JP2014211381A - 線量率測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、実施の形態1に係る線量率測定装置の構成を示す図である。
図1に示すように、線量率測定装置1は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、その吸収したエネルギーに比例する電荷を有する離散的な電流パルスと吸収した放射線のエネルギーに比例する直流電流を変換した直流電圧とを出力する放射線検出器2と、放射線検出器2を動作させる高電圧を供給する高圧電源4と、放射線検出器2から電流パルス及び直流電圧を入力してそれぞれ低レンジ線量率、高レンジ線量率に変換し、線量率に応じて低レンジ線量率と高レンジ線量率とを切り換えて出力する測定部3と、で構成されている。
σ2=r・Q2/T=Iav・Q/T (1)
図4は、実施の形態2に係る線量率測定装置の演算部の構成を示す図である。実施の形態1の線量率測定装置1の演算部36との相違点は、実施の形態2の演算部236では、暗電流補償部367が設けられており、高レンジ線量率演算部364における高レンジ線量率での放射線検出器2の暗電流分を補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態1と同様であり説明を省略する。
図5は、実施の形態3に係る線量率測定装置の構成を示す図である。図6は、実施の形態3における放射線検出器の暗電流の温度特性を示す図である。実施の形態1の線量率測定装置1との相違点は、実施の形態3の線量率測定装置10では、放射線検出器2の温度を測定する温度センサ5が設けられており、また、温度センサ5から出力された温度に基づいて放射線検出器2の暗電流を測定部30の演算部336に設けられた暗電流温度補償部368により放射線検出器2の温度に依存した暗電流分の線量率を算出し、高レンジ線量率演算部364における高レンジ線量率での暗電流分の線量率を減算して補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態1と同様であり説明を省略する。
図7は、実施の形態4に係る線量率測定装置の構成を示す図であり、図8は、実施の形態4における放射線検出器のゲインの温度特性を示す図である。実施の形態3の線量率測定装置10との相違点は、実施の形態4の線量率測定装置100では、測定部300の演算部436に、ゲイン温度補償部369が設けられており、温度センサ5から出力された温度に基づいて高圧電源の高電圧を制御して、放射線検出器2のゲインの温度依存性も補償するようにした点であり、他の構成要素は、実施の形態3と同様であり説明を省略する。
Claims (4)
- 入射された放射線のエネルギーを吸収し、前記エネルギーに比例した電流パルスを出力すると共に、前記エネルギーに比例した直流電圧を出力する放射線検出器と、
前記電流パルスが運ぶ電荷をアナログ電圧パルスに変換し、前記アナログ電圧パルスから波高値を抽出して、前記波高値から波高スペクトルを生成して出力する波高スペクトル生成手段と、
定周期で、前記波高スペクトルを線量率に変換して低レンジ線量率として演算する低レンジ線量率演算手段と、
前記直流電圧のゆらぎを測定して前記放射線の平均エネルギーを推定し、エネルギー補償係数を導出するエネルギー特性補償手段と
定周期で、前記直流電圧を線量率に変換し、変換された前記線量率に前記エネルギー補償係数を乗じて高レンジ線量率として演算する高レンジ線量率演算手段と、
前記低レンジ線量率と前記高レンジ線量率の比に基づき、前記低レンジ線量率または前記高レンジ線量率のいずれかに切り換えて線量率として出力する線量率切換手段と、
を備えたことを特徴とする線量率測定装置。 - 前記放射線検出器の基準温度における暗電流に相当する暗電流線量率を記憶しておくと共に、前記高レンジ線量率から前記暗電流線量率を減算して補償する暗電流補償手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載の線量率測定装置。
- 前記放射線検出器の温度を検出する温度センサを備え、前記放射線検出器の温度に対応した暗電流線量率を記憶しておくと共に、前記高レンジ線量率から前記温度に応じた前記暗電流線量率を減算して補償する暗電流温度補償手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載の線量率測定装置。
- 前記放射線検出器を動作させる高電圧を供給する高圧電源を備え、前記放射線検出器のゲインの温度特性を記憶しておくと共に、前記温度に応じて前記高圧電源の高電圧の出力を制御し、前記放射線検出器のゲインを補償するゲイン温度補償手段を備えたことを特徴とする請求項3に記載の線量率測定装置。
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
WO2016174723A1 (ja) * | 2015-04-28 | 2016-11-03 | 三菱電機株式会社 | 線量率測定装置 |
JPWO2017187972A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2019-02-28 | 株式会社堀場製作所 | 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置 |
JP2020526777A (ja) * | 2017-07-25 | 2020-08-31 | ▲蘇▼州瑞派▲寧▼科技有限公司Raycan Technology Co., Ltd. | シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106662656B (zh) * | 2014-08-26 | 2019-01-08 | 三菱电机株式会社 | 剂量率测定装置 |
WO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
JP6628701B2 (ja) * | 2016-08-05 | 2020-01-15 | 三菱電機株式会社 | 放射線測定装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01250885A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-05 | Toshiba Corp | 放射線モニタ |
JPH0293393A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | Hitachi Ltd | 照射線量率計 |
JPH0317587A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体放射線測定装置 |
JPH06118176A (ja) * | 1992-10-06 | 1994-04-28 | Hitachi Ltd | 荷電粒子等の検出装置及びこれを用いた質量分析計 |
JP2002022839A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-23 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
JP2007183118A (ja) * | 2006-01-05 | 2007-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
US7456405B1 (en) * | 2004-03-08 | 2008-11-25 | Thermo Fisher Scientific Inc. | Portable radiation monitor methods and apparatus |
JP2011133454A (ja) * | 2009-11-30 | 2011-07-07 | Toshiba Corp | 半導体放射線検出器の異常判定方法及びそれを用いた半導体放射線検出器 |
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WO2008110182A1 (en) * | 2007-03-09 | 2008-09-18 | Cern - European Organization For Nuclear Research | Method, apparatus and computer program for measuring the dose, dose rate or composition of radiation |
US7737401B2 (en) * | 2007-06-19 | 2010-06-15 | Thermo Fisher Scientific Inc. | Radiation measurement using multiple parameters |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01250885A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-05 | Toshiba Corp | 放射線モニタ |
JPH0293393A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | Hitachi Ltd | 照射線量率計 |
JPH0317587A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体放射線測定装置 |
JPH06118176A (ja) * | 1992-10-06 | 1994-04-28 | Hitachi Ltd | 荷電粒子等の検出装置及びこれを用いた質量分析計 |
JP2002022839A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-23 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
US7456405B1 (en) * | 2004-03-08 | 2008-11-25 | Thermo Fisher Scientific Inc. | Portable radiation monitor methods and apparatus |
JP2007183118A (ja) * | 2006-01-05 | 2007-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
JP2011133454A (ja) * | 2009-11-30 | 2011-07-07 | Toshiba Corp | 半導体放射線検出器の異常判定方法及びそれを用いた半導体放射線検出器 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016174723A1 (ja) * | 2015-04-28 | 2016-11-03 | 三菱電機株式会社 | 線量率測定装置 |
JPWO2016174723A1 (ja) * | 2015-04-28 | 2017-06-15 | 三菱電機株式会社 | 線量率測定装置 |
JPWO2017187972A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2019-02-28 | 株式会社堀場製作所 | 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置 |
JP2020526777A (ja) * | 2017-07-25 | 2020-08-31 | ▲蘇▼州瑞派▲寧▼科技有限公司Raycan Technology Co., Ltd. | シンチレーション検出器のゲイン補正装置及び方法 |
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