JP2014515479A - クランプ - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
3 部品
5、7 フィンガ
9 第一の回転ポイント
11 第二の回転ポイント
13 中央面
17 停止手段、突起
19 部品操作手段
29 処理手段
30 リード部分
45 部品操作ヘッド
100 処理ステーション
3 部品
5、7 フィンガ
9 第一の回転ポイント
11 第二の回転ポイント
13 中央面
17 停止手段、突起
19 部品操作手段
29 処理手段
30 リード部分
45 部品操作ヘッド
100 処理ステーション
Claims (21)
- 部品(3)が処理される間一定位置に保持されるように部品(3)をクランプ固定するのに適したクランプ(1)であって、第一の回転ポイント(9)に回転可能に取り付けられた少なくとも一つの第一のフィンガ(5)、および第二の回転ポイント(11)に回転可能に取り付けられた少なくとも一つの第二のフィンガ(7)を備え、したがって、第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が中央面(13)に向かって各々回転することができるクランプにおいて、
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が、クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した表面(15)を各々備え、
第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が、クランプ固定される部品(3)と協働して各フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限するのに適した停止手段(17)を各々備え、したがって、停止手段と協働する部品(3)に力をかけることによって、第一および第二のフィンガ(5、7)が、部品(3)をクランプ固定するようになることを特徴とするクランプ(1)。 - 力が中央面に平行な力であることを特徴とする、請求項1に記載のクランプ(1)。
- 力が部品操作手段(19)によってかけられることを特徴とする、請求項1または2に記載のクランプ(1)。
- 各停止手段が突起(17)を備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- 各停止手段が、部品と協働するのに適した表面(15)上に備えられたグリップ手段を備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- クランプ(1)が、部品操作手段(19)から部品を受け取ることができるように構成されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- クランプ(1)が、部品(3)がクランプ固定されるとき、第一のフィンガと第二のフィンガ(5、7)との間に間隙(25)が画定され、その間隙がクランプ固定された部品(3)の表面(27)の少なくとも一部分を露出させるように、構成されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- クランプ(1)が、間隙(25)が処理装置(29)と一列に並ぶように構成されていることを特徴とする、請求項7に記載のクランプ(1)。
- クランプ固定される部品(3)と協働するのに適した各表面(15)が、各個別のフィンガ(5、7)の端部(31)に備えられていることを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- クランプ(1)が、第一の回転ポイント(9)と第二の回転ポイント(11)との間の距離が調節可能であり、その結果、クランプ(1)が様々なサイズの部品をクランプ固定するように構成可能であることを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- 第一のフィンガ(5)および第二のフィンガ(7)が各々、電気接触表面(35)を有する本体(33)を備えることを特徴とする、請求項1〜10のいずれか一つに記載のクランプ(1)。
- 第一のフィンガ(5)の第一の列および第二のフィンガ(7)の第二の列を備え、各列の各フィンガが同じ列の他の全部のフィンガに平行である、請求項1〜11のいずれか一つに記載のクランプであって、
第一のフィンガが、試験対象部品の第一の側面でリード部分(30)との電気接触を設定するように配置されており、
および、第二のフィンガが、試験対象部品の第二の側面でリード部分(30)との電気接触を設定するように配置されている
ことを特徴とするクランプ。 - 各列において隣接するフィンガ間に、絶縁スペーサ(36)を備えることを特徴とする、請求項12に記載のクランプ。
- 第一および第二のフィンガが、部品(3)の各リード部分が隣接し互いに絶縁された二つのフィンガと電気接触をするように配置されていることを特徴とする、請求項12または13に記載のクランプ。
- 部品(3)を処理するのに適した処理手段(29)、および処理手段(29)によって処理される部品(3)をクランプ固定するための請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)を備える、処理ステーション(100)。
- クランプ(1)に部品(3)を供給し、かつ部品(3)に力をかけてクランプ(1)を作動させるために垂直に移動することができる部品操作手段(19)をさらに備える、請求項15に記載の処理ステーション(100)。
- 前記部品(3)のケルビンテストを実行するための、前記フィンガに電気接続された試験ステーションをさらに備える、請求項15または16に記載の処理ステーション。
- 前記フィンガをクリーニングするための少なくとも一つの空気排気口をさらに備える、請求項15〜17のいずれか一つに記載の処理ステーション。
- 以下の部品、すなわち、LED、パワーQFN、MOSFET、IGBT、電源レギュレータの少なくとも一つを試験するための、請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)の使用方法。
- 請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)に、部品操作手段(19)を使用して部品(3)を供給する段階であって、フィンガ(5、7)に対する部品(3)の移動を制限する第一のフィンガ(3)および第二のフィンガ(5)の停止手段(17)と部品(3)が協働するように、部品操作手段(19)が部品(3)をクランプ(1)に供給する段階、
部品操作手段(19)を使用して、部品(3)に力をかけ、第一および第二のフィンガ(5、7)で部品(3)をクランプ固定する段階
を含む、部品をクランプ固定する方法。 - 請求項1〜14のいずれか一つに記載のクランプ(1)および部品(3)を処理するのに適した部品処理手段(29)を備える処理ステーション(100)での部品(3)の処理方法であって、
請求項20に記載の方法を使用して部品(3)をクランプ固定する段階、
部品処理手段(29)を使用して部品(3)を処理する段階、
部品操作手段(29)を使用してクランプ(1)から部品(3)を取り除くことによってクランプを解除する段階
を備える方法。
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