であり得る。グリップ手段は、部品の各フィンガに対する移動を防ぐのに適するように構成され得る。グリップ手段は、グリップ表面であり得る。グリップ手段は、粗面化するように構成された、部品と協働するのに適した表面であり得る。
クランプは、第一の回転ポイントと第二の回転ポイントとの間の距離が調節可能になるように構成され得る。これによってクランプが調節可能になり、その結果、様々なサイズの部品をクランプ固定することができる。
クランプは、部品操作手段から部品を受け取ることができるように構成され得る。第一および第二のフィンガは、各々、クランプ固定される部品と協働するのに適した表面に隣接する、先細の部分を備え得る。これによって、クランプ固定される部品をより容易に、クランプ内に受け取ることが可能になる。
クランプは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。クランプは、部品がクランプ固定されたとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の下方表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。クランプは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の上方表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。第一および第二のフィンガは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の上方表面および下方表面の少なくとも両方を露出させるように、構成され得る。部品がクランプ固定されている間、部品の露出した表面を処理することができる。クランプ固定された部品の上方表面および下方表面の両方が露出しているとき、これによって、部品の上方表面および下方表面の両方を処理するためにクランプ内の部品を回転させる必要性がなくなる。
クランプは、間隙が処理装置と一列に並ぶように構成され得る。処理装置は、光学センサ、磁気センサのようなセンサ、または光電子エミッタのような信号発生器、または磁界発生器であり得るが、そのようなものに限定されない。
各フィンガは、平板から切断され得る。各フィンガは垂直面に配置され、部品がクランプ固定されるとき、この垂直面内を移動することができる。
クランプは、一つまたは複数の補足フィンガを備えることができる。一つまたは複数の補足フィンガのいくつかまたは全部は、前記の第一および第二のフィンガの特徴のいくつかまたは全部を有することができる。例えば、クランプは四つのフィンガを備えることができ、これによって、部品をその部品の四つの側面でクランプ固定することが可能になる。
クランプはまた、部品の少なくとも一つの側面に、二つ以上のフィンガを備えることができる。例えば、クランプは、試験対象部品の一つの側面に一列の平行に取り付けられた複数のフィンガを備え、この部品の反対の側面に別の一列の平行に取り付けられたフィンガを備えることができる。各列の全フィンガは、部品がクランプ固定されるとき、同一軸を中心にして同時に回転するように取り付けられ得る。
少なくとも一つのフィンガは、部品を試験するために、この部品の一つのリード部分と接触させるために使用することができる。フィンガは、導電性金属から作製することができる。
クランプは、部品のリード部分の各々と接触するように配置された少なくとも一つのフィンガを備えることができる。それぞれのフィンガは、絶縁スペーサによって分離され得る。
クランプは、部品の一つのリード部分と接触する二つのフィンガを有するように構成され得る。クランプは、部品の各リード部分と接触する二つのフィンガを有するように構成され得る。同じリード部分と接触する二つのフィンガは、絶縁スペーサによって分離され得る。この配置によって、電気接触および精度がより良好なケルビン測定が実施される。
クランプ固定される部品と協働するのに適した各表面は、各個別のフィンガの端部に備えることができる。端部は、フィンガの、空いている端部であり得る。第一および第二のフィンガは、もう一方の反対側の端部で回転可能に取り付けられ得る。
部品の一方の側面の第一のフィンガ、および部品の反対の側面の第二のフィンガは、互いにほぼ直角に配置され得る。好ましくは、第一のフィンガおよび第二のフィンガは、部品がクランプ固定されるとき、互いに直角になるように配置される。第一のフィンガおよび第二のフィンガは、部品がクランプで固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間の最小角度が90°より大きくなるように配置され得る。
部品の一方の側面の第一のフィンガは、先細の本体を備えることができる。部品の反対の側面の第二のフィンガは、先細の本体を備えることができる。第一のフィンガは凹状の表面を備えることができる。第二のフィンガは凹状の表面を備えることができる。第一のフィンガおよび第二のフィンガは、各々、凹状の表面を有する本体を備えることができる。
前記のクランプのいずれも、LED、パワーQFN、MOSFET、IGBT、および/または電源レギュレータを試験するために使用することができる。前記のクランプのいずれも、QFNパッケージ、PQFNパッケージ、J leadパッケージ、またはあらゆる適切なパッケージに封入することができる装置のいずれか一つを試験するために使用することができる。
前記のクランプのいずれも、部品のリード部分と接触させるためにフィンガを使用して、部品のケルビンテストに使用することができる。前記のクランプのいずれも、光学試験装置の正面の正しい距離に部品を心合わせするためにそのクランプを使用して、部品の光学試験に使用することができる。
クランプは、フィンガおよび/または部品のリード部分のクリーニングのための空気排気口を組み合わせる、または含むことができる。クランプは、フィンガおよび/または部品の各側面のリード部分のクリーニングのために、部品の各側面に空気排気口を組み合わせる、または含むことができる。
前記のクランプのいずれも、部品を心合わせするために使用できる。前記のクランプのいずれも、部品を処理手段の上に心合わせするために使用できる。
本発明の別の態様によると、部品を処理するのに適した処理手段および先行する請求項のいずれか一つに記載のクランプを備える、処理ステーションが提供される。
処理ステーションは光学センサを備えることができる。処理手段とは、部品試験手段、部品検査手段、および/または製造段階を実施する手段であり得る。
本発明のまた別の態様によると、前記クランプのいずれか一つによるクランプに、部品操作手段を使用して部品を供給する段階であって、フィンガに対する部品の移動を制限する第一のフィンガおよび第二のフィンガの停止手段と部品が協働するように、部品操作手段が部品をクランプに供給する段階、部品操作手段を使用して、部品に力をかけ、第一および第二のフィンガで部品をクランプ固定する段階を含む、部品をクランプ固定する方法を提供する。
本発明のさらに別の態様によると、前記クランプのいずれか一つによるクランプおよび部品を処理するのに適した部品処理手段を備える処理ステーションでの部品の処理方法であって、前記の方法を使用して部品をクランプ固定する段階、部品処理手段を使用して部品を処理する段階、部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除する段階を備える方法を提供するものである。
「クランプを解除する」とは、クランプがもはや部品をクランプ固定しないように、クランプを開くおよび/またはクランプを調節することを含むが、それに限定されるわけではない。
部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、クランプによってクランプ固定されている部品を保持する部品操作手段を後退させることを含み得る。部品操作手段は、真空によって部品を保持することができる。部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、部品を中央面に平行な方向でクランプの外に持ち上げることを含み得る。好ましくは、部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、部品操作手段を使用してクランプの外に垂直に部品を持ち上げることを含み得る。
本発明は、下記の図面を参照して行う、一例として示した実施態様の説明からより明らかになるであろう。
本発明によるクランプを備える処理ステーションの斜視図である。 処理ステーションの別の斜視図である。
図1は、部品(3)が処理される処理ステーション(100)の斜視図を示している。処理ステーション(100)は、本発明によるクランプ(1)を備えている。処理ステーション(100)は、部品処理ライン(図示せず)内の複数の処理ステーションのうちの一つである。部品処理ライン内の処理ステーションの各々は、異なる様式で部品(3)を処理し得る。例えば、ある処理ステーションは部品(3)を検査し、別のステーションは製造段階を実行し、一方、別のステーションは部品(3)の試験を実行することができる。回転可能なタレット(図示せず)は、回転して、部品(3)を部品処理ライン内の処理ステーション間で移送する。回転可能なタレットは複数の部品操作手段(19)(部品操作手段の一つだけを図示)を備え、その各々は真空によって部品(3)を保持するように構成されている。各部品操作手段(19)は、部品(3)と協働することができる部品操作ヘッド(45)を備える。部品操作手段(19)は、タレットと共に回転し得、さらに、タレットに対して移動し得、それによって、部品操作手段(19)が部品処理ライン内の処理ステーションから部品(3)を取り上げ、および、処理ステーションに部品(3)を供給することが可能となる。
クランプ(1)に加えて、処理ステーション(100)は、光学センサ(29)の形式の処理手段を備える。光学センサ(29)は、部品(3)が何らかの欠陥(27)を有するかどうかを決定するために部品(3)を処理することができ、部品(3)の表面(27)からの光の放射を感知し、表面(27)によって放射された散光を測定することによってこれを実現する。
処理手段はまた、試験対象部品(3)のリード部分(30)と接触させ、この部品の電気試験を行うために、クランプのフィンガ(5、7)を使用することができる。図2は、部品を試験するために、部品の各リード部分が処理手段の一部としての二つのフィンガに接触している、一実施態様を図示している。電気試験は、光学試験と同じステーションで同時に実行することができる。
処理手段があらゆる他の適した形状をとることができ、かつ部品(3)をあらゆる他の方法で処理できることが理解されるであろう。例えば、処理手段は代替的に、部品(3)に製造段階を実施するように、部品(3)の試験を実施するように、および/または部品(3)の検査を実施するように構成することができる。
クランプ(1)は部品(3)をクランプ固定するのに適しており、したがって部品(3)は光学センサ(29)によって処理されている間、一定位置に保持される。クランプ(1)は、試験対象部品の一つの側面に少なくとも一つの第一のフィンガ(5)を備え、およびこの部品の反対側の側面に少なくとも一つの第二のフィンガ(7)を備える。図2に図示したように、クランプは、好ましくは、部品の一つの側面に第一のフィンガ(5)の第一の列を備え、および部品の反対側の側面に第二のフィンガ(7)の第二の列を備える。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、凹状の表面(35)を有する本体(33)を備える。第一のフィンガ(5)は第一の回転ポイント(9)に回転可能に取り付けられ、第二のフィンガ(7)は第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられる。第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)のまわりを回転することができ、したがって、各々中央面(13)に向かって回転することができる。複数の第一のフィンガ5を有する第一の列、および複数の第二のフィンガ7を有する第二の列が備えられているとき、第一の列の各第一のフィンガ、および第二の列の各第二のフィンガは、各々、同じ第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)のまわりを同時に回転することができる。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した表面(15)を備える。各表面(15)は、各個別のフィンガ(5、7)の、空いている端部(31)に備えられており、第一および第二のフィンガ(5、7)は、各々、フィンガ(5、7)のもう一方の反対側の端部(41)で、第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられている。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した停止手段(17)を備える。この特定の実施例では、各停止手段(17)は突起(17)を備える。各突起(17)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、中央面(13)にほぼ直角な平坦な表面(21)を画定する。突起(17)は、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するように作動することができる。これは、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するように部品(3)と協働する平坦な表面(21)によって実現される。突起(17)の平坦な表面(21)と協働している部品(3)に力をかけることによって、第一および第二のフィンガ(5、7)が部品(3)をクランプ固定するようになる。
この特定の実施例では、垂直方向の、中央面(13)に平行な力が、突起(17)の平坦な表面(21)と協働する部品(3)にかかるとき、第一および第二のフィンガ(5、7)は部品(3)をクランプ固定するようになる。この力は、部品操作手段(19)によってかけられる。図1に見られるように、クランプ(1)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が互いにほぼ直角に配置されるように構成されている。
停止手段(17)は、各フィンガ(5、7)上の突起(17)であることだけに限定されないことが理解されるべきである。他の停止手段を備えることができることが理解されよう。例えば、突起(17)の代替物として、停止手段は、部品(3)と協働するのに適した表面(15)上に備えられたグリップ層のようなグリップ手段を備えることができる。または停止手段(17)は、粗面化され、それによって部品(3)の摩擦性のグリップが可能となり、その結果、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を防止するように構成された、表面(15)であり得る。
クランプ(1)は、タレット(図示せず)上で部品操作手段(19)から部品(3)を受け取ることができるように構成される。第一のフィンガおよび第二のフィンガ(5、7)の各々は、表面(15)に隣接する先細部分(37)を備える。部品操作手段(19)が部品をクランプ(1)に供給するとき、先細部分(37)によって、部品(3)を第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間でより容易に受け取ることが可能となる。
クランプ(1)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間に間隙(25)が画定され、その間隙は光学センサ(29)に対して、クランプ固定された部品(3)の表面(27)の少なくとも一部分を露出させる。図1に見られるように、クランプ(1)は、間隙(25)が光学センサ(29)と一列に並ぶように構成される。このように、部品(3)がクランプ固定されるとき、クランプ(1)は光学センサ(29)を遮らない。したがって、部品(3)がクランプ固定されるとき、光学センサ(29)は部品(3)を処理することができる。
使用中、タレットは回転し、その結果、部品操作ヘッド(45)で部品(3)を保持する部品操作手段(19)は、第一のフィンガ(5)と第二のフィンガ(7)との間で、クランプ1の上に位置合わせされる。そのとき、部品操作手段(19)はタレットから伸びて、部品(3)をクランプ(1)に供給する。
部品操作手段(19)が伸びるにつれて、部品操作ヘッド(45)に保持された部品(3)は、平坦な表面(21)と協働することによって、フィンガ(5、7)の各々の上の突起(17)を最終的に係合する。各フィンガ(5、7)上の突起(17)は、部品(3)が、関連して移動するのを防止するように作動する。
部品操作手段(19)がさらに伸びるにつれて、部品(3)は突起(17)によってさらに移動することを制限されるので、部品操作手段(19)は、中央面(13)に平行で垂直方向の力を部品(3)にかける。部品(3)にかかる力は突起(17)を介してフィンガ(5、7)に伝わり、それによって、フィンガ(5、7)が中央面(13)の方へさらに回転し、部品(3)のクランプ固定を実施するようになる。いったんクランプ固定されると、部品の位置はクランプ(1)によって一定に保持される。
光学センサ(29)による部品(3)の処理の間および/または接触フィンガ(5、7)を介する電気試験が実施されている間、部品操作手段(19)によって部品(3)にかかる力は維持される。したがって、部品(3)は処理されている間、クランプ固定されたままである。
光学センサ(29)および/または電気試験ステーションが部品(3)の処理を完了すると、部品操作手段(19)は後退する。部品操作手段(19)が後退するにつれて、部品操作手段(19)によって部品(3)にかけられる力は取り除かれる。それによって、フィンガ(5、7)によって部品(3)にかけられるクランプ固定力が取り除かれる。したがって、部品操作手段(19)の部品操作ヘッド(45)に真空によって保持された部品(3)は、クランプ(1)から容易に取り上げることができる。部品(3)がクランプ(1)から取り上げられると、タレットは回転して、部品処理ライン内の次の処理ステーションに部品を移送することができる。
図2は、クランプが、部品の一つの側面に第一のフィンガ(5)の第一の列を、そして部品(3)のもう一方の側面に第二のフィンガ(7)の第二の列を備える、好ましい実施態様を図示している。各列の各フィンガは、同じ列の他のフィンガと同じものであり、他のフィンガの平面に平行な平面内に配置されている。この実施態様では、フィンガは、部品(3)がクランプ固定されるとき、各リード部分(30)がクランプの二つの隣接するフィンガと電気接触をするように配置される。これによって、各フィンガに接続された電気試験ステーション(図示せず)による部品のケルビンテストが可能になる。隣接するフィンガは絶縁スペーサ(36)によって分離されており、その絶縁スペーサは好ましくは、フィンガと共に同じ回転ポイントのまわりを回転する。したがってこの実施態様では、フィンガは試験対象部品(3)を処理および試験するために使用される手段の一部である。
クランプのフィンガ(5、7)および試験対象部品のリード部分をクリーニングするために、空気排気口(33)を部品の一側面の近傍に備えることができる。二つの空気排気口を備えることができ、第一の排気口は、フィンガの第一の列一つと、対応するリード部分とをクリーニングするために使用され、一方、第二の排気口は、フィンガの第二の列と、対応するリード部分とをクリーニングするために使用される。空気排気口は、部品が試験されるときに短い空気パルスを吹き込むように制御することができる。また、これによりより多くの空気が必要とされるが、連続して吹き込むことも可能である。
添付の請求の範囲において規定された本発明の範囲から逸脱することなく、本発明の記載された実施態様に対する様々な修正および変更が、当業者には明らかであろう。本発明は特定の好ましい実施態様に関して記載してあるが、請求の範囲において規定された本発明は、そのような特定の実施態様に過度に限定されるものではないことが理解されるべきである。
1 クランプ
3 部品
5、7 フィンガ
9 第一の回転ポイント
11 第二の回転ポイント
13 中央面
17 停止手段、突起
19 部品操作手段
29 処理手段
30 リード部分
45 部品操作ヘッド
100 処理ステーション
本発明は、複数のフィンガを備える電気試験クランプ、および限定的ではないが特に、クランプ固定される部品に力をかけることによって、部品をクランプ固定するように作動するよう構成されたクランプに関するものである。
部品処理アセンブリは、部品、例えば電子部品を処理し、試験する、多数の処理および試験ステーションを一般的に備えている。通常、部品は、複数の部品操作手段を備える回転タレットによって、処理および試験ステーション間を移送される。部品操作手段は、一般的に、処理または試験ステーションから部品を取り上げ、真空によって部品を保持することのできる、ピックアップヘッドを有する。そのピックアップヘッドは、真空を取り除くことによって、保持した部品を離すように作動する。
ある処理および試験ステーションでは、部品を処理または試験する間、部品を一定位置にしっかりと保持することが求められる。電気式クランプまたは空気圧式クランプが、部品を所要の一定位置にしっかりと保持するために、これら特定の処理および試験ステーションに備えられている。しばしばそれらのクランプにはまた、試験対象部品のリード部分(パッドまたは末端部を含む)との電気接触を確立することが必要とされる。
これらの作動したクランプは、クランプの電気式部品または空気圧式部品に起こり得る電気不良または空気圧不良の影響を受けやすい。部品処理アセンブリで使用されているクランプに不良が生じると、部品処理アセンブリの作業は中断し、クランプを修理しなければならない。これは、部品処理アセンブリの「ダウンタイム」を増加させる。
加えて、電気式クランプまたは空気圧式クランプはしばしば高価であり、複雑な構造を有する。これは特に、クランプが、そのクランプ固定作業を、部品をクランプに供給する部品操作手段と同期させ得ることが必要とされている場合である。
従来のクランプのさらに別の問題は、それらの作業が遅いことである。従来のクランプを使用して部品をクランプ固定するためには、二つの連続した段階が必要とされる。まず第一に、クランプ固定される部品をクランプ内に位置づけなければならず、次に部品がクランプ内に位置づけされた後初めて、部品をクランプ固定し、それから試験することができる。二つの連続した段階が必要とされるので、クランプ固定作業は遅い。
欧州特許出願公開第1111724号明細書は、IC用載置面を備え、その載置面に複数の接触子受け孔を備えるアダプタを含むソケットを開示している。複数の接触子の先端部はアダプタの接触子受け孔に受け入れられて、載置面に載置したICの各端子に接触される。載置面上のICは回動式のラッチによって保持されている。ラッチはアダプタの載置面上にIC配置用の開かれた位置、および、ベースに対して固定された軸を中心に回転する、その上方からICを固定可能にする閉じられた位置を有する。第一および第二の位置の間でカバーは移動可能であり、カバーに接続されたリンクは、カバーが第一の位置にあるときラッチを開き、カバーが第二の位置にあるときラッチを閉じる。
米国特許第5718595号明細書は、持ち上げられて静止した状態から押し下げられるとき、カバーに固定された駆動シャフトが下降して、第一レバーを回転させ、第二レバーを作動させるカバーを有するICパッケージのような電気部品を取外し可能に取り付けるためのソケットを開示している。そのような回転の上では、ラッチは複数のコンタクトの斜め上方の退避位置へ移動し、それと同時に、鉛直方向に移動可能なアームは選択した鉛直方向の位置にキャビティから上昇する。そのとき、ICパッケージは、鉛直方向に移動可能なアームに受け止められる。カバーの押し下げを解除すると、カバーおよび駆動シャフトは上がり、第一レバーおよび第二レバーは反対方向に移動を開始し、鉛直方向に移動可能なアームは、ICパッケージを担持したまま下降して、その結果、ICパッケージの各リードがそれと対応する各コンタクトの接触部の上に乗り、ラッチはリードを挟むようにしてコンタクトの接触部の上に被さり、リードが各コンタクトに加圧接触する。
欧州特許出願公開第1111724号明細書および米国特許第5718595号明細書に記載の装置の欠点は、ソケット内でのクランプ固定を、部品をソケットに供給する部品操作ヘッドによって実行できないことである。
上述した問題点の少なくともいくつかを緩和または解決することを本発明の目的とする。
本発明によると、この目的は、部品が処理される間一定位置に保持されるように部品をクランプ固定するのに適したクランプであって、第一の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第一のフィンガ、および第二の回転ポイントに回転可能に取り付けられた第二のフィンガを備え、したがって、第一のフィンガおよび第二のフィンガが中央面に向かって各々回転することができるクランプにおいて、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働するのに適した表面を各々備え、第一のフィンガおよび第二のフィンガが、クランプ固定される部品と協働して各フィンガに対する部品の移動を制限するのに適した停止手段を各々備え、したがって、停止手段と協働する部品に力をかけることによって、第一および第二のフィンガが、部品をクランプ固定するようになることを特徴とするクランプによって達成される。
「処理する」とは、部品に対する本発明者らのあらゆる処理を含んでおり、処理は、限定はしないが、「試験」(特に、ケルビンテスト)、部品の「検査」、および/または「一つまたは複数の製造段階の実施」を含むものである。
本発明のクランプは、有利には、クランプを作動させ、部品のクランプ固定を実施するための、一体型の電子式または空気圧式部品を必要とせず、むしろ、部品に加えられた力がクランプを作動させる。したがって、クランプは電気不良または空気圧不良の影響を受けず、低コストで製造できる単純な構造を有する。さらに、部品操作アセンブリ内で使用されるとき、部品操作手段を使用して部品に必要な力を加えて、クランプを作動させることができる。
さらに、本発明のクランプでは、クランプ固定作業はクランプ内における部品の位置づけ段階と同時に実行されるので、従来のクランプより速く動作することができる。
力は、中央面にほぼ平行な力であり得る。力は、中央面に平行な力であり得る。力は垂直な力であり得る。垂直な力とは、垂直な垂線に沿ってかけられる力であり得る。
力は、部品操作手段によってかけることができる。部品操作手段は、直線的に可動するように構成することができる。好ましくは、部品操作手段は、停止手段と協働する部品にかけることが必要とされる力の方向と同じ方向に可動するように構成され、その結果、第一および第二のフィンガがその部品をクランプ固定する。部品操作手段は、部品操作ヘッドを備えることができる。部品操作ヘッドは、真空によって部品を保持することができる。部品操作手段は、タレット上に備えることができる。
各停止手段は、フィンガ上に突起を備えることができる。その突起は、平坦な表面を提供するように構成され得る。平坦な表面は、部品がクランプ固定されるとき、中央面にほぼ直角であるように配置され得る。
各停止手段は、グリップ手段を備えることができる。グリップ手段は、各フィンガの表面上に備えることができる。その表面は、部品と協働するのに適した表面であり得る。グリップ手段は、部品の各フィンガに対する移動を防ぐのに適するように構成され得る。グリップ手段は、グリップ表面であり得る。グリップ手段は、粗面化するように構成された、部品と協働するのに適した表面であり得る。
クランプは、第一の回転ポイントと第二の回転ポイントとの間の距離が調節可能になるように構成され得る。これによってクランプが調節可能になり、その結果、様々なサイズの部品をクランプ固定することができる。
クランプは、部品操作手段から部品を受け取ることができるように構成され得る。第一および第二のフィンガは、各々、クランプ固定される部品と協働するのに適した表面に隣接する、先細の部分を備え得る。これによって、クランプ固定される部品をより容易に、クランプ内に受け取ることが可能になる。
クランプは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。クランプは、部品がクランプ固定されたとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の下方表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。クランプは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の上方表面の少なくとも一部分を露出させるように、構成され得る。第一および第二のフィンガは、部品がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間に間隙が画定され、その間隙がクランプ固定された部品の上方表面および下方表面の少なくとも両方を露出させるように、構成され得る。部品がクランプ固定されている間、部品の露出した表面を処理することができる。クランプ固定された部品の上方表面および下方表面の両方が露出しているとき、これによって、部品の上方表面および下方表面の両方を処理するためにクランプ内の部品を回転させる必要性がなくなる。
クランプは、間隙が処理装置と一列に並ぶように構成され得る。処理装置は、光学センサ、磁気センサのようなセンサ、または光電子エミッタのような信号発生器、または磁界発生器であり得るが、そのようなものに限定されない。
各フィンガは、平板から切断され得る。各フィンガは垂直面に配置され、部品がクランプ固定されるとき、この垂直面内を移動することができる。
クランプは、一つまたは複数の補足フィンガを備えることができる。一つまたは複数の補足フィンガのいくつかまたは全部は、前記の第一および第二のフィンガの特徴のいくつかまたは全部を有することができる。例えば、クランプは四つのフィンガを備えることができ、これによって、部品をその部品の四つの側面でクランプ固定することが可能になる。
クランプはまた、部品の少なくとも一つの側面に、二つ以上のフィンガを備えることができる。例えば、クランプは、試験対象部品の一つの側面に一列の平行に取り付けられた複数のフィンガを備え、この部品の反対の側面に別の一列の平行に取り付けられたフィンガを備えることができる。各列の全フィンガは、部品がクランプ固定されるとき、同一軸を中心にして同時に回転するように取り付けられ得る。
少なくとも一つのフィンガは、部品を試験するために、この部品の一つのリード部分と接触させるために使用することができる。フィンガは、導電性金属から作製することができる。
クランプは、部品のリード部分の各々と接触するように配置された少なくとも一つのフィンガを備えることができる。それぞれのフィンガは、絶縁スペーサによって分離され得る。
クランプは、部品の一つのリード部分と接触する二つのフィンガを有するように構成され得る。クランプは、部品の各リード部分と接触する二つのフィンガを有するように構成され得る。同じリード部分と接触する二つのフィンガは、絶縁スペーサによって分離され得る。この配置によって、電気接触および精度がより良好なケルビン測定が実施される。
クランプ固定される部品と協働するのに適した各表面は、各個別のフィンガの端部に備えることができる。端部は、フィンガの、空いている端部であり得る。第一および第二のフィンガは、もう一方の反対側の端部で回転可能に取り付けられ得る。
部品の一方の側面の第一のフィンガ、および部品の反対の側面の第二のフィンガは、互いにほぼ直角に配置され得る。好ましくは、第一のフィンガおよび第二のフィンガは、部品がクランプ固定されるとき、互いに直角になるように配置される。第一のフィンガおよび第二のフィンガは、部品がクランプで固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガとの間の最小角度が90°より大きくなるように配置され得る。
部品の一方の側面の第一のフィンガは、先細の本体を備えることができる。部品の反対の側面の第二のフィンガは、先細の本体を備えることができる。第一のフィンガは凹状の表面を備えることができる。第二のフィンガは凹状の表面を備えることができる。第一のフィンガおよび第二のフィンガは、各々、凹状の表面を有する本体を備えることができる。
前記のクランプのいずれも、LED、パワーQFN、MOSFET、IGBT、および/または電源レギュレータを試験するために使用することができる。前記のクランプのいずれも、QFNパッケージ、PQFNパッケージ、J leadパッケージ、またはあらゆる適切なパッケージに封入することができる装置のいずれか一つを試験するために使用することができる。
前記のクランプのいずれも、部品のリード部分と接触させるためにフィンガを使用して、部品のケルビンテストに使用することができる。前記のクランプのいずれも、光学試験装置の正面の正しい距離に部品を心合わせするためにそのクランプを使用して、部品の光学試験に使用することができる。
クランプは、フィンガおよび/または部品のリード部分のクリーニングのための空気排気口を組み合わせる、または含むことができる。クランプは、フィンガおよび/または部品の各側面のリード部分のクリーニングのために、部品の各側面に空気排気口を組み合わせる、または含むことができる。
前記のクランプのいずれも、部品を心合わせするために使用できる。前記のクランプのいずれも、部品を処理手段の上に心合わせするために使用できる。
本発明の別の態様によると、部品を処理するのに適した処理手段および前記クランプのいずれか一つによるクランプを備える、処理ステーションが提供される。
処理ステーションは光学センサを備えることができる。処理手段とは、部品試験手段、部品検査手段、および/または製造段階を実施する手段であり得る。
本発明のまた別の態様によると、前記クランプのいずれか一つによるクランプに、部品操作手段を使用して部品を供給する段階であって、フィンガに対する部品の移動を制限する第一のフィンガおよび第二のフィンガの停止手段と部品が協働するように、部品操作手段が部品をクランプに供給する段階、部品操作手段を使用して、部品に力をかけ、第一および第二のフィンガで部品をクランプ固定する段階を含む、部品をクランプ固定する方法を提供する。
本発明のさらに別の態様によると、前記クランプのいずれか一つによるクランプおよび部品を処理するのに適した部品処理手段を備える処理ステーションでの部品の処理方法であって、前記の方法を使用して部品をクランプ固定する段階、部品処理手段を使用して部品を処理する段階、部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除する段階を備える方法を提供するものである。
「クランプを解除する」とは、クランプがもはや部品をクランプ固定しないように、クランプを開くおよび/またはクランプを調節することを含むが、それに限定されるわけではない。
部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、クランプによってクランプ固定されている部品を保持する部品操作手段を後退させることを含み得る。部品操作手段は、真空によって部品を保持することができる。部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、部品を中央面に平行な方向でクランプの外に持ち上げることを含み得る。好ましくは、部品操作手段を使用してクランプから部品を取り除くことによってクランプを解除することは、部品操作手段を使用してクランプの外に垂直に部品を持ち上げることを含み得る。
本発明は、下記の図面を参照して行う、一例として示した実施態様の説明からより明らかになるであろう。
本発明によるクランプを備える処理ステーションの斜視図である。 処理ステーションの別の斜視図である。
図1は、部品(3)が処理される処理ステーション(100)の斜視図を示している。処理ステーション(100)は、本発明によるクランプ(1)を備えている。処理ステーション(100)は、部品処理ライン(図示せず)内の複数の処理ステーションのうちの一つである。部品処理ライン内の処理ステーションの各々は、異なる様式で部品(3)を処理し得る。例えば、ある処理ステーションは部品(3)を検査し、別のステーションは製造段階を実行し、一方、別のステーションは部品(3)の試験を実行することができる。回転可能なタレット(図示せず)は、回転して、部品(3)を部品処理ライン内の処理ステーション間で移送する。回転可能なタレットは複数の部品操作手段(19)(部品操作手段の一つだけを図示)を備え、その各々は真空によって部品(3)を保持するように構成されている。各部品操作手段(19)は、部品(3)と協働することができる部品操作ヘッド(45)を備える。部品操作手段(19)は、タレットと共に回転し得、さらに、タレットに対して移動し得、それによって、部品操作手段(19)が部品処理ライン内の処理ステーションから部品(3)を取り上げ、および、処理ステーションに部品(3)を供給することが可能となる。
クランプ(1)に加えて、処理ステーション(100)は、光学センサ(29)の形式の処理手段を備える。光学センサ(29)は、部品(3)が何らかの欠陥(27)を有するかどうかを決定するために部品(3)を処理することができ、部品(3)の表面(27)からの光の放射を感知し、表面(27)によって放射された散光を測定することによってこれを実現する。
処理手段はまた、試験対象部品(3)のリード部分(30)と接触させ、この部品の電気試験を行うために、クランプのフィンガ(5、7)を使用することができる。図2は、部品を試験するために、部品の各リード部分が処理手段の一部としての二つのフィンガに接触している、一実施態様を図示している。電気試験は、光学試験と同じステーションで同時に実行することができる。
処理手段があらゆる他の適した形状をとることができ、かつ部品(3)をあらゆる他の方法で処理できることが理解されるであろう。例えば、処理手段は代替的に、部品(3)に製造段階を実施するように、部品(3)の試験を実施するように、および/または部品(3)の検査を実施するように構成することができる。
クランプ(1)は部品(3)をクランプ固定するのに適しており、したがって部品(3)は光学センサ(29)によって処理されている間、一定位置に保持される。クランプ(1)は、試験対象部品の一つの側面に少なくとも一つの第一のフィンガ(5)を備え、およびこの部品の反対側の側面に少なくとも一つの第二のフィンガ(7)を備える。図2に図示したように、クランプは、好ましくは、部品の一つの側面に第一のフィンガ(5)の第一の列を備え、および部品の反対側の側面に第二のフィンガ(7)の第二の列を備える。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、凹状の表面(35)を有する本体(33)を備える。第一のフィンガ(5)は第一の回転ポイント(9)に回転可能に取り付けられ、第二のフィンガ(7)は第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられる。第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)のまわりを回転することができ、したがって、各々中央面(13)に向かって回転することができる。複数の第一のフィンガ5を有する第一の列、および複数の第二のフィンガ7を有する第二の列が備えられているとき、第一の列の各第一のフィンガ、および第二の列の各第二のフィンガは、各々、同じ第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)のまわりを同時に回転することができる。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した表面(15)を備える。各表面(15)は、各個別のフィンガ(5、7)の、空いている端部(31)に備えられており、第一および第二のフィンガ(5、7)は、各々、フィンガ(5、7)のもう一方の反対側の端部(41)で、第一の回転ポイント(9)および第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられている。
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)は、各々、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した停止手段(17)を備える。この特定の実施例では、各停止手段(17)は突起(17)を備える。各突起(17)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、中央面(13)にほぼ直角な平坦な表面(21)を画定する。突起(17)は、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するように作動することができる。これは、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するように部品(3)と協働する平坦な表面(21)によって実現される。突起(17)の平坦な表面(21)と協働している部品(3)に力をかけることによって、第一および第二のフィンガ(5、7)が部品(3)をクランプ固定するようになる。
この特定の実施例では、垂直方向の、中央面(13)に平行な力が、突起(17)の平坦な表面(21)と協働する部品(3)にかかるとき、第一および第二のフィンガ(5、7)は部品(3)をクランプ固定するようになる。この力は、部品操作手段(19)によってかけられる。図1に見られるように、クランプ(1)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が互いにほぼ直角に配置されるように構成されている。
停止手段(17)は、各フィンガ(5、7)上の突起(17)であることだけに限定されないことが理解されるべきである。他の停止手段を備えることができることが理解されよう。例えば、突起(17)の代替物として、停止手段は、部品(3)と協働するのに適した表面(15)上に備えられたグリップ層のようなグリップ手段を備えることができる。または停止手段(17)は、粗面化され、それによって部品(3)の摩擦性のグリップが可能となり、その結果、各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を防止するように構成された、表面(15)であり得る。
クランプ(1)は、タレット(図示せず)上で部品操作手段(19)から部品(3)を受け取ることができるように構成される。第一のフィンガおよび第二のフィンガ(5、7)の各々は、表面(15)に隣接する先細部分(37)を備える。部品操作手段(19)が部品をクランプ(1)に供給するとき、先細部分(37)によって、部品(3)を第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間でより容易に受け取ることが可能となる。
クランプ(1)は、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間に間隙(25)が画定され、その間隙は光学センサ(29)に対して、クランプ固定された部品(3)の表面(27)の少なくとも一部分を露出させる。図1に見られるように、クランプ(1)は、間隙(25)が光学センサ(29)と一列に並ぶように構成される。このように、部品(3)がクランプ固定されるとき、クランプ(1)は光学センサ(29)を遮らない。したがって、部品(3)がクランプ固定されるとき、光学センサ(29)は部品(3)を処理することができる。
使用中、タレットは回転し、その結果、部品操作ヘッド(45)で部品(3)を保持する部品操作手段(19)は、第一のフィンガ(5)と第二のフィンガ(7)との間で、クランプ1の上に位置合わせされる。そのとき、部品操作手段(19)はタレットから伸びて、部品(3)をクランプ(1)に供給する。
部品操作手段(19)が伸びるにつれて、部品操作ヘッド(45)に保持された部品(3)は、平坦な表面(21)と協働することによって、フィンガ(5、7)の各々の上の突起(17)を最終的に係合する。各フィンガ(5、7)上の突起(17)は、部品(3)が、フィンガ(5、7)と関連して移動するのを防止するように作動する。
部品操作手段(19)がさらに伸びるにつれて、部品(3)は突起(17)によってさらに移動することを制限されるので、部品操作手段(19)は、中央面(13)に平行で垂直方向の力を部品(3)にかける。部品(3)にかかる力は突起(17)を介してフィンガ(5、7)に伝わり、それによって、フィンガ(5、7)が中央面(13)の方へさらに回転し、部品(3)のクランプ固定を実施するようになる。いったんクランプ固定されると、部品の位置はクランプ(1)によって一定に保持される。
光学センサ(29)による部品(3)の処理の間および/または接触フィンガ(5、7)を介する電気試験が実施されている間、部品操作手段(19)によって部品(3)にかかる力は維持される。したがって、部品(3)は処理されている間、クランプ固定されたままである。
光学センサ(29)および/または電気試験ステーションが部品(3)の処理を完了すると、部品操作手段(19)は後退する。部品操作手段(19)が後退するにつれて、部品操作手段(19)によって部品(3)にかけられる力は取り除かれる。それによって、フィンガ(5、7)によって部品(3)にかけられるクランプ固定力が取り除かれる。したがって、部品操作手段(19)の部品操作ヘッド(45)に真空によって保持された部品(3)は、クランプ(1)から容易に取り上げることができる。部品(3)がクランプ(1)から取り上げられると、タレットは回転して、部品処理ライン内の次の処理ステーションに部品を移送することができる。
図2は、クランプが、部品の一つの側面に第一のフィンガ(5)の第一の列を、そして部品(3)のもう一方の側面に第二のフィンガ(7)の第二の列を備える、好ましい実施態様を図示している。各列の各フィンガは、同じ列の他のフィンガと同じものであり、他のフィンガの平面に平行な平面内に配置されている。この実施態様では、フィンガは、部品(3)がクランプ固定されるとき、各リード部分(30)がクランプの二つの隣接するフィンガと電気接触をするように配置される。これによって、各フィンガに接続された電気試験ステーション(図示せず)による部品のケルビンテストが可能になる。隣接するフィンガは絶縁スペーサ(36)によって分離されており、その絶縁スペーサは好ましくは、フィンガと共に同じ回転ポイントのまわりを回転する。したがってこの実施態様では、フィンガは試験対象部品(3)を処理および試験するために使用される手段の一部である。
クランプのフィンガ(5、7)および試験対象部品のリード部分をクリーニングするために、空気排気口(33)を部品の一側面の近傍に備えることができる。二つの空気排気口を備えることができ、第一の排気口は、フィンガの第一の列一つと、対応するリード部分とをクリーニングするために使用され、一方、第二の排気口は、フィンガの第二の列と、対応するリード部分とをクリーニングするために使用される。空気排気口は、部品が試験されるときに短い空気パルスを吹き込むように制御することができる。また、これによりより多くの空気が必要とされるが、連続して吹き込むことも可能である。
添付の請求の範囲において規定された本発明の範囲から逸脱することなく、本発明の記載された実施態様に対する様々な修正および変更が、当業者には明らかであろう。本発明は特定の好ましい実施態様に関して記載してあるが、請求の範囲において規定された本発明は、そのような特定の実施態様に過度に限定されるものではないことが理解されるべきである。
1 クランプ
3 部品
5、7 フィンガ
9 第一の回転ポイント
11 第二の回転ポイント
13 中央面
17 停止手段、突起
19 部品操作手段
29 処理手段
30 リード部分
45 部品操作ヘッド
100 処理ステーション
欧州特許出願公開第1111724号明細書 米国特許第5718595号明細書

Claims (21)

  1. 部品(3)が処理される間一定位置に保持されるように部品(3)をクランプ固定するのに適したクランプ(1)であって、第一の回転ポイント(9)に回転可能に取り付けられた少なくとも一つの第一のフィンガ(5)、および第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられた少なくとも一つの第二のフィンガ(7)を備え、したがって、第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が中央面(13)に向かって各々回転することができるクランプにおいて、
    第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した表面(15)を各々備え、
    第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が、クランプ固定される部品(3)と協働して各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するのに適した停止手段(17)を各々備え、したがって、停止手段と協働する部品(3)に力をかけることによって、第一および第二のフィンガ(5、7)が、部品(3)をクランプ固定するようになることを特徴とするクランプ(1)。
  2. 力が中央面に平行な力であることを特徴とする、請求項1に記載のクランプ(1)。
  3. 力が部品操作手段(19)によってかけられることを特徴とする、請求項1または2に記載のクランプ(1)。
  4. 各停止手段が突起(17)を備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  5. 各停止手段が、部品と協働するのに適した表面(15)上に備えられたグリップ手段を備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  6. クランプ(1)が、部品操作手段(19)から部品を受け取ることができるように構成されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  7. クランプ(1)が、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間に間隙(25)が画定され、その間隙がクランプ固定された部品(3)の表面(27)の少なくとも一部分を露出させるように、構成されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  8. クランプ(1)が、間隙(25)が処理装置(29)と一列に並ぶように構成されていることを特徴とする、請求項7に記載のクランプ(1)。
  9. クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した各表面(15)が、各個別のフィンガ(5、7)の端部(31)に備えられていることを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  10. クランプ(1)が、第一の回転ポイント(9)と第二の回転ポイント(11)との間の距離が調節可能であり、その結果、クランプ(1)が様々なサイズの部品をクランプ固定するように構成可能であることを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  11. 第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が各々、電気接触表面(35)を有する本体(33)を備えることを特徴とする、請求項1〜10のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
  12. 第一のフィンガ(5)の第一の列および第二のフィンガ(7)の第二の列を備え、各列の各フィンガが同じ列の他の全部のフィンガに平行である、請求項1〜11のいずれか一つに記載のクランプであって、
    第一のフィンガが、試験対象部品の第一の側面でリード部分(30)との電気接触を設定するように配置されており、
    および、第二のフィンガが、試験対象部品の第二の側面でリード部分(30)との電気接触を設定するように配置されている
    ことを特徴とするクランプ。
  13. 各列において隣接するフィンガ間に、絶縁スペーサ(36)を備えることを特徴とする、請求項12に記載のクランプ。
  14. 第一および第二のフィンガが、部品(3)の各リード部分が隣接し互いに絶縁された二つのフィンガと電気接触をするように配置されていることを特徴とする、請求項12または13に記載のクランプ。
  15. 部品(3)を処理するのに適した処理手段(29)、および処理手段(29)によって処理される部品(3)をクランプ固定するための請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)を備える、処理ステーション(100)。
  16. クランプ(1)に部品(3)を供給し、かつ部品(3)に力をかけてクランプ(1)を作動させるために垂直に移動することができる部品操作手段(19)をさらに備える、請求項15に記載の処理ステーション(100)。
  17. 前記部品(3)のケルビンテストを実行するための、前記フィンガに電気接続された試験ステーションをさらに備える、請求項15または16に記載の処理ステーション。
  18. 前記フィンガをクリーニングするための少なくとも一つの空気排気口をさらに備える、請求項15〜17のいずれか一つに記載の処理ステーション。
  19. 以下の部品、すなわち、LED、パワーQFN、MOSFET、IGBT、電源レギュレータの少なくとも一つを試験するための、請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)の使用方法。
  20. 請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)に、部品操作手段(19)を使用して部品(3)を供給する段階であって、フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限する第一のフィンガ(3)および第二のフィンガ(5)の停止手段(17)と部品(3)が協働するように、部品操作手段(19)が部品(3)をクランプ(1)に供給する段階、
    部品操作手段(19)を使用して、部品(3)に力をかけ、第一および第二のフィンガ(5、7)で部品(3)をクランプ固定する段階
    を含む、部品をクランプ固定する方法。
  21. 請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)および部品(3)を処理するのに適した部品処理手段(29)を備える処理ステーション(100)での部品(3)の処理方法であって、
    請求項20に記載の方法を使用して部品(3)をクランプ固定する段階、
    部品処理手段(29)を使用して部品(3)を処理する段階、
    部品操作手段(29)を使用してクランプ(1)から部品(3)を取り除くことによってクランプを解除する段階
    を備える方法。
JP2014511748A 2011-05-26 2011-05-26 クランプ Expired - Fee Related JP5781222B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/EP2011/058682 WO2012159677A1 (en) 2011-05-26 2011-05-26 Clamp

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014515479A true JP2014515479A (ja) 2014-06-30
JP5781222B2 JP5781222B2 (ja) 2015-09-16

Family

ID=44626723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014511748A Expired - Fee Related JP5781222B2 (ja) 2011-05-26 2011-05-26 クランプ

Country Status (7)

Country Link
JP (1) JP5781222B2 (ja)
KR (1) KR20140020892A (ja)
CN (1) CN103547935A (ja)
MA (1) MA35394B1 (ja)
SG (1) SG192135A1 (ja)
TW (1) TW201247506A (ja)
WO (1) WO2012159677A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9730352B2 (en) * 2014-08-26 2017-08-08 Honeywell International Inc. Clamp for panel-mounted electronics modules or other devices
CN112730909A (zh) * 2020-12-25 2021-04-30 无锡国芯微电子系统有限公司 一种微波模块测试夹具

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360967U (ja) * 1986-10-09 1988-04-22
JPH02176583A (ja) * 1988-12-28 1990-07-09 Mitsubishi Electric Corp Icソケット
JPH09321183A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Mitsubishi Electric Corp Ic着脱装置及びその着脱ヘッド
JPH112656A (ja) * 1997-06-11 1999-01-06 Hitachi Ltd 半導体装置の電気特性検査方法、ソケット、テスタおよび検査用トレー
JPH11162599A (ja) * 1997-11-25 1999-06-18 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体装置の測定用ソケット
JP2003045593A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2003090849A (ja) * 2001-09-20 2003-03-28 Tesetsuku:Kk 電子部品測定装置及び方法
JP2007327878A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Sony Corp 光デバイス測定装置および光デバイス測定方法
JP2009121943A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Sharp Corp 半導体装置の検査用装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08162239A (ja) * 1994-12-02 1996-06-21 Texas Instr Japan Ltd ソケット
JP4301669B2 (ja) * 1999-12-24 2009-07-22 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン ソケット

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360967U (ja) * 1986-10-09 1988-04-22
JPH02176583A (ja) * 1988-12-28 1990-07-09 Mitsubishi Electric Corp Icソケット
JPH09321183A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Mitsubishi Electric Corp Ic着脱装置及びその着脱ヘッド
JPH112656A (ja) * 1997-06-11 1999-01-06 Hitachi Ltd 半導体装置の電気特性検査方法、ソケット、テスタおよび検査用トレー
JPH11162599A (ja) * 1997-11-25 1999-06-18 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体装置の測定用ソケット
JP2003045593A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2003090849A (ja) * 2001-09-20 2003-03-28 Tesetsuku:Kk 電子部品測定装置及び方法
JP2007327878A (ja) * 2006-06-08 2007-12-20 Sony Corp 光デバイス測定装置および光デバイス測定方法
JP2009121943A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Sharp Corp 半導体装置の検査用装置

Also Published As

Publication number Publication date
MA35394B1 (fr) 2014-09-01
WO2012159677A1 (en) 2012-11-29
KR20140020892A (ko) 2014-02-19
TW201247506A (en) 2012-12-01
JP5781222B2 (ja) 2015-09-16
CN103547935A (zh) 2014-01-29
SG192135A1 (en) 2013-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5450391B2 (ja) ウェーハプローブ試験および検査システム
US7005636B2 (en) Method and apparatus for manipulating a microscopic sample
US6137299A (en) Method and apparatus for testing integrated circuit chips
US20060155396A1 (en) Position-correction device for correcting the position of a component holder for electronic components
JP2009503880A (ja) 電子的な構成素子を移載するための方法
JP2013516769A (ja) 電子デバイスを検査する検査システム及び方法
WO2009080652A1 (en) A method and device for aligning components
US20160116503A1 (en) Electronic device handling apparatus and electronic device testing apparatus
CN1983549B (zh) 用于布置器件进行处理的装置和方法
JP5781222B2 (ja) クランプ
JP2007165715A (ja) プローブカードの装着方法及びこの方法に用いられるプローブカード移載補助装置
JPH08148533A (ja) 半導体ウェハの試験装置及び試験方法
KR100647538B1 (ko) 디캡핑된 반도체 칩 테스트용 프로브 시스템
JP2004503769A (ja) ディスク形状物体の位置決め装置
CN210129007U (zh) 测试机构及具有其的测试装置
JP2010243314A (ja) 半導体チップ素子試験治具及び自動試験装置
JPH08334546A (ja) 半導体装置のテスト装置
KR19980021258A (ko) 프로브 장치의 프로브 헤드
US9846193B2 (en) Semiconductor package testing apparatus
JP2000074990A (ja) 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置
CN220160597U (zh) 一种芯片测试机械手分选机
CN107774589A (zh) 机台测试系统及方法
CN108732180B (zh) 硅片夹、检测装置及其检测方法
KR20240009651A (ko) 프로브 본딩장치
JPH04355943A (ja) ウエハプローバ

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141016

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141028

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150707

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150714

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5781222

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees